硬件早期故障探測方法和裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域，具體而言，涉及一種硬件早期故障探測方法和裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]當(dāng)前，晶片的報廢主要來自于硬件部件的老化，例如，2012年某廠因硬件部件報廢的3046個晶片占當(dāng)年報廢晶片總數(shù)的63%。
[0003]硬件部件老化的主要原因是早期故障問題，例如部件的低質(zhì)量、在到達(dá)生存時間之前的損壞或老化等。在相關(guān)技術(shù)中，在大量沖擊導(dǎo)致晶片報廢之后，相應(yīng)模組被觸發(fā)來采取措施以更換部件。采用這種方式將耗費大量的時間，一般每周需要十小時以上的時間，來統(tǒng)計質(zhì)量系統(tǒng)的大量原始數(shù)據(jù)，以監(jiān)控故障率硬件和提醒工作人員采取相應(yīng)措施。
[0004]可見，當(dāng)前人們僅僅是在硬件到達(dá)生存時間或者產(chǎn)生大量報廢晶片的情況下才對硬件進行更換；現(xiàn)有的質(zhì)量工程中通過大量超前時間手動統(tǒng)計報廢信息的方式，無法偵測硬件早期故障問題。
[0005]針對相關(guān)技術(shù)中無法偵測硬件早期故障問題所導(dǎo)致大量晶片報廢的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明提供了一種硬件早期故障探測方法和裝置，以至少解決上述問題。
[0007]根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種硬件早期故障探測方法，包括:獲取晶片加工機床加工晶片的原始數(shù)據(jù)；根據(jù)所述原始數(shù)據(jù)，統(tǒng)計所述晶片加工機床的預(yù)定事件信息，其中，所述預(yù)定事件信息包括:預(yù)定事件的類型和所述預(yù)定事件的出現(xiàn)頻率；根據(jù)所述預(yù)定事件信息，確定所述晶片加工機床中與所述類型所對應(yīng)的硬件的早期故障狀況。
[0008]優(yōu)選地，所述預(yù)定事件包括:通過所述加工機床告警模塊統(tǒng)計的異常告警事件，和/或，通過報廢晶片綜合數(shù)據(jù)狀態(tài)系統(tǒng)統(tǒng)計的晶片報廢事件。
[0009]優(yōu)選地，根據(jù)所述預(yù)定事件信息，確定所述晶片加工機床中與所述類型所對應(yīng)的硬件的早期故障狀況包括:判斷所述出現(xiàn)頻率是否超出預(yù)定閾值；在判斷結(jié)果為超出預(yù)定閾值的情況下，確定所述類型所對應(yīng)的硬件處于早期故障狀態(tài)。
[0010]優(yōu)選地，根據(jù)所述預(yù)定事件信息，確定所述晶片加工機床中與所述類型所對應(yīng)的硬件的早期故障狀況包括:將所述預(yù)定事件信息發(fā)送至故障模式和影響分析系統(tǒng)；通過所述故障模式和影響分析系統(tǒng)，確定所述晶片加工機床中與所述類型所對應(yīng)的硬件的早期故障狀況。
[0011]優(yōu)選地，通過所述故障模式和影響分析系統(tǒng)，確定所述晶片加工機床中與所述類型所對應(yīng)的硬件的早期故障狀況包括:所述故障模式和影響分析系統(tǒng)判斷所述出現(xiàn)頻率是否超出所述故障模式和影響分析系統(tǒng)中設(shè)置的預(yù)定閾值；在判斷結(jié)果為超出預(yù)定閾值的情況下，所述故障模式和影響分析系統(tǒng)根據(jù)所述類型確定處于早期故障狀態(tài)的硬件。
[0012]優(yōu)選地，所述方法還包括:更換處于早期故障狀態(tài)的硬件。
[0013]根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，還提供了一種硬件早期故障探測裝置，包括:獲取模塊，用于獲取晶片加工機床加工晶片的原始數(shù)據(jù)；統(tǒng)計模塊，用于根據(jù)所述原始數(shù)據(jù)，統(tǒng)計所述晶片加工機床的預(yù)定事件信息，其中，所述預(yù)定事件信息包括:預(yù)定事件的類型和所述預(yù)定事件的出現(xiàn)頻率；確定模塊，用于根據(jù)所述預(yù)定事件信息，確定所述晶片加工機床中與所述類型所對應(yīng)的硬件的早期故障狀況。
[0014]優(yōu)選地，所述確定模塊包括:判斷單元，用于判斷所述出現(xiàn)頻率是否超出預(yù)定閾值；確定單元，用于在判斷結(jié)果為超出預(yù)定閾值的情況下，確定所述類型所對應(yīng)的硬件處于早期故障狀態(tài)。
[0015]優(yōu)選地，所述確定模塊包括:發(fā)送單元，用于將所述預(yù)定事件信息發(fā)送至故障模式和影響分析系統(tǒng)；第二確定單元，用于通過所述故障模式和影響分析系統(tǒng)，確定所述晶片加工機床中與所述類型所對應(yīng)的硬件的早期故障狀況。
[0016]優(yōu)選地，所述裝置還包括:更換模塊，用于更換處于早期故障狀態(tài)的硬件。
[0017]通過本發(fā)明，采用獲取晶片加工機床加工晶片的原始數(shù)據(jù)；根據(jù)原始數(shù)據(jù)，統(tǒng)計晶片加工機床的預(yù)定事件信息，其中，預(yù)定事件信息包括:預(yù)定事件的類型和預(yù)定事件的出現(xiàn)頻率；根據(jù)預(yù)定事件信息，確定晶片加工機床中與類型所對應(yīng)的硬件的早期故障狀況的方式，解決了相關(guān)技術(shù)中無法偵測硬件早期故障問題所導(dǎo)致大量晶片報廢的問題，提供了一種探測硬件早期故障問題的方法，降低了晶片報廢率。
【附圖說明】
