一種斷路器輔助開(kāi)關(guān)的測(cè)試系統(tǒng)及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測(cè)試系統(tǒng)及方法，具體涉及一種斷路器輔助開(kāi)關(guān)的測(cè)試系統(tǒng)及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]高壓斷路器輔助開(kāi)關(guān)是連接在高壓斷路器操動(dòng)機(jī)構(gòu)主動(dòng)桿軸上的低壓信號(hào)開(kāi)關(guān)，常作為二次控制回路中的分、合閘控制開(kāi)關(guān)以及聯(lián)鎖保護(hù)接點(diǎn)。當(dāng)高壓開(kāi)關(guān)的輔助開(kāi)關(guān)出現(xiàn)故障，會(huì)影響控制和信號(hào)回路，對(duì)整臺(tái)斷路器甚至于電網(wǎng)都會(huì)出現(xiàn)嚴(yán)重的危害。尤其是在分閘回路里，當(dāng)出現(xiàn)故障時(shí)出現(xiàn)側(cè)斷路器無(wú)法正常斷開(kāi)，那么必定會(huì)越級(jí)跳閘，造成全站失壓。而若輔助開(kāi)關(guān)的故障出現(xiàn)在信號(hào)和保護(hù)回路，會(huì)造成誤報(bào)警和保護(hù)失效的可能，那樣會(huì)嚴(yán)重影響供電安全。根據(jù)《國(guó)網(wǎng)公司十八項(xiàng)反事故措失》中12.1.3.8條明確規(guī)定:加強(qiáng)輔助開(kāi)關(guān)的檢查維護(hù)，防止由于觸電腐蝕，松動(dòng)變位、觸點(diǎn)轉(zhuǎn)換不靈活、切換不可靠等原因造成開(kāi)關(guān)設(shè)備拒動(dòng)。根據(jù)《電網(wǎng)設(shè)備狀態(tài)檢修技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)匯編》第一分冊(cè)中12(7.2)kV-40.5kV交流金屬封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備狀態(tài)評(píng)價(jià)導(dǎo)則中有明確規(guī)定，輔助開(kāi)關(guān)出現(xiàn)卡澀或接觸不良等現(xiàn)象，扣分值(應(yīng)扣分值X權(quán)重)為10X4 = 40分，直接評(píng)價(jià)為嚴(yán)重狀態(tài)。可見(jiàn)我們必須在檢查斷路器的過(guò)程中嚴(yán)格檢查輔助開(kāi)關(guān)的分?jǐn)嗄芰八薪狱c(diǎn)的導(dǎo)通。輔助開(kāi)關(guān)的檢測(cè)是衡量斷路器可靠性的重要指標(biāo)。
[0003]傳統(tǒng)方式檢測(cè)1kV小車(chē)斷路器的輔助開(kāi)關(guān)是在停電檢修，回路檢查的過(guò)程中的一個(gè)項(xiàng)目，一般通過(guò)萬(wàn)用表測(cè)量回路的導(dǎo)通狀態(tài)來(lái)判斷，這是現(xiàn)在常用的檢測(cè)輔助開(kāi)關(guān)的方法，但是存在很多弊病，一，可靠性不高，輔助開(kāi)關(guān)最常見(jiàn)的問(wèn)題就是接點(diǎn)粘連，接點(diǎn)粘連經(jīng)常會(huì)造成線(xiàn)圈的燒毀，而檢測(cè)中可能會(huì)出現(xiàn)雖然回路導(dǎo)通但是接點(diǎn)接觸不良，所以即使分合時(shí)檢測(cè)合格也不能保證輔助開(kāi)關(guān)完好。二，檢測(cè)時(shí)間長(zhǎng)，正常停電檢測(cè)的方法一般采用萬(wàn)用表量通斷檢測(cè)，一臺(tái)開(kāi)關(guān)16對(duì)接點(diǎn)如果全部檢測(cè)至少需要5分鐘，而且內(nèi)側(cè)接點(diǎn)測(cè)量起來(lái)十分困難。西安局有數(shù)千臺(tái)1kV小車(chē)開(kāi)關(guān)，如果每臺(tái)開(kāi)關(guān)都要這樣檢測(cè)，那就要花費(fèi)大量的時(shí)間人力。