使用透射光譜學(xué)用于確定蛋存活性的非接觸蛋鑒定系統(tǒng)及關(guān)聯(lián)的方法
【專利摘要】提供了用于確定鳥(niǎo)蛋(1)的存活性的蛋鑒定系統(tǒng)(100)。這樣的系統(tǒng)(100)包括設(shè)置成用于朝向蛋(1)發(fā)射電磁輻射的發(fā)射體組件(200)。檢測(cè)器組件(300)與發(fā)射體組件(200)軸向?qū)?zhǔn)，以檢測(cè)通過(guò)蛋(1)傳輸?shù)碾姶泡椛?。在其操作期間檢測(cè)器組件(300)與蛋(1)空間分隔，以便檢測(cè)器組件(300)不接觸蛋(1)。經(jīng)檢測(cè)的電磁輻射使用透射光譜學(xué)分析處理，例如紅外光譜學(xué)或熒光光譜學(xué)，以確定蛋(1)是否可存活，例如非死的、腐爛的或澄清的。還提供了關(guān)聯(lián)的方法。
【專利說(shuō)明】
使用透射光譜學(xué)用于確定蛋存活性的非接觸蛋鑒定系統(tǒng)及關(guān)聯(lián)的方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本公開(kāi)一般性涉及蛋鑒定系統(tǒng)。更具體地，本公開(kāi)涉及通過(guò)使用透射光譜學(xué)能確定在鳥(niǎo)蛋內(nèi)是否存在可存活的胚胎的非接觸蛋鑒定系統(tǒng)，以及關(guān)聯(lián)的方法。
[0002]發(fā)明背景
[0003]基于一些可觀察到的品質(zhì)辨別家禽蛋在家禽行業(yè)中為公知的和長(zhǎng)期使用的實(shí)踐。“對(duì)著光檢查”為一種這樣的技術(shù)的常用名，該術(shù)語(yǔ)的根源在于使用來(lái)自蠟燭的光檢查蛋的初始實(shí)踐。如與蛋熟悉的那些已知的，雖然在大多數(shù)照明條件下蛋殼看起來(lái)不透明，但是它們實(shí)際上多少為半透明的，并且當(dāng)放置在直接光前面時(shí)，可觀察到蛋的內(nèi)含物。
[0004]在胚胎發(fā)育期間通常將待孵化為活家禽的蛋對(duì)著光檢查，以鑒定澄明的、腐爛的和死的蛋(本文中統(tǒng)稱為“非活的蛋”)。從孵育中除去非活的蛋(也稱為非可存活蛋)，以提高可用的孵卵器空間。在許多情況下期望在孵化前在活的蛋(也稱為可存活蛋)中經(jīng)由卵內(nèi)注射而引入物質(zhì)。在鳥(niǎo)蛋中注射各種物質(zhì)用于工業(yè)家禽行業(yè)，以降低孵化后死亡率或提高孵化的鳥(niǎo)的生長(zhǎng)速率。已用于或被提議用于卵內(nèi)注射的物質(zhì)的實(shí)例包括疫苗、抗生素和維生素。
[0005]通常如下發(fā)生卵內(nèi)注射物質(zhì):通過(guò)刺穿蛋殼以在其中產(chǎn)生洞(例如，使用穿孔器或鉆)，通過(guò)洞并且在蛋的內(nèi)部(在一些情況下，在其中含有的鳥(niǎo)胚胎中)延伸注射針，并且通過(guò)針注射一種或多種處理物質(zhì)。這樣的裝置可以彼此固定的關(guān)系布置蛋和注射針，并且可設(shè)計(jì)用于高速自動(dòng)化注射多個(gè)蛋。注射處理的部位和時(shí)間二者的選擇還可影響注射的物質(zhì)的有效性以及注射的蛋或經(jīng)處理的胚胎的死亡率。
[0006]在工業(yè)家禽生產(chǎn)中，僅約60%_90%的工業(yè)烤肉蛋孵化。不孵化的蛋包括未受精的蛋以及已死亡的受精的蛋。在一組中，不育的蛋可占所有蛋的約5%至最多約25%。由于在工業(yè)家禽生產(chǎn)中遇到的非活的蛋的數(shù)量，使用自動(dòng)化方法用于卵內(nèi)注射，和處理物質(zhì)的成本，期望用于鑒定活的蛋和選擇性注射(或選擇性接觸)僅活的蛋的自動(dòng)化方法。
[0007]蛋可為“活的”蛋，意味著其具有可存活胚胎。圖1說(shuō)明在約第I天孵育的活的家禽蛋I。圖2說(shuō)明在約第11天孵育的活的蛋I。蛋I在10表示的附近具有稍微窄端以及在20顯示的附近相對(duì)布置的變寬的或鈍端部分。在圖1中，胚胎2表示在蛋黃3的頂部。蛋I含有與變寬端20相鄰氣室4。如在圖2中說(shuō)明的，雛雞已發(fā)育翅膀5、腿6和喙?fàn)钭?。
[0008]蛋可為“澄明的”或“不育的”蛋，意味著其不具有胚胎。更具體地，“澄明的”蛋為未腐爛的不育的蛋。蛋可為“早死”蛋，意味著其具有在約1-5天大時(shí)死亡的胚胎。蛋可為“中間死亡”蛋，意味著其具有在約5-15天大時(shí)死亡的胚胎。蛋可為“晚死亡”蛋，意味著其具有在約15-18天大時(shí)死亡的胚胎。
[0009]蛋可為“腐爛的”蛋，意味著蛋包括腐爛的不育的蛋黃(例如，作為蛋殼裂紋的結(jié)果)，或者，腐爛的死胚胎。雖然“早死”、“中間死亡”或“晚死亡蛋”可為腐爛的蛋，本文使用的那些術(shù)語(yǔ)指還未腐爛的這樣的蛋。澄明的、早死亡、中間死亡、晚死亡和腐爛的蛋還可分類為“非活的”蛋，因?yàn)樗鼈儾话ɑ畹呐咛ァ?br>[0010]存在重要的是能夠區(qū)別活的(可存活)和非活的(非可存活)蛋的其它應(yīng)用。這些應(yīng)用中的一種為經(jīng)由活的蛋培養(yǎng)和收獲疫苗(稱為“疫苗生產(chǎn)蛋”)。例如，通過(guò)在約第11天胚胎發(fā)育的雞蛋(第11天蛋)中注射種子病毒完成人流感疫苗生產(chǎn)，允許病毒生長(zhǎng)約2天，通過(guò)冷卻蛋，使安樂(lè)死胚胎，隨后從蛋收獲不可知的流體。通常，在注射種子病毒之前將蛋對(duì)著光檢查，以除去非活的蛋。在其中注射種子病毒之前可將疫苗生產(chǎn)蛋對(duì)著光檢查一天或多天。在疫苗生產(chǎn)中鑒定活的蛋是重要的，因?yàn)槠谕乐狗N子疫苗在非活的蛋中被消耗并且用于降低與運(yùn)輸和處理非活的蛋關(guān)聯(lián)的成本。
[0011]—些先前的對(duì)著光檢查儀器已采用不透明度鑒定系統(tǒng)，其中多個(gè)光源和相應(yīng)的光檢測(cè)器在陣列中安裝，并且其中蛋在光源和光檢測(cè)器之間的平臺(tái)上通過(guò)。遺憾的是，這樣的常規(guī)對(duì)著光檢查技術(shù)可具有稍微有限的精密度，尤其是在對(duì)著光檢查生產(chǎn)量的高速度下。脈沖的光不透明度鑒定系統(tǒng)可在相當(dāng)于約300,000個(gè)蛋/小時(shí)的速度下操作并且從蛋的物流成功地鑒定澄明的蛋。然而，鑒定為活的一些蛋實(shí)際上為非活的(例如，腐爛的蛋、中間死亡和晚死的蛋)。
