專利名稱：坐標(biāo)輸入裝置和具有該坐標(biāo)輸入裝置的顯示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及檢測畫面上的指示點的坐標(biāo)輸入裝置和具有該坐標(biāo)輸入裝置的顯示裝置，尤其涉及對具有電容耦合方式的坐標(biāo)輸入裝置的顯示裝置的坐標(biāo)檢測精度的高精度化有效的技術(shù)。
背景技術(shù)：
包括檢測裝置(以下也稱為觸摸傳感器或觸摸面板)的顯示裝置被用于PDA、移動終端等移動用電子設(shè)備、各種家電產(chǎn)品、或自動受理機等固定式顧客引導(dǎo)終端，其中，檢測裝置具有畫面輸入功能，該畫面輸入功能是利用使用者的手指等對顯示畫面進行觸摸操作(接觸按壓操作，以下簡稱為觸摸)來輸入信息的功能。作為這種利用觸摸來進行輸入的輸入裝置，已知有檢測被觸摸部分的電阻值變化的電阻膜方式、檢測電容變化的電容耦合方式、或者檢測由于觸摸而被遮住的部分的光量變化的光傳感器方式等。在這些方式中，最近電容耦合方式的觸摸面板備受關(guān)注。當(dāng)使用移動用電子設(shè)備的顯示裝置上顯示的按鈕或游標(biāo)等通過觸摸向輸入裝置進行輸入時，需要在顯示板的前面配置輸入裝置。在這種情況下，需要通過減少顯示裝置的顯示亮度下降來維持顯示畫質(zhì)，同時需要裝入輸入功能。在此，通常在電阻膜式或光傳感器方式中透射率低至80%左右，相對于此，電容耦合方式的透射率高至約90%。因此，在不使顯示畫質(zhì)下降這一點上是有利的。 另外，電阻膜式是通過電阻膜的機械性接觸來檢測觸摸位置。因此，當(dāng)觸摸(機械性接觸) 次數(shù)增加而造成電阻膜劣化或破損時，存在檢測誤差變大或不能檢測這樣的問題。而在電容耦合方式中，不存在檢測用電極與其他電極等相接觸這樣的機械性接觸，從耐用性這一點來看也是有利的。作為電容耦合方式的電容檢測電路，例如有日本特開2005-140612號公報中所公開的方式。在上述所公開的方式中，對使多條列布線和多條行布線交叉的傳感器部的交叉部附近存在的電容進行檢測。若減小列布線與行布線的間距，則通過對由手指表面的凹凸所產(chǎn)生的電容變化進行檢測，就能夠進行指紋檢測。另一方面，通過將傳感器部做成透明且大小與顯示板的畫面尺寸相同的程度，就能夠做成以手指等作為輸入單元的坐標(biāo)輸入裝置。電容的檢測是如下這樣進行的通過從多條列布線中依次選擇列布線后由列布線驅(qū)動部施加驅(qū)動信號，使用電容檢測電路對流經(jīng)位于被施加了驅(qū)動信號的列布線與行布線的交叉部附近的電容的電流進行檢測。此時，電容檢測電路根據(jù)兩個檢測電流結(jié)果的差值來檢測電容。上述所公開的方式中，為了通過降低來自外部的噪聲來提高電容檢測精度，公開了兩種方法。第一種方法為，與施加驅(qū)動信號的列電極交叉的行電極中的最初檢測交叉部附近的電容的行電極通過對流過電容檢測電路具有的基準(zhǔn)電容的基準(zhǔn)電流和檢測到的電流進行比較來計算電容從而提高電容的檢測精度。其以后的行電極的電容檢測根據(jù)與相鄰的行電極的檢測電流的差值來求出。當(dāng)檢測所有的行電極的電容，并進行接下來的列電極的檢測時，反復(fù)進行上述工作。
第二種方法為，選擇一個作為電容檢測對象的行電極，檢測流過該行電極的檢測電流，將流過作為對象的行電極以外的多條行電極的第二檢測電流當(dāng)作基準(zhǔn)電流。在此，根據(jù)作為電容檢測對象的檢測電流與基準(zhǔn)電流之間的差值來檢測各個交叉部附近的電容。

發(fā)明內(nèi)容
在此，對坐標(biāo)輸入裝置的傳感器部是透明的且在傳感器部之下設(shè)置有顯示板時的電容檢測精度進行說明。在顯示板的畫面上存在多條掃描線和用于向所選擇的掃描線上的像素提供視頻信號的多條信號線。由于位于顯示板的畫面上的多條信號線或掃描線、與位于坐標(biāo)輸入裝置的傳感器部的列電極和行電極之間存在絕緣體，因此產(chǎn)生寄生電容。在此，向掃描線施加用于改寫圖像的掃描信號，為了改寫所選擇的掃描線的視頻而向信號線施加對應(yīng)的視頻信號電壓。因此，在經(jīng)由寄生電容與掃描線或信號線電容耦合的傳感器部的列電極和行電極上，由視頻信號電壓或掃描信號電壓的電壓變化所產(chǎn)生的充放電電流作為噪聲而混入。在此，作為專利文獻1中的第一種方法而被公開的采用了基準(zhǔn)電容的方法中，當(dāng)檢測第一個行電極的交叉部附近的電容時，根據(jù)第一個行電極的檢測電流與流過電容檢測電路具有的基準(zhǔn)電容的基準(zhǔn)電流的差值來計算電容。在這種情況下，在基準(zhǔn)電流中不會混入來自顯示板的噪聲，相對于此，由于在第一個行電極混入噪聲，所以利用這兩個電流的差值求出的與第一個行電極對應(yīng)的電容值變成混入了噪聲成分的值。該來自顯示板的噪聲成分由于根據(jù)要顯示的圖像等而依次變化，所以按驅(qū)動的列電極的不同而不同。因此，檢測到的電容值的檢測精度降低，因而據(jù)此計算的輸入坐標(biāo)精度會降低。另外，作為專利文獻1中的第二種方法而被公開的將成為電容的檢測對象的行電極以外的多條行電極的電流作為基準(zhǔn)電流的方法中，由于在檢測電流和基準(zhǔn)電流這兩者中混入來自顯示板的噪聲，所以利用差值計算能夠降低來自顯示板的噪聲。但是，在檢測基準(zhǔn)電流的多個行電極存在由輸入引起的電容變化時，基準(zhǔn)電流發(fā)生變化。因此，當(dāng)由于輸入的有無或輸入位置的移動等而使基準(zhǔn)電流發(fā)生變化時，導(dǎo)致基于差值的電容檢測結(jié)果發(fā)生變化，經(jīng)常不能高精度地檢測電容。如以上所述，在以往的坐標(biāo)輸入裝置中，存在減輕從顯示板混入的隨機的噪聲，但經(jīng)常不能高精度地進行電容檢測這樣的問題。鑒于上述問題的存在，本發(fā)明目的在于，提供一種能降低從顯示板混入的隨機的噪聲、并提高電容檢測的精度的技術(shù)。(1)為了解決上述問題，本發(fā)明提供一種坐標(biāo)輸入裝置，包括坐標(biāo)輸入部，具有多條第一檢測電極和與上述第一檢測電極交叉的多條第二檢測電極；電極驅(qū)動電路，向上述第一檢測電極和/或上述第二檢測電極之中的1條以上的檢測電極施加驅(qū)動信號；電容檢測電路，與上述驅(qū)動信號同步，檢測上述第一檢測電極和/或上述第二檢測電極的電容； 以及輸入坐標(biāo)運算電路，根據(jù)上述電容檢測電路的電容檢測結(jié)果來計算輸入坐標(biāo)，上述坐標(biāo)輸入裝置還包括在與被施加上述驅(qū)動信號的檢測電極并列設(shè)置的檢測電極之中，從不被施加上述驅(qū)動信號的檢測電極中選擇1條以上的檢測電極來作為參考電極的單元；對已選擇作為上述參考電極的電容進行檢測的單元；以及根據(jù)上述參考電極的檢測電容來修正
