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      測(cè)試盒及分析儀設(shè)備的制造方法

      文檔序號(hào):8491583閱讀:294來(lái)源:國(guó)知局
      測(cè)試盒及分析儀設(shè)備的制造方法
      【專利說(shuō)明】測(cè)試盒及分析儀設(shè)備
      [0001]相關(guān)申請(qǐng)
      [0002]本申請(qǐng)要求澳大利亞專利申請(qǐng)N0.2012904135、澳大利亞專利申請(qǐng)N0.2012904710和澳大利亞專利申請(qǐng)N0.2013901667的優(yōu)先權(quán),其內(nèi)容通過(guò)引用并入本文。
      技術(shù)領(lǐng)域
      [0003]本發(fā)明涉及一種用于保持載有測(cè)試元件的載帶的測(cè)試盒,以及將所述測(cè)試盒裝入分析儀設(shè)備的各方面。
      【背景技術(shù)】
      [0004]體液樣品,如血液、血漿、尿液、間質(zhì)液等,可分析出多種成分或性質(zhì),如葡萄糖、膽固醇、病原體、濫用的藥物、凝血、血細(xì)胞比容等。將體液樣品涂覆到含活性成分的測(cè)試元件上。發(fā)生反應(yīng)并產(chǎn)生結(jié)果??赡苄枰獌x器讀取結(jié)果,或者結(jié)果可由肉眼判斷,通過(guò)例如顏色匹配或如條、點(diǎn)等符號(hào),等等。
      [0005]測(cè)試元件可沿容置于測(cè)試盒中的載帶供給多個(gè)。測(cè)試盒設(shè)置有兩個(gè)腔室,一個(gè)封閉的供給室,包含載有未使用的測(cè)試元件的帶,以及一個(gè)回收室,用于存儲(chǔ)載有已使用過(guò)的測(cè)試元件的帶。該測(cè)試盒可用在實(shí)驗(yàn)室分析儀或便攜式分析儀中。
      [0006]由于一些原因,將測(cè)試盒裝入分析儀會(huì)有問(wèn)題。分析儀的傳感器頭通常需要與帶及測(cè)試元件接觸。在生物傳感器的情況下,傳感器頭需要電連接,并且在光度檢測(cè)的情況下,測(cè)試元件需要定位在距離分析儀光學(xué)器件固定距離處。因此,相對(duì)于傳感器頭,帶需要穩(wěn)妥地保持在一特定的測(cè)試部位。
      [0007]美國(guó)專利N0.US7378270 (Roobik等人)公開了一種插入到分析儀中的測(cè)試盒,因此分析儀的傳感器頭向前移動(dòng)與帶接觸??蓜?dòng)頭結(jié)構(gòu)復(fù)雜,對(duì)于低成本的手持分析儀來(lái)說(shuō)并不理想。
      [0008]另一種解決方案涉及將帶手動(dòng)放置到傳感器頭上。這就要求在將測(cè)試盒插入分析儀前就將測(cè)試盒操作到一位置以將帶放置在傳感器頭上。該方法可能適用于經(jīng)過(guò)培訓(xùn)的技術(shù)人員,但并不適用于不熟練的使用者。
      [0009]即使將帶正確地裝入分析儀,也有可能存在由于驅(qū)動(dòng)輪的意外激活而使新的測(cè)試元件被拉出供給室的問(wèn)題。
      [0010]如果新的測(cè)試元件由于意外過(guò)早地拉出供給室,該測(cè)試元件就會(huì)過(guò)早地暴露于周圍環(huán)境下,這可能會(huì)對(duì)測(cè)試元件上的試劑產(chǎn)生不利影響。例如,該測(cè)試元件可能暴露于濕氣中,會(huì)對(duì)測(cè)試性能產(chǎn)生不利影響。
      [0011]如果測(cè)試元件僅部分拉出供給室,供給室的密封就可能會(huì)受到影響。這會(huì)使?jié)駳膺M(jìn)入供給室。由于測(cè)試元件通常是親水性的,這可能會(huì)破壞腔室內(nèi)的所有測(cè)試。
      [0012]因此,除非準(zhǔn)備進(jìn)行測(cè)試,一般需要防止驅(qū)動(dòng)輪的意外激活。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0013]本發(fā)明的目的是解決或改善上述問(wèn)題中的至少一個(gè)。
      [0014]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供了一種用于裝入分析儀設(shè)備艙內(nèi)的測(cè)試盒,所述測(cè)試盒具有用于測(cè)試帶的供給室、容納使用過(guò)的帶的回收室,以及所述室之間的測(cè)試區(qū),其中所述帶定位在一測(cè)試部位用于測(cè)試目的,其中,所述測(cè)試盒包括在所述帶的裝載側(cè)橫跨所述測(cè)試區(qū)延伸的框架,所述框架相對(duì)于所述帶處于一保護(hù)位置,平行且與所述測(cè)試區(qū)中的帶對(duì)齊,以便當(dāng)所述測(cè)試盒被插入所述分析儀設(shè)備的艙內(nèi)時(shí)保護(hù)所述帶。
