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      適用于半導(dǎo)體晶體生長(zhǎng)的雙溫加熱爐的制作方法

      文檔序號(hào):6275442閱讀:305來(lái)源:國(guó)知局
      專(zhuān)利名稱(chēng):適用于半導(dǎo)體晶體生長(zhǎng)的雙溫加熱爐的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種單晶生長(zhǎng)、擴(kuò)散、或摻雜諸工藝專(zhuān)用的一般設(shè)備。
      應(yīng)用汽相或液相外延方法生長(zhǎng)二元、三元或多元的Ⅲ-Y族化合物半導(dǎo)體薄膜晶體,如GaAs、GaP、GaAsP等,以及在特定氣氛下進(jìn)行加熱退火、擴(kuò)散或產(chǎn)生化學(xué)反應(yīng)等多種場(chǎng)合,需要采用雙溫加熱爐。加熱時(shí),在爐內(nèi)建立一個(gè)溫度較高的主溫坪區(qū)和一個(gè)溫度較低的副溫坪區(qū),要求每個(gè)溫度坪區(qū)有足夠的坪區(qū)長(zhǎng)度,且當(dāng)其中一個(gè)溫度坪區(qū)的溫度升高或降低時(shí),對(duì)另一溫度坪區(qū)的影響應(yīng)盡可能地小,特別是主溫度坪區(qū)的溫度以較快的速度變化時(shí),要維持副溫度坪區(qū)溫度場(chǎng)的恒定。
      在合成GaAs、ZnP2、Ga2S3等化合物時(shí),預(yù)先將汽化溫度較高的元素,如Ga或Zn置于主溫坪區(qū),汽化溫度較低的元素如As、P、S等置于副溫坪區(qū),加熱后,As、P、S等被汽化為蒸汽,由氣體載帶輸送到溫度較高區(qū)域處與Ga或Zn元素,反應(yīng)合成為GaAs、ZnP2或Ga2S3等。
      常用的雙溫加熱爐可分為兩種類(lèi)型,一種是由兩個(gè)單坪區(qū)的加熱爐連接組成雙溫加熱爐;另一種是分段式雙溫加熱爐,它主要由爐體、爐管、加熱器及控溫系統(tǒng)組成,爐管位于圓筒形爐體的軸心處,加熱器由布置在爐管外側(cè)的4段電熱絲構(gòu)成,其中3段用于建立主溫坪區(qū),工作溫度600~1150℃,溫區(qū)坪長(zhǎng)300~400mm,另一段用于建立副溫坪區(qū),工作溫度為400~700℃,溫區(qū)坪長(zhǎng)約為50mm,主、副溫區(qū)間的間隔約為350mm。為在工作過(guò)程中按預(yù)定的規(guī)程改變溫區(qū)的溫度,其溫控部份在采用溫度自動(dòng)控制儀控溫的基礎(chǔ)上,附加一個(gè)簡(jiǎn)單的變溫儀,或者附加一個(gè)較為復(fù)雜的程序變溫儀分檔變溫。這種控溫方式,可使主溫區(qū)變溫過(guò)程中保持自身位置和坪區(qū)長(zhǎng)度,但同時(shí)存在以下缺陷1、副溫區(qū)溫度會(huì)受到主溫區(qū)溫度變化產(chǎn)生的熱量輻射的影響,使副溫區(qū)的位置和坪長(zhǎng)發(fā)生變化。尤其是在主、副溫區(qū)間會(huì)出現(xiàn)下凹的溫度場(chǎng),使工藝失控,導(dǎo)致產(chǎn)品成品率下降或發(fā)生意外事故;2、所用的程序變溫儀是一種分檔式變溫儀,其檔數(shù)為3~5,這種非連續(xù)可調(diào)的變溫方式難以滿(mǎn)足不同的工藝要求,限制了設(shè)備的應(yīng)用范圍。
      3、當(dāng)同時(shí)改變主溫區(qū)和副溫區(qū)溫度時(shí),無(wú)法保持各溫區(qū)的位置和坪長(zhǎng)不變。