6上述電容檢測電路的電容檢測結(jié)果的單元，上述輸入坐標(biāo)運算電路根據(jù)上述修正后的電容檢測結(jié)果來計算輸入坐標(biāo)。(2)為了解決上述問題，本發(fā)明提供一種顯示裝置，包括根據(jù)來自外部系統(tǒng)的視頻信號進行圖像顯示的顯示板；和坐標(biāo)輸入裝置，上述坐標(biāo)輸入裝置包括坐標(biāo)輸入部，形成多條第一檢測電極和與上述第一檢測電極交叉的多條第二檢測電極，且被配置在上述顯示板的顯示面一側(cè)；電極驅(qū)動電路，向上述第一檢測電極和/或上述第二檢測電極之中的1 條以上的檢測電極施加驅(qū)動信號；電容檢測電路，與上述驅(qū)動信號同步，檢測上述第一檢測電極和/或上述第二檢測電極的電容；以及輸入坐標(biāo)運算電路，根據(jù)上述電容檢測電路的電容檢測結(jié)果來計算輸入坐標(biāo)，上述顯示裝置還包括在與被施加上述驅(qū)動信號的檢測電極并列設(shè)置的檢測電極之中，從不被施加上述驅(qū)動信號的檢測電極中選擇1條以上的檢測電極來作為參考電極的單元；對已選擇作為上述參考電極的電容進行檢測的單元；以及根據(jù)上述參考電極的檢測電容來修正上述電容檢測電路的電容檢測結(jié)果的單元，上述輸入坐標(biāo)運算電路根據(jù)上述修正后的電容檢測結(jié)果來計算輸入坐標(biāo)。根據(jù)本發(fā)明，能夠降低從顯示板混入的隨機的噪聲，提高電容檢測的精度。本發(fā)明的其他效果根據(jù)說明書整體的記載得以明確。


圖1是用于說明本發(fā)明實施方式1的顯示裝置的整體結(jié)構(gòu)的框圖。圖2是用于說明本發(fā)明實施方式1的顯示裝置中的選擇電極驅(qū)動電路的概略結(jié)構(gòu)的圖。圖3是用于說明本發(fā)明實施方式1的顯示裝置中的電容檢測電路的概略結(jié)構(gòu)的圖。圖4是本發(fā)明實施方式1的顯示裝置中的選擇電極Y_SENS的電壓波形和定時控制信號組TMG所含的各控制信號的時序圖。圖5是本發(fā)明實施方式1的坐標(biāo)輸入裝置上沒有手指等接觸時的示意圖。圖6是本發(fā)明實施方式1的坐標(biāo)輸入裝置上手指等接觸時的示意圖。圖7是本發(fā)明實施方式1的坐標(biāo)輸入部上存在接觸時的示意圖。圖8是表示存在圖7所示的接觸時的選擇電極等的電壓波形和控制信號等的時序圖。圖9是圖8所示的第一個周期Tcycle下的數(shù)字輸出信號的示意圖。圖10是圖8所示的第二個周期Tcycle下的數(shù)字輸出信號的示意圖。圖11是本發(fā)明實施方式1的坐標(biāo)輸入裝置的修正處理后的數(shù)字輸出信號的示意圖。圖12是用于說明本發(fā)明實施方式1的坐標(biāo)輸入裝置中的參考電極的另一選擇方法的圖。圖13是用于說明本發(fā)明實施方式1的坐標(biāo)輸入裝置中的參考電極的又一選擇方法的圖。圖14是用于說明本發(fā)明實施方式2的顯示裝置的整體結(jié)構(gòu)的框圖。圖15是用于說明本發(fā)明實施方式2的顯示裝置中的另一方電容檢測電路的概略結(jié)構(gòu)的圖。圖16是用于說明本發(fā)明實施方式2的顯示裝置中的一方電容檢測電路的概略結(jié)構(gòu)的圖。圖17是本發(fā)明實施方式2的顯示裝置中的選擇電極Y_SENS及檢測電極X_SENS 的電壓波形、和定時控制信號組TMG所含的各控制信號的時序圖。圖18是用于說明本發(fā)明實施方式2的坐標(biāo)輸入裝置中的掃描期間Txl下的檢測電極Xl的信號路徑的示意圖。圖19是用于說明本發(fā)明實施方式2的坐標(biāo)輸入裝置中的掃描期間Txl下的檢測電極X3的信號路徑的示意圖。圖20是本發(fā)明實施方式2的顯示裝置中的1個周期的選擇定時信號和數(shù)字輸出信號DX、DREFX, DY、DREFY的時序圖。標(biāo)號說明X_SENS......檢測電極、Y_SENS......選擇電極TMG......定時控制信號組REF、REFX......參考信號布線Xl X8......檢測電極布線Yl Y6......選擇電極布線DXl DX8......數(shù)字輸出信號DREF......數(shù)字輸出信號DATA......坐標(biāo)信號等SCN_Y1 SCN_Y6......選擇定時信號DSL_Y1 DSL_Y6......驅(qū)動開關(guān)控制信號RSL_Y1 RSL_Y6......參考開關(guān)控制信號AXl AX8......模擬輸出信號AREF......模擬輸出信號RES......復(fù)位控制信號SPL......采樣控制信號Cxy......交叉電容成分Cdx......寄生電容成分Cdy......寄生電容成分Cf......輸入電容成分101......坐標(biāo)輸入部102......選擇電極驅(qū)動電路103......電容檢測電路104......輸入坐標(biāo)運算電路105......系統(tǒng)106......顯示板107......電容檢測電路
108......電容檢測電路109......輸入坐標(biāo)運算電路201......驅(qū)動電路301......信號檢測電路302......AD轉(zhuǎn)換電路701、801......驅(qū)動電路702、802......信號檢測電路703、803......或電路(OR 電路)
具體實施例方式以下，使用

