一種導(dǎo)電材料電導(dǎo)率均勻程度評估方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種無損檢測方法，特別是涉及一種導(dǎo)電材料電導(dǎo)率均勻程度評估方法。
【背景技術(shù)】
[0002]材料電導(dǎo)率是一項(xiàng)重要的物理性能指標(biāo)，電導(dǎo)率是表征材料導(dǎo)電能力強(qiáng)弱的一個(gè)重要物理量。
[0003]渦流檢測法是在電磁感應(yīng)原理基礎(chǔ)上的一種無損檢測方法，它適用于導(dǎo)電材料。將工件置于交變磁場中，在導(dǎo)體中就感應(yīng)出渦流，工件內(nèi)電導(dǎo)率的變化將導(dǎo)致感應(yīng)電流的變化，利用這種現(xiàn)象可以檢測工件電導(dǎo)率。
[0004]隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，復(fù)合材料已經(jīng)被廣泛的應(yīng)用于航空航天、軍工以及其他民用工業(yè)領(lǐng)域，碳纖維復(fù)合材料是新型材料技術(shù)的集中體現(xiàn)以及先進(jìn)復(fù)合材料的典型代表。而碳纖維復(fù)合材料不同于一般金屬導(dǎo)電材料，由于碳纖維本身結(jié)構(gòu)上的取向性，在電導(dǎo)率上表現(xiàn)為明顯的不均勻性，而某些應(yīng)用場合檢測規(guī)范只要求局域電導(dǎo)率差異能夠控制在一定范圍內(nèi)即可驗(yàn)收。采用常規(guī)的渦流點(diǎn)探頭檢測法對其不同區(qū)域電導(dǎo)率的測量存在局限性，效率低下。
[0005]因此，有需要避免檢測試件局域上電導(dǎo)率分布不均勻和表面粗糙度變化影響導(dǎo)致檢測試件局域的磁場變化，引入“平均數(shù)”的統(tǒng)計(jì)量，測量檢測試件隨機(jī)局域上電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的集中趨勢，并排除或抑制提離效應(yīng)對電導(dǎo)率測試的影響，提高對檢測試件的電導(dǎo)率分布不均勻程度的檢測精度。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)之不足，提供一種導(dǎo)電材料電導(dǎo)率均勻程度評估方法，采用局域平均電導(dǎo)率與局點(diǎn)電導(dǎo)率差異比較方法檢測導(dǎo)電材料電導(dǎo)率均勻程度。
[0007]本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:一種導(dǎo)電材料電導(dǎo)率均勻程度評估方法，其特征在于采用局域平均電導(dǎo)率與局點(diǎn)電導(dǎo)率差異比較方法檢測被檢導(dǎo)電材料電導(dǎo)率均勻程度，引入“平均數(shù)”的統(tǒng)計(jì)量，采用大探測面渦流檢測探頭提離一定距離檢測采集被檢導(dǎo)電材料的局域平均電導(dǎo)率影響信號，流檢測點(diǎn)探頭緊貼被檢導(dǎo)電材料表面逐點(diǎn)檢測采集被檢導(dǎo)電材料的局點(diǎn)電導(dǎo)率影響信號，并利用交流電橋電路比較分析局域平均電導(dǎo)率對應(yīng)的檢測信號和局點(diǎn)電導(dǎo)率對應(yīng)的檢測信號的差異，以此減弱被檢導(dǎo)電材料局域電導(dǎo)率分布不均勻和表面粗糙度變化對檢測信號的影響，以此對被檢導(dǎo)電材料進(jìn)行質(zhì)量分選，包括如下步驟，
a.將大探測面渦流檢測探頭置于被檢導(dǎo)電材料表面上方，大探測面渦流檢測探頭的探測面與被檢導(dǎo)電材料表面提離一定距離進(jìn)行檢測，此時(shí)檢測采集的檢測信號是大探測面渦流檢測探頭的探測面下的被檢導(dǎo)電材料的局域平均電導(dǎo)率影響下產(chǎn)生的，渦流檢測儀保存大探測面渦流檢測探頭檢測信號；大探測面渦流檢測探頭提離一定距離進(jìn)行檢測的作用是，減弱檢測試件局域上電導(dǎo)率分布不均勻和表面粗糙度變化對檢測信號的影響；大探測面渦流檢測探頭的探測面與被檢導(dǎo)電材料表面提離的距離大小通過試驗(yàn)來確定，選擇大探測面渦流檢測探頭微小提離或晃動(dòng)對檢測信號影響最小時(shí)的距離作為檢測用的提離距離；