[0012]其它先前的對(duì)著光檢查儀器已采用能確定活的和非活的蛋的光譜學(xué)檢測(cè)模式。遺憾的是，這些系統(tǒng)需要檢測(cè)工具來(lái)接觸蛋，以便創(chuàng)造機(jī)械光密封用于檢測(cè)目的，這可呈現(xiàn)若干問(wèn)題。首先，生產(chǎn)量參數(shù)降低，因?yàn)楸仨毻Ｖ沟?，同時(shí)將檢測(cè)工具頭降低和提高，以對(duì)于每一種檢測(cè)工具接觸相應(yīng)的蛋。接著，與非活的蛋，特別是與腐爛的蛋(當(dāng)接觸時(shí)其可爆炸)機(jī)械接觸可能在檢測(cè)系統(tǒng)或周圍區(qū)域/蛋中不期望地引入污染，在進(jìn)一步處理期間這可潛在地轉(zhuǎn)移至隨后的活的蛋。最后，在先前的光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)中的發(fā)射體-檢測(cè)器構(gòu)造難以機(jī)械布置以允許期望的生產(chǎn)量。關(guān)于這一點(diǎn)，發(fā)射體-檢測(cè)器構(gòu)型已排列用于以反射比模式操作。
[0013]因此，期望提供一種實(shí)現(xiàn)光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的對(duì)著光檢查設(shè)備，其在操作期間能精確區(qū)別活的和非活的蛋而沒(méi)有與之接觸并且不使用機(jī)械光密封。此外，期望提供一種以高生產(chǎn)量和準(zhǔn)確的方式促進(jìn)活的蛋的光譜學(xué)檢測(cè)的關(guān)聯(lián)的方法。
[0014]發(fā)明概述
[0015]通過(guò)本公開(kāi)的各方面滿足以上和其它需求，根據(jù)一方面，提供用于確定鳥(niǎo)蛋的存活性的蛋鑒定系統(tǒng)。所述系統(tǒng)包括運(yùn)送器系統(tǒng)，其設(shè)置成用于運(yùn)送容納多個(gè)蛋的蛋平臺(tái)。發(fā)射體組件設(shè)置成用于朝向在蛋平臺(tái)中運(yùn)送的蛋中的一個(gè)發(fā)射電磁輻射。非接觸檢測(cè)器組件與所述發(fā)射體組件軸向?qū)?zhǔn)。非接觸檢測(cè)器組件設(shè)置成用于檢測(cè)通過(guò)蛋傳輸?shù)碾姶泡椛洹７墙佑|檢測(cè)器組件在非接觸位置布置，以便在其操作期間用于使鑒定安置的蛋與所述非接觸檢測(cè)器組件空間分隔。處理器設(shè)置成用于以透射光譜學(xué)模式處理所述非接觸檢測(cè)器組件的輸出信號(hào)，用于確定蛋是否可存活。
[0016]另一方面提供一種確定蛋的存活性的方法。所述方法包括使用運(yùn)送器系統(tǒng)運(yùn)送容納在蛋平臺(tái)中的蛋。所述方法還包括朝向蛋發(fā)射來(lái)自發(fā)射體組件的電磁輻射。所述方法還包括用與所述發(fā)射體組件軸向?qū)?zhǔn)的非接觸檢測(cè)器組件接收通過(guò)蛋傳輸?shù)碾姶泡椛洌龇墙佑|檢測(cè)器組件與蛋空間分隔。所述方法還包括以透射光譜學(xué)模式處理所述非接觸檢測(cè)器組件的輸出信號(hào)，用于確定蛋是否可存活。
[0017]因此，本公開(kāi)的各方面提供優(yōu)點(diǎn)，如在本文另外詳述的。
[0018]附圖簡(jiǎn)述
[0019]已采用通用術(shù)語(yǔ)描述了本公開(kāi)的各種實(shí)施方案，現(xiàn)在參考附圖，附圖不必然按比例繪制，其中:
[0020]圖1說(shuō)明在約第I天孵育的活的雞蛋；
[0021]圖2說(shuō)明在約第11天孵育的活的雞蛋；
[0022]圖3為根據(jù)本公開(kāi)的一方面，蛋鑒定系統(tǒng)的示意圖；
[0023]圖4為能在固定的位置容納蛋的蛋平臺(tái)的透視圖；
[0024]圖5說(shuō)明運(yùn)送通過(guò)一系列蛋檢測(cè)系統(tǒng)的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)的蛋平臺(tái)中的蛋，并且進(jìn)一步說(shuō)明不期望地引起檢測(cè)的信號(hào)的干涉離軸發(fā)射的路徑；
[0025]圖6說(shuō)明根據(jù)本公開(kāi)的一方面，經(jīng)過(guò)蛋檢測(cè)系統(tǒng)的一系列發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)運(yùn)送的在蛋平臺(tái)中的多個(gè)蛋，具有有限的引起檢測(cè)的信號(hào)的干涉發(fā)射；
[0026]圖7說(shuō)明根據(jù)本公開(kāi)的一方面，能用于蛋檢測(cè)系統(tǒng)的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)；
[0027]圖8說(shuō)明根據(jù)本公開(kāi)的另一方面，能用于蛋檢測(cè)系統(tǒng)的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)；
[0028]圖9說(shuō)明根據(jù)本公開(kāi)的又一方面，能用于蛋檢測(cè)系統(tǒng)的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)；
[0029]圖10說(shuō)明根據(jù)本公開(kāi)的一方面，通過(guò)具有不透明度檢測(cè)部件和光譜學(xué)檢測(cè)部件的蛋檢測(cè)系統(tǒng)運(yùn)送的多個(gè)蛋。
[0030]圖11說(shuō)明根據(jù)本公開(kāi)的一方面，通過(guò)具有在各種光譜學(xué)模式下操作的多個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)的蛋檢測(cè)系統(tǒng)運(yùn)送的多個(gè)蛋。
[0031]發(fā)明詳述
[0032]現(xiàn)在參考附圖下文將更充分地描述本公開(kāi)的各方面，其中顯示本公開(kāi)的一些(但不是所有的)方面。實(shí)際上，本公開(kāi)可以許多不同的形式體現(xiàn)并且不應(yīng)解釋為局限于本文描述的各方面;而是，提供這些方面以便本公開(kāi)滿足可適用的法定要求。從始至終使用的相同的數(shù)字指相同的要素。
[0033]本公開(kāi)涉及以高生產(chǎn)量方式用于精確確定多個(gè)蛋的存活性的系統(tǒng)和方法，當(dāng)?shù)敖?jīng)過(guò)鑒定裝置時(shí)不會(huì)接觸蛋。以非接觸(non-contact)或非接觸(contactless)方式使蛋經(jīng)過(guò)系統(tǒng)提供許多優(yōu)點(diǎn)，包括保持檢測(cè)系統(tǒng)部件的固定位置以改進(jìn)生產(chǎn)量和限制與非活的蛋(例如可爆炸的腐爛的蛋)接觸。