      [0015]優(yōu)選地,所述框架包括引導(dǎo)件,引導(dǎo)所述帶從所述供給室至所述測(cè)試區(qū)及離開所述測(cè)試區(qū)至所述回收室,以及橋部,在引導(dǎo)件之間延伸,以保護(hù)橫跨所述測(cè)試區(qū)的所述帶。
      [0016]優(yōu)選地,所述測(cè)試盒包括偏置元件,以當(dāng)所述帶設(shè)置于所述分析儀設(shè)備的測(cè)試部位時(shí),使所述測(cè)試盒偏轉(zhuǎn)到已裝載的位置,所述偏置元件使所述測(cè)試盒的外殼移位,以便使所述框架移動(dòng)離開相對(duì)于所述帶的保護(hù)位置,并使所述帶橫跨所述測(cè)試部位處于張緊狀
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      [0017]優(yōu)選地,所述偏置元件與所述分析儀的結(jié)構(gòu)件接合,以將所述框架偏轉(zhuǎn)進(jìn)入所述分析儀的容納槽中。
      [0018]優(yōu)選地,所述測(cè)試盒包括至少一個(gè)在遠(yuǎn)離所述測(cè)試區(qū)的所述測(cè)試盒的后端的鎖扣。
      [0019]優(yōu)選地,所述供給室包括供給卷筒,所述回收室包括回收卷筒,其中所述供給卷筒安裝在供給室內(nèi)的固定軸上,且所述回收卷筒安裝在適于相對(duì)于所述測(cè)試盒的外殼滑動(dòng)的浮動(dòng)軸上。
      [0020]另一方面,提供了一種分析儀設(shè)備,其具有用于容納測(cè)試盒的艙,如上所述,以及設(shè)置于伸進(jìn)所述測(cè)試盒的測(cè)試區(qū)內(nèi)的結(jié)構(gòu)件上的測(cè)試部位,所述結(jié)構(gòu)件包括在所述艙的底板與所述測(cè)試部位之間的凹槽,當(dāng)所述測(cè)試盒裝入所述艙內(nèi)時(shí),用以容納所述測(cè)試盒的框架。
      [0021]優(yōu)選地,所述設(shè)備包括至少一個(gè)朝向所述艙一端部的閂鎖,以在所述測(cè)試盒插入所述艙內(nèi)期間向后移動(dòng)時(shí),在裝載操作期間固定所述測(cè)試盒的后端。
      [0022]優(yōu)選地,所述結(jié)構(gòu)件包括有角度的表面,當(dāng)所述測(cè)試盒移進(jìn)已裝載位置中時(shí),所述測(cè)試盒的偏置元件抵著所述表面接合,向后平移所述外殼,以便將所述測(cè)試盒的后部鎖定在艙里,且將所述框架拉進(jìn)所述凹槽。
      [0023]優(yōu)選地,所述結(jié)構(gòu)件為支柱的形式,所述支柱在前側(cè)具有讀取頭,在后側(cè)具有一楔形件。
      [0024]優(yōu)選地,支柱的前側(cè)和后側(cè)分隔開一距離,足以在所述測(cè)試盒移進(jìn)已裝載位置時(shí),促使所述偏置元件抵靠著后側(cè),并使所述框架接合并滑至所述支柱的前側(cè)。
      [0025]再另一方面,提供了一種分析儀設(shè)備和測(cè)試盒的組合,其中:
      [0026]所述測(cè)試盒包括具有用于保持載有測(cè)試元件的帶的供給室的外殼、用于存儲(chǔ)使用過(guò)的帶的回收室以及其中設(shè)置所述帶用于測(cè)試的測(cè)試區(qū);
      [0027]所述設(shè)備包括具有底板的艙,以及具有測(cè)試部位的結(jié)構(gòu)件,所述測(cè)試部位設(shè)置為當(dāng)將所述測(cè)試盒裝入所述設(shè)備中時(shí)伸入所述測(cè)試區(qū)內(nèi);所述測(cè)試盒包括位于所述腔室之間且在所述帶的插入側(cè)靠近所述帶的框架,以當(dāng)所述帶橫向裝配到測(cè)試部位時(shí)保護(hù)所述帶;且其中
      [0028]在裝載的最后階段期間,在縱向方向上移動(dòng)所述測(cè)試盒,以便橫向移動(dòng)所述測(cè)試部位的框架,而所述帶仍保持在測(cè)試部位上。
      [0029]優(yōu)選地,所述設(shè)備包括容納在所述回收卷筒內(nèi)的絞盤,其中所述絞盤設(shè)置為在一固定軸上旋轉(zhuǎn),且所述回收卷筒設(shè)置為在一浮動(dòng)軸上旋轉(zhuǎn),以便裝載期間縱向移動(dòng)所述測(cè)試盒時(shí),所述絞盤在所述測(cè)試盒的外殼內(nèi)橫向移動(dòng)且容納所述絞盤的相對(duì)運(yùn)動(dòng)。