應(yīng)用了本發(fā)明的實施方式。但在以下的說明中，對同一構(gòu)成要素標(biāo)記同一標(biāo)號，省略反復(fù)的說明。<實施方式1><整體結(jié)構(gòu)>圖1是用于說明本發(fā)明實施方式1的顯示裝置的整體結(jié)構(gòu)的框圖，以下，根據(jù)圖1 說明實施方式1的顯示裝置的整體結(jié)構(gòu)。但是，顯示板的結(jié)構(gòu)是與以往的顯示板相同的結(jié)構(gòu)，因此，在以下的說明中對坐標(biāo)輸入裝置進行詳細(xì)說明。另外，圖中的x、y分別表示χ軸、 y軸。實施方式1的顯示板可以是液晶顯示板等非發(fā)光型顯示板和有機EL顯示板等自發(fā)光型顯示板中的任意一種顯示板。如圖1所示，實施方式1的顯示裝置包括根據(jù)從作為外部裝置的系統(tǒng)105輸入的未圖示的顯示數(shù)據(jù)來進行圖像顯示的顯示板106、和具有配置在該顯示板106的顯示面一側(cè)的坐標(biāo)輸入部101的坐標(biāo)輸入裝置。該坐標(biāo)輸入裝置包括用于指示輸入位置的坐標(biāo)輸入部101、檢測輸入坐標(biāo)所需的選擇電極驅(qū)動電路102、電容檢測電路103、以及輸入坐標(biāo)運算電路104。被坐標(biāo)輸入裝置檢測到的輸入坐標(biāo)等的數(shù)據(jù)DATA被輸出到包含坐標(biāo)輸入裝置和使用該裝置的顯示裝置的設(shè)備的系統(tǒng)105，系統(tǒng)105將與輸入相應(yīng)的顯示內(nèi)容等顯示在顯示板106上。在坐標(biāo)輸入部101之下即背面?zhèn)仍O(shè)置顯示裝置106時，為了使操作者能看到在顯示裝置106上所顯示的圖像內(nèi)容，優(yōu)選坐標(biāo)輸入部101是透明的。在實施方式1的坐標(biāo)輸入部101上，為了檢測基于輸入的坐標(biāo)，設(shè)有沿y方向延伸且沿X方向并列設(shè)置的多條檢測電極(第二檢測電極)X_SENS和沿X方向延伸且沿y方向并列設(shè)置的多條選擇電極(第一檢測電極)Y_SENS。這些檢測電極X_SENS和選擇電極Y_ SENS以交叉的方式進行配置。為了提高坐標(biāo)輸入部101的透射性，優(yōu)選檢測電極X_SENS和選擇電極Y_SENS是透明的。在圖1中示出了選擇電極Y_SENS為6條、檢測電極X_SENS為 8條的情況，但各電極條數(shù)不限于此。本發(fā)明的選擇電極驅(qū)動電路102通過選擇電極布線Yl Y6與多條選擇電極Y_ SENS相連接。選擇電極驅(qū)動電路102根據(jù)輸入坐標(biāo)運算電路104輸出的定時控制信號組 TMG從多條選擇電極Y_SENS中選擇1條或多條，并依次施加驅(qū)動信號。另外，選擇電極驅(qū)動電路102從不施加驅(qū)動信號的選擇電極Y_SENS中選擇1條或多條作為參考電極，并連接在參考信號布線REF上。另外，電容檢測電路103也根據(jù)定時控制信號組TMG進行控制。電容檢測電路103對來自選擇電極驅(qū)動電路102已選擇為參考電極的選擇電極Y_SENS的信號、和與被選擇電極驅(qū)動電路102施加了驅(qū)動信號的選擇電極Y_SENS與多條檢測電極X_SENS的交叉部附近的電容相應(yīng)地變化的信號這兩個信號進行檢測。來自參考電極的信號通過參考信號布線 REF輸入到電容檢測電路103，與交叉部附近的電容相應(yīng)地變化的信號通過檢測電極布線 Xl X8輸入到電容檢測電路103。即，來自由選擇電極驅(qū)動電路102選擇輸入的參考電極的信號被輸入到電容檢測電路103。電容檢測電路103根據(jù)通過參考信號布線REF和檢測信號布線Xl X8輸入的信號生成數(shù)字輸出信號DREF、DX1 DX8，并輸出到輸入坐標(biāo)運算電路104。在輸入坐標(biāo)運算電路104中，根據(jù)數(shù)字輸出信號DREF計算用于消除噪聲成分的修正量，并根據(jù)基于數(shù)字輸出信號DXl DX8消除噪聲成分后的數(shù)據(jù)來計算輸入坐標(biāo)，向系統(tǒng) 105輸出所得到的輸入坐標(biāo)。<選擇電極驅(qū)動電路結(jié)構(gòu)>圖2是用于說明本發(fā)明實施方式1的顯示裝置中的選擇電極驅(qū)動電路的概略結(jié)構(gòu)的圖，以下，根據(jù)圖2說明選擇電極驅(qū)動電路。如圖2所示，實施方式1的選擇電極驅(qū)動電路102包括用于從多條選擇電極Y_ SENS中選擇1條或多條的選擇電極而施加驅(qū)動信號的多個驅(qū)動電路201、控制開關(guān)DSL_ Yl DSL_Y6、和用于將選擇電極Y_SENS選擇為參考電極的控制開關(guān)RSL_Y1 RSL_Y6。驅(qū)動電路201根據(jù)定時控制信號組TMG所含的選擇定時信號SCN_Y1 SCN_Y6在所確定的期間(以下，記為掃描期間。)輸出驅(qū)動信號。但是，在掃描期間驅(qū)動電路201輸出的驅(qū)動信號既可以是電壓驅(qū)動，還可以是電流驅(qū)動。另外，在一個掃描期間輸出的驅(qū)動信號被輸出一次或多次。另外，優(yōu)選的是，不被施加驅(qū)動信號的選擇電極以驅(qū)動電路201施加任意的恒定電壓的方式進行驅(qū)動。這樣，選擇電極驅(qū)動電路102利用驅(qū)動電路201依次驅(qū)動坐標(biāo)輸入部101的選擇電極Y_SENS。另一方面，未被驅(qū)動電路201施加驅(qū)動信號的選擇電極Y_SENS中的1條或多條選擇電極通過控制開關(guān)RSL被選擇為參考電極。此時，與已選擇為參考電極的選擇電極Y_SENS對應(yīng)的控制開關(guān)DSL成為非選擇狀態(tài)。被控制開關(guān)RSL選擇的參考電極連接在參考信號布線REF上，用已選擇的參考電極檢測到的信號從參考信號布線REF輸出。〈電容檢測電路結(jié)構(gòu)〉圖3是用于說明本發(fā)明實施方式1的顯示裝置中的電容檢測電路的概略結(jié)構(gòu)的圖，以下，根據(jù)圖3說明電容檢測電路。如圖3所示，電容檢測電路103包括用于對通過參考信號布線REF或檢測信號布線Xl X8輸入的信號進行檢測的信號檢測電路301、和用于將信號檢測電路輸出的模擬輸出信號AREF、AXl AX8轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號DREF、DXl DX8的AD轉(zhuǎn)換電路302。信號檢測電路301根據(jù)定時控制信號組TMG所含的復(fù)位控制信號RES在檢測信號之前被復(fù)位。然后，在選擇電極驅(qū)動電路102將驅(qū)動信號施加給選擇電極的期間，對通過參考信號布線REF 或檢測電極布線Xl X8傳輸?shù)男盘栠M行檢測。此時，信號檢測電路301檢測的對象既可以是從各電極傳輸?shù)碾妷?，還可以是電流。信號檢測電路301以采樣控制信號SPL的定時對在將驅(qū)動信號施加給選擇電極的期間檢測到的模擬信號進行樣本保持，作為模擬輸出信號 AREF, AXl AX8輸出到AD轉(zhuǎn)換電路302。