[0034]本文使用的術(shù)語(yǔ)“非接觸(non-contact)”和“非接觸(contactless)”指當(dāng)確定存活性時(shí)在發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)的操作期間在蛋和本文公開(kāi)的蛋鑒定系統(tǒng)的某些部件之間保持空間分隔關(guān)系。在一些情況下，這可特別指檢測(cè)器組件與蛋的空間分隔關(guān)系。關(guān)于這一點(diǎn)，本公開(kāi)的檢測(cè)器組件可與蛋分隔布置，以便沒(méi)有部件接觸蛋，從而消除能限制干擾信號(hào)被檢測(cè)的任何機(jī)械光密封。而是，本公開(kāi)采用不需要與蛋接觸的方式通過(guò)其它裝置解決這些干涉信號(hào)。當(dāng)然，蛋可與載體裝置接觸，例如設(shè)置成用于通過(guò)蛋鑒定系統(tǒng)輸送蛋的蛋平臺(tái)。關(guān)于這一點(diǎn)，術(shù)語(yǔ)“非接觸”指避免蛋和蛋鑒定系統(tǒng)的操作部件之間接觸。
[0035]此外，本公開(kāi)涉及使用透射(所謂的“通過(guò)光束”)模式用于確定蛋的存活性的系統(tǒng)和方法。通過(guò)采用透射模式操作，蛋鑒定系統(tǒng)的發(fā)射體和檢測(cè)器可沿著共同的縱軸軸向?qū)?zhǔn)，以便系統(tǒng)可以可使用的方式設(shè)置。也就是，系統(tǒng)構(gòu)型不是必須負(fù)責(zé)以反射比模式操作并且具有排列的發(fā)射體和檢測(cè)器的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)，例如，以直角用于接收反射比信號(hào)。而是，所述發(fā)射體組件和所述檢測(cè)器組件可在蛋的相對(duì)側(cè)布置，以便蛋可容易在之間經(jīng)過(guò)用于評(píng)價(jià)和鑒定。
[0036]然而，因?yàn)楸竟_(kāi)的各方面可以非接觸和透射方式操作，期望的透射的光水平可能低，同時(shí)不期望的干涉信號(hào)的可能性可能高。關(guān)于這一點(diǎn)，提供本公開(kāi)的其它方面，以便可限制不期望的干涉信號(hào)并且期望的低透射信號(hào)(小于約lnW/cm2)可最大化用于處理，以提供可存活蛋的精確和可靠的鑒定。
[0037]根據(jù)本公開(kāi)的各方面的方法和系統(tǒng)可用于在胚胎發(fā)育期間(也稱為孵育階段)在任何時(shí)間精確鑒定活的和非活的蛋。本公開(kāi)的各方面不局限于鑒定在胚胎發(fā)育階段期間僅在具體的某一天(例如，第11天)或時(shí)間段。此外，根據(jù)本公開(kāi)的各方面的方法和設(shè)備可與任何類型的鳥(niǎo)蛋一起使用，包括，但不限于，雞、火雞、鴨、鵝、鵪鶉、野雞蛋、外來(lái)鳥(niǎo)蛋等。
[0038]圖3說(shuō)明能實(shí)現(xiàn)本公開(kāi)的各方面的蛋鑒定系統(tǒng)100。蛋鑒定系統(tǒng)100可包括框架120和運(yùn)送器系統(tǒng)140，該運(yùn)送器系統(tǒng)140設(shè)置成用于將容納在蛋平臺(tái)50(圖4)中的多個(gè)蛋運(yùn)送至蛋檢測(cè)系統(tǒng)160。在一些情況下，蛋鑒定系統(tǒng)可包括能顯示與蛋鑒定系統(tǒng)和/或經(jīng)過(guò)蛋檢測(cè)系統(tǒng)160用于其鑒定的蛋相關(guān)的信息的顯示器180。蛋鑒定系統(tǒng)100可包括控制器用于控制其各方面，包括蛋檢測(cè)系統(tǒng)160的某些部件能和不能的能力。蛋鑒定系統(tǒng)100可為便攜的，并且在一些情況下，可以模具方式設(shè)置，以便其可與其它關(guān)聯(lián)的裝置連接，例如像蛋注射設(shè)備、蛋分類設(shè)備、蛋轉(zhuǎn)移設(shè)備、蛋移送設(shè)備或性別鑒定設(shè)備。在一些情況下，蛋檢測(cè)系統(tǒng)160可直接施用于蛋注射設(shè)備、蛋分類設(shè)備、蛋轉(zhuǎn)移設(shè)備、蛋移送設(shè)備或性別鑒定設(shè)備。
[0039]參考圖4，蛋平臺(tái)50可由通過(guò)多個(gè)末端54限制的多個(gè)交叉的板條52形成。板條52可限定多個(gè)開(kāi)口的袋56，其中每一個(gè)袋56能接收相應(yīng)的蛋I端部。在一些情況下，蛋I的窄端10(圖1和2)可在袋56內(nèi)接收，以便鈍端20突出超過(guò)蛋平臺(tái)50。雖然蛋可在蛋平臺(tái)50中攜帶，但是可使用隨著時(shí)間將多個(gè)蛋呈現(xiàn)給蛋檢測(cè)系統(tǒng)160的任何裝置，用于鑒定蛋的現(xiàn)存狀況。
[0040]現(xiàn)在參考圖6，示意性說(shuō)明根據(jù)本公開(kāi)的各方面，用于非侵入性鑒定蛋的存活性的蛋檢測(cè)系統(tǒng)160。蛋I可用來(lái)自發(fā)射體組件200的發(fā)光源210的光照射，該發(fā)射體組件200在其鈍端20與蛋I相鄰布置。在一些情況下，可將由發(fā)光源210發(fā)射的光準(zhǔn)直。每一個(gè)蛋可用在約400-2600納米之間的任何地方的波長(zhǎng)，特別是在可見(jiàn)光譜、紅外光譜、近紅外光譜或紫外光譜內(nèi)的光照射。檢測(cè)器組件300可與蛋I的窄端10相鄰布置，與發(fā)射體組件200相對(duì)，并且可接收通過(guò)蛋傳輸?shù)墓狻z測(cè)器組件300還可包括光譜儀302，用于確定對(duì)于所選波長(zhǎng)的光接收的光的照射。光譜儀302可被設(shè)置成用于測(cè)量作為波長(zhǎng)的應(yīng)變量通過(guò)材料吸收、反射或發(fā)射的輻射的強(qiáng)度。
[0041]可在所選波長(zhǎng)下測(cè)定接收的光關(guān)注的具體方面?？僧a(chǎn)生代表在所選波長(zhǎng)下的光強(qiáng)度的光譜。光譜可經(jīng)歷基于校準(zhǔn)光譜的各種處理算法。產(chǎn)生的光譜可隨后與至少一個(gè)光譜相比較，其中每一個(gè)光譜與相應(yīng)的已知的蛋狀況關(guān)聯(lián)，以鑒定蛋的存活性。例如，可將討論的蛋的光譜與和以下類型的蛋關(guān)聯(lián)的光譜相比較:能生育的蛋、活的蛋、早死的蛋、中間死亡蛋、晚死的蛋、澄清的蛋、裂紋的蛋、腐爛的蛋或錯(cuò)過(guò)的蛋。該比較可涉及經(jīng)由由已知的光譜構(gòu)建的分析模式(由一種或多種算法組成)處理光譜?？稍O(shè)計(jì)分析模式的輸出相應(yīng)于具體類型的蛋。
[0042]基于由參比蛋得到的校準(zhǔn)光譜而衍生的因素，光譜處理可涉及調(diào)節(jié)光譜(通過(guò)選擇性按比例變化和/或偏移)。這可允許通過(guò)不同的檢測(cè)器組件300和在不同的時(shí)間產(chǎn)生的光譜，以客觀比較。在與參比光譜比較之前，光譜的另外的處理可涉及噪聲降低。