b.在步驟a中大探測面渦流檢測探頭檢測過的被檢導(dǎo)電材料表面部位選取多個(gè)檢測點(diǎn)，將渦流檢測點(diǎn)探頭緊貼被檢導(dǎo)電材料表面逐點(diǎn)檢測選取的多個(gè)檢測點(diǎn)，此時(shí)渦流檢測點(diǎn)探頭檢測采集的檢測信號是每個(gè)檢測點(diǎn)的被檢導(dǎo)電材料的局點(diǎn)電導(dǎo)率影響下產(chǎn)生的，渦流檢測儀保存每個(gè)檢測點(diǎn)的渦流檢測點(diǎn)探頭檢測信號；
c.渦流檢測儀將步驟b中得到的每個(gè)檢測點(diǎn)的渦流檢測點(diǎn)探頭檢測信號分別通過交流電橋電路與步驟a中得到的大探測面渦流檢測探頭檢測信號進(jìn)行相對差異比較分析，得出每個(gè)檢測點(diǎn)的渦流檢測點(diǎn)探頭檢測信號與大探測面渦流檢測探頭檢測信號的相對差異，這個(gè)相對差異就是被檢導(dǎo)電材料的局域平均電導(dǎo)率與局點(diǎn)電導(dǎo)率差異，參照被檢導(dǎo)電材料電導(dǎo)率均勻程度的質(zhì)量要求，即可對被檢導(dǎo)電材料進(jìn)行質(zhì)量分選。
[0008]進(jìn)一步的，在步驟b中采用多個(gè)渦流檢測點(diǎn)探頭同時(shí)檢測選取的多個(gè)檢測點(diǎn)，以此提尚檢測效率。
[0009]進(jìn)一步的，將大探測面渦流檢測探頭與多個(gè)渦流檢測點(diǎn)探頭集成在一個(gè)探頭集成裝置中，在探頭集成裝置中，大探測面渦流檢測探頭探測面下面均勻分布固定多個(gè)渦流檢測點(diǎn)探頭；檢測過程中，渦流檢測儀采用分時(shí)激勵(lì)檢測方法，先激勵(lì)大探測面渦流檢測探頭檢測，而后同時(shí)激勵(lì)多個(gè)禍流檢測點(diǎn)探頭檢測，以此進(jìn)一步提尚檢測效率。
[0010]本發(fā)明的有益效果是，一種導(dǎo)電材料電導(dǎo)率均勻程度評估方法，采用局域平均電導(dǎo)率與局點(diǎn)電導(dǎo)率差異比較方法檢測導(dǎo)電材料電導(dǎo)率均勻程度，引入“平均數(shù)”的統(tǒng)計(jì)量，采用大探測面渦流檢測探頭提離一定距離檢測采集導(dǎo)電材料的局域平均電導(dǎo)率影響信號，流檢測點(diǎn)探頭緊貼被檢導(dǎo)電材料表面逐點(diǎn)檢測采集導(dǎo)電材料的局點(diǎn)電導(dǎo)率影響信號，并利用交流電橋電路比較分析局域平均電導(dǎo)率對應(yīng)的檢測信號和局點(diǎn)電導(dǎo)率對應(yīng)的檢測信號的差異，以此減弱檢測試件局域上電導(dǎo)率分布不均勻和表面粗糙度變化對檢測信號的影響，以硬件實(shí)現(xiàn)局域電導(dǎo)率均勻程度快速評估方法，以此對導(dǎo)電材料進(jìn)行快速質(zhì)量分選。
[0011]以下結(jié)合實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明，但本發(fā)明的一種導(dǎo)電材料電導(dǎo)率均勻程度評估方法不局限于實(shí)施例。
【附圖說明】
[0012]下面結(jié)合附圖中實(shí)施例對本發(fā)明進(jìn)一步說明。
[0013]圖1是本發(fā)明第一實(shí)施例的方法示意圖。
[0014]圖2是本發(fā)明第二實(shí)施例的方法不意圖。
[0015]圖中，1.大探測面渦流檢測探頭，2.渦流檢測點(diǎn)探頭，3.渦流檢測儀，4.交流電橋電路，5.被檢導(dǎo)電材料，6.探頭集成裝置。
【具體實(shí)施方式】
[0016]實(shí)施例，如圖1所示第一實(shí)施例，一種導(dǎo)電材料電導(dǎo)率均勻程度評估方法，其特征在于:采用局域平均電導(dǎo)率與局點(diǎn)電導(dǎo)率差異比較方法檢測被檢導(dǎo)電材料5電導(dǎo)率均勻程度，引入“平均數(shù)”的統(tǒng)計(jì)量，采用大探測面渦流檢測探頭1提離一定距離檢測采集被檢導(dǎo)電材料5的局域平均電導(dǎo)率影響信號，流檢測點(diǎn)探頭2緊貼被檢導(dǎo)電材料5表面逐點(diǎn)檢測采集被檢導(dǎo)電材料5的局點(diǎn)電導(dǎo)率影響信號，并利用交流電橋電路4比較分析局域平均電導(dǎo)率對應(yīng)的檢測信號和局點(diǎn)電導(dǎo)率對應(yīng)的檢測信號的差異，以此減弱