      本發(fā)明的任務(wù)在于提供一種主溫區(qū)、副溫區(qū)的位置和坪長(zhǎng)不隨溫區(qū)溫度變化而變化,適合于半導(dǎo)體晶體生長(zhǎng)的雙溫加熱爐。
      圖面說(shuō)明圖1為本雙溫加熱爐的結(jié)構(gòu)示意圖。
      圖中1-爐體,2-爐管,3-各加熱器,31、32、33-主溫區(qū)加熱器,31′、32′-副溫區(qū)加熱器,a-自動(dòng)控溫?zé)犭娕?,b-測(cè)溫?zé)犭娕迹琗1、X2、X3、X1′、X2′-表示熱電偶所在位置和計(jì)算機(jī)控溫通道數(shù)字的輸出量,4-IBM-PC計(jì)算機(jī),5-12位精度16通道AD/DA板,6-耦合電路,7-自動(dòng)控溫儀,71-定值器,72-PID調(diào)節(jié)器,73-μv放大器,74-可控硅觸發(fā)器,75-可控硅,76-溫度顯示器。
      圖2為主溫區(qū)溫度與計(jì)算機(jī)各通道輸出的數(shù)字量之間的關(guān)系圖。橫座標(biāo)為主溫區(qū)溫度,縱座標(biāo)為計(jì)算機(jī)輸出的數(shù)字量。
      圖3為主溫區(qū)、副溫區(qū)溫度與計(jì)算機(jī)通道輸出數(shù)字量的關(guān)系圖。橫座標(biāo)為主、副溫區(qū)溫度Tm、Tn,縱座標(biāo)為計(jì)算機(jī)通道輸出數(shù)字量X1′、X2′,圖中I表示實(shí)驗(yàn)規(guī)程確定的Tm-Tn關(guān)系曲線,J和K表示與I對(duì)應(yīng)的X1′、X2′的曲線。
      以下結(jié)合附圖,詳細(xì)說(shuō)明本方案的具體內(nèi)容,但發(fā)明內(nèi)容不限于

      如圖1所示,該雙溫加熱爐爐管外側(cè)分別布置主溫區(qū)加熱器〔31〕〔32〕〔33〕和副溫區(qū)加熱器〔31′〕〔32′〕〔32〕為溫度主控加熱器,〔31〕〔33〕為溫度補(bǔ)償加熱器,副溫區(qū)加熱器〔31′〕〔32′〕的個(gè)數(shù)為2個(gè)或3個(gè);控溫系統(tǒng)由IBM-PC計(jì)算機(jī)〔4〕、16通道AD/DA板〔5〕、耦合電路〔6〕、自動(dòng)控溫儀〔7〕、自動(dòng)控溫?zé)犭娕肌瞐〕以及測(cè)溫?zé)犭娕肌瞓〕組成。自動(dòng)控溫?zé)犭娕肌瞐〕輸出的電信號(hào)經(jīng)導(dǎo)線輸入自動(dòng)控溫儀〔7〕,與定值器〔71〕比較后,經(jīng)μv放大器〔72〕、PID調(diào)節(jié)器〔73〕、可控硅觸發(fā)器〔74〕、可控硅〔75〕供給各加熱器〔3〕電流,測(cè)溫?zé)犭娕肌瞓〕輸出電信號(hào)經(jīng)導(dǎo)線輸入溫度顯示器〔76〕,顯示出該處的溫度值,由IBM-PC計(jì)算機(jī)〔4〕給出的數(shù)字量經(jīng)耦合電路〔6〕,疊加在定值器〔71〕上,對(duì)各加熱器〔3〕執(zhí)行定值控溫。
      如圖1所示,主溫區(qū)加熱器〔31〕〔32〕〔33〕采用三點(diǎn)三段控制方式,居中的控溫點(diǎn)〔X2〕控制主溫區(qū)的溫度,位于兩旁的加熱器〔31〕〔33〕起調(diào)節(jié)補(bǔ)償作用,以保證主溫區(qū)有足夠的坪長(zhǎng)。