一種cpu rv轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試系統(tǒng)及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試系統(tǒng)及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著電子科技技術(shù)的不斷發(fā)展與進(jìn)步,用戶對(duì)電子產(chǎn)品性能的要求也不斷提高,為了追求更高的響應(yīng)速度和產(chǎn)品性能,提高CPU的工作性能成為發(fā)展的必然,但是在提高CPU工作性能的同時(shí),CPU的功耗也必然會(huì)出現(xiàn)相應(yīng)的提高,因此人們對(duì)CPU VR電壓轉(zhuǎn)換損耗的關(guān)注也越來越多,而CPU VR轉(zhuǎn)換效率是判斷CPU VR電壓轉(zhuǎn)換性能的唯一標(biāo)準(zhǔn)。
[0003]目前,對(duì)于CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試方法主要包括:通過在輸入端串聯(lián)精密電阻,通過精密電阻測(cè)量輸入電流,根據(jù)測(cè)試到的輸入電流,進(jìn)行相應(yīng)的計(jì)算,從而獲得CPU VR轉(zhuǎn)換效率。
[0004]針對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)的這種CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試方法,由于CPU VR輸出電流在滿載時(shí)會(huì)到達(dá)200A以上,大電流將導(dǎo)致精密電阻產(chǎn)生大量的熱量,精密電阻受本身精度和溫度的影響,將使測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生較大的偏差,因此,通過現(xiàn)有技術(shù)測(cè)量CPU VR轉(zhuǎn)換效率,測(cè)試精度較低。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]本發(fā)明提供一種CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試系統(tǒng)及方法,能夠提高CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)量精度。
[0006]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試系統(tǒng),包括:計(jì)算裝置、可編程直流電源、可編程直流電子負(fù)載及數(shù)據(jù)采集器;
[0007]所述可編程直流電子負(fù)載,與CPU VR輸出端相連,用于對(duì)所述CPU VR進(jìn)行拉載,并在拉載過程中獲取CPU VR輸出電流;
[0008]所述可編程直流電源,與所述CPU VR所在主板的電源輸入端相連,用于為所述主板提供輸入電壓,并在所述拉載過程中獲取CPU VR輸入電流;
[0009]所述數(shù)據(jù)采集器,用于在所述CPU VR輸入端的輸入電壓采集點(diǎn)采集CPU VR輸入電壓,在所述CPU VR輸出端的輸出電壓采集點(diǎn)采集CPU VR輸出電壓;
[0010]所述計(jì)算裝置,用于從所述可編程直流電源獲取所述CPU VR輸入電流,從所述可編程直流電子負(fù)載獲取所述CPU VR輸出電流,從所述數(shù)據(jù)采集器獲取所述CPU VR輸入電壓及CPU VR輸出電壓,并根據(jù)獲取的所述CPU VR輸入電流、CPU VR輸出電流、CPU VR輸入電壓及CPU VR輸出電壓,計(jì)算CPU VR轉(zhuǎn)換效率。
[0011]優(yōu)選地,該系統(tǒng)進(jìn)一步包括:PSU電源;
[0012]所述PSU電源,與所述主板上Driver-MOS的電源輸入端相連,用于為Driver-MOS提供工作電壓;
[0013]所述數(shù)據(jù)采集器,進(jìn)一步用于采集所述Driver-MOS的工作電壓和工作電流;
[0014]所述計(jì)算裝置,用于通過所述數(shù)據(jù)采集器獲取Driver-MOS的工作電壓及Driver-MOS的工作電流,并進(jìn)一步根據(jù)獲取的Driver-MOS的工作電壓及Driver-MOS的工作電流,執(zhí)行所述計(jì)算CPU VR轉(zhuǎn)換效率。
[0015]優(yōu)選地,所述計(jì)算裝置,用于通過以下公式計(jì)算得出CPU VR轉(zhuǎn)換效率§:
[0016]§ = (V0UtX10Ut)/(VinXIin+Vffl0SXIffl0S);
[0017]其中,Iin^ CPU VR輸入電流,ItjutSCPU VR輸出電流,V in^ CPU VR輸入電壓,VwtSCPU VR輸出電壓,V.為Driver-MOS工作電壓,I.為Driver-MOS工作電流。
[0018]優(yōu)選地,該系統(tǒng)進(jìn)一步包括:精密電阻;
[0019]所述精密電阻分別與所述PSU電源及Driver-MOS的電源輸入端相連;
[0020]所述數(shù)據(jù)采集器,進(jìn)一步用于采集所述精密電阻兩端的電壓;
[0021]所述計(jì)算裝置,進(jìn)一步用于從所述數(shù)據(jù)采集器獲取所述精密電阻兩端的電壓,并根據(jù)所述精密電阻的電阻值,通過計(jì)算獲得所述Driver-MOS工作電流。
[0022]優(yōu)選地,所述可編程直流電源,用于通過Sense線與所述CPU VR輸入端的輸入電壓采集點(diǎn)相連,實(shí)時(shí)監(jiān)控所述CPU VR輸入電壓,并根據(jù)所述CPU VR輸入電壓調(diào)整自身的輸出電壓。
[0023]優(yōu)選地,該系統(tǒng)進(jìn)一步包括:Intel Load Board ;
[0024]所述Intel Load Board—端與所述CPU VR輸出端相連,另一端與所述可編程直流電子負(fù)載相連,其中,所述可編程直流電子負(fù)載上的負(fù)載線通過螺絲固定于所述IntelLoad Board上,所述Intel Load Board用于為所述可編程直流電子負(fù)載提供平臺(tái),所述可編程直流電子負(fù)載通過該平臺(tái)對(duì)所述CPU VR進(jìn)行拉載。
