專(zhuān)利名稱(chēng)：動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存測(cè)試方法及其系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種內(nèi)存及一種自動(dòng)測(cè)試方法，特別是涉及一種具有自動(dòng)測(cè)試機(jī)制的動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存及對(duì)該內(nèi)存進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的方法。
背景技術(shù)：
動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存(DRAM)在計(jì)算機(jī)里相當(dāng)重要，扮演了暫時(shí)儲(chǔ)存數(shù)據(jù)的角色。中央處理器(CPU)可以將一些常用的程序或數(shù)據(jù)先讀入動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存，由于動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存的存取速度比永久儲(chǔ)存媒體(例如硬盤(pán)，Hard Disk)快，因此可以增加計(jì)算機(jī)處理數(shù)據(jù)的速度。
計(jì)算機(jī)開(kāi)機(jī)時(shí)都會(huì)執(zhí)行對(duì)動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存進(jìn)行測(cè)試的動(dòng)作。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)確定動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存沒(méi)有問(wèn)題后，才會(huì)進(jìn)行系統(tǒng)開(kāi)機(jī)的動(dòng)作。
通常的測(cè)試方法是利用中央處理器的運(yùn)算周期，直接對(duì)動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器固定某一個(gè)運(yùn)算周期，去檢查動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存的每一個(gè)地址的儲(chǔ)存單元。
這樣的測(cè)試方法使得中央處理器必須分出一些時(shí)間來(lái)處理動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存的測(cè)試動(dòng)作，因此，降低了中央處理器的效率，同時(shí)動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存測(cè)試時(shí)間也會(huì)加長(zhǎng)。

發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)上述測(cè)試方法存在的缺陷，本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種可縮短動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存測(cè)試時(shí)間的測(cè)試方法，本發(fā)明所要解決的另一個(gè)技術(shù)問(wèn)題在于提供一種與上述方法相對(duì)應(yīng)的具有自動(dòng)測(cè)試機(jī)制的動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存的自動(dòng)測(cè)試方法步驟如下提供一中央處理器、一動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存，該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存包含一動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器及動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元；所述中央處理器對(duì)所述動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器下達(dá)一測(cè)試命令；所述動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器因接受該測(cè)試命令對(duì)該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，并將測(cè)試結(jié)果返回至該中央處理器。
所述中央處理器收到該測(cè)試結(jié)果后，可記錄該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元的故障區(qū)塊，并于存取時(shí)，避過(guò)該故障區(qū)塊。
所述動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存可為DRAM、DDR或其它內(nèi)存。
一種具有自動(dòng)測(cè)試機(jī)制的動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存，可因接受中央處理器下達(dá)的某一測(cè)試命令進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的動(dòng)作，其包括一動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器，可接受該中央處理器下達(dá)的測(cè)試命令；一動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元，電連接至該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器，該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器因接受測(cè)試命令，可對(duì)該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，并將測(cè)試結(jié)果返回至所述中央處理器。
所述中央處理器收到該測(cè)試結(jié)果后，可記錄該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元的故障區(qū)塊，并于存取時(shí)，避過(guò)該故障區(qū)塊。
所述動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存可為DRAM、DDR或其它內(nèi)存。
由上述可知，由于采用中央處理器向動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器下達(dá)測(cè)試命令開(kāi)始對(duì)動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的系統(tǒng)及方法，中央處理器可不用“必須”分出一些時(shí)間來(lái)處理動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存的測(cè)試動(dòng)作，因此，提高了中央處理器的效率，縮短了動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存測(cè)試的時(shí)間。


圖1為本發(fā)明最佳實(shí)施例的方塊圖。
附圖編號(hào)說(shuō)明
11中央處理器12動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存122動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元121動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器1211自動(dòng)測(cè)試裝置具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步的說(shuō)明。
圖1為本發(fā)明最佳實(shí)施例方塊圖。一般情況下，中央處理器11可對(duì)動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存12的動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元122進(jìn)行數(shù)據(jù)存取。在測(cè)試(Test)模式或除錯(cuò)(Debug)模式下，中央處理器11只需對(duì)動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器121下達(dá)一測(cè)試命令，動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器即啟動(dòng)內(nèi)部的自動(dòng)測(cè)試裝置1211，來(lái)對(duì)動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的動(dòng)作。
