磁體磁通和表場復(fù)合測量制具和測量設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種測量制具和測量設(shè)備，能夠同時測量磁體的磁通和表場。
【背景技術(shù)】
[0002]對于磁體，例如釹鐵硼磁體，有時需要測量其磁通和表場。以往在測量這兩個參數(shù)時，分先后順序分別進行測量。測量這兩個參數(shù)時進行的操作比較相似。當測量磁通時，需要將待測磁體放在磁通測量設(shè)備的單線圈上。當測量表場時，需要將待測磁體放在表場測量設(shè)備的霍爾探頭上。即，測量這兩個參數(shù)都需要將待測磁體固定位置。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]有鑒于此，本實用新型提供一種磁體磁通和表場復(fù)合測量制具和測量設(shè)備，使得只需將待測磁體放在測量制具上這一個動作，即可同時完成測量磁通和表場兩個參數(shù)。
[0004]為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供一種磁體磁通和表場復(fù)合測量制具，包括基板(6)，在所述基板的一個表面形成有凹槽(8)，所述凹槽從所述基板的邊緣延伸到所述基板的中央，在所述基板的與所述一個表面相反側(cè)的另一個表面形成有環(huán)形槽。
[0005]本實用新型的磁體磁通和表場復(fù)合測量制具，在所述基板的所述一個表面固定有定位塊(5)。
[0006]本實用新型的磁體磁通和表場復(fù)合測量制具，所述定位塊從所述基板的所述一個表面沿與所述一個表面垂直的方向延伸。
[0007]本實用新型的磁體磁通和表場復(fù)合測量制具，所述定位塊通過嵌合的方式安裝在所述基板。
[0008]本實用新型的磁體磁通和表場復(fù)合測量制具，還包括底板，所述底板嵌在所述基板的所述一個表面。
[0009]為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型還提供一種磁體磁通和表場復(fù)合測量設(shè)備，包括:本實用新型的測量制具；單線圈(3)，安裝在所述測量制具的所述環(huán)形槽；霍爾探頭(4)，安裝在所述測量制具的所述凹槽；磁通計(I)，連接到所述單線圈；以及高斯計(2)，連接到所述霍爾探頭。
[0010]本實用新型的磁體磁通和表場復(fù)合測量制具和測量設(shè)備，只需將待測磁體放在測量制具上這一個動作，即可同時完成測量磁通和表場兩個參數(shù)，既提高了測量效率，又提高了測量精度。
【附圖說明】
[0011]圖1示出根據(jù)本實用新型一個實施方式的測量制具和測量設(shè)備。
[0012]圖2是從背面看圖1所示的測量制具的透視圖。
【具體實施方式】
[0013]以下參照附圖來詳細說明本實用新型的測量制具和測量設(shè)備。
[0014]圖1示出根據(jù)本實用新型一個實施方式的測量制具和測量設(shè)備。圖2是從背面看圖1所示的測量制具的透視圖。如圖1、圖2所示，測量制具7包括在水平方向上延伸的平板狀的基板6。
[0015]在基板6的上表面，形成有凹槽8。凹槽8呈直線狀，從基板6的邊緣延伸到基板6的中心位置。凹槽8用于放置霍爾探頭4 (后述)，使得當將待測磁體放在基板6的上表面上時，霍爾探頭4位于待測磁體的下方。
[0016]如圖2所示，在基板6的背面，形成有環(huán)形槽。在環(huán)形槽中，安裝有單線圈3。單線圈3由銅質(zhì)導(dǎo)線制成，用于測量待測磁體的磁通。
[0017]磁通計I連接到單線圈3，用于測量磁通。高斯計2連接到霍爾探頭4，用于測量表場。
[0018]在基板6的上表面，固定有定位塊5。定位塊5從基板6的上表面豎直向上延伸。定位塊5例如呈俯視時大體L字形，通過使待測磁體的兩條邊抵接定位塊5，相對于霍爾探頭4和單線圈3將待測磁體定位在適當位置。定位塊5可以通過嵌合的方式安裝在基板6，從而能從基板6卸下。這樣，當定位塊5磨損時，可以進行更換。
[0019]當使用本實用新型的測量制具和測量設(shè)備測量磁體的磁通和表場時，將單線圈3嵌入基板6背面的環(huán)形槽，將霍爾探頭4固定在基板6上表面的凹槽8。然后，分別連接磁通計I和高斯計2。將待測磁體放在基板6的上表面，使其抵接定位塊5，磁通計I給出磁通測量結(jié)果，同時，高斯計2給出表場測量結(jié)果。
[0020]本實用新型的測量制具和測量設(shè)備，能夠消除測量磁通和表場時的相互干擾，能夠同時測量磁通和表場，既提高了工作效率，又提高了測量精度。
[0021]可選地，測量制具7還可以具有底板(圖未示)。底板嵌在基板6的上表面，從而能夠相對于基板6卸下。這樣，當測量制具7長期使用時，如果底板由于與待測磁體頻繁接觸而磨損，可以進行更換。
【主權(quán)項】
1.一種磁體磁通和表場復(fù)合測量制具，其特征在于，包括基板(6)，在所述基板的一個表面形成有凹槽(8)，所述凹槽從所述基板的邊緣延伸到所述基板的中央，在所述基板的與所述一個表面相反側(cè)的另一個表面形成有環(huán)形槽。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁體磁通和表場復(fù)合測量制具，其特征在于，在所述基板的所述一個表面固定有定位塊(5)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的磁體磁通和表場復(fù)合測量制具，其特征在于，所述定位塊從所述基板的所述一個表面沿與所述一個表面垂直的方向延伸。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的磁體磁通和表場復(fù)合測量制具，其特征在于，所述定位塊通過嵌合的方式安裝在所述基板。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁體磁通和表場復(fù)合測量制具，其特征在于，還包括底板，所述底板嵌在所述基板的所述一個表面。
6.一種磁體磁通和表場復(fù)合測量設(shè)備，其特征在于，包括: 根據(jù)權(quán)利要求1?5中任一項所述的測量制具； 單線圈(3)，安裝在所述測量制具的所述環(huán)形槽； 霍爾探頭(4)，安裝在所述測量制具的所述凹槽； 磁通計(I)，連接到所述單線圈；以及 高斯計(2)，連接到所述霍爾探頭。
【專利摘要】提供一種磁體磁通和表場復(fù)合測量制具和測量設(shè)備。所述測量制具包括基板(6)，在所述基板的一個表面形成有凹槽(8)，所述凹槽從所述基板的邊緣延伸到所述基板的中央，在所述基板的與所述一個表面相反側(cè)的另一個表面形成有環(huán)形槽。本實用新型的磁體磁通和表場復(fù)合測量制具和測量設(shè)備，只需將待測磁體放在測量制具上這一個動作，即可同時完成測量磁通和表場兩個參數(shù)，既提高了測量效率，又提高了測量精度。
【IPC分類】G01R33-12
【公開號】CN204359920
【申請?zhí)枴緾N201420807747
【發(fā)明人】蘇福亮
【申請人】天津三環(huán)樂喜新材料有限公司
【公開日】2015年5月27日
【申請日】2014年12月18日