在主溫區(qū)溫度〔Tm〕一定時(shí),對(duì)應(yīng)的三個(gè)通道輸出數(shù)字量〔X1〕〔X2〕〔X3〕,對(duì)于主溫區(qū)的不同溫度,相應(yīng)的每一通道輸出不同的數(shù)字量,即一組不同的數(shù)據(jù),如圖2中實(shí)線所示,將各組數(shù)據(jù)作曲線擬合,則得到一系列函數(shù)關(guān)系式X1=A0+A1Tm+A2Tm2+A3Tm3+… (1)X2=B0+B1Tm+B2Tm2+B3Tm3+… (2)X3=C0+C1Tm+C2Tm2+C3Tm3+… (3)為便計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)控制,把X2作為自變量,將上式經(jīng)過(guò)變形則得到一組以X2為自變量的函數(shù)關(guān)系式X1=A0′+A1′X2+A2′X22+A3′X32+… (4)X3=C0′+C1′X2+C2′X22+C3′X32+… (5)Tm=B0′+B1′X2+B2′X22+B3′X32+… (6)當(dāng)爐體結(jié)構(gòu),包括散熱狀況、熱容量等參數(shù)確定后,在保證主溫區(qū)位置和坪長(zhǎng)恒定條件下,具體測(cè)出主溫區(qū)溫度Tm和各通道輸出數(shù)值X1、X2、X3,稱(chēng)為定標(biāo)工作,然后利用計(jì)算機(jī)算出(1)~(6)式中的系數(shù)值。將這些數(shù)據(jù)儲(chǔ)存數(shù)據(jù)庫(kù)中,供計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)控制應(yīng)用。
      如圖1所示,副溫區(qū)采用二點(diǎn)二段控制方式,即控制副溫區(qū)加熱器〔31′〕、〔32′〕和數(shù)字量〔X1′〕〔X2′〕。加熱器〔32′〕主要用于保證副溫區(qū)的溫度和爐端散失的熱量,加熱器〔31′〕主要為保證副溫區(qū)的位置和坪長(zhǎng),同時(shí)適應(yīng)主溫區(qū)溫度變化,確保副溫區(qū)的溫度場(chǎng)不出現(xiàn)凹點(diǎn)。所以數(shù)字量〔X1′〕〔X2′〕的大小既受副溫區(qū)溫度〔Tn〕制約,又受主溫區(qū)〔Tm〕的影響,是〔Tm〕〔Tn〕的二元函數(shù),圖3以三維空間分布顯示這種關(guān)系。同主溫區(qū)處理方式相似,通過(guò)計(jì)算機(jī)處理,確定不同狀態(tài)下的數(shù)字量〔X1′〕〔X2′〕的值。將有關(guān)數(shù)據(jù)儲(chǔ)入數(shù)據(jù)庫(kù),供實(shí)時(shí)控制應(yīng)用。
      根據(jù)生產(chǎn)或?qū)嶒?yàn)需要所確定的主溫區(qū)溫度隨時(shí)間變化關(guān)系,在實(shí)時(shí)控制的不同時(shí)刻,由計(jì)算機(jī)算出不同的數(shù)字量〔X2〕〔X1〕〔X3〕〔X1′〕〔X2′〕,實(shí)現(xiàn)對(duì)雙溫加熱爐的動(dòng)態(tài)控制。必要時(shí),副溫區(qū)還可增加加熱器〔33′〕。
      本設(shè)計(jì)的雙溫加熱爐同已有方案比較具有以下優(yōu)點(diǎn)1、主溫區(qū)溫度變化不會(huì)對(duì)副溫區(qū)的位置和坪長(zhǎng)產(chǎn)生影響,亦能避免溫度場(chǎng)出現(xiàn)凹點(diǎn),具有良好的重復(fù)性,與已有方案相比,可提高產(chǎn)品成品率。
      2、采用12位高精度AD/DA轉(zhuǎn)換板〔5〕,控溫精度優(yōu)于0.5℃。
      3、采用16通道AD/DA轉(zhuǎn)換板〔5〕,除滿(mǎn)足雙溫區(qū)溫度控制所需的通道外,尚有較大的余量可用來(lái)控制過(guò)程中的其他因素,利于提高自動(dòng)化的程度。
      實(shí)施例1合成ZnP2晶體,應(yīng)用本設(shè)計(jì)的雙溫加熱爐,主溫區(qū)以較快的速度升溫至1050℃,副溫區(qū)始終穩(wěn)定在475℃~477℃,不出現(xiàn)溫度場(chǎng)凹點(diǎn),使單斜晶形ZnP2產(chǎn)率從60%提高到99%以上,并可避免發(fā)生反應(yīng)系統(tǒng)爆炸事故。