[0043]光譜儀302可設(shè)置(例如，經(jīng)由微處理器)成用于將蛋I的光強(qiáng)度值轉(zhuǎn)化為光譜。此夕卜，光譜儀302可設(shè)置成用于將對(duì)于蛋產(chǎn)生的光譜和與已知的蛋狀況關(guān)聯(lián)的至少一個(gè)光譜相比較，以鑒定蛋I的現(xiàn)存狀況(即，存活性或非存活性)。例如，可將產(chǎn)生的光譜與已知為活的蛋的光譜相比較，以確定討論的蛋是否為活的蛋。類似地，和與已知狀況關(guān)聯(lián)的光譜相比較可用于確定討論的蛋是否為早死的、中間死亡、晚死的、澄清的、裂紋的、腐爛的和/或錯(cuò)過(guò)的。
[0044]蛋鑒定系統(tǒng)100可包括與光譜儀302在操作上連接的控制器?？刂破骺煽刂瓢l(fā)光源210并且可接收和處理來(lái)自光譜儀302的信號(hào)?？刂破鬟€可將對(duì)于蛋產(chǎn)生的光譜和與已知的蛋狀況關(guān)聯(lián)的多個(gè)光譜相比較，并且使用該比較數(shù)據(jù)，可根據(jù)類型來(lái)分類蛋(即，活的、澄清的、死的、腐爛的)。可優(yōu)選提供操作者界面(例如，顯示器)180，以允許操作者與控制器相互作用。
[0045]控制器可設(shè)置成用于:I)產(chǎn)生控制信號(hào)以開(kāi)動(dòng)和退動(dòng)一個(gè)或多個(gè)發(fā)光源210;2)接收和處理來(lái)自光譜儀302的信號(hào);和3)處理和儲(chǔ)存與每一個(gè)蛋關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)?？刂破骺砂ㄌ幚砥?00或其它合適的可編程的或非可編程的電路，包括合適的軟件?？刂破鬟€可包括適當(dāng)控制一個(gè)或多個(gè)發(fā)光源210和光譜儀302的其它裝置，處理或另外評(píng)定和評(píng)價(jià)來(lái)自光譜儀302的信號(hào)。
[0046]操作者界面180可為任何合適的使用者界面裝置，并且優(yōu)選包括觸屏或鍵盤。操作者界面180可允許使用者恢復(fù)來(lái)自控制器的各種信息，以設(shè)定各種參數(shù)和/或編程/再編程控制器。操作者界面180可包括其它周邊裝置，例如，印刷機(jī)和與計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)連接。在平臺(tái)50中多個(gè)蛋的每一個(gè)的鑒定的狀況可經(jīng)由操作者界面180以及對(duì)于一組或一群蛋的累積統(tǒng)計(jì)用圖顯示。這樣的累積統(tǒng)計(jì)可使用分類數(shù)據(jù)通過(guò)控制器集合、計(jì)算和/或估計(jì)。對(duì)于每一組、群或平臺(tái)，累積統(tǒng)計(jì)可包括早死的百分?jǐn)?shù)、中間死亡的百分?jǐn)?shù)和腐爛的蛋的百分?jǐn)?shù)。這些統(tǒng)計(jì)可用于監(jiān)測(cè)和評(píng)價(jià)孵卵所和孵育器操作，以及品種或群的狀況和性能。
[0047]根據(jù)本公開(kāi)的各方面，發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)可設(shè)置成用于采用吸收光譜學(xué)模式或熒光光譜學(xué)模式操作。在一些情況下，發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)可設(shè)置成用于以紅外吸收光譜學(xué)模式操作。本文描述的操作模式指透射光譜學(xué)，與反射比光譜學(xué)相對(duì)，并且特別指其中發(fā)射體組件200和檢測(cè)器組件300軸向?qū)?zhǔn)并且彼此相對(duì)布置的構(gòu)型，以便蛋I在發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)之間經(jīng)過(guò)。
[0048]由于與樣品(例如，蛋)的相互作用，吸收光譜學(xué)指作為頻率或波長(zhǎng)的應(yīng)變量，測(cè)量輻射的吸收的光譜技術(shù)。關(guān)于這一點(diǎn)，蛋從照射場(chǎng)吸收能量(即，光子)。吸收的強(qiáng)度作為頻率的應(yīng)變量而變，并且該變化為吸收光譜。吸收光譜學(xué)可橫過(guò)電磁光譜實(shí)施。產(chǎn)生的輻射光束可引向蛋并且檢測(cè)經(jīng)過(guò)蛋的輻射的強(qiáng)度。透射的能量可用于計(jì)算吸收。當(dāng)在紅外光譜的波長(zhǎng)內(nèi)發(fā)生來(lái)自發(fā)光源210的輻射時(shí)，該技術(shù)稱為紅外吸收光譜學(xué)。
[0049]熒光光譜學(xué)指由樣品分析熒光的一種類型的電磁光譜學(xué)。熒光光譜學(xué)涉及使用光束來(lái)激發(fā)某些化合物的分子中的電子，并且引起它們發(fā)光，在一些情況下，可為可見(jiàn)光，但是也可為在紅外、近紅外或紫外光譜的光。用于熒光光譜學(xué)的光譜儀可稱為熒光技術(shù)或熒光計(jì)。在一些情況下，測(cè)量通過(guò)樣品發(fā)射的熒光的不同的波長(zhǎng)，其中在一些情況下，激發(fā)光保持在恒定的波長(zhǎng)，其為發(fā)射光譜。激發(fā)光譜相反，為此發(fā)射光保持在恒定的波長(zhǎng)，而激發(fā)光通過(guò)許多不同的波長(zhǎng)掃描。在一些情況下，通過(guò)記錄由一定范圍的激發(fā)波長(zhǎng)得到的發(fā)射光譜并且將它們組合在一起，測(cè)量發(fā)射圖。這代表可描述為等高線圖的三維表面數(shù)據(jù)組。在一些情況下，可實(shí)現(xiàn)多光譜分析來(lái)確定具有某些條件的蛋的特征。根據(jù)一些方面，檢測(cè)器組件300可調(diào)節(jié)為僅響應(yīng)預(yù)定的熒光波長(zhǎng)，而通過(guò)檢測(cè)器組件300的電子學(xué)，忽略具有不同于預(yù)定熒光波長(zhǎng)的波長(zhǎng)的漫射光。
[0050]根據(jù)本公開(kāi)的一些方面，關(guān)于透射熒光光譜學(xué)，使用發(fā)射過(guò)濾器，在約830納米下，在一個(gè)波長(zhǎng)下強(qiáng)度分類和使用兩種激發(fā)波長(zhǎng)(例如像約650納米和約720納米)的比率分類的組合可提供高水平的精確度。