時(shí)間拖得越長(zhǎng)，越影響供電可靠性。因此，一般性檢修只檢查斷路器分合情況，單純輔助開(kāi)關(guān)的檢測(cè)經(jīng)常被省略。但是如果輔助開(kāi)關(guān)不能有效的檢查，就會(huì)存在一個(gè)很大的隱患在其中，導(dǎo)致控制回路斷線(xiàn)，信號(hào)指示不正常。粘連甚至?xí)斐删€(xiàn)圈燒毀。因此，必須尋找一個(gè)專(zhuān)門(mén)檢測(cè)輔助開(kāi)關(guān)的方法或儀器。才能切實(shí)有效的解決檢測(cè)輔助開(kāi)關(guān)的問(wèn)題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，提供了一種斷路器輔助開(kāi)關(guān)的測(cè)試系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)及方法能夠快速、有效的完成斷路器輔助開(kāi)關(guān)的測(cè)試。
[0005]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明所述的斷路器輔助開(kāi)關(guān)的測(cè)試系統(tǒng)包括處理器、用于控制斷路器輔助開(kāi)關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的通斷狀態(tài)的多路開(kāi)關(guān)、用于控制所述多路開(kāi)關(guān)的控制器、用于檢測(cè)斷路器輔助開(kāi)關(guān)各節(jié)點(diǎn)的通斷狀態(tài)的輔助開(kāi)關(guān)通斷測(cè)試電路、以及用于檢測(cè)斷路器輔助開(kāi)關(guān)各閉合節(jié)點(diǎn)的接觸電阻的輔助開(kāi)關(guān)接觸電阻測(cè)試電路；
[0006]處理器的輸出端與控制器的輸入端相連接，控制器的輸出端與多路開(kāi)關(guān)的控制端相連接，輔助開(kāi)關(guān)通斷測(cè)試電路的輸出端及輔助開(kāi)關(guān)接觸電阻測(cè)試電路的輸出端均與處理器相連接。
[0007]所述斷路器輔助開(kāi)關(guān)中設(shè)有16對(duì)節(jié)點(diǎn)。
[0008]所述輔助開(kāi)關(guān)通斷測(cè)試電路包括16個(gè)發(fā)光二極管、電平轉(zhuǎn)換器、以及用于將發(fā)光二極管發(fā)出的光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)的16個(gè)光電轉(zhuǎn)換器，任意一個(gè)發(fā)光二極管均與斷路器輔助開(kāi)關(guān)中對(duì)應(yīng)一對(duì)節(jié)點(diǎn)中的兩個(gè)節(jié)點(diǎn)相連接，光電轉(zhuǎn)換器的輸出端與電平轉(zhuǎn)換器的輸入端相連接，電平轉(zhuǎn)換器的輸出端與處理器連接。
[0009]還包括放大器、采樣保持電路、A/D轉(zhuǎn)換器、用于給斷路器內(nèi)的分合閘線(xiàn)圈提供電流的分合閘線(xiàn)圈電流產(chǎn)生電路、用于采集分合閘線(xiàn)圈電流產(chǎn)生電路輸出端的電壓信號(hào)的霍爾傳感器，霍爾傳感器的輸出端依次經(jīng)放大器、采樣保持電路及A/D轉(zhuǎn)換器與處理器的輸入端相連接，分合閘線(xiàn)圈電流產(chǎn)生電路的控制端與處理器的輸出端相連接。
[0010]處理器通過(guò)總線(xiàn)與控制器的輸入端、輔助開(kāi)關(guān)通斷測(cè)試電路的輸出端、輔助開(kāi)關(guān)接觸電阻測(cè)試電路的輸出端、A/D轉(zhuǎn)換器及分合閘線(xiàn)圈電流產(chǎn)生電路的控制端通過(guò)總線(xiàn)相連接。
[0011]處理器還連接有顯示器及存儲(chǔ)器。
[0012]本發(fā)明所述的斷路器輔助開(kāi)關(guān)的測(cè)試方法包括以下步驟:
[0013]處理器發(fā)出開(kāi)啟信號(hào)，控制器根據(jù)所述開(kāi)啟信號(hào)控制多路開(kāi)關(guān)使斷路器輔助開(kāi)關(guān)工作，輔助開(kāi)關(guān)接觸電阻測(cè)試電路檢測(cè)斷路器輔助開(kāi)關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)的電阻信息，并將所述斷路器輔助開(kāi)關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)的電阻信息轉(zhuǎn)發(fā)至處理器中，處理器根據(jù)所述斷路器輔助開(kāi)關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)的電阻信息判斷斷路器輔助開(kāi)關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)的電阻值是否大于等于預(yù)設(shè)電阻值，當(dāng)斷路器輔助開(kāi)關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)的電阻值大于等于預(yù)設(shè)電阻值時(shí)，則產(chǎn)生報(bào)警信號(hào)，并輸出所述報(bào)警信號(hào)，當(dāng)斷路器輔助開(kāi)關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)的電阻值小于預(yù)設(shè)電阻值時(shí)，則控制分合閘線(xiàn)圈電流產(chǎn)生電路產(chǎn)生電流信號(hào)，并將所述電流信號(hào)輸入到斷路器的分合閘線(xiàn)圈中，使斷路器合閘，輔助開(kāi)關(guān)通斷測(cè)試電路檢測(cè)斷路器輔助開(kāi)關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的當(dāng)前的通斷狀態(tài)信息，并將所述斷路器輔助開(kāi)關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的通斷狀態(tài)信息轉(zhuǎn)發(fā)至處理器中，處理器根據(jù)斷路器輔助開(kāi)關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的通斷狀態(tài)信息判斷斷路器輔助開(kāi)關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的關(guān)斷狀態(tài)是否正確，當(dāng)斷路器輔助開(kāi)關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的關(guān)斷狀態(tài)不正確時(shí)，則產(chǎn)生報(bào)警信號(hào)；輔助開(kāi)關(guān)接觸電阻測(cè)試電路檢測(cè)斷路器輔助開(kāi)關(guān)中當(dāng)前閉合節(jié)點(diǎn)的電阻信息，并將斷路器輔助開(kāi)關(guān)中當(dāng)前閉合節(jié)點(diǎn)的電阻信息轉(zhuǎn)發(fā)至處理器中，處理器根據(jù)斷路器輔助開(kāi)關(guān)中當(dāng)前閉合節(jié)點(diǎn)的電阻信息判斷斷路器輔助開(kāi)關(guān)中當(dāng)前閉合節(jié)點(diǎn)的電阻是否大于等于預(yù)設(shè)電阻值，當(dāng)斷路器輔助開(kāi)關(guān)中當(dāng)前閉合節(jié)點(diǎn)的電阻大于等于預(yù)設(shè)電阻值時(shí)，則產(chǎn)生報(bào)警信號(hào)；
[0014]同時(shí)，霍爾傳感器獲取分合閘線(xiàn)圈電流產(chǎn)生電路輸出端的電壓信號(hào)，所述電壓信號(hào)依次經(jīng)放大、采樣保持及A/D轉(zhuǎn)換后輸入到處理器，處理器存儲(chǔ)經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換后電壓信號(hào)。
[0015]本發(fā)明具有以下有益效果:
[0016]本發(fā)明所述的斷路器輔助開(kāi)關(guān)的測(cè)試系統(tǒng)在檢測(cè)過(guò)程中，通過(guò)多路開(kāi)關(guān)控制斷路器輔助開(kāi)關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的閉合狀態(tài)，然后通過(guò)輔助開(kāi)關(guān)通斷測(cè)試電路獲取斷路器輔助開(kāi)關(guān)中各節(jié)點(diǎn)中的通斷狀態(tài)，同時(shí)通過(guò)輔助開(kāi)關(guān)接觸電阻測(cè)試電路檢測(cè)斷路器輔助開(kāi)關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)的接觸電阻，處理器根據(jù)斷路器輔助開(kāi)關(guān)中各節(jié)點(diǎn)的通斷狀態(tài)及閉合節(jié)點(diǎn)中的接觸電阻得到斷路器輔助開(kāi)關(guān)是否正常工作，從而完成對(duì)斷路器輔助開(kāi)關(guān)的測(cè)試，另外，在測(cè)試過(guò)程中參考了斷路器輔助開(kāi)關(guān)中閉合節(jié)點(diǎn)中的接觸電阻，因此測(cè)試的可靠性較高。本發(fā)明所述的斷路器輔助開(kāi)關(guān)的測(cè)試方法在測(cè)試過(guò)程中，通過(guò)分合閘線(xiàn)圈電流產(chǎn)生電路給斷路器內(nèi)的分合閘線(xiàn)圈提供電流，再通過(guò)輔助開(kāi)關(guān)通斷測(cè)試電路及輔助開(kāi)關(guān)接觸電阻測(cè)試電路檢測(cè)斷路器輔助開(kāi)關(guān)的響應(yīng)信息，從而測(cè)試得到斷路器輔助開(kāi)關(guān)是否能夠有效響應(yīng)斷路器的分合閘狀態(tài)。
【附圖說(shuō)明】
[0017]圖1為本發(fā)明的原理圖。
[0018]其中，I為斷路器輔助開(kāi)關(guān)、2為光電轉(zhuǎn)換器、3為電平轉(zhuǎn)換器、4為總線(xiàn)、5為多路開(kāi)關(guān)、6為分合閘線(xiàn)圈電流產(chǎn)生電路、7為斷路器、8為霍爾傳感器、9為放大器、10為采樣保持電路、11為A/D轉(zhuǎn)換器、12為控制器、13為輔助開(kāi)關(guān)接觸電阻測(cè)試電路、14為處理器、15為存儲(chǔ)器、16為顯示器。
【具體實(shí)施方式】
[0019]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)描述:
[0020]參考圖1，本發(fā)明所述的斷路器輔助開(kāi)關(guān)的測(cè)試系統(tǒng)包括處理器14、用于控制斷路器輔助開(kāi)關(guān)I中各節(jié)點(diǎn)的通斷狀態(tài)的多路開(kāi)關(guān)5、用于控制所述多路開(kāi)關(guān)5的控制器12、用于檢測(cè)斷路器輔助開(kāi)關(guān)I各節(jié)點(diǎn)的通斷狀態(tài)的輔助開(kāi)關(guān)通斷測(cè)試電路、以及用于檢測(cè)斷路器輔助開(kāi)關(guān)I各閉合節(jié)點(diǎn)的接觸電阻的輔助開(kāi)關(guān)接觸電阻測(cè)試電路13 ;處理器14的輸出端與控制器12的輸入端相連接，控制器12的輸出端與多路開(kāi)關(guān)5的控制端相連接，輔助開(kāi)關(guān)通斷測(cè)試電路的輸出端及輔助開(kāi)關(guān)接觸電阻測(cè)試電路13的輸出端均與處理器14相連接，處理器14還連接有顯示器16及存儲(chǔ)器15。
[0021]需要說(shuō)明的是，斷路器輔助開(kāi)關(guān)I中設(shè)有16對(duì)節(jié)點(diǎn)，輔助開(kāi)關(guān)通斷測(cè)試電路包括16個(gè)發(fā)光二極管、電平轉(zhuǎn)換器3、以及用于將發(fā)光二極管發(fā)出的光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)的16個(gè)光