      實(shí)施例2采用本設(shè)計(jì)的雙溫加熱爐,以降溫生長(zhǎng)和過(guò)補(bǔ)償方法制備GaP生長(zhǎng)結(jié)外延薄膜材料,要求主溫區(qū)和副溫區(qū)溫度均隨時(shí)變化,并保證坪區(qū)的位置和坪長(zhǎng)不變,以及不出現(xiàn)溫度場(chǎng)凹點(diǎn),經(jīng)反復(fù)試驗(yàn),均獲得優(yōu)質(zhì)的GaP液相外延材料,重復(fù)性良好。
      權(quán)利要求1.一種適用于半導(dǎo)體晶體生長(zhǎng)的雙溫加熱爐,包含一個(gè)爐體,一個(gè)爐管,若干個(gè)加熱器,一個(gè)控溫系統(tǒng),其特征在于加熱器[31][32][33]為主溫區(qū)加熱器,加熱器[31′][32′]為副溫區(qū)加熱器,控溫系統(tǒng)由IBM-PC計(jì)算機(jī)[4]、16通道AD/DA轉(zhuǎn)換板[5]、耦合電路[6]、自動(dòng)控溫儀[7]、自動(dòng)控溫?zé)犭娕糩a]、以及測(cè)溫?zé)犭娕糩b]組成,自動(dòng)控溫?zé)犭娕糩a]輸出的電信號(hào)經(jīng)導(dǎo)線輸入自動(dòng)控溫儀[7],與定值器[71]比較后,經(jīng)μV放大器[72]、PID調(diào)節(jié)器[73]、可控硅觸發(fā)器[74]、可控硅[75]供給各加熱器[3]電流,測(cè)溫?zé)犭娕糩b]輸出的電信號(hào)經(jīng)導(dǎo)線輸入溫度顯示器[76],顯示出該處的溫度值,由IBM-PC計(jì)算機(jī)[4]給出的數(shù)字量通過(guò)16通道AD/DA轉(zhuǎn)換板[5]轉(zhuǎn)換成模擬電壓量,經(jīng)耦合電路[6]疊加在定值器[71]上,對(duì)各加熱器[3]執(zhí)行定值控溫。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙溫加熱器,其特征在于所述的主溫區(qū)加熱器〔31〕〔32〕〔33〕,其〔32〕為溫度主控加熱器,〔31〕〔33〕為溫度補(bǔ)償加熱器。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙溫加熱爐,其特征在于所述的副溫區(qū)加熱器〔31′〕〔32′〕,其個(gè)數(shù)為2個(gè)或者3個(gè)。
      專(zhuān)利摘要一種適用于半導(dǎo)體晶體生長(zhǎng)的雙溫加熱爐,采用微機(jī)自動(dòng)控溫,在主溫區(qū)溫度變化過(guò)程中,副溫區(qū)的位置和坪長(zhǎng)能保持恒定,或者當(dāng)主、副溫區(qū)溫度同時(shí)按預(yù)定的要求變化時(shí),主溫區(qū)和副溫區(qū)的坪的位置和長(zhǎng)度均保持不變。應(yīng)用于半導(dǎo)體晶體材料合成、加熱退火、擴(kuò)散、薄膜生長(zhǎng)等具有控溫準(zhǔn)確,成品率高,重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn)。
      文檔編號(hào)G05D23/22GK2034176SQ8820632
      公開(kāi)日1989年3月15日 申請(qǐng)日期1988年5月27日 優(yōu)先權(quán)日1988年5月27日
      發(fā)明者丁祖昌, 華偉民, 過(guò)云龍 申請(qǐng)人:浙江大學(xué)
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