[0051]現(xiàn)在參考圖5和6，說(shuō)明根據(jù)本公開(kāi)的一些方面用于分類蛋的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)500。說(shuō)明的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)500可包括發(fā)射體組件200和檢測(cè)器組件300。在操作中，多個(gè)發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)500可在陣列中排列并且用于分類通過(guò)蛋平臺(tái)50支撐的蛋的相應(yīng)的陣列(圖4)。說(shuō)明的發(fā)射體組件200可包括圓柱形發(fā)射體外殼202。本公開(kāi)的各方面不局限于發(fā)射體外殼202的說(shuō)明的構(gòu)型。發(fā)射體外殼202可具有各種形狀、尺寸和構(gòu)型，而沒(méi)有限制。發(fā)射體組件200的陣列可經(jīng)由框架或蛋檢測(cè)系統(tǒng)160的其它支撐構(gòu)件而支撐。因?yàn)榈皺z測(cè)系統(tǒng)160以非接觸方式操作，發(fā)射體組件200可能不需要在升高的位置和降低的位置之間移動(dòng)，但是，在一些情況下，每一個(gè)可設(shè)置成用于此。
[0052]圖5說(shuō)明當(dāng)離開(kāi)發(fā)射體組件200時(shí)通過(guò)發(fā)光源210發(fā)射的電磁輻射可穿行的各種潛在的發(fā)射路徑。如前面提及的，當(dāng)基于光譜學(xué)評(píng)價(jià)蛋I的存活性時(shí)，檢測(cè)通過(guò)蛋I傳輸?shù)牡屯干涔馑?而不使用機(jī)械光密封提供挑戰(zhàn)。鑒于不存在機(jī)械光密封，本公開(kāi)的各方面可設(shè)置成用于使干涉反射信號(hào)的產(chǎn)生最小化，例如通過(guò)蛋平臺(tái)50反射的光12、由相鄰蛋反射的光14和由框架120和其它關(guān)聯(lián)部件反射的光16。
[0053]發(fā)射體組件200可設(shè)置成用于沿著蛋I的縱軸電磁輻射的發(fā)射最大化，以便發(fā)射固有地引向蛋1，同時(shí)還使離軸發(fā)射的拒絕最大化。也就是，發(fā)射體組件200可設(shè)置成用于在蛋I的規(guī)定的區(qū)域上投射發(fā)光源210的發(fā)射，同時(shí)限制漫射光的發(fā)射，其中漫射光為不照射蛋的規(guī)定的區(qū)域的離開(kāi)發(fā)射體組件200的任何光能。
[0054]在發(fā)射體外殼202內(nèi)布置發(fā)光源210。發(fā)光源210可設(shè)置成用于發(fā)射電磁光譜的各種波長(zhǎng)的電磁輻射，包括，例如，可見(jiàn)光、紅外光和紫外光。在一些情況下，發(fā)光源210可特別設(shè)置成用于發(fā)射約400nm-2600nm波長(zhǎng)范圍的光。根據(jù)一些方面，發(fā)光源可由例如發(fā)光二極管(LED)280(圖9)、纖維光學(xué)光源285(圖8)或石英鎢鹵素光源290(圖7)形成，其設(shè)置成用于發(fā)射來(lái)自電磁光譜的各部分的光。然而，本公開(kāi)的各方面不局限于使用LED或紅外輻射。可利用各種類型的發(fā)光源而沒(méi)有限制。特別是可利用任何固態(tài)激發(fā)源。
[0055]根據(jù)一些方面，如在圖7-9中顯示的，發(fā)射體組件200可包括濾光器260。在一些情況下，可提供調(diào)節(jié)輪262和關(guān)聯(lián)的驅(qū)動(dòng)組件以調(diào)節(jié)由發(fā)光源210發(fā)射的光?？商峁?zhǔn)直透鏡264，以準(zhǔn)直由發(fā)光源210發(fā)射的電磁輻射?？蓪⑼该鞯谋Ｗo(hù)性發(fā)射體窗口結(jié)合到發(fā)射體外殼202中，以保護(hù)發(fā)射體組件200的內(nèi)部部件，同時(shí)允許發(fā)射的光離開(kāi)發(fā)射體組件200。
[0056]本公開(kāi)的各方面還可包括檢測(cè)器組件300，用于接收電磁輻射/在對(duì)著光檢查操作期間通過(guò)蛋傳輸?shù)墓狻z測(cè)器組件300可采用軸向?qū)?zhǔn)與發(fā)射體組件200相對(duì)布置，以形成發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)。因此，多個(gè)發(fā)射體組件200和相應(yīng)的多個(gè)檢測(cè)器組件200可形成能評(píng)價(jià)在蛋平臺(tái)中輸送的多個(gè)蛋的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)的陣列。
[0057]如前面討論的，在一些情況下，在對(duì)著光檢查操作期間，檢測(cè)器組件300可與蛋空間分隔，以便沒(méi)有檢測(cè)器的部分與蛋接觸，從而限定非接觸位置。這樣的非接觸構(gòu)型可允許提高的生產(chǎn)量并且可限制隨后的蛋的污染，如前面描述的。因此，為了提供非接觸特性，可期望從在指定的有角的檢測(cè)器視野內(nèi)通過(guò)蛋I發(fā)射的光的收集最大化，這代表輸出信號(hào)，同時(shí)從在檢測(cè)器視野的外部收集的光最小化。
[0058]根據(jù)一些方面，如在圖7-9中顯示的，檢測(cè)器組件300可包括透明的保護(hù)性檢測(cè)器窗口，其可結(jié)合到檢測(cè)器外殼302中以保護(hù)檢測(cè)器組件300的內(nèi)部部件，同時(shí)允許傳輸?shù)墓膺M(jìn)入檢測(cè)器組件300。可提供準(zhǔn)直透鏡364來(lái)在檢測(cè)器組件300的視野內(nèi)收集通過(guò)蛋傳輸?shù)碾姶泡椛?。在一些情況下，檢測(cè)器組件300可包括濾光器360。在一些情況下，可提供光管362以降低系統(tǒng)中的光學(xué)噪聲。在一些情況下，可提供光學(xué)偶聯(lián)透鏡307。適當(dāng)?shù)碾娐房膳c傳感器303(例如，光檢測(cè)器)通信連接，該傳感器303設(shè)置成用于產(chǎn)生傳輸至處理器500的輸出信號(hào)。
[0059]在操作中，一旦在發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)之間布置蛋1，發(fā)光源210可發(fā)射引向蛋I的光。傳感器302可接收離開(kāi)蛋5的光并且可產(chǎn)生相應(yīng)于離開(kāi)蛋I的光強(qiáng)度的輸出信號(hào)。
[0060]控制器可包括處理器500，處理器500與檢測(cè)器組件300通信連接并且設(shè)置成用于處理來(lái)自傳感器303的輸出信號(hào)，以確定蛋I的存活性。可在期望的波長(zhǎng)或特征波長(zhǎng)下測(cè)定經(jīng)過(guò)蛋的光強(qiáng)度，并且可產(chǎn)生代表在所選波長(zhǎng)下的光強(qiáng)度的光譜。產(chǎn)生的光譜可隨后和與相應(yīng)的已知的蛋狀況關(guān)聯(lián)的一個(gè)或多個(gè)光譜相比較，以鑒定蛋的當(dāng)前狀況。例如，可將產(chǎn)生的光譜和與以下的一種或多種關(guān)聯(lián)的相應(yīng)的光譜相比較:活的蛋、早死的蛋、中間死亡蛋、晚死的蛋、澄清的蛋、腐爛的蛋和/或錯(cuò)過(guò)的蛋。
