電子溫度測(cè)量電路結(jié)構(gòu)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本申請(qǐng)涉及溫度測(cè)量領(lǐng)域，特別涉及電子溫度測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，具體是指一種電子溫度測(cè)量電路結(jié)構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)中，電子體溫計(jì)一般是將中心阻值為一特定電阻(例如特定溫度37°C，中心阻值為30K)的熱敏電阻的溫度和阻值關(guān)系存入內(nèi)部存儲(chǔ)器中。但是熱敏電阻的中心阻值通常允許1% (29.7K到30.3K)的誤差，而且由于熱敏電阻本身的非線性特性，不同中心阻值的熱敏電阻，其溫度曲線是不相同的，而芯片內(nèi)部預(yù)設(shè)的溫度曲線是唯一的，從而導(dǎo)致測(cè)量的誤差。
[0003]請(qǐng)參閱圖1所示，其是傳統(tǒng)的電子體溫測(cè)量電路的模塊示意圖，RS為熱敏電阻，RF為參考電阻。根據(jù)RC振蕩理論，測(cè)溫計(jì)數(shù)模塊對(duì)參考電阻和熱敏電阻的振蕩波形分別計(jì)數(shù)。假設(shè)在相同測(cè)量時(shí)間內(nèi)，對(duì)參考電阻RF計(jì)數(shù)到某一固定值N37，對(duì)熱敏電阻RS計(jì)數(shù)到NI，則滿足公式N37XTRF = NI XTRS。根據(jù)計(jì)數(shù)結(jié)果由于該算法可基本消除振蕩器常數(shù)kosc的影響，因此振蕩周期正比于電阻值，根據(jù)NI的值，在ROM查找表中查找對(duì)應(yīng)的溫度，通過(guò)輸出模塊輸出。由于ROM查找表中存儲(chǔ)的通常是特定溫度37 °C，中心阻值為30K的熱敏電阻的溫度曲線，而外接的參考電阻通常是30K。因此37°C時(shí)，NI = N37。但是由于熱敏電阻的中心阻值誤差通常為1% (29.7K到30.3K)，不同中心阻值的熱敏電阻其溫度曲線是不相同的，從而導(dǎo)致了測(cè)量的誤差。
[0004]因此在生產(chǎn)測(cè)試時(shí)大致存在兩種改進(jìn)辦法:
一是在測(cè)試時(shí)，完全根據(jù)實(shí)際的熱敏電阻的曲線，重寫電路內(nèi)部的溫度曲線；
二是在電路內(nèi)建電阻和電容補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)以及開關(guān)控制邏輯或內(nèi)建參數(shù)表，利用外部的校正系統(tǒng)選取合適的補(bǔ)償組合，利用增大電壓，電流熔斷等方式保留所選取的參數(shù)組。
[0005]完全重寫溫度曲線在生產(chǎn)中需要耗費(fèi)大量的調(diào)試時(shí)間，而利用外部的校正系統(tǒng)進(jìn)行參數(shù)補(bǔ)償則需要外部軟硬件的支持，增加了生產(chǎn)成本。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本申請(qǐng)的目的是克服了上述現(xiàn)有技術(shù)中的缺點(diǎn)，提供一種能夠根據(jù)熱敏電阻的中心阻值自調(diào)節(jié)預(yù)設(shè)的熱敏電阻曲線、更好的實(shí)現(xiàn)擬合不同中心阻值的熱敏電阻的溫度曲線、顯著降低測(cè)試成本、明顯減小測(cè)量誤差、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單實(shí)用、工作性能穩(wěn)定可靠、適用范圍較為廣泛的電子溫度測(cè)量電路結(jié)構(gòu)。
[0007]為了實(shí)現(xiàn)上述的目的，本申請(qǐng)的電子溫度測(cè)量電路結(jié)構(gòu)具有如下構(gòu)成:
該電子溫度測(cè)量電路結(jié)構(gòu)，包括熱敏電阻、參考電阻、振蕩電路模塊、測(cè)溫計(jì)數(shù)模塊、存儲(chǔ)模塊和測(cè)量信息輸出模塊，所述的熱敏電阻和參考電阻均通過(guò)所述的振蕩電路模塊、測(cè)溫計(jì)數(shù)模塊、存儲(chǔ)模塊和所述的測(cè)量信息輸出模塊相連接，其主要特點(diǎn)是，所述的電路結(jié)構(gòu)中還包括自調(diào)節(jié)模塊和測(cè)試切換開關(guān)，所述的振蕩電路模塊通過(guò)所述的測(cè)試切換開關(guān)分別與所述的自調(diào)節(jié)模塊和測(cè)溫計(jì)數(shù)模塊相連接，且所述的自調(diào)節(jié)模塊的輸出信號(hào)送至所述的存儲(chǔ)模塊，該自調(diào)節(jié)模塊根據(jù)所述的熱敏電阻的中心阻值和參考電阻的振蕩頻率，對(duì)所述的存儲(chǔ)模塊中預(yù)設(shè)的溫度曲線進(jìn)行修正，并將修正系數(shù)保存下來(lái)。
