測(cè)試探針的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測(cè)試探針的結(jié)構(gòu)改進(jìn)。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有電子類(lèi)產(chǎn)品在生產(chǎn)過(guò)程中均會(huì)涉及對(duì)其在接通電源情況下進(jìn)行相關(guān)參數(shù)檢測(cè)的工序，一般會(huì)采用測(cè)試探針來(lái)使其與電子類(lèi)產(chǎn)品的被測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行接觸并實(shí)現(xiàn)電性連接。如圖1所示，是目前LED光源，如COB (chip on board)光源封裝產(chǎn)品的一種常用的測(cè)試探針，其是采用通過(guò)金屬桿I ’上連接設(shè)有一金屬套2 ’，該金屬套2 ’的開(kāi)口和底部的金屬桿I’形成的腔體內(nèi)設(shè)置一探針頭4’和彈簧3’，通過(guò)金屬桿I’與彈簧3’、彈簧3’與探針頭4’的接觸的接觸的方式來(lái)將加載于金屬桿I’的測(cè)試電流傳送到探針頭4’。但經(jīng)過(guò)多次使用后，由于彈簧3’的變形造成探針頭4’、彈簧3’和金屬桿I’三者接觸不良；并且加之由于金屬桿I’較寬(需至少大于該金屬套2’的最外徑)，會(huì)遮擋光源，從而導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)的不準(zhǔn)確，甚至測(cè)試實(shí)驗(yàn)失敗。一專(zhuān)利公開(kāi)號(hào)CN1700020的提出一種測(cè)試探針，對(duì)于探針的強(qiáng)度和行程提出了改進(jìn)，但是其整體結(jié)構(gòu)與上述的現(xiàn)有測(cè)試探針結(jié)構(gòu)主體類(lèi)似，也存在上述的技術(shù)問(wèn)題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]因而，本發(fā)明針對(duì)上述不足，提出一種改進(jìn)的測(cè)試探針。
[0004]為此，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案進(jìn)行解決:
一種測(cè)試探針，包括:
一導(dǎo)體的桿體，該桿體的一端連接于一套體；
一導(dǎo)體的套體，該套體包括一圍合的壁面和一底面，該壁面遠(yuǎn)離該底面的一端形成一開(kāi)口，且該底面上開(kāi)設(shè)有一通孔，該壁面與該桿體的一端固定連接；
一導(dǎo)體的探針頭，該探針頭包括一支桿部和與之連接的一接觸部，該探針頭設(shè)置在該套體內(nèi)，且該支桿部穿設(shè)于該套體的底面上的該通孔，該接觸部至少有部分外露出該套體的該開(kāi)口 ；
一導(dǎo)體的彈簧，該彈簧套設(shè)在該探針頭的支桿部，其兩端受限于該探針頭的接觸部和該套體的底面；
一導(dǎo)線，該導(dǎo)線的一端連接于該支桿部，該導(dǎo)線的另一端連接于該桿體。
[0005]本發(fā)明采用如上技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)，可以避免因彈簧的形變而導(dǎo)致測(cè)試探針測(cè)試不良。
【附圖說(shuō)明】
[0006]圖1是現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試探針的剖視圖；
圖2是本發(fā)明一實(shí)施例的剖視圖。
【具體實(shí)施方式】
[0007]為進(jìn)一步說(shuō)明各實(shí)施例，本發(fā)明提供有附圖。這些附圖為本發(fā)明揭露內(nèi)容的一部分，其主要用以說(shuō)明實(shí)施例，并可配合說(shuō)明書(shū)的相關(guān)描述來(lái)解釋實(shí)施例的運(yùn)作原理。配合參考這些內(nèi)容，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員應(yīng)能理解其他可能的實(shí)施方式以及本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)。圖中的組件并未按比例繪制，而類(lèi)似的組件符號(hào)通常用來(lái)表示類(lèi)似的組件。
[0008]現(xiàn)結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步說(shuō)明。
[0009]參閱圖2所示，作為本發(fā)明一實(shí)施例的測(cè)試探針，包括:
一導(dǎo)體的桿體I，該桿體I的一端連接于一套體2 ；
一導(dǎo)體的套體2，該套體2包括一圍合的壁面21和一底面22，該壁面21遠(yuǎn)離該底面22的一端形成一開(kāi)口 211，且該底面22上開(kāi)設(shè)有一通孔221，該壁面21與該桿體I的一端固定連接;
一導(dǎo)體的探針頭3，該探針頭3包括一支桿部32和與之連接的一接觸部31，在該接觸部31與該支桿部32連接處，該接觸部31的外徑大于該支桿部32的外徑，即二者連接處形成一個(gè)階面，該探針頭3設(shè)置在該套體2內(nèi)，且該支桿部32穿設(shè)于該套體2的底面22上的該通孔221，該接觸部31至少有部分外露出該套體2的該開(kāi)口 211 ；
一導(dǎo)體的彈簧4，該彈簧4套設(shè)在該探針頭3的支桿部32，其兩端受限于該探針頭3的接觸部31和該套體2的底面22，從而壓縮彈簧4進(jìn)行蓄能；
一導(dǎo)線5，該導(dǎo)線5的一端連接于該支桿部32，該導(dǎo)線5的另一端連接于該桿體I。
[0010]該實(shí)施的導(dǎo)體的桿體1、導(dǎo)體的套體2、導(dǎo)體的探針頭3和導(dǎo)體的彈簧4均可以采用金屬材質(zhì)實(shí)現(xiàn)，具有良好導(dǎo)電性能和物理強(qiáng)度。
[0011]于該實(shí)施例優(yōu)選的，該探針頭3的支桿部32還形成一限制結(jié)構(gòu)，用于限制該支桿部32從該套體2的底面22的通孔221脫出。該實(shí)施例具體的，該支桿部32的限制結(jié)構(gòu)是由該支桿部32以“7”字型彎折形成。當(dāng)然的，本領(lǐng)域技術(shù)人員還可以采用其他方式實(shí)現(xiàn)，例如在探針頭3的支桿部32位于該套體2的底面22的通孔221外露部分連接一個(gè)外徑大于通孔221孔徑的部件，以進(jìn)行限制，避免脫出。但是該實(shí)施例的支桿部32的“7”字形的設(shè)計(jì)也是用于與導(dǎo)線5的弧形設(shè)計(jì)相配合的，起到更加良好的其他技術(shù)效果，將在下面詳細(xì)說(shuō)明。
[0012]于該實(shí)施例優(yōu)選的，該導(dǎo)線5的兩端是通過(guò)焊接而分別連接設(shè)置在該支桿部32和該桿體I ;且該導(dǎo)線5是彎成具有一個(gè)弧形結(jié)構(gòu)后進(jìn)行連接的。
[0013]于該實(shí)施例優(yōu)選的，為了避免導(dǎo)線老化而影響導(dǎo)電性，該導(dǎo)線5上還包覆一層絕緣層。該導(dǎo)線5采用導(dǎo)電性能優(yōu)良的材質(zhì)實(shí)現(xiàn)，如采用硅橡膠電線(一種銅芯軟線)。迎合該實(shí)施例的支桿部32的“7”字形的設(shè)計(jì)，將導(dǎo)線5彎成具有一個(gè)弧形結(jié)構(gòu)，再分別與支桿部32和桿體I焊接在一起。這樣既可讓探針頭3比較靈活的活動(dòng)。該導(dǎo)線5的弧形設(shè)計(jì)能有效的保證在探針頭3在大幅度活動(dòng)情況下，導(dǎo)線5整體擺動(dòng)幅度小，進(jìn)而減少導(dǎo)線5因金屬疲勞而導(dǎo)致導(dǎo)線5損壞的問(wèn)題。
[0014]實(shí)施例的測(cè)試探針在未進(jìn)行測(cè)試時(shí)，由于彈簧4的作用，探針頭3露在套體2外面。測(cè)試時(shí)，該桿體I下壓，探針頭3與被測(cè)試對(duì)象(如COB燈)的電極接觸，此時(shí)探針頭3縮進(jìn)套體2內(nèi)(縮進(jìn)去的程度與如COB板等測(cè)試對(duì)象的厚度有關(guān))。由于彈簧4的形變作用，迫使探針頭3與被測(cè)試對(duì)象(如COB燈)的電極緊緊接觸，從而減少接觸電阻，導(dǎo)線5將探針頭3與桿體I直接連接，避免現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試探針中因彈簧形變，造成電接觸不良的現(xiàn)象。
[0015]綜上可見(jiàn)，該實(shí)施例與現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試探針相比具體如下優(yōu)點(diǎn):
一、改良前的測(cè)試探針，電流是經(jīng)過(guò)金屬桿I’流到彈簧3’再到探針頭4’；而改良后的該實(shí)施例，電流是由桿體I通過(guò)導(dǎo)線5直接傳送到探針頭3，避免因彈簧形變而導(dǎo)致測(cè)試不良缺陷；
二、改良前的測(cè)試探針的金屬桿I’是較寬的桿體，需至少大于該金屬套2’的最外徑；而改良后的該實(shí)施例，桿體I只是與該套體2的壁面21進(jìn)行連接固定，可以采用較細(xì)的金屬桿，從而不影響一些產(chǎn)品的測(cè)試，如測(cè)試LED光源；