[0061]根據(jù)本公開(kāi)的一些方面，蛋檢測(cè)系統(tǒng)160能根據(jù)存活性來(lái)鑒定蛋，同時(shí)連續(xù)移動(dòng)通過(guò)蛋鑒定系統(tǒng)100。關(guān)于這一點(diǎn)，在蛋平臺(tái)50中的蛋I在其存活性評(píng)價(jià)期間能連續(xù)移動(dòng)通過(guò)蛋鑒定系統(tǒng)100，從而允許如期望地優(yōu)化的生產(chǎn)量。為此，蛋平臺(tái)50在鑒定處理期間不需要停止，以允許檢測(cè)器工具接觸蛋I或另外有角度地布置用于檢測(cè)。然而，在一些情況下，蛋平臺(tái)50可在發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)之間停止或暫停，以用于鑒定。在任何事件中，運(yùn)送器系統(tǒng)140可同步，以可變的速度運(yùn)送蛋平臺(tái)50。
[0062]雖然顯示和描述蛋I的鈍端20被照射，可能發(fā)射體組件200和檢測(cè)器組件300的位置可轉(zhuǎn)換，以便電磁輻射被向上引導(dǎo)至蛋I的窄端10，并且在鈍端20處檢測(cè)透射光。
[0063]根據(jù)一些方面，如在圖10和圖11中顯示的，蛋檢測(cè)系統(tǒng)160可包括不透明度鑒定系統(tǒng)600和光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)700。光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)700通過(guò)關(guān)于圖5-9前面描述的方面來(lái)表示。在一些情況下，可在來(lái)自光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)700的處理方向800的上游提供不透明度鑒定系統(tǒng)600。不透明度鑒定系統(tǒng)600實(shí)現(xiàn)光電鑒定并且可包括坐落于運(yùn)送的蛋平臺(tái)50之上的發(fā)射體組件(單個(gè)發(fā)射體610)和坐落于低于運(yùn)送的蛋平臺(tái)50的接收器組件。不透明度鑒定系統(tǒng)600掃描蛋并且鑒定蛋為非可存活(澄明的)或可存活(非澄明的)，隨后運(yùn)送至光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)700。每一個(gè)發(fā)射體610可引導(dǎo)光向下通過(guò)每一個(gè)蛋I，接收器聚集經(jīng)過(guò)蛋的光。可測(cè)量經(jīng)過(guò)每一個(gè)蛋I的光，以確定蛋為非可存活或可存活的。光可在約720納米-約935納米的光學(xué)帶寬下發(fā)射。
[0064]關(guān)于這一點(diǎn)，不透明度鑒定系統(tǒng)600可用作第一通路鑒定器，以鑒定澄明的蛋、早死的蛋或錯(cuò)過(guò)蛋平臺(tái)50的蛋，隨后將它們通過(guò)光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)700。為了限制光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)700的檢測(cè)器組件300的飽和，當(dāng)與通過(guò)不透明度鑒定系統(tǒng)600鑒定為例如，澄明的、早死的或錯(cuò)過(guò)的蛋I關(guān)聯(lián)時(shí)，發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)的相應(yīng)的位置可關(guān)閉、去活化或另外禁止。也就是，為澄明的、早死的或錯(cuò)過(guò)的蛋I可能不期望地允許顯著量的透射光到達(dá)檢測(cè)器組件300。因此，不透明度鑒定系統(tǒng)600可與蛋鑒定系統(tǒng)100的控制器通信連接，以便控制器可選擇性直接操作與光譜學(xué)檢測(cè)器系統(tǒng)700關(guān)聯(lián)的發(fā)射體組件200和/或檢測(cè)器組件300。采用該方式，通過(guò)與控制器通信連接，檢測(cè)器飽和可最小化，對(duì)于給定的蛋平臺(tái)50，應(yīng)禁止某些發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)。
[0065]根據(jù)一些方面，當(dāng)經(jīng)過(guò)光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)700時(shí)，每一個(gè)蛋可通過(guò)多于一個(gè)發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)經(jīng)歷評(píng)價(jià)和鑒定，以進(jìn)一步確保鑒定系統(tǒng)改進(jìn)的精密度。
[0066]根據(jù)一些方面，發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)可細(xì)分為在不同波長(zhǎng)或不同光學(xué)帶寬下操作的各種亞組，以改進(jìn)蛋鑒定系統(tǒng)160的性能。這可能與發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)以吸收光譜學(xué)模式還是熒光光譜學(xué)模式操作無(wú)關(guān)。例如，如在圖10中顯示的，形成光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)700的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)可細(xì)分為亞組710、720、730，其中每一個(gè)亞組在不同的光學(xué)帶寬下操作，以便經(jīng)過(guò)光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)700的每一個(gè)蛋可分析多于一次，并且以不同的光學(xué)帶寬來(lái)確定其分類。應(yīng)理解的是，顯示的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)或亞組的數(shù)量?jī)H用于說(shuō)明的目的，并且可提供任何數(shù)量的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)或亞組。
