專利名稱：計算機操作系統(tǒng)尚未執(zhí)行前的計算機元件偵錯方法及模塊的制作方法
技術領域：
本發(fā)明是有關于一種計算機元件偵錯模塊及方法，且特別是有關于一種計 算機操作系統(tǒng)尚未執(zhí)行前的計算機元件偵錯方法。
背景技術：
現(xiàn)有在計算機組裝完成時，若在無軟件操作系統(tǒng)的狀況下，根本無法檢測
系統(tǒng)可能的狀況和問題?，F(xiàn)有的基本輸入輸出系統(tǒng)(Basic I叩ut-output system, BIOS)則只具有檢測元件是否存在的基本檢測程序。當BIOS的基本檢 測程序執(zhí)行完成后，軟件操作系統(tǒng)才能開始加載并執(zhí)行。
然而，有時BIOS基本檢測程序完成檢測工作后，軟件操作系統(tǒng)(例如窗口 操作系統(tǒng))卻無法加載，此時工程人員偵錯(檢測哪個元件故障)的方式，除了 靠低階的儀器來偵錯外，便是以錯誤嘗試法來達成，而此方式還需要有多余的 計算機零件，才能通過嘗試錯誤法來除錯檢測。如果沒有多余的計算機零件， 上述方式也無法施行，再者，使用者也常因此誤認計算機損壞直接找上系統(tǒng)制 造商，如此不僅造成系統(tǒng)制造商的困擾，也造成系統(tǒng)制造商的信譽受損。
有鑒于上述狀況的發(fā)生，需要一種在計算機操作系統(tǒng)尚未執(zhí)行前的計算機 元件偵錯方法，以克服類似的問題。

發(fā)明內容
本發(fā)明所要解決的技術問題在于提供一種計算機操作系統(tǒng)尚未執(zhí)行前的 計算機元件偵錯方法及模塊，用以在無操作系統(tǒng)的狀況下，檢測計算機系統(tǒng)的 狀況及可能出現(xiàn)的問題，同時降低主機板、準系統(tǒng)及筆記本計算機返廠的維修 比例。
為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種計算機元件偵錯的方法，其特點在 于，適用于一計算機操作系統(tǒng)尚未執(zhí)行前，該計算機元件偵錯的方法，至少包 含以下步驟呼叫一BIOS程序；執(zhí)行一元件基本檢測程序；以及執(zhí)行一特定
步驟后，再執(zhí)行一元件功能測試。
上述計算機元件偵錯的方法，其特點在于，該元件功能測試包含一中央處
理器MSR/MTRR測試的步驟。
上述計算機元件偵錯的方法，其特點在于，該元件功能測試包含一硬盤 S. M. A. R. T.測試的步驟。
上述計算機元件偵錯的方法，其特點在于，該元件功能測試包含一啟動路 徑測試的步驟。
上述計算機元件偵錯的方法，其特點在于，該啟動路徑測試的步驟包含一 網(wǎng)絡開機元件的啟動測試的步驟。
上述計算機元件偵錯的方法，其特點在于，該元件功能測試包含一掃描 PCI裝置的步驟。
上述計算機元件偵錯的方法，其特點在于，該特定步驟為顯示器初始化的 步驟。
上述計算機元件偵錯的方法，其特點在于，該元件功能測試包含一檢測計 算機系統(tǒng)組態(tài)的步驟。
上述計算機元件偵錯的方法，其特點在于，還包含確認一隨機存取內存至 少具有512K的可用空間的步驟。
本發(fā)明還提供一種計算機開機的元件偵錯模塊，其特點在于，適用于計算 機的操作系統(tǒng)尚未執(zhí)行前執(zhí)行元件偵錯方法，該元件偵錯模塊至少包含 一隨 機存取內存；一BI0S模塊； 一中央處理器，呼叫該BIOS模塊到該隨機存取內 存中執(zhí)行；以及一元件功能測試模塊，用以執(zhí)行一元件功能測試。
本發(fā)明的功效，在于可協(xié)助使用者或經(jīng)銷商于無操作系統(tǒng)的狀況下，檢測 計算機系統(tǒng)的狀況及可能問題，同時降低主機板、準系統(tǒng)及筆記本計算機返廠 的維修比例。
以下結合附圖和具體實施例對本發(fā)明進行詳細描述，但不作為對本發(fā)明的 限定。


圖1為本發(fā)明的計算機元件偵錯方法的流程圖2至4分別為本發(fā)明的元件功能測試模塊于主機板上的三種不同的實施
圖5為本發(fā)明一較佳實施例的一種元件功能測試模塊；以及 圖6為本發(fā)明一較佳實施例的一種元件功能測試的流程圖。
跳主機板112:檢測模塊
跳中央處理器114:硬盤偵錯模塊
跳動態(tài)隨機存取內存116:路徑模塊