[0008]該電子溫度測(cè)量電路結(jié)構(gòu)中的自調(diào)節(jié)模塊包括:
計(jì)數(shù)單元，與所述的測(cè)試切換開關(guān)相連接，用于在相同時(shí)間內(nèi)對(duì)所述的熱敏電阻的中心值與參考電阻的振蕩波形進(jìn)行計(jì)數(shù)；
比較器，與所述的計(jì)數(shù)單元相連接，用于比較計(jì)數(shù)結(jié)果，得到修正系數(shù)α ;
修正系數(shù)存儲(chǔ)單元，與所述的比較器相連接，用于存儲(chǔ)修正系數(shù)α。
[0009]該電子溫度測(cè)量電路結(jié)構(gòu)中的振蕩電路模塊為RC振蕩器。
[0010]該電子溫度測(cè)量電路結(jié)構(gòu)中的存儲(chǔ)模塊為ROM存儲(chǔ)器。
[0011]采用了該申請(qǐng)的電子溫度測(cè)量電路結(jié)構(gòu)，由于其不需要依賴外部的軟硬件，可根據(jù)熱敏電阻的中心阻值，自調(diào)節(jié)內(nèi)部預(yù)設(shè)的熱敏電阻溫度曲線，并能夠?qū)⑿拚禂?shù)保存下來(lái)，從而更好的擬合不同中心阻值的熱敏電阻的溫度曲線，在減小測(cè)試成本的同時(shí)，減小了測(cè)量誤差，而且結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單實(shí)用，工作性能穩(wěn)定可靠，適用范圍較為廣泛。
【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的溫度測(cè)量電路功能模塊示意圖。
[0013]圖2為本申請(qǐng)的電子溫度測(cè)量電路結(jié)構(gòu)功能模塊示意圖。
[0014]圖3為本申請(qǐng)的電子溫度測(cè)量電路結(jié)構(gòu)中的自調(diào)節(jié)模塊的內(nèi)部功能單元示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0015]為了能夠更清楚地理解本申請(qǐng)的技術(shù)內(nèi)容，特舉以下實(shí)施例詳細(xì)說(shuō)明。
[0016]請(qǐng)參閱圖2和圖3所示，該電子溫度測(cè)量電路結(jié)構(gòu)，包括熱敏電阻、參考電阻、振蕩電路模塊、測(cè)溫計(jì)數(shù)模塊、存儲(chǔ)模塊和測(cè)量信息輸出模塊，所述的熱敏電阻和參考電阻均通過(guò)所述的振蕩電路模塊、測(cè)溫計(jì)數(shù)模塊、存儲(chǔ)模塊和所述的測(cè)量信息輸出模塊相連接，其中，所述的電路結(jié)構(gòu)中還包括自調(diào)節(jié)模塊和測(cè)試切換開關(guān)，所述的振蕩電路模塊通過(guò)所述的測(cè)試切換開關(guān)分別與所述的自調(diào)節(jié)模塊和測(cè)溫計(jì)數(shù)模塊相連接，且所述的自調(diào)節(jié)模塊的輸出信號(hào)送至所述的存儲(chǔ)模塊，該自調(diào)節(jié)模塊根據(jù)所述的熱敏電阻的中心阻值和參考電阻的振蕩頻率，所述的存儲(chǔ)模塊中預(yù)設(shè)的溫度曲線進(jìn)行修正，并將修正系數(shù)保存下來(lái)。
[0017]其中，所述的自調(diào)節(jié)模塊包括:
(1)計(jì)數(shù)單元，與所述的測(cè)試切換開關(guān)相連接，用于在相同時(shí)間內(nèi)對(duì)所述的熱敏電阻的中心值與參考電阻的振蕩波形進(jìn)行計(jì)數(shù)；
(2)比較器，與所述的計(jì)數(shù)單元相連接，用于比較計(jì)數(shù)結(jié)果，得到修正系數(shù)α;
(3)修正系數(shù)存儲(chǔ)單元，與所述的比較器相連接，用于存儲(chǔ)修正系數(shù)α。
[0018]同時(shí)，所述的熱敏電阻的中心阻值誤差為±1%時(shí)，所述的修正系數(shù)α的范圍為0.99?1.01 ;所述的測(cè)試切換開關(guān)控制電路的工作狀態(tài)，當(dāng)該測(cè)試切換開關(guān)設(shè)置