[0067]根據(jù)本公開(kāi)的一些方面，如在圖11中顯示的，光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)700可包括分別以吸收光譜學(xué)模式和熒光光譜學(xué)模式操作的吸收光譜學(xué)系統(tǒng)800和熒光光譜學(xué)系統(tǒng)900。關(guān)于這一點(diǎn)，除了不透明度鑒定系統(tǒng)600以外，蛋檢測(cè)系統(tǒng)160可包括吸收光譜學(xué)系統(tǒng)800和熒光光譜學(xué)系統(tǒng)900，用于改進(jìn)鑒定精確度。
[0068]在一些情況下，吸收光譜學(xué)系統(tǒng)800和熒光光譜學(xué)系統(tǒng)900的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)可細(xì)分為在不同波長(zhǎng)或不同光學(xué)帶寬下操作的各種亞組，以改進(jìn)光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)700的性能。例如，如在圖11中顯示的，形成吸收光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)800的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)可細(xì)分為亞組810、820、830，其中每一個(gè)亞組在不同的光學(xué)帶寬下操作，以便經(jīng)過(guò)吸收光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)800的每一個(gè)蛋可分析多于一次，并且以不同的光學(xué)帶寬來(lái)確定其分類。此外，形成熒光光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)900的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)可細(xì)分為亞組910、920，其中每一個(gè)亞組在不同的光學(xué)帶寬下操作，以便經(jīng)過(guò)熒光光譜學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)900的每一個(gè)蛋可分析多于一次，并且以不同的光學(xué)帶寬來(lái)確定其分類。應(yīng)理解的是，顯示的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)或亞組的數(shù)量?jī)H用于說(shuō)明的目的，并且可提供任何數(shù)量的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)或亞組。在一些情況下，即使在亞組內(nèi)，發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)可設(shè)置成用于在不同波長(zhǎng)或光學(xué)帶寬下操作。雖然說(shuō)明吸收光譜學(xué)系統(tǒng)800在熒光光譜學(xué)系統(tǒng)900的上游，但是在一些情況下，順序可反轉(zhuǎn)。
[0069]本文描述的系統(tǒng)和方法也可稱為非侵入性的，在于在整個(gè)蛋的評(píng)價(jià)中蛋殼結(jié)構(gòu)保持完整。此外，本公開(kāi)的各方面不需要在蛋殼或蛋的內(nèi)部部件內(nèi)引入物質(zhì)來(lái)評(píng)價(jià)蛋的存活性，但是，在一些情況下，在評(píng)價(jià)前，可引入例如生物標(biāo)記物的物質(zhì)。然而，涉及引入一種或多種物質(zhì)的這些方面認(rèn)為是侵入性的。
[0070]受益于在前述描述和關(guān)聯(lián)的附圖中的教導(dǎo)，本公開(kāi)涉及領(lǐng)域技術(shù)人員可以想到本文描述的本公開(kāi)的許多修改和其它各方面。因此，應(yīng)理解的是，本公開(kāi)不局限于所公開(kāi)的具體方面，并且該修改和其它方面旨在包括在所附權(quán)利要求的范圍內(nèi)。但是，在本文中采用具體的術(shù)語(yǔ)，它們僅以一般性和描述性含義使用，并且不是限制的目的。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于確定鳥(niǎo)蛋的存活性的蛋鑒定系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包含: 運(yùn)送器系統(tǒng)，其設(shè)置成用于運(yùn)送容納多個(gè)蛋的蛋平臺(tái)； 發(fā)射體組件，其設(shè)置成用于朝向在蛋平臺(tái)中運(yùn)送的蛋中的一個(gè)發(fā)射電磁輻射； 與所述發(fā)射體組件軸向?qū)?zhǔn)的非接觸檢測(cè)器組件，所述非接觸檢測(cè)器組件設(shè)置成用于檢測(cè)通過(guò)蛋傳輸?shù)碾姶泡椛洌龇墙佑|檢測(cè)器組件在非接觸位置布置，以便在其操作期間用于使鑒定安置的蛋與所述非接觸檢測(cè)器組件空間分隔；和 處理器，其設(shè)置成用于以透射光譜學(xué)模式處理所述非接觸檢測(cè)器組件的輸出信號(hào)，用于確定蛋是否可存活。2.權(quán)利要求1的蛋鑒定系統(tǒng)，其中所述非接觸檢測(cè)器組件包括與所述處理器通信連接的光譜儀，所述處理器設(shè)置成用于基于代表在所選波長(zhǎng)下的光強(qiáng)度的輸出信號(hào)而產(chǎn)生光譜，所述處理器進(jìn)一步設(shè)置成用于將產(chǎn)生的光譜和與已知的蛋狀況關(guān)聯(lián)的至少一個(gè)光譜相比較，以鑒定蛋的存活性條件。3.權(quán)利要求1的蛋鑒定系統(tǒng)，其中所述透射光譜學(xué)模式為紅外吸收光譜學(xué)和熒光光譜學(xué)中的一種。4.權(quán)利要求1的蛋鑒定系統(tǒng)，其中所述發(fā)射體組件包含調(diào)節(jié)器，其設(shè)置成用于以經(jīng)調(diào)節(jié)的信號(hào)形式調(diào)節(jié)從其中發(fā)射的電磁輻射。5.