Mos器件pk儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ]本發(fā)明涉及MOS器件測試領(lǐng)域，具體涉及一種MOS器件PK儀。
【背景技術(shù)】
[0002]在M0S器件新產(chǎn)品的研發(fā)和M0S新產(chǎn)品性能的演示過程中，我們經(jīng)常要對不同品牌同類型的M0S器件產(chǎn)品進(jìn)行對比，以判斷各產(chǎn)品性能的優(yōu)劣。通常在進(jìn)行產(chǎn)品對比之前，先要對各樣品的各項電參數(shù)數(shù)據(jù)進(jìn)行對比。常會遇到的情況是有些樣品是有數(shù)據(jù)資料的，但有些樣品是沒有數(shù)據(jù)資料的。如果樣品沒有數(shù)據(jù)資料，就必須回到實驗室里或者工廠里對其進(jìn)行實測得到樣品數(shù)據(jù)。通過數(shù)據(jù)對比后才能分別進(jìn)行特定應(yīng)用環(huán)境條件下的試驗，最后得到對比試驗情況。這樣我們就不能在現(xiàn)場及時了解對比情況，需要花較長的時間，運用到較多的試驗/測試設(shè)備，并且容易在過程中出現(xiàn)人為因素的影響，導(dǎo)致對比情況的不準(zhǔn)確。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明所要解決的是現(xiàn)有M0S器件產(chǎn)品的對比方式需要花較長的時間，運用到較多的試驗/測試設(shè)備的問題，提供一種M0S器件PK儀。
[0004]為解決上述問題，本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的:
[0005]—種MOS器件PK儀，主要由殼體，固定在殼體上的電源開關(guān)、2個液晶顯示屏、2組測試檔位選擇鍵和2組調(diào)節(jié)旋鈕，以及設(shè)置在殼體內(nèi)的2套測試平臺組成；其中電源開關(guān)同時與2套測試平臺的電源端相連;每套測試平臺的輸入端各連接1組測試檔位選擇鍵和1組調(diào)節(jié)旋鈕的輸出端;每套測試平臺的輸出端各連接1個液晶顯示屏。
[0006]上述方案中，每套測試平臺均由電源模塊、微控制器、電壓測量模塊、柵極電壓產(chǎn)生模塊、恒流源模塊、電流測量模塊和溫度測量模塊組成;其中電源模塊的輸出端連接微控制器和恒流源模塊的電源端;恒流源模塊的輸入端連接微控制器，恒流源模塊的輸出端連接電流測量模塊的輸入端；電流測量模塊輸出端分為三路，一路連接微控制器，一路連接電壓測量模塊的輸入端，一路連接接待測M0S器件的源極;柵極電壓產(chǎn)生模塊的輸出端連接待測M0S器件的柵極，溫度測量模塊的輸入端連接待測M0S器件的漏極。
[0007]上述方案中，所述測試檔位選擇鍵和調(diào)節(jié)旋鈕的輸出端與微控制器相連，液晶顯示屏的輸入端與微控制器相連。
[0008]上述方案中，所述電源開關(guān)與電源模塊相連。
[0009]上述方案中，2套測試平臺共用1個電源模塊、共用1個微控制器、共用1個電壓測量模塊、以及共用1個柵極電壓產(chǎn)生模塊。
[0010]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明操作簡單，對比情況直觀，不需要購買昂貴的檢測/試驗設(shè)備，便可輕松了解樣品性能對比情況;體積小重量輕，便于攜帶，有利于業(yè)務(wù)人員為客戶直觀演示產(chǎn)品性能，有利于研發(fā)人員現(xiàn)場快速了解樣品性能對比情況。
【附圖說明】
[0011 ]圖1為一種M0S器件PK儀的立體結(jié)構(gòu)圖。
[0012]圖2為測試平臺的原理框圖。
[0013]圖中標(biāo)號:1、殼體;2、液晶顯示屏;3、電源開關(guān);4、測試檔位選擇鍵;5、調(diào)節(jié)旋鈕；6、測試平臺。
【具體實施方式】
[0014]一種M0S器件PK儀，如圖1所示，主要由殼體1，固定在殼體1上的電源開關(guān)3、2個液晶顯示屏2、2組測試檔位選擇鍵4和2組調(diào)節(jié)旋鈕5，以及設(shè)置在殼體1內(nèi)的2套測試平臺6組成;其中電源開關(guān)3同時與2套測試平臺6的電源端相連;每套測試平臺6的輸入端各連接1組測試檔位選擇鍵4和1組調(diào)節(jié)旋鈕5的輸出端;每套測試平臺6的輸出端各連接1個液晶顯示屏2。
