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      內(nèi)存測試裝置及內(nèi)存測試方法

      文檔序號:6563010閱讀:208來源:國知局
      專利名稱:內(nèi)存測試裝置及內(nèi)存測試方法
      內(nèi)存測試裝置及內(nèi)存測試方法技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明提供一種內(nèi)存測試裝置及內(nèi)存測試方法,特別是一種安全且快速的 內(nèi)存測試裝置及內(nèi)存測試方法。背景技術(shù)
      內(nèi)存芯片的質(zhì)量在很大程度上決定了電腦系統(tǒng)的運行效率和穩(wěn)定性,安全 而且快速地檢測內(nèi)存系統(tǒng)診斷的重要一環(huán)。傳統(tǒng)的Windows環(huán)境內(nèi)存測試方法是把物理內(nèi)存地址一段一段映像到虛擬地址空間然后對映像后的地址進行讀寫和比較操作以決定內(nèi)存是否可靠。使用這種方法的缺點在于Windows系統(tǒng)物理內(nèi)存的分配是動態(tài)進行的,有一部分物理內(nèi)存被系統(tǒng)占據(jù),如果測試程序測試的物理內(nèi)存與系統(tǒng)沖突就會引起測試 程序退出甚至系統(tǒng)的崩潰,這種狀況出現(xiàn)的概率與測試內(nèi)存的范圍和測試時間 長短成正比。.
      發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的主要目的在于提供一種安全且快速的內(nèi)存測試裝置及內(nèi)存測試方法。為達到以上目的,本發(fā)明提供一種內(nèi)存測試裝置,其適用于檢測一系統(tǒng)的可用物理內(nèi)存;該內(nèi)存測試裝置包括一處理模塊,其用以獲得系統(tǒng)當前可用物 理內(nèi)存的大??;且該系統(tǒng)及該處理模塊分別耦合一測試模塊、 一鎖存模塊及一 解鎖模塊,且該測試模塊、該鎖存模塊及該解鎖模塊均耦合至該系統(tǒng),其中, 該測試模塊用以設(shè)置待測物理內(nèi)存的大小、申請?zhí)摂M內(nèi)存及進行測試操作;該 鎖存模塊用以將虛擬內(nèi)存強制鎖定在^前可用物理內(nèi)存中;該解鎖模塊用以解 除物理內(nèi)存的鎖定。本發(fā)明還提供--種內(nèi)存測試方法,其通過一內(nèi)存測試裝置以檢測一系統(tǒng)的 可用物理內(nèi)存,其中,該內(nèi)存測試裝置包括一處理模塊,該處理模塊耦合一測 試模塊、 一鎖存模塊及一解鎖模塊,且該測試模塊、該鎖存模塊及該解鎖模塊 均耦合至該系統(tǒng);且該內(nèi)存測試方法包括以下步驟處理模塊獲得系統(tǒng)當前可 用物理內(nèi)存的大小;測試模塊將待測物理內(nèi)存的大小設(shè)置為當前可用物理內(nèi)存 的大小測試模塊申請?zhí)摂M內(nèi)存,且虛擬內(nèi)存的大小等于待測物理內(nèi)存的大小: 處理模塊判斷申請?zhí)摂M內(nèi)存是否成功;若處理模塊判斷申請已成功時,則由鎖
      存模塊將虛擬內(nèi)存強制鎖定在當前可用物理內(nèi)存中,令被鎖定的物理內(nèi)存為待測物理內(nèi)存;測試模塊對待測物理內(nèi)存進行測試操作;處理模塊判斷測試是否 結(jié)束;若處理模塊判斷測試已結(jié)束時,則由解鎖模塊解除物理內(nèi)存的鎖定。相較于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明內(nèi)存測試裝置及內(nèi)存測試方法采用物理內(nèi)存鎖定 技術(shù),可以動態(tài)鎖定所有的可用物理內(nèi)存,因此除了系統(tǒng)本身占用的物理內(nèi)存 外都可以測試到,保證了測試的全面性。另,系統(tǒng)的虛擬內(nèi)存鎖定物理內(nèi)存, 所以系統(tǒng)不會再把鎖定的內(nèi)存作為他用,從而避免了測試程序的退出或系統(tǒng)崩 潰的發(fā)生。