在AD轉(zhuǎn)換電路302中，將模擬輸出信號AREF、AXl AX8轉(zhuǎn)換成數(shù)字輸出信號DREF、DX1 DX8后輸出到輸入坐標(biāo)運算電路104?！丛肼暯档偷幕竟ぷ鳌祱D4是本發(fā)明實施方式1的顯示裝置中的選擇電極Y_SENS的電壓波形和定時控制信號組TMG所含的各控制信號的時序圖，以下，根據(jù)圖4說明實施方式1的坐標(biāo)輸入裝置的工作。但在以下的說明中，對為了在各掃描期間Tyl Ty6施加驅(qū)動信號而選擇的選擇電極的條數(shù)為1條的情況進行說明，但在各掃描期間Tyl Ty6施加驅(qū)動信號的選擇電極的條數(shù)也可以是多條。另外，在圖4中，對在圖1的坐標(biāo)輸入部101中從圖中上側(cè)的選擇電極Y_SENS到圖中下側(cè)的選擇電極Y_ENS依次施加驅(qū)動信號的情況進行說明。因此，在從圖中下側(cè)的選擇電極Y_SENS到圖中上側(cè)的選擇電極Y_SENS依次施加驅(qū)動信號的情況下，驅(qū)動開關(guān)控制信號DSL_Y1 DSL_Y6和參考開關(guān)控制信號RSL_Y1 RSL_Y6也變成相反的施加順序。如圖4所示，實施方式1的坐標(biāo)輸入裝置在1周期Tcycle的期間內(nèi)依次選擇選擇電極Y_SENS而施加驅(qū)動信號。在圖4所示的選擇定時信號SCN_Y1 SCN_Y6中，高電平的期間是施加驅(qū)動信號的掃描期間，低電平的期間是施加某恒定電壓的非掃描期間。在此，在掃描期間Tyl選擇選擇電極Yl而施加驅(qū)動信號，在掃描期間Ty2以后依次向選擇電極施加驅(qū)動信號，從而向全部選擇電極施加驅(qū)動信號。另一方面，參考開關(guān)控制信號RSL_Y1 RSL_Y6從不被施加驅(qū)動信號的多條選擇電極Y_SENS中選擇1條作為各掃描期間Tyl Ty6 中的參考電極。例如，在掃描期間Tyl，向選擇電極Yl施加驅(qū)動信號，選擇選擇電極TO作為參考電極。另外，在掃描期間Ty2，向選擇電極Y2施加驅(qū)動信號，選擇選擇電極W作為參考電極。 但是，在圖4中，從被施加驅(qū)動信號的選擇電極隔開1條選擇電極的間隔來選擇了作為參考電極而選擇的選擇電極Y_SENS，但參考電極的位置不限于此，也可以相鄰。此時，與已選擇為參考電極的選擇電極對應(yīng)的驅(qū)動開關(guān)控制信號DSL_Y1 DSL_Y6變成非選擇狀態(tài)。在圖 4中，當(dāng)驅(qū)動開關(guān)控制信號DSL_Y1 DSL_Y6為高電平時，圖示為選擇為參考電極的選擇狀態(tài)，當(dāng)為低電平時，圖示為非選擇狀態(tài)。根據(jù)以上工作，在掃描期間Tyl，向選擇電極Yl施加驅(qū)動信號，選擇電極TO被選擇為參考電極，變成與參考信號布線REF連接的狀態(tài)。另外，除此之外的選擇電極Y2J4 Y6變成被驅(qū)動電路201施加了某恒定電壓的非掃描狀態(tài)。即，在掃描期間Tyl，變成向選擇電極Yl施加交流信號的掃描信號(圖4中的下方所示)，并且輸入到選擇電極TO的信號作為參考信號從選擇電極Y3輸出。在接下來的掃描期間Ty2中也一樣，向選擇電極Y2施加驅(qū)動信號，選擇電極W被選擇為參考電極，變成與參考信號布線REF連接的狀態(tài)。另外，除此以外的選擇電極Yl、Y3、TO Y6變成被驅(qū)動電路201施加了某恒定電壓的非掃描狀態(tài)。對選擇電極Yl W進行以上的工作，并且在實施方式1中從配置在坐標(biāo)輸入部的上側(cè)的選擇電極Yl到配置在下側(cè)的選擇電極Y6依次施加驅(qū)動信號，因此，對與下端側(cè)接近的選擇電極TO，將選擇電極Y3作為參考電極，對下端的選擇電極Y6，將選擇電極W作為參考電極。通過依次反復(fù)執(zhí)行以上的工作，在由掃描期間Tyl Ty6構(gòu)成的1周期Tcycle中， 向選擇電極依次施加驅(qū)動信號，與此同時，從不被施加驅(qū)動信號的驅(qū)動電極中選擇參考電極。
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接著，圖5表示本發(fā)明實施方式1的坐標(biāo)輸入裝置上沒有手指等接觸時的示意圖， 圖6表示本發(fā)明實施方式1的坐標(biāo)輸入裝置上手指等接觸時的示意圖，以下根據(jù)圖5和圖6 來說明實施方式1的坐標(biāo)輸入裝置的檢測工作。但是，圖5和圖6所示的示意圖是圖4中向選擇電極Yl施加驅(qū)動信號、選擇電極Y3被選擇為參考電極的掃描期間Tyl下的信號路徑的示意圖。另外，在圖5和圖6中，省略由于連接驅(qū)動電路201和選擇電極Yl而成為選擇狀態(tài)的驅(qū)動開關(guān)DSL_Y1、和連接選擇電極TO和參考信號布線REF的參考開關(guān)RSL_Y3。在沒有手指等接觸時，如圖5所示，選擇電極Yl和選擇電極TO與檢測電極Xl的交叉部附近的電容主要是選擇電極與檢測電極的交叉電容Cxy。另外，在包含于顯示板106 的信號線或掃描線等的布線DISP_N0DE與檢測電極Xl之間存在寄生電容Cdx。在選擇電極Yl或選擇電極Y3與包含于顯示板106的布線DISP_N0DE之間也存在寄生電容Cdy。在此，存在于選擇電極Yl的寄生電容Cdy未圖示。由于主要由驅(qū)動電路201和顯示板106的布線DISP_N0DE對該存在于選擇電極Yl的寄生電容Cdy進行充放電，所以對信號檢測電路 301的影響很少。當(dāng)從驅(qū)動電路201向選擇電極Yl施加脈沖狀的驅(qū)動信號時，交叉電容Cxy被選擇電極Yl充放電，因此充放電電流S(Cxy)經(jīng)由交叉電容Cxy流向檢測電極XI。在此，信號檢測電路301將流過交叉電容Cxy的充放電電流S(Cxy)作為信號進行檢測。對檢測電極Xl 的信號進行檢測的信號檢測電路301在檢測交叉電容Cxy的充放電電流S(Cxy)的同時，由于存在于檢測電極Xl與顯示板106的布線DISP_N0DE之間的寄生電容Cdx被因顯示工作而變動的DISP_N0DE充放電，所以也對經(jīng)由Cdx流過檢測電極Xl的充放電電流S(Cdx)進行檢測。因此，連接在檢測電極Xl上的信號檢測電路301除了檢測與作為原本的檢測對象的交叉部附近的電容相應(yīng)的信號S(Cxy)之外，還檢測成為噪聲的經(jīng)由寄生電容Cdx的信號 S (Cdx)。另一方面，由于參考電極(在此，為選擇電極Y3)未連接在驅(qū)動電路201上，所以沒有經(jīng)由交叉部附近的電容的信號。