三、改良前的測(cè)試探針，其金屬套2’與金屬桿I’需要底部焊接，銜接不牢固，容易損壞，也不容易更換彈簧3’ ；而改良后的該實(shí)施例則無(wú)這些不足。
[0016]由此可見(jiàn)，該實(shí)施例克服了原先的測(cè)試探針因彈簧形變?cè)斐山饘贄U與探針頭接觸不良影響測(cè)試的缺陷，具有使用壽命長(zhǎng)，減少了接觸電阻的優(yōu)點(diǎn)；且該實(shí)施例的桿體可以采用圓柱形的細(xì)金屬桿，對(duì)于如LED光源的測(cè)試中，能減少對(duì)測(cè)試燈具所發(fā)出的光的遮擋，從而減少測(cè)試誤差的優(yōu)點(diǎn)。
[0017]盡管結(jié)合優(yōu)選實(shí)施方案具體展示和介紹了本發(fā)明，但所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該明白，在不脫離所附權(quán)利要求書(shū)所限定的本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，在形式上和細(xì)節(jié)上可以對(duì)本發(fā)明做出各種變化，均為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種測(cè)試探針，其特征在于，包括: 一導(dǎo)體的桿體，該桿體的一端連接于一套體； 一導(dǎo)體的套體，該套體包括一圍合的壁面和一底面，該壁面遠(yuǎn)離該底面的一端形成一開(kāi)口，且該底面上開(kāi)設(shè)有一通孔，該壁面與該桿體的一端固定連接； 一導(dǎo)體的探針頭，該探針頭包括一支桿部和與之連接的一接觸部，該探針頭設(shè)置在該套體內(nèi)，且該支桿部穿設(shè)于該套體的底面上的該通孔，該接觸部至少有部分外露出該套體的該開(kāi)口 ； 一導(dǎo)體的彈簧，該彈簧套設(shè)在該探針頭的支桿部，其兩端受限于該探針頭的接觸部和該套體的底面； 一導(dǎo)線，該導(dǎo)線的一端連接于該支桿部，該導(dǎo)線的另一端連接于該桿體。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針，其特征在于:該探針頭的支桿部還形成一限制結(jié)構(gòu)，用于限制該支桿部從該套體的底面的通孔脫出。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試探針，其特征在于:該支桿部的限制結(jié)構(gòu)是由該支桿部以“7”字型彎折形成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針，其特征在于:該導(dǎo)線的兩端是通過(guò)焊接而分別連接設(shè)置在該支桿部和該桿體。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針，其特征在于:該導(dǎo)線是彎成具有一個(gè)弧形結(jié)構(gòu)后進(jìn)行連接的。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針，其特征在于:該導(dǎo)線上還包覆一層絕緣層。
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明涉及測(cè)試探針的結(jié)構(gòu)改進(jìn)。本發(fā)明提出一種測(cè)試探針，包括：一導(dǎo)體的桿體，該桿體的一端連接于一套體；一導(dǎo)體的套體，該套體包括一圍合的壁面和一底面，該壁面遠(yuǎn)離該底面的一端形成一開(kāi)口，且該底面上開(kāi)設(shè)有一通孔，該壁面與該桿體的一端固定連接；一導(dǎo)體的探針頭，該探針頭包括一支桿部和與之連接的一接觸部，該探針頭設(shè)置在該套體內(nèi)，且該支桿部穿設(shè)于該套體的底面上的該通孔，該接觸部至少有部分外露出該套體的該開(kāi)口；一導(dǎo)體的彈簧，該彈簧套設(shè)在該探針頭的支桿部，其兩端受限于該探針頭的接觸部和該套體的底面；一導(dǎo)線，該導(dǎo)線的一端連接于該支桿部，該導(dǎo)線的另一端連接于該桿體。本發(fā)明用于對(duì)電子類(lèi)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試。
【IPC分類(lèi)】G01R1-067
【公開(kāi)號(hào)】CN104880585
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510238754
【發(fā)明人】高春瑞
【申請(qǐng)人】廈門(mén)多彩光電子科技有限公司
【公開(kāi)日】2015年9月2日
【申請(qǐng)日】2015年5月12日