[0015]每套測試平臺6均由電源模塊、微控制器、電壓測量模塊、柵極電壓產(chǎn)生模塊、恒流源模塊、電流測量模塊和溫度測量模塊組成;其中電源模塊的輸出端連接微控制器和恒流源模塊的電源端;恒流源模塊的輸入端連接微控制器，恒流源模塊的輸出端連接電流測量模塊的輸入端；電流測量模塊輸出端分為三路，一路連接微控制器，一路連接電壓測量模塊的輸入端，一路連接接待測M0S器件的源極;柵極電壓產(chǎn)生模塊的輸出端連接待測M0S器件的柵極，溫度測量模塊的輸入端連接待測M0S器件的漏極。所述測試檔位選擇鍵4和調(diào)節(jié)旋鈕5的輸出端與微控制器相連，液晶顯示屏2的輸入端與微控制器相連。電源開關(guān)3與電源模塊相連。為了有效節(jié)約成本，在本發(fā)明優(yōu)選實施例中，2套測試平臺6共用1個電源模塊、共用1個微控制器、共用1個電壓測量模塊、以及共用1個柵極電壓產(chǎn)生模塊。參見圖2。
[0016]本發(fā)明通過聚焦主要性能參數(shù)及主要應(yīng)用環(huán)境條件，將主要性能參數(shù)測試儀和主要應(yīng)用環(huán)境條件測試電路整合在一起，使用應(yīng)用環(huán)境條件可調(diào)的雙測試平臺6，在一臺儀器上同時顯示不同樣品相同應(yīng)用條件下或不同應(yīng)用條件下的性能參數(shù)。這樣對比既簡單又直觀，現(xiàn)場就可以得到對比情況，不需要購買昂貴的檢測設(shè)備，也不需要花較長的時間往返與實驗室/工廠。測試操作簡便，又實用。
【主權(quán)項】
1.MOS器件PK儀，其特征在于:主要由殼體(1)，固定在殼體(1)上的電源開關(guān)(3)、2個液晶顯示屏(2)、2組測試檔位選擇鍵(4)和2組調(diào)節(jié)旋鈕(5)，以及設(shè)置在殼體(1)內(nèi)的2套測試平臺(6)組成;其中電源開關(guān)(3)同時與2套測試平臺(6)的電源端相連;每套測試平臺(6)的輸入端各連接1組測試檔位選擇鍵(4)和1組調(diào)節(jié)旋鈕(5)的輸出端;每套測試平臺(6)的輸出端各連接1個液晶顯示屏(2)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的M0S器件ΡΚ儀，其特征在于:每套測試平臺(6)均由電源模塊、微控制器、電壓測量模塊、柵極電壓產(chǎn)生模塊、恒流源模塊、電流測量模塊和溫度測量模塊組成;其中電源模塊的輸出端連接微控制器和恒流源模塊的電源端;恒流源模塊的輸入端連接微控制器，恒流源模塊的輸出端連接電流測量模塊的輸入端；電流測量模塊輸出端分為三路，一路連接微控制器，一路連接電壓測量模塊的輸入端，一路連接接待測M0S器件的源極;柵極電壓產(chǎn)生模塊的輸出端連接待測M0S器件的柵極，溫度測量模塊的輸入端連接待測M0S器件的漏極。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的M0S器件Μ儀，其特征在于:測試檔位選擇鍵(4)和調(diào)節(jié)旋鈕(5)的輸出端與微控制器相連，液晶顯示屏(2)的輸入端與微控制器相連。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的M0S器件PK儀，其特征在于:電源開關(guān)(3)與電源模塊相連。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的M0S器件PK儀，其特征在于:2套測試平臺(6)共用1個電源模塊、共用1個微控制器、共用1個電壓測量模塊、以及共用1個柵極電壓產(chǎn)生模塊。
【專利摘要】本發(fā)明公開一種MOS器件PK儀，主要由殼體，固定在殼體上的電源開關(guān)、2個液晶顯示屏、2組測試檔位選擇鍵和2組調(diào)節(jié)旋鈕，以及設(shè)置在殼體內(nèi)的2套測試平臺組成；其中電源開關(guān)同時與2套測試平臺的電源端相連；每套測試平臺的輸入端各連接1組測試檔位選擇鍵和1組調(diào)節(jié)旋鈕的輸出端；每套測試平臺的輸出端各連接1個液晶顯示屏。本發(fā)明操作簡單，對比情況直觀，不需要購買昂貴的檢測/試驗設(shè)備，便可輕松了解樣品性能對比情況；體積小重量輕，便于攜帶，有利于業(yè)務(wù)人員為客戶直觀演示產(chǎn)品性能，有利于研發(fā)人員現(xiàn)場快速了解樣品性能對比情況。
【IPC分類】G01R31/00
【公開號】CN105425083
【申請?zhí)枴緾N201511009592
【發(fā)明人】王常毅, 李勇昌, 鄒鋒, 彭順剛, 朱金華
【申請人】桂林斯壯微電子有限責(zé)任公司
【公開日】2016年3月23日
【申請日】2015年12月29日