因此，在從顯示板106的布線DISP_N0DE經(jīng)由寄生電容Cdy對參考電極TO進行充放電時流過充放電電流S (Cdy)。因此，與參考電極TO連接的信號檢測電路301僅檢測成為噪聲的經(jīng)由寄生電容Cdy的信號S(Cdy)。根據(jù)以上，通過檢測參考電極的信號，能夠檢測來自顯示板106等的噪聲成分。由此，能夠根據(jù)數(shù)字輸出信號DREF消除檢測電極Xl所含有的噪聲成分S (Cdx)，能夠高精度地測量與交叉部附近的電容相應(yīng)的信號S(Cxy)。接著，對有手指等進行的接觸的情況進行說明。但在以下的說明中，對因手指等的接觸而在檢測電極Xl與選擇電極Yl、Y3的各交叉部附近產(chǎn)生靜電電容Cf的情況進行說明。如圖6所示，當(dāng)從驅(qū)動電路201向選擇電極Yl施加脈沖狀的驅(qū)動信號時，由于交叉電容Cxy和手指的靜電電容Cf被選擇電極Yl充放電，所以分別經(jīng)由交叉電容Cxy和靜電電容Cf的充放電電流流向檢測電極XI。即，流過交叉電容Cxy的充放電電流S(Cxy)和流過靜電電容Cf的充放電電流S(Cf)相加后的充放電電流S(Cxy)+S(Cf)流向檢測電極XI。 因此，信號檢測電路301將流過交叉電容Cxy的充放電電流S(Cxy)和流過靜電電容Cf的充放電電流S(Cf)相加后的充放電電流S(Cxy)+S(Cf)作為信號來檢測。對檢測電極Xl的信號進行檢測的信號檢測電路301在檢測交叉電容和靜電電容的充放電電流的同時，由于存在于檢測電極Xl與顯示板106的布線DISP_N0DE之間的寄生電容Cdx被因顯示工作而變動的DISP_N0DE充放電，所以還對經(jīng)由Cdx流過檢測電極Xl的充放電電流S(Cdx)進行檢測。因此，連接在檢測電極Xl上的信號檢測電路301除了檢測與作為原本的檢測對象的交叉部附近的電容相應(yīng)的信號S(Cxy)+S(Cf)之外，還檢測成為噪聲的經(jīng)由寄生電容Cdx的信號 S (Cdx)。另一方面，由于參考電極(在此，為選擇電極Y3)未連接在驅(qū)動電路201上，所以沒有經(jīng)由交叉部附近的電容Cxy和Cf的信號。在從顯示板106的布線DISP_N0DE經(jīng)由寄生電容Cdy被參考電極TO充放電時流過充放電電流S(Cdy)。因此，與參考電極TO連接的信號檢測電路301即使在參考電極上增加因接觸而產(chǎn)生的靜電電容的情況下，也僅檢測成為噪聲的經(jīng)由寄生電容Cdy的信號S(Cdy)。根據(jù)以上，通過檢測參考電極的信號，能夠檢測來自顯示板106等的噪聲成分。由此，能夠根據(jù)數(shù)字輸出信號DREF消除檢測電極Xl所含有的噪聲成分S(Cdx)，能夠高精度地測量與交叉部附近的電容相應(yīng)的信號S(Cxy)。<接觸點位置的檢測工作>接著，圖7表示本發(fā)明實施方式1的坐標(biāo)輸入部101上存在接觸時的示意圖，圖8 表示存在圖7所示的接觸時的選擇電極等的電壓波形和控制信號等的時序圖，圖9表示圖 8所示的第一個周期Tcycle下的數(shù)字輸出信號的示意圖，圖10表示圖8所示的第二個周期Tcycle下的數(shù)字輸出信號的示意圖，圖11表示本發(fā)明實施方式1的坐標(biāo)輸入裝置的修正處理后的數(shù)字輸出信號的示意圖，以下，根據(jù)圖7 圖11來說明坐標(biāo)輸入時的檢測工作。 但在以下的說明中，對存在與坐標(biāo)輸入部101的選擇電極Y2和檢測電極X2的交點附近相接觸的接觸TOUCHl、與選擇電極TO和檢測電極X7的交點附近相接觸的接觸T0UCH2這兩個接觸(接觸點)的情況進行說明，但接觸位置和接觸數(shù)不限于此。包含在顯示板106上的布線DISP_N0DE與顯示工作相應(yīng)地變化。另外，DISP_N0DE 發(fā)生變化的周期往往與坐標(biāo)輸入裝置的掃描期間不同步，因此，由DISP_N0DE的變動產(chǎn)生的噪聲按坐標(biāo)輸入裝置的檢測周期Tcycle或掃描期間Ty的不同而不同。因此，在本發(fā)明實施方式1的顯示裝置中，在檢測周期Tcycle中按每個掃描期間從不被施加驅(qū)動信號的選擇電極中選擇參考電極，并檢測經(jīng)由該參考電極而流過的噪聲信號，從而即使在來自顯示板106的噪聲隨時間變化的情況下也能應(yīng)對。以下，詳細(xì)說明接觸點位置的檢測工作。在實施方式1的坐標(biāo)輸入裝置中，在掃描期間Tyl，向選擇電極Yl施加驅(qū)動信號， 同時選擇選擇電極Y3作為參考電極。在接下來的掃描期間Ty2，向選擇電極Y2施加驅(qū)動信號，同時選擇選擇電極料作為參考電極。在掃描期間Ty3，向選擇電極TO施加驅(qū)動信號，同時選擇選擇電極TO作為參考電極。在掃描期間Ty4，向選擇電極W施加驅(qū)動信號，同時選擇選擇電極Y6作為參考電極。在掃描期間Ty5，向選擇電極TO施加驅(qū)動信號，同時選擇選擇電極Y3作為參考電極。在掃描期間Ty6，向選擇電極Y6施加驅(qū)動信號，同時選擇選擇電極W作為參考電極。將以上的掃描期間Tyl Ty6設(shè)為1個周期Tcycle，通過依次反復(fù)該1個周期Tcycle，如前述的噪聲降低的基本工作的項所示那樣，能夠在各掃描周期中將由DISP_N0DE產(chǎn)生的噪聲信號作為模擬輸出信號AREF來檢測。此時，如圖8所示，在實施方式1中使用采樣控制信號SPL對在掃描期間Tyl檢測到的模擬信號進行采樣，因此向AD轉(zhuǎn)換電路輸出的掃描期間Tyl的模擬輸出信號AREF、 AXl AX8被輸出到作為下一個掃描期間的掃描期間Ty2。各檢測電極的模擬輸出信號AXl AX8變成在用模擬輸出信號AREF檢測到的噪聲信號上重疊了與各交叉部電容和由輸入產(chǎn)生的靜電電容相應(yīng)的信號后的信號。AD轉(zhuǎn)換電路302將信號檢測電路301檢測并樣本保持的模擬輸出信號數(shù)字化，作為數(shù)字信號DREF、DX1 DX8輸出到輸入坐標(biāo)運算電路 104。但是，此時輸出為數(shù)字信號DREF、DXl DX8的信號如圖8中的下層所示那樣，例如， 與掃描期間Tyl對應(yīng)的數(shù)字信號DREF表示為信號1_DRFF_Y1 1_DRFF_Y6，數(shù)字信號DXl 表示為 1_DX1_Y1 1_DX_1Y6。這樣測量到的第一個周期Tcycle下的數(shù)字輸出信號如圖9所示那樣，在向選擇電極Y2輸入掃描信號的期間由檢測電極X2檢測到的數(shù)字輸出信號DX2、和在向選擇電極TO 輸入掃描信號的期間由檢測電極X7檢測到的數(shù)字輸出信號DX7的信號強度最大。