如此一來(lái)，可以提高中央處理器的工作效率，使其有更多的時(shí)間處理其它動(dòng)作。當(dāng)對(duì)動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元的測(cè)試動(dòng)作完成后，動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器只需向中央處理器11發(fā)出信號(hào)，中央處理器即可得知測(cè)試結(jié)果。
測(cè)試結(jié)果進(jìn)一步可以包含動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元的每個(gè)區(qū)塊的狀態(tài)，如果遇到有故障的儲(chǔ)存區(qū)塊，可記錄為故障區(qū)塊，如此當(dāng)正常運(yùn)作時(shí)，即可避開(kāi)該故障區(qū)塊使計(jì)算機(jī)繼續(xù)正常運(yùn)作，縱使有少數(shù)故障區(qū)塊，整個(gè)動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存12仍能使用。
當(dāng)然，如所述的具有自動(dòng)測(cè)試機(jī)制的動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存，其中，中央處理器收到該測(cè)試結(jié)果后，可記錄該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元的故障區(qū)塊，并于存取時(shí)，避過(guò)該故障區(qū)塊。該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存可為DRAM或DDR或其它可進(jìn)行存取的內(nèi)存。
對(duì)于本發(fā)明所披露的技術(shù)，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可據(jù)以實(shí)施。上述實(shí)施例尚不足以涵蓋本發(fā)明所要保護(hù)的專(zhuān)利范圍，因此，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改造等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存的自動(dòng)測(cè)試方法，其步驟如下提供一中央處理器、一動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存，該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存包含一動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器及動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元；所述中央處理器對(duì)所述動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器下達(dá)一測(cè)試命令；所述動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器因接受該測(cè)試命令對(duì)該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，并將測(cè)試結(jié)果返回至該中央處理器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存的自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，所述中央處理器收到該測(cè)試結(jié)果后，可記錄該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元的故障區(qū)塊，并于存取時(shí)，避過(guò)該故障區(qū)塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存的自動(dòng)測(cè)試方法，其特征在于，所述動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存可為DRAM或DDR。
4.一種具有自動(dòng)測(cè)試機(jī)制的動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存，可因接受中央處理器下達(dá)的某一測(cè)試命令進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的動(dòng)作，其特征在于，包括一動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器，可接受該中央處理器下達(dá)的測(cè)試命令；一動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元，電連接至該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器，該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器因接受測(cè)試命令，可對(duì)該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，并將測(cè)試結(jié)果返回至所述中央處理器。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的具有自動(dòng)測(cè)試機(jī)制的動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存，其特征在于，所述中央處理器收到該測(cè)試結(jié)果后，可記錄該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元的故障區(qū)塊，并于存取時(shí)，避過(guò)該故障區(qū)塊。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的具有自動(dòng)測(cè)試機(jī)制的動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存，其特征在于，所述動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存可為DRAM或DDR。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種具有自動(dòng)測(cè)試機(jī)制的動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存及自動(dòng)測(cè)試方法。該系統(tǒng)主要包括一中央處理器、一動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存。其中，該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存包括一動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器及動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元。所述自動(dòng)測(cè)試方法包含如下步驟令該中央處理器對(duì)該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器下達(dá)一測(cè)試命令；該動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存控制器因接受該測(cè)試命令而對(duì)所述動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)存單元進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，并將測(cè)試結(jié)果返回至該中央處理器。
文檔編號(hào)G06F11/00GK1841333SQ200510059920
公開(kāi)日2006年10月4日 申請(qǐng)日期2005年4月1日 優(yōu)先權(quán)日2005年4月1日
發(fā)明者黃士榮 申請(qǐng)人:映佳科技股份有限公司