[0018]此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，構(gòu)成本申請的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0019]圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的硬件早期故障探測方法的流程示意圖；
[0020]圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的硬件早期故障探測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021]圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的硬件早期故障探測裝置的優(yōu)選結(jié)構(gòu)示意圖一；
[0022]圖4是根據(jù)本發(fā)明實施例的硬件早期故障探測裝置的優(yōu)選結(jié)構(gòu)示意圖二 ；
[0023]圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的硬件早期故障探測裝置的優(yōu)選結(jié)構(gòu)示意圖三；
[0024]圖6是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的偵測早期硬件老化方法的流程示意圖；
[0025]圖7是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的早期故障確定過程的示意圖。
【具體實施方式】
[0026]需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結(jié)合實施例來詳細(xì)說明本發(fā)明。
[0027]在附圖的流程圖示出的步驟可以在諸如一組計算機可執(zhí)行指令的計算機系統(tǒng)中執(zhí)行，并且，雖然在流程圖中示出了邏輯順序，但是在某些情況下，可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟。
[0028]本實施例提供了一種硬件早期故障探測方法，圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的硬件早期故障探測方法的流程示意圖，如圖1所示，該流程包括如下步驟:
[0029]步驟S102,獲取晶片加工機床加工晶片的原始數(shù)據(jù)；
[0030]步驟S104，根據(jù)原始數(shù)據(jù)，統(tǒng)計晶片加工機床的預(yù)定事件信息，其中，預(yù)定事件信息包括:預(yù)定事件的類型和預(yù)定事件的出現(xiàn)頻率；
[0031]步驟S106，根據(jù)預(yù)定事件信息，確定晶片加工機床中與類型所對應(yīng)的硬件的早期故障狀況。
[0032]通過上述步驟，通過統(tǒng)計原始數(shù)據(jù)中的預(yù)定事件的類型和出現(xiàn)頻率，從而可以確定晶片加工機床中與該類型對應(yīng)的硬件的早期故障狀況，解決了相關(guān)技術(shù)中無法偵測硬件早期故障問題所導(dǎo)致大量晶片報廢的問題，提供了一種探測硬件早期故障問題的方法，降低了晶片報廢率。
[0033]優(yōu)選地，上述的預(yù)定事件包括但不限于:通過加工機床告警模塊統(tǒng)計的異常告警事件，和/或，通過報廢晶片綜合數(shù)據(jù)狀態(tài)系統(tǒng)統(tǒng)計的晶片報廢事件。
[0034]優(yōu)選地，在步驟S106中，為了確定早期故障狀況，可以先判斷出現(xiàn)頻率是否超出預(yù)定閾值；在判斷結(jié)果為超出預(yù)定閾值的情況下，確定相應(yīng)的類型所對應(yīng)的硬件處于早期故障狀態(tài)。其中，預(yù)定閾值可以是通過前期系統(tǒng)的運行經(jīng)驗統(tǒng)計獲得并設(shè)置的。
[0035]優(yōu)選地，在步驟S106中，為了確定早期故障狀況，還可以先將預(yù)定事件信息發(fā)送至故障模式和影響分析系統(tǒng)；通過故障模式和影響分析系統(tǒng)，確定晶片加工機床中與類型所對應(yīng)的硬件的早期故障狀況。優(yōu)選地，在故障模式和影響分析系統(tǒng)中設(shè)置有通過前期系統(tǒng)的運行經(jīng)驗統(tǒng)計的相應(yīng)的預(yù)定閾值。
[0036]優(yōu)選地，采用故障模式和影響分析系統(tǒng)確定早期故障狀況可以采用下列方式:故障模式和影響分析系統(tǒng)判斷出現(xiàn)頻率是否超出故障模式和影響分析系統(tǒng)中設(shè)置的預(yù)定閾值；在判斷結(jié)果為超出預(yù)定閾值的情況下，故障模式和影響分析系統(tǒng)根據(jù)相應(yīng)的類型確定處于早期故障狀態(tài)的硬件。
[0037]優(yōu)選地，在確定有硬件處于早期故障狀態(tài)的情況下，該方法還包括:更換處于早期故障狀態(tài)的硬件。
[0038]本實施例還提供了一種硬件早期故障探測裝置，該裝置用于實現(xiàn)上述硬件早期故障探測方法，該裝置的功能實現(xiàn)已經(jīng)在上述方法實施例中進行了說明，在此不再贅述。
[0039]圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的硬件早期故障探測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖2所示，該裝置包括:獲取模塊22、統(tǒng)計模塊24和確定模塊26，其中，獲取模塊22，用于獲取晶片加工機床加工晶片的原始數(shù)據(jù)；統(tǒng)計模塊24耦合至獲取模塊22，用于根據(jù)原始數(shù)據(jù)，統(tǒng)計晶片加工機床的預(yù)定事件信息，其中，預(yù)定事件信息包括:預(yù)定事件的類型和預(yù)定事件的出現(xiàn)頻率；確定模塊26耦合至統(tǒng)