同樣，第二個周期Tcycle下的數(shù)字輸出信號也如圖10所示那樣，在向選擇電極Y2輸入掃描信號的期間由檢測電極X2檢測到的數(shù)字輸出信號DX2、和在向選擇電極TO輸入掃描信號的期間由檢測電極X7檢測到的數(shù)字輸出信號DX7的信號強度最大。在此，在第一個周期Tcycle和第二個周期Tcycle下測量到的數(shù)字信號輸出 DXl DX8的信號強度不同是由于在各周期相當(dāng)于噪聲的數(shù)字輸出信號DREF不同、而且 DREF按每個掃描周期而不同的緣故。但是，如前述那樣，由各檢測電極Xl X8檢測到的數(shù)字輸出信號DXl DX8是在相當(dāng)于噪聲的信號上重疊了與交叉部電容和由輸入產(chǎn)生的靜電電容相應(yīng)的信號而成的信號。因此，在輸入坐標(biāo)運算電路104中，通過使用根據(jù)相當(dāng)于噪聲的DREF而消除噪聲的公知的修正運算來進行修正，能夠高精度地檢測電容。例如，在混入檢測電極的噪聲的強度與參考電極檢測的噪聲的強度大致相等時， 通過在圖9或圖10的數(shù)字輸出信號的檢測結(jié)果中從各交叉部附近的檢測結(jié)果DX減去相當(dāng)于噪聲的DREF，就能夠如圖11所示那樣得到降低了來自顯示板106的噪聲的影響的電容檢測結(jié)果。由此，能夠提高電容檢測的精度，能夠高精度地計算所輸入的坐標(biāo)。另外，在混入檢測電極的噪聲的強度與參考電極檢測的噪聲的強度不同時，通過對DREF實施修正處理以使得混入檢測電極的噪聲的強度與參考電極檢測的噪聲的強度大致相等，并進行同樣的處理，就能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的電容檢測?！磪⒖茧姌O的選擇方法>圖12是用于說明本發(fā)明實施方式1的坐標(biāo)輸入裝置中的參考電極的另一選擇方法的圖。但是，圖中所示的參考電極為1條的情況是前述的參考電極的選擇方法，因此在以下的說明中，對參考電極為2條的情況進行詳細(xì)說明。如圖12所示，在掃描期間Tyl中，對要驅(qū)動的選擇電極Y1，選擇選擇電極TO和選擇電極TO作為參考電極。在接下來的掃描期間Ty2中，對要驅(qū)動的選擇電極Y2，選擇選擇電極W和選擇電極Y6作為參考電極。以下同樣，對要驅(qū)動的選擇電極Y2，選擇隔開1條選擇電極的選擇電極作為第一參考電極，并且選擇從作為該第一參考電極的選擇電極進一步隔開1條選擇電極的選擇電極作為第二參考電極。這樣，通過在驅(qū)動電極和第一參考電極之間設(shè)置間隔，防止驅(qū)動電極充放電的影響混入?yún)⒖茧姌O，并且通過在第一參考電極和第二參考電極之間設(shè)置間隔，防止僅對一方參考電極的噪聲等的影響混入另一方的參考電極。設(shè)為1條選擇電極的間隔，但也可以設(shè)為多條選擇電極的間隔。另外，圖12表示參考電極的條數(shù)為1條的情況和為2條的情況，但選擇為參考電極的條數(shù)不限于此，也可以是3條以上。但是，在將參考電極設(shè)為多條的情況下，當(dāng)對應(yīng)于噪聲的數(shù)字輸出信號DREF 與其條數(shù)相應(yīng)地變化時，只要例如使用輸入坐標(biāo)運算電路104進行修正處理使得與各檢測電極Xl X8的噪聲相當(dāng)即可。圖13是用于說明本發(fā)明實施方式1的坐標(biāo)輸入裝置中的參考電極的又一選擇方法的圖。如圖13所示，當(dāng)選擇為參考電極的選擇電極為1條時，將與成為驅(qū)動電極的選擇電極相鄰的選擇電極之中的任何1條選擇電極選擇為參考電極。另外，當(dāng)選擇為參考電極的選擇電極為2條時，將與成為驅(qū)動電極的選擇電極相鄰的2條選擇電極作為參考電極。進而，當(dāng)選擇為參考電極的選擇電極為3條以上時，將與成為驅(qū)動電極的選擇電極相鄰的2條選擇電極作為參考電極，并且將與該參考電極相鄰的選擇電極來也選擇為參考電極，由此將所希望的條數(shù)的選擇電極作為參考電極。通過形成這種結(jié)構(gòu)，能夠使用于檢測交叉部電容的驅(qū)動電極和用于測量噪聲的參考電極接近，因此在噪聲具有位置依存性時，能夠更準(zhǔn)確地測量噪聲，提高檢測精度。圖13示出了參考電極的條數(shù)為1 4條的情況，但選擇為參考電極的條數(shù)不限于此，也可以是5條以上。另外，在將參考電極設(shè)為多條的情況下，當(dāng)對應(yīng)于噪聲的數(shù)字輸出信號DREF與其條數(shù)相應(yīng)地變化時，只要用輸入坐標(biāo)運算電路104進行修正處理使得與各檢測電極Xl X8的噪聲相當(dāng)即可。如以上說明那樣，在實施方式1的顯示裝置中，設(shè)置成將坐標(biāo)輸入裝置具有的用于輸入驅(qū)動信號的選擇電極之中不被輸入該驅(qū)動信號的選擇電極用作參考電極，使用由參考電極檢測到的信號來對由檢測電極檢測到的檢測信號(電容檢測結(jié)果)進行修正的結(jié)構(gòu)，因此能夠根據(jù)電容檢測結(jié)果降低噪聲，能夠高精度地計算輸入坐標(biāo)。另外，將選擇電極中施加驅(qū)動信號以外的選擇電極用作參考電極，與檢測電容的定時同樣地對由噪聲產(chǎn)生的信號進行檢測，因此能夠進行與時常變動的噪聲對應(yīng)的噪聲消除，提高檢測精度。另外，用于檢測噪聲的參考電極由于不會因有無輸入而引起靜電電容的增減從而使檢測結(jié)果變化， 所以即使在坐標(biāo)輸入部101上移動接觸位置的情況下，也能穩(wěn)定地進行噪聲消除，提高檢測精度。進而，能夠?qū)⑴c用于檢測電容的選擇電極接近的選擇電極選擇為參考電極，所以在噪聲存在分布時，能夠更準(zhǔn)確地測量噪聲，能夠提高檢測精度。另外，由于不需要在坐標(biāo)輸入部101設(shè)置特別的電極作為參考電極，所以在與顯示板106同時使用時，不需要設(shè)置限制輸入的區(qū)域，使設(shè)計變得容易?！磳嵤┓绞?>〈整體結(jié)構(gòu)〉圖14是用于說明本發(fā)明實施方式2的顯示裝置的整體結(jié)構(gòu)的框圖，以下，根據(jù)圖 14來說明實施方式2的顯示裝置的整體結(jié)構(gòu)。但是，坐標(biāo)輸入部101、系統(tǒng)105、以及顯示板 106的結(jié)構(gòu)是與實施方式1相同的結(jié)構(gòu)，所以在以下的說明中，詳細(xì)說明電容檢測電路107、 108和輸入坐標(biāo)運算電路109。如圖14所示，實施方式2的坐標(biāo)輸入裝置包括根據(jù)從作為外部裝置的系統(tǒng)105輸入的未圖示的顯示數(shù)據(jù)進行圖像顯示的顯示板106、和具有配置在該顯示板106的顯示面一側(cè)的坐標(biāo)輸入部101的坐標(biāo)輸入裝置。該坐標(biāo)輸入裝置包括用于指示輸入位置的坐標(biāo)輸入部101、檢測輸入坐標(biāo)所需的電容檢測電路107(第二電容檢測電路)及電容檢測電路 (第一電容檢測電路)108、以及輸入坐標(biāo)運算電路104。在此，電容檢測電路108通過選擇