106:BIOS元件基本檢測模塊118:掃描模塊
107:PCI適配卡120:中央處理器偵錯模塊
跳選項存儲器(option rom)201至205:測試步驟
108a: BIOS選項存儲器 206、 208、 210、 212:測試步驟
108b: PCI選項存儲器
110:元件功能測試模塊
具體實施例方式
如上所述，本發(fā)明提供一種計算機元件偵錯方法，在計算機操作系統(tǒng)尚未
加載前執(zhí)行，可以檢測出現(xiàn)有BIOS的基本檢測程序無法達成的功能。以下將 配合較佳實施例來詳細說明此計算機元件偵錯方法。
請參照第1圖，其為本發(fā)明的計算機元件偵錯方法的流程圖。步驟201 為呼叫BIOS程序，接著步驟203為執(zhí)行元件基本檢測程序，其中，步驟203 元件基本檢測，例如檢測硬盤組態(tài)。更進一步說，檢測硬盤組態(tài)的檢測方式 為寫入指令(command)至硬盤控制器中(在此指令稱為基本指令)。硬盤控制 器便會回傳此硬盤相關信息，例如此硬盤的型式，此硬盤是否支持S. M. A. R. T. (Self-Monitoring, Analysis, and Reporting Technology)功倉g等等。最后， 步驟205的元件功能測試，用以在計算機操作系統(tǒng)尚未加載前，該元件功能測 試例如在一特定步驟后再執(zhí)行，其中，特定步驟可為步驟203元件基本檢測后 及元件功能測試執(zhí)行前的任何一個運作或步驟。在此較佳的實施例以顯示器初 始化作為特定步驟，以便元件功能測試后，方便輸出元件功能測試的結果于顯 示器上。此外，提前檢測出計算機系統(tǒng)中可能的硬件錯誤，例如在步驟203 中已經(jīng)檢測出此硬盤具有S.M.A.R.T功能的硬盤，則步驟205發(fā)出指令 (command)(在此指令稱為功能指令)，硬盤控制器便會測試此硬盤，例如轉
速等測試。
請參照圖2-4，其分別為本發(fā)明元件功能測試模塊于主機板上的三種不同 的實施例。執(zhí)行上述步驟205"元件功能測試"的元件功能測試模塊是以option rom的型態(tài)實施于計算機系統(tǒng)的主機板100上。圖2的元件功能測試模塊110 儲存于主機板100上獨立的選項存儲器108，且與BIOS元件基本檢測模塊106 分開設置。圖3為元件功能測試模塊110儲存于PCI option rom 108b(位于 一 PCI適配卡107上)，且與BIOS元件基本檢測模塊106分開設置。圖4繪示 元件功能測試模塊110儲存于BIOS option rom 108a，且與BIOS元件基本檢 測模塊106整合在一起。無論元件功能測試模塊110是上述那一種實施的方式， 均不影響元件功能測試程序的執(zhí)行方式。
請參照圖5，其為本發(fā)明一較佳實施例的一種元件功能測試模塊。請參照 圖6，其為本發(fā)明一較佳實施例的一種元件功能測試的流程圖。
在步驟202中，當中央處理器102(參照圖2-4)呼叫元件功能測試程序時， 元件功能測試程序先被復制到動態(tài)隨機存取內存104(參照圖2-4)中并且解壓 縮。為了預留元件功能測試程序的執(zhí)行空間，應先確認動態(tài)隨機存取內存104 有足夠的空間(例如，確認至少512KB的空間)。
在步驟204中，可以先檢測計算機系統(tǒng)組態(tài)，以為接下元件功能測試程序 的各個步驟做準備。例如，檢測各硬件的規(guī)格，才能準備適用的功能測試程序。 此步驟由圖5的檢測模塊112來執(zhí)行。
在步驟206中，由圖5的掃描模塊118執(zhí)行掃描計算機系統(tǒng)內的PCI裝置 的功能。
在步驟208中，由圖5的中央處理器偵錯模塊120執(zhí)行中央處理器MSR (Module Specific Register,特別模塊寄存器)/MTRR (Memory Type Range Register,內存類型范圍寄存器)測試。
在步驟210中，由圖5的硬盤偵錯模塊114執(zhí)行硬盤的S.M.A.R.T. (Self—Monitoring, Analysis, and Reporting Technology; 自監(jiān)觀(l、分豐斤禾口 報告技術)測試。
在步驟212中，由圖5的路徑模塊116執(zhí)行啟動路徑測試，例如網(wǎng)絡開機 元件的啟動測試。