      [0030]該設(shè)備可包括使絞盤旋轉(zhuǎn)的手動(dòng)或電機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置??蛇x地,所述設(shè)備包括耦合至所述回收卷筒用于將帶推進(jìn)至測(cè)試部位的驅(qū)動(dòng)輪,以及用于選擇性地防止所述驅(qū)動(dòng)輪嚙合并驅(qū)動(dòng)所述回收卷筒的鎖定機(jī)構(gòu)。也可以使用電機(jī)驅(qū)動(dòng)形式的鎖定機(jī)構(gòu)。
      [0031]優(yōu)選地,所述設(shè)備包括在測(cè)試部位上的可移動(dòng)的蓋子,且所述鎖定機(jī)構(gòu)由于蓋子移至打開位置而脫開。
      [0032]優(yōu)選地,所述鎖定機(jī)構(gòu)包括被偏置為與所述驅(qū)動(dòng)輪嚙合的桿,以防止驅(qū)動(dòng)輪轉(zhuǎn)動(dòng),以及與蓋子相連的支托,該支托對(duì)應(yīng)于所述蓋子的移動(dòng)而移動(dòng),用于當(dāng)蓋子打開時(shí)將桿移動(dòng)至脫開的位置。
      [0033]再另一方面,提供了一種測(cè)試盒,其具有容納供給卷筒的供給室及容納回收卷筒的回收室,設(shè)置用于保持在所述供給室和所述回收室之間通過(guò)的帶,其中,供給室將供給卷筒容納在密封環(huán)境下,且回收卷筒在一浮動(dòng)軸上旋轉(zhuǎn)并可用于通過(guò)所述測(cè)試盒基底上的開口驅(qū)動(dòng)嚙合。
      [0034]優(yōu)選地,所述浮動(dòng)軸使得所述回收卷筒能夠在所述測(cè)試盒的外殼內(nèi)橫向滑動(dòng),以便容納用于驅(qū)動(dòng)所述回收卷筒的絞盤的相對(duì)運(yùn)動(dòng)。
      【附圖說(shuō)明】
      [0035]參考附圖并通過(guò)非限定性的示例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行更詳細(xì)的描述,其中:
      [0036]圖1是測(cè)試盒殼體的俯視圖;
      [0037]圖2是測(cè)試盒的仰視圖;
      [0038]圖3是測(cè)試盒的前面的透視圖;
      [0039]圖4是分析儀設(shè)備的背面的透視圖;
      [0040]圖5是裝入設(shè)備中的測(cè)試盒的透視圖;
      [0041]圖6是測(cè)試盒和設(shè)備的局部剖視圖;
      [0042]圖7是設(shè)備的背面的正面透視圖;
      [0043]圖8是設(shè)備的背面的平面圖;
      [0044]圖9是測(cè)試盒的后部的透視圖;
      [0045]圖10是測(cè)試盒的底部透視圖;
      [0046]圖11是測(cè)試盒的仰視圖,示出了回收卷筒的移位;
      [0047]圖12是測(cè)試盒的剖面透視圖;
      [0048]圖13是設(shè)備的正視圖;
      [0049]圖14是設(shè)備的頂部正面透視圖,無(wú)蓋板,示出了設(shè)備的內(nèi)部;
      [0050]圖15是設(shè)備內(nèi)部的正視圖;
      [0051]圖16是設(shè)備內(nèi)部的前視圖,示出了釋放狀態(tài)下的鎖定機(jī)構(gòu);
      [0052]圖17是圖16中設(shè)備的頂部透視圖,鎖定機(jī)構(gòu)處于釋放狀態(tài);和
      [0053]圖18示出了將測(cè)試盒插入到分析儀設(shè)備中。
      【具體實(shí)施方式】
      [0054]首先參考圖1,所示測(cè)試盒I的部分為殼體2的形式,其包括具有供給卷筒4和回收卷筒5的主體3。帶6自供給卷筒4延伸出來(lái),通過(guò)測(cè)試區(qū)7,至回收卷筒5上。
      [0055]供給卷筒4位于供給室8內(nèi),所述供給室8由前壁9、后壁10和側(cè)壁11限定。另一側(cè)壁12用于關(guān)閉室8。壁12固定到后壁10,且越過(guò)前壁9的端部13突出,從而在壁12和前壁9之間限定一小間隙14,用于使帶6離開室8。
      [0056]細(xì)長(zhǎng)的指狀物15自前壁9突出,且壁12設(shè)置為緊密靠近指狀物15,以當(dāng)帶6通過(guò)壁12與指狀物
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