15電極布線Yl Y6與多條選擇電極(第一檢測電極)Y_SENS相連接。另外，電容檢測電路 107通過檢測電極布線Xl X8與多條檢測電極(第二檢測電極)X_SENS相連接。該電容檢測電路107和電容檢測電路108被輸入坐標(biāo)運算電路104輸出的定時控制信號組TMG控制。在此，實施方式2的坐標(biāo)輸入裝置中，首先，電容檢測電路107從多條檢測電極X_ SENS中選擇1條或多條電極來檢測電容，將檢測到的電容轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號DX后，輸出到輸入坐標(biāo)運算電路109。此時，電容檢測電路107將不進行電容檢測的多條檢測電極X_SENS 中的1條或多條檢測電極選擇為參考電極，將檢測到的信號作為噪聲的參考信號并轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號DREFX，輸出到輸入坐標(biāo)運算電路109。當(dāng)所有的檢測電極X_SENS的電容檢測結(jié)束時，接著利用電容檢測電路108進行所有的選擇電極Y_SENS的電容檢測。電容檢測電路 108從多條選擇電極Y_SENS中選擇1條或多條電極來檢測電容，將檢測到的電容轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號DY后，輸出到輸入坐標(biāo)運算電路109。另外，電容檢測電路108也與電容檢測電路 107同樣，從不進行電容檢測的多條選擇電極Y_SENS中選擇1條或多條選擇電極作為參考電極，將檢測到的信號作為噪聲的參考信號并轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號DREFY，然后輸出到輸入坐標(biāo)運算電路109。在此，輸入坐標(biāo)運算電路109首先根據(jù)依次輸入的檢測電極X_SENS的電容檢測的數(shù)字信號DX和成為噪聲的參考信號的數(shù)字信號DREFX來計算χ方向的接觸位置。接著，根據(jù)依次輸入的檢測電極Y_SENS的電容檢測的數(shù)字信號DY和成為噪聲的參考信號的數(shù)字信號DREFY來計算y方向的接觸位置，將所得到的χ方向和y方向的接觸位置作為坐標(biāo)數(shù)據(jù)輸出到系統(tǒng)105?！措娙輽z測電路結(jié)構(gòu)〉圖16是用于說明本發(fā)明實施方式2的顯示裝置中的一方電容檢測電路的概略結(jié)構(gòu)的圖。以下，根據(jù)圖16對連接沿χ方向并列設(shè)置的檢測電極X_SENS的一方電容檢測電路107進行說明。如圖16所示，實施方式2的電容檢測電路107包括對進行電容檢測的檢測電極X_ SENS施加驅(qū)動信號的驅(qū)動電路701、檢測檢測電極X_SENS的信號的信號檢測電路702、用于將各檢測電極X_SENS連接在驅(qū)動電路701上的驅(qū)動開關(guān)DSL_X1 DSL_X8、用于將各檢測電極X_SENS連接在參考信號布線REFX上的參考開關(guān)RSL_X1 RSL_X8、以及或電路703。 形成向電容檢測電路107輸入定時控制信號組TMG內(nèi)的選擇定時信號SCN_X1 SCN_X8的結(jié)構(gòu)，用于進行各檢測電極X_SENS的電容檢測的驅(qū)動電路701和信號檢測電路702分別被定時控制信號組TMG中所含有的選擇定時信號SCN_X1 SCN_X8控制。接著，根據(jù)圖14和圖16來說明實施方式2的電容檢測電路107的工作。例如，在進行多條檢測電極X_SENS中的檢測電極Xl的電容檢測時，利用選擇定時信號SCN_X1使對應(yīng)的驅(qū)動電路701和信號檢測電路702變成選擇狀態(tài)。另外，驅(qū)動開關(guān)DSL_X1變成選擇狀態(tài)，檢測電極Xl與驅(qū)動電路701及信號檢測電路702連接。已選擇的驅(qū)動電路701將驅(qū)動信號施加給檢測電極XI。此時，在實施方式2中，在例如向檢測電極Xl施加驅(qū)動信號的期間，用信號檢測電路702對來自該檢測電極Xl的信號進行檢測。然后，信號檢測電路702 將檢測到的電流或電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號DX而輸出。但是，在不進行檢測電極Xl的電容檢測的情況或者不用作參考電極的情況下，利用選擇定時信號SCN_X1使對應(yīng)的驅(qū)動電路701和信號檢測電路702變成非選擇狀態(tài)，該檢測電極Xl變成浮置狀態(tài)，因此，為了解除該浮置狀態(tài)，優(yōu)選用驅(qū)動電路701向檢測電極Xl施加預(yù)定的恒定電位等。由驅(qū)動電路701進行的驅(qū)動既可以是電壓驅(qū)動，還可以是電流驅(qū)動。另外，信號檢測電路702檢測的信號既可以是流過檢測電極Xl的電流，還可以是檢測電極Xl的電壓。若列舉一例，例如，驅(qū)動電路701 將檢測電極Xl從某恒定電位充電至驅(qū)動電位，然后由信號檢測電路702對檢測電極Xl被放電到變成某恒定電位的電流進行檢測，從而能夠檢測與檢測電極Xl相應(yīng)的電容。另一方面，在實施方式2中，從不進行電容檢測的多條檢測電極Xl X8中選擇1 條或多條檢測電極作為噪聲測量用的參考電極。例如，在進行檢測電極Xi的電容檢測的掃描期間，選擇相鄰的檢測電極X2作為參考電極。在這種情況下，使參考開關(guān)RSL_X2為選擇狀態(tài)，使驅(qū)動開關(guān)DSL_X2為非選擇狀態(tài)，從而將檢測電極X2連接在參考信號布線REFX上。 參考信號布線REFX連接在信號檢測電路702上，參考電極用的信號檢測電路在檢測電極 Xl X8的電容檢測時工作，因此被選擇定時信號SCN_X1 SCN_X8的或電路703的輸出控制。