上述的步驟206-212的的執(zhí)行并無特定順序，也可根據(jù)需求增減步驟。元
件功能測試于應用時可通過按下特殊鍵(例如，連接系統(tǒng)的按鍵或開關)以啟
動；或利用特殊鍵進入BIOS系統(tǒng)后，選擇啟動元件功能測試的選單；或通過 BIOS元件基本檢測程序，判定是否需啟動元件功能測試。當元件功能測試完 成后，測試的結果可顯示于顯示器上、輸出于登錄文件及錯誤代碼或以喇叭輸 出音效。使用者可由測試的結果得知計算機系統(tǒng)的狀況及可能問題，以作為修 復計算機系統(tǒng)的主要參考資料。
由上述本發(fā)明較佳實施例可知，應用本發(fā)明的計算機元件偵錯方法，可協(xié) 助使用者或經(jīng)銷商于無操作系統(tǒng)的狀況下，檢測計算機系統(tǒng)的狀況及可能問 題，同時降低主機板、準系統(tǒng)及筆記本計算機返廠的維修比例。
當然，本發(fā)明還可有其他多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質的情 況下，熟悉本領域的技術人員可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應的改變和變形，但這 些相應的改變和變形都應屬于本發(fā)明權利要求的保護范圍。
權利要求
1、一種計算機元件偵錯的方法，其特征在于，適用于一計算機操作系統(tǒng)尚未執(zhí)行前，該計算機元件偵錯的方法，至少包含以下步驟呼叫一BIOS程序；執(zhí)行一元件基本檢測程序；以及執(zhí)行一特定步驟后，再執(zhí)行一元件功能測試。
2、 根據(jù)權利要求1所述的計算機元件偵錯的方法，其特征在于，該元件 功能測試包含一中央處理器特別模塊寄存器/內存類型范圍寄存器測試的步 驟。
3、 根據(jù)權利要求1所述的計算機元件偵錯的方法，其特征在于，該元件 功能測試包含一硬盤自監(jiān)測、分析和報告技術測試的步驟。
4、 根據(jù)權利要求1所述的計算機元件偵錯的方法，其特征在于，該元件 功能測試包含一啟動路徑測試的步驟。
5、 根據(jù)權利要求4所述的計算機元件偵錯的方法，其特征在于，該啟動 路徑測試的步驟包含一網(wǎng)絡開機元件的啟動測試的步驟。
6、 根據(jù)權利要求1所述的計算機元件偵錯的方法，其特征在于，該元件 功能測試包含一掃描PCI裝置的步驟。
7、 根據(jù)權利要求1所述的計算機元件偵錯的方法，其特征在于，該特定 步驟為顯示器初始化的步驟。
8、 根據(jù)權利要求1所述的計算機元件偵錯的方法，其特征在于，該元件 功能測試包含一檢測計算機系統(tǒng)組態(tài)的步驟。
9、 根據(jù)權利要求1所述的計算機元件偵錯的方法，其特征在于，還包含 確認一隨機存取內存至少具有512K的可用空間的步驟。
10、 一種計算機開機的元件偵錯模塊，其特征在于，適用于計算機的操作 系統(tǒng)尚未執(zhí)行前執(zhí)行元件偵錯方法，該元件偵錯模塊至少包含一隨機存取內存； 一BI0S模塊；一中央處理器，呼叫該BIOS模塊到該隨機存取內存中執(zhí)行；以及 一元件功能測試模塊，用以執(zhí)行一元件功能測試。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種計算機元件偵錯的方法，適用于一計算機操作系統(tǒng)尚未執(zhí)行前，計算機元件偵錯的方法包含以下步驟呼叫BIOS程序；執(zhí)行一元件基本檢測程序；在一特定步驟后，執(zhí)行一元件功能測試。元件功能測試包含中央處理器MSR/MTRR測試、硬盤S.M.A.R.T.測試、啟動路徑測試及掃描PCI裝置的步驟。本發(fā)明可協(xié)助使用者或經(jīng)銷商于無操作系統(tǒng)的狀況下，檢測計算機系統(tǒng)的狀況及可能問題，同時降低主機板、準系統(tǒng)及筆記本計算機返廠的維修比例。
文檔編號G06F11/22GK101105764SQ200610098579
公開日2008年1月16日 申請日期2006年7月12日 優(yōu)先權日2006年7月12日
發(fā)明者彭啟峰, 曹宏銘, 王顯三, 黃偉明 申請人:華碩電腦股份有限公司