[0025]本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試方法,該方法包括:
[0026]將可編程直流電源與CPU VR所在主板的電源輸入端相連,對(duì)所述CPU VR所在主板提供輸入電壓;
[0027]將可編程直流電子負(fù)載與所述CPU VR輸出端相連,對(duì)所述CPU VR進(jìn)行拉載;
[0028]所述可編程直流電源在所述拉載過程中獲取CPU VR輸入電流;
[0029]所述可編程直流電子負(fù)載在所述拉載過程中獲取CPU VR輸出電流;
[0030]數(shù)據(jù)采集器在CPU VR輸入端的輸入電壓采集點(diǎn)采集CPU VR輸入電壓,在CPU VR輸出端的輸出電壓采集點(diǎn)采集CPU VR輸出電壓;
[0031 ] 計(jì)算裝置從所述可編程直流電源獲取所述CPU VR輸入電流,從可編程直流電子負(fù)載獲取CPU VR輸出電流;
[0032]所述計(jì)算裝置通過所述數(shù)據(jù)采集器獲取所述CPU VR輸出電壓及CPU VR輸入電壓;
[0033]所述計(jì)算裝置根據(jù)獲取的所述CPU VR輸入電流、CPU VR輸出電流、CPU VR輸出電壓、CPU VR輸入電壓,計(jì)算CPU VR轉(zhuǎn)換效率。
[0034]優(yōu)選地,該方法進(jìn)一步包括:在所述主板上Driver-MOS的電源輸入端連接PSU電源,為所述Driver-MOS提供工作電壓;
[0035]所述數(shù)據(jù)采集器進(jìn)一步采集所述Driver-MOS的工作電壓和工作電流;
[0036]所述計(jì)算裝置通過所述數(shù)據(jù)采集器獲取Driver-MOS的工作電壓及Driver-MOS的工作電流,并進(jìn)一步根據(jù)獲取的Driver-MOS的工作電壓及Driver-MOS的工作電流,計(jì)算CPU VR轉(zhuǎn)換效率。
[0037]優(yōu)選地,所述計(jì)算裝置計(jì)算CPU VR轉(zhuǎn)換效率包括:
[0038]所述計(jì)算裝置通過以下公式計(jì)算得出CPU VR轉(zhuǎn)換效率§:
[0039]§ = (V0UtX10Ut)/(VinXIin+Vffl0SXIffl0S);
[0040]其中,1&為CPU VR輸入電流,I QUt為CPU VR輸出電流,V &為CPU VR輸入電壓,VwtSCPU VR輸出電壓,V.為Driver-MOS工作電壓,I.為Driver-MOS工作電流。
[0041]優(yōu)選地,所述數(shù)據(jù)采集器采集所述Driver-MOS的工作電流包括:在所述PSU電源與所述Driver-MOS的電源輸入端之間連接一個(gè)精密電阻,所述數(shù)據(jù)采集器采集所述精密電阻兩端的電壓,所述計(jì)算裝置從所述數(shù)據(jù)采集器獲取所述精密電阻兩端的電壓,并根據(jù)所述精密電阻的電阻值,通過計(jì)算獲得所述Driver-MOS工作電流。
[0042]優(yōu)選地,所述可編程直流電源通過Sense線與所述CPU VR輸入端的輸入電壓采集點(diǎn)相連,實(shí)時(shí)監(jiān)控所述CPU VR輸入電壓,并根據(jù)所述CPU VR輸入電壓調(diào)整自身的輸出電壓。
[0043]優(yōu)選地,在所述可編程直流電子負(fù)載與所述CPU VR輸出端之間連接Intel LoadBoard,其中,所述可編程直流電子負(fù)載上的負(fù)載線通過螺絲固定于所述Intel Load Board上,所述Intel Load Board用于為所述可編程直流電子負(fù)載提供平臺(tái),所述可編程直流電子負(fù)載通過該平臺(tái)對(duì)所述CPU VR進(jìn)行拉載。
[0044]本發(fā)明實(shí)施例提供了一種CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試系統(tǒng)及方法,該系統(tǒng)包括計(jì)算裝置、可編程直流電源、可編程直流電子負(fù)載及數(shù)據(jù)采集器,由可編程直流電源對(duì)CPU VR所在主板提供輸入電壓,由可編程直流電子負(fù)載對(duì)CPU VR進(jìn)行拉載,在拉載過程中,可編程直流電源獲取CPU VR輸入電流,可編程直流電子負(fù)載獲取CPU VR輸出電流;數(shù)據(jù)采集器通過CPU VR輸入端的輸入電壓采集點(diǎn)采集CPU VR輸入電壓,通過CPU VR輸出端的輸出電壓采集點(diǎn)采集CPU VR輸出電壓;計(jì)算裝置分別從可編程直流電源、可編程直流電子負(fù)載及數(shù)據(jù)采集器獲取CPU VR輸入電流、CPU VR輸出電流、CPU VR輸入電壓及CPU VR輸出電壓,并通過獲取的電流和電壓參數(shù)計(jì)算CPU VR轉(zhuǎn)換效率,由于CPU VR輸入電流是由可編程直流電源直接獲得,在對(duì)CPU VR拉載過程中,不會(huì)產(chǎn)生因?yàn)殡娏髟龃蟀l(fā)熱而導(dǎo)致所獲取的CPU VR輸入電流不準(zhǔn)確的情況發(fā)生,從而提高CPU VR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)量精度。
【附圖說明】
[0045]圖1是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例提供的一種CPUVR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試系統(tǒng)示意圖;
[0046]圖2是本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例提供的一種CPUVR轉(zhuǎn)換效率的測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖;
[0047]圖3是本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例提供的一種C