因此，在此與檢測電極Xl的電容檢測同樣，進行參考電極X2的信號檢測。但是，用于檢測檢測電極的電容的驅(qū)動電路701不向參考電極提供驅(qū)動信號。這樣，電容檢測電路 107根據(jù)選擇定時信號SCN_X1 SCN_X8不斷選擇依次進行電容檢測的檢測電極Xl X8 并從不進行電容檢測的檢測電極中不斷選擇參考電極。此時的參考電極的選擇方法也與前述的實施方式1相同，能夠應(yīng)用參考電極的選擇方法的項所述的選擇方法。接著，圖15表示本發(fā)明實施方式2的顯示裝置中的另一方電容檢測電路的概略結(jié)構(gòu)的圖，以下，根據(jù)圖15對連接沿y方向并列設(shè)置的檢測電極Y_SENS的另一方電容檢測電路進行說明。實施方式2的電容檢測電路108的基本結(jié)構(gòu)是與電容檢測電路107相同的結(jié)構(gòu)。如圖15所示，實施方式2的電容檢測電路108包括對進行電容檢測的選擇電極Y_ SENS施加驅(qū)動信號的驅(qū)動電路801、檢測選擇電極Y_SENS的信號的信號檢測電路802、用于將各選擇電極Y連接在驅(qū)動電路上的驅(qū)動開關(guān)DSL_Y1 DSL_Y6、用于將各選擇電極Y連接在參考信號布線REFY上的參考開關(guān)RSL_Y1 RSL_Y6、以及或電路803。形成向電容檢測電路108輸入定時控制信號組TMG內(nèi)的選擇定時信號SCN_Y1 SCN_Y6的結(jié)構(gòu)，用于進行各選擇電極Y_SENS的電容檢測的驅(qū)動電路801和信號檢測電路802分別根據(jù)定時控制信號組TMG所含有的選擇定時信號SCN_Y1 SCN_Y6進行控制。接著，根據(jù)圖14和圖15，說明實施方式2的電容檢測電路108的工作。例如，在進行多條選擇電極Y_SENS內(nèi)的選擇電極Yl的電容檢測時，利用選擇定時信號SCN_Y1使對應(yīng)的驅(qū)動電路801和信號檢測電路802變成選擇狀態(tài)。另外，驅(qū)動開關(guān)DSL_Y1變成選擇狀態(tài)， 選擇電極Yl與驅(qū)動電路801及信號檢測電路802連接。已選擇的驅(qū)動電路801將驅(qū)動信號施加給選擇電極Yl。此時，與電容檢測電路107同樣，在該期間信號檢測電路802對來自選擇電極Yl的信號進行檢測。然后，信號檢測電路802將檢測到的電流或電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號DY而輸出。但是，在不進行選擇電極Yl的電容檢測時，利用選擇定時信號SCN_Y1使對應(yīng)的驅(qū)動電路801和信號檢測電路802變成非選擇狀態(tài)，選擇電極Yl變成浮置狀態(tài)，因此，為了解除該浮置狀態(tài)，優(yōu)選由驅(qū)動電路801向選擇電極Yl施加預(yù)定的恒定電位等。由驅(qū)動電路801進行的驅(qū)動與驅(qū)動電路701相同，既可以是電壓驅(qū)動，還可以是電流驅(qū)動。另外，信號檢測電路802檢測的信號既可以是流過選擇電極Yl的電流，還可以是選擇電極Yl的電壓。若列舉一例，例如，驅(qū)動電路801將選擇電極Yl從某恒定電位充電到驅(qū)動電位，然后信號檢測802檢測選擇電極Yl被放電到某恒定電位的電流，從而能夠檢測與選擇電極Yl 相應(yīng)的電容。另一方面，在實施方式2的電容檢測電路108中，也從不進行電容檢測的多條選擇電極Yl Y6中選擇1條或多條選擇電極作為噪聲測量用的參考電極。例如，在進行選擇電極Yl的電容檢測的掃描期間，選擇相鄰的選擇電極Y2作為參考電極。在這種情況下，使參考開關(guān)RSL_Y2為選擇狀態(tài)，使驅(qū)動開關(guān)DSL_Y2為非選擇狀態(tài)，由此將選擇電極Y2連接在參考信號布線REFY上。參考信號布線REFY連接在信號檢測電路802上，參考電極用的信號檢測電路在選擇電極Yl Y6的電容檢測時工作，所以根據(jù)選擇定時信號SCN_Y1 SCN_ Y6的或電路803的輸出進行控制。因此，在此與選擇電極Yl的電容檢測同樣，進行參考電極Y2的信號檢測。但是，用于檢測選擇電極的電容的驅(qū)動電路801不向參考電極提供驅(qū)動信號。這樣，電容檢測電路108根據(jù)選擇定時信號SCN_Y1 SCN_Y6不斷選擇依次進行電容檢測的選擇電極Y、并從不進行電容檢測的選擇電極中不斷選擇參考電極。此時的參考電極的選擇方法也與電容檢測電路107同樣，能應(yīng)用參考電極的選擇方法的項所述的選擇方法。〈噪聲降低工作〉接著，圖17表示本發(fā)明實施方式2的顯示裝置中的選擇電極Y_SENS及檢測電極 X.SENS的電壓波形和定時控制信號組TMG所含有的各控制信號的時序圖，圖20表示本發(fā)明實施方式2的顯示裝置中的1個周期的選擇定時信號和數(shù)字輸出信號DX、DREFX、DY、DREFY 的時序圖，以下，根據(jù)圖17和圖20來說明實施方式2的坐標(biāo)輸入裝置的工作。但在以下的說明中，對在各掃描期間Txl Tx8、Tyl Ty6下進行電容檢測的檢測電極X_SENS或選擇電極Y_SENS的條數(shù)為1條的情況進行說明，但在各掃描期間Txl Tx8、Tyl Ty6下進行電容檢測的檢測電極或選擇電極的條數(shù)也可以是多條。另外，在圖17中，圖14的坐標(biāo)輸入部101的從圖中上側(cè)選擇電極Y_SENS和左側(cè)的檢測電極X_SENS依次進行電容檢測的情況進行說明，但不限于此，也可以從圖中的下側(cè)或右側(cè)開始依次進行電容檢測。如圖17所示，實施方式2的坐標(biāo)輸入裝置在1周期Tcycle的期間內(nèi)依次選擇選擇電極Y_SENS和檢測電極X_SENS來檢測各電極的電容。另外，在各掃描期間Txl Tx8、 Tyl Ty6下選擇1條進行電容檢測的檢測電極X_SENS或選擇電極Y_SENS。但是，在各掃描期間用于電容檢測而選擇的電極數(shù)不限于此，也可以是多條。在選擇定時信號SCN_X1 SCN_X8、SCN_Y1 SCN_Y6為高電平的期間，成為掃描期間而進行電容檢測，在為低電平的期間成為施加預(yù)定的恒定電壓的非掃描期間而不進行電容檢測。例如，在掃描期間Txl，選擇檢測電極Xl來檢測電極電容，在掃描期間Tx2以后， 依次選擇檢測電極Χ2 Χ8和選擇電極Yl Υ6來檢測電極電容，從而進行位于坐標(biāo)輸入部101上的全部電極的電容檢測