權(quán)利要求1的蛋鑒定系統(tǒng)，其中所述發(fā)射體組件和所述非接觸檢測(cè)器組件形成發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)，并且進(jìn)一步其中存在多個(gè)分成亞組的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)，并且進(jìn)一步其中第一亞組的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)設(shè)置成用于以紅外吸收光譜學(xué)模式操作，而第二亞組的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)設(shè)置成用于以熒光光譜學(xué)模式操作，以便在所述蛋平臺(tái)內(nèi)容納的每一個(gè)蛋經(jīng)歷紅外吸收光譜學(xué)分析和熒光光譜學(xué)分析二者，用于確定通過(guò)所述運(yùn)送器系統(tǒng)在所述蛋平臺(tái)中輸送的蛋的存活性。6.權(quán)利要求5的蛋鑒定系統(tǒng)，所述系統(tǒng)還包含不透明度鑒定組件，其設(shè)置成用于基于與相應(yīng)的蛋關(guān)聯(lián)的不透明度來(lái)確定蛋的存活性，所述不透明度鑒定組件布置在所述第一和第二亞組的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)的上游，所述不透明度鑒定組件與控制器通信連接，所述控制器設(shè)置成用于對(duì)當(dāng)向其運(yùn)送通過(guò)不透明度鑒定組件鑒定為非可存活蛋以供存活性測(cè)定時(shí)，禁止單個(gè)發(fā)射體-檢測(cè)器的操作。7.權(quán)利要求1的蛋鑒定系統(tǒng)，其中所述發(fā)射體組件設(shè)置成用于在不同于通過(guò)所述非接觸檢測(cè)器組件檢測(cè)的波長(zhǎng)下發(fā)射電磁輻射。8.權(quán)利要求1的蛋鑒定系統(tǒng)，所述系統(tǒng)還包含多個(gè)分成亞組的的發(fā)射體組件，其中第一亞組的發(fā)射體組件設(shè)置成用于在第一波長(zhǎng)下發(fā)射電磁輻射，而第二亞組的發(fā)射體組件設(shè)置成用于在不同于所述第一波長(zhǎng)的第二波長(zhǎng)下發(fā)射電磁輻射。9.權(quán)利要求1的蛋鑒定系統(tǒng)，所述系統(tǒng)還包含多個(gè)分成亞組的非接觸檢測(cè)器組件，其中第一亞組的非接觸檢測(cè)器組件設(shè)置成用于在第一光學(xué)帶寬下檢測(cè)電磁輻射，而第二亞組的非接觸檢測(cè)器組件設(shè)置成用于在第二光學(xué)帶寬下檢測(cè)電磁輻射。10.—種確定蛋的存活性的方法，所述方法包括: 使用運(yùn)送器系統(tǒng)運(yùn)送容納在蛋平臺(tái)中的蛋； 朝向蛋發(fā)射來(lái)自發(fā)射體組件的電磁輻射； 用與所述發(fā)射體組件軸向?qū)?zhǔn)的非接觸檢測(cè)器組件接收通過(guò)蛋傳輸?shù)碾姶泡椛?，所述非接觸檢測(cè)器組件與蛋空間分隔；和 以透射光譜學(xué)模式處理所述非接觸檢測(cè)器組件的輸出信號(hào)，用于確定蛋是否可存活。11.權(quán)利要求10的方法，其中以透射光譜學(xué)模式處理所述非接觸檢測(cè)器組件的輸出信號(hào)包括基于代表在所選波長(zhǎng)下的光強(qiáng)度的輸出信號(hào)產(chǎn)生光譜，將產(chǎn)生的光譜和與已知的蛋狀況關(guān)聯(lián)的至少一個(gè)光譜相比較，以鑒定蛋的存活性條件。12.權(quán)利要求10的方法，其中以透射光譜學(xué)模式處理所述非接觸檢測(cè)器組件的輸出信號(hào)包括以紅外吸收光譜學(xué)模式和發(fā)射熒光光譜學(xué)模式中的一種處理所述非接觸檢測(cè)器組件的輸出信號(hào)。13.權(quán)利要求10的方法，其中發(fā)射來(lái)自發(fā)射體組件的電磁輻射包括以經(jīng)調(diào)節(jié)的信號(hào)形式調(diào)節(jié)從所述發(fā)射體組件發(fā)射的電磁輻射。14.權(quán)利要求10的方法，所述方法還包括:提供多個(gè)所述發(fā)射體組件和所述非接觸檢測(cè)器組件，每一個(gè)發(fā)射體組件與相應(yīng)的非接觸檢測(cè)器組件關(guān)聯(lián)以形成發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)，所述發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)分成亞組，并且其中運(yùn)送蛋包括運(yùn)送蛋經(jīng)過(guò)實(shí)現(xiàn)透射吸收光譜學(xué)模式的第一亞組的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)和實(shí)現(xiàn)透射熒光光譜學(xué)模式的第二亞組的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)，以便蛋經(jīng)歷透射吸收光譜學(xué)和透射熒光光譜學(xué)二者，用于確定存活性。15.權(quán)利要求14的方法，所述方法還包括運(yùn)送蛋通過(guò)不透明度鑒定組件，其設(shè)置成用于基于與蛋關(guān)聯(lián)的不透明度來(lái)確定蛋的存活性，所述不透明度鑒定組件布置在所述第一和第二亞組的發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)的上游，并且還包括當(dāng)向其運(yùn)送通過(guò)不透明度鑒定組件鑒定為非可存活蛋以供存活性測(cè)定時(shí)，禁止單個(gè)發(fā)射體-檢測(cè)器對(duì)的操作的步驟。16.權(quán)利要求10的方法，其中發(fā)射來(lái)自發(fā)射體組件的電磁輻射還包括在不同于通過(guò)所述非接觸檢測(cè)器組件檢測(cè)的波長(zhǎng)下發(fā)射電磁輻射。17.權(quán)利要求10的方法，所述方法還包括提供多個(gè)分成亞組的發(fā)射體組件，在第一波長(zhǎng)下由第一亞組的發(fā)射體組件發(fā)射電磁輻射和在不同于所述第一波長(zhǎng)的第二波長(zhǎng)下由第二亞組的發(fā)射體組件發(fā)射電磁輻射。18.權(quán)利要求10的方法，所述方法還包括提供多個(gè)分成亞組的非接觸檢測(cè)器組件，在第一光學(xué)帶寬下檢測(cè)來(lái)自第一亞組的非接觸檢測(cè)器組件的電磁輻射和在第二光學(xué)帶寬下檢測(cè)來(lái)自第二亞組的非接觸檢測(cè)器組件的電磁輻射。
【文檔編號(hào)】G01N33/08GK105874334SQ201480061781
【公開(kāi)日】2016年8月17日
【申請(qǐng)日】2014年11月18日
【發(fā)明人】J.J.瓦盧卡斯, R.卡林普爾
【申請(qǐng)人】碩騰服務(wù)有限責(zé)任公司