      圖1是本發(fā)明內(nèi)存測試裝置的原理方框圖。 圖2是本發(fā)明內(nèi)存測試方法的流程圖。
      具體實施方式請參閱圖1所示, 一系統(tǒng)100包括一物理內(nèi)存11及需申請獲得的虛擬內(nèi)存 12,且該物理內(nèi)存11可分成可用物理內(nèi)存111及己用物理內(nèi)存112,其中,已 用物理內(nèi)存.112是動態(tài)變化的,相對地,可用物理內(nèi)存lll則隨之動態(tài)變化。 通過本發(fā)明內(nèi)存測試裝置200可用以檢測該系統(tǒng)100的可用物理內(nèi)存111;且該 內(nèi)存測試裝置200包括一處理模塊30,該處理模塊30用以獲得系統(tǒng)100當前可 用物理內(nèi)存111的大小;且該系統(tǒng)100及該處理模塊30分別耦合一測試模塊40、 一鎖存模塊50及一解鎖模塊60,且該測試模塊40、該解鎖模塊50及該鎖存模 60塊均耦合至該系統(tǒng)100,其中,該測試模塊30用以設(shè)置待測物理內(nèi)存的大小、 申請?zhí)摂M內(nèi)存12及進行測試操作;該鎖存模塊50用以將虛擬內(nèi)存12強制鎖定 在當前可用物理內(nèi)存111中;該解鎖模塊60用以解除物理內(nèi)存11的鎖定。請參閱圖2所示,本發(fā)明內(nèi)存測試方法通過上述的內(nèi)存測試裝置200以達 成,該內(nèi)存測試方法包括以下步驟步驟21:處理模塊30獲得系統(tǒng)100當前可用物理內(nèi)存111的大??;步驟22:測試模塊40將待測物理內(nèi)存的大小設(shè)置為當前可用物理內(nèi)存111 的大?。徊襟E23:測試模塊40申請?zhí)摂M內(nèi)存12,且虛擬內(nèi)存12的大小等于待測物 理內(nèi)存的大小;步驟24:處理模塊30判斷申請?zhí)摂M內(nèi)存12是否成功;若處理模塊30判斷 申請己成功時,則進入步驟25;若處理模塊30判斷申請不成功時,返回步驟 21;步驟25:鎖存模塊50將虛擬內(nèi)存12強制鎖定在當前可用物理內(nèi)存111中, 令被鎖定的物理內(nèi)存為待測物理內(nèi)存;步驟26:測試模塊40對待測物理內(nèi)存進行測試操作
      步驟27:處理模塊30判斷測試是否結(jié)束若處理模塊30判斷測試已結(jié)束 時,則進入步驟28;若處理模塊30判斷測試未結(jié)束時,則繼續(xù)執(zhí)行步驟26; 步驟28:解鎖模塊60解除當前可用物理內(nèi)存111的鎖定; 步驟29:該處理模塊30判斷是否需進行再一次的測試,若需進行再一次的 測試時,則返回至步驟21;若該處理模塊30判斷不需進行再一次的測試時,則 結(jié)束。
      權(quán)利要求
      1. 一種內(nèi)存測試裝置,適用于檢測一系統(tǒng)的可用物理內(nèi)存;其特征在于該內(nèi)存測試裝置包括一處理模塊,其用以獲得系統(tǒng)當前可用物理內(nèi)存的大小;一測試模塊,耦合該系統(tǒng)及該處理模塊,且該測試模塊用以設(shè)置待測物理內(nèi)存的大小、申請?zhí)摂M內(nèi)存及進行測試操作;一鎖存模塊,耦合該處理模塊及該系統(tǒng),且該鎖存模塊用以將虛擬內(nèi)存強制鎖定在當前可用物理內(nèi)存中;一解鎖模塊,耦合該處理模塊及該系統(tǒng),且該解鎖模塊用以解除物理內(nèi)存的鎖定。
      2. —種內(nèi)存測試方法,其通過一內(nèi)存測試裝置以檢測一系統(tǒng)的可用物理內(nèi) 存,其中,該內(nèi)存測試裝置包括一處理模塊,該處理模塊耦合一測試模塊、一 鎖存模塊及一解鎖模塊,且該系統(tǒng)耦合該測試模塊、該解鎖模塊及該鎖存模塊; 其特征在于該內(nèi)存測試方法包括以下步驟處理模塊獲得系統(tǒng)當前可用物理內(nèi)存的大??; 測試模塊將待測物理內(nèi)存的大小設(shè)置為當前可用物理內(nèi)存的大??; 測試模塊申請?zhí)摂M內(nèi)存,且虛擬內(nèi)存的大小等于待測物理內(nèi)存的大小 處理模塊判斷申請?zhí)摂M內(nèi)存是否成功;若處理模塊判斷申請已成功時,則由鎖存模塊將虛擬內(nèi)存強制鎖定在當前 可用物理內(nèi)存中,令被鎖定的物理內(nèi)存為待測物理內(nèi)存; 測試模塊對待測物理內(nèi)存進行測試操作; 處理模塊判斷測試是否結(jié)朿;若處理模塊判斷測試已結(jié)束時,則由解鎖模塊解除物理內(nèi)存的鎖定。
      3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的內(nèi)存測試方法,其特征在于若處^模塊判斷申請不成功時,則返回至步驟處理模塊獲得系統(tǒng)當前可用物理內(nèi)存的大小。
      4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的內(nèi)存測試方法,其特征在于若處理模塊判斷測 試未結(jié)束時,則繼續(xù)執(zhí)行步驟測試模塊對待測物理內(nèi)存進行測試操作。
      5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的內(nèi)存測試方法,其特征在于該內(nèi)存測試方法還 包括步驟,該處理模塊判斷是否需進行再一次的測試,若需進行再--次的測試 時,則返回至步驟處理模塊獲得系統(tǒng)當前可用物理內(nèi)存的大小。
      6. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的內(nèi)存測試方法,其特征在于若該處理模塊判斷 不需進行再一次的測試時,則結(jié)束。
      全文摘要
      本發(fā)明提供一種內(nèi)存測試裝置及方法,其中,該內(nèi)存測試裝置包括一處理模塊,該處理模塊耦合一測試模塊、一鎖存模塊及一解鎖模塊,且該測試模塊、該鎖存模塊及該解鎖模塊均耦合至該系統(tǒng);而該內(nèi)存測試方法通過上述裝置以達成,且該方法包括以下步驟處理模塊獲得系統(tǒng)當前可用物理內(nèi)存的大?。粶y試模塊根據(jù)當前可用物理內(nèi)存的大小申請?zhí)摂M內(nèi)存;處理模塊判斷申請?zhí)摂M內(nèi)存是否成功;若成功,則由鎖存模塊將虛擬內(nèi)存強制鎖定在當前可用物理內(nèi)存中;測試模塊對被鎖定的物理內(nèi)存進行測試操作;處理模塊判斷測試是否結(jié)束;若結(jié)束,則由解鎖模塊解除物理內(nèi)存的鎖定。本發(fā)明采用物理內(nèi)存鎖定技術(shù),可以動態(tài)鎖定所有的可用物理內(nèi)存,安全且快速。
      文檔編號G06F11/22GK101211295SQ200610148020
      公開日2008年7月2日 申請日期2006年12月26日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月26日
      發(fā)明者鵬 謝 申請人:環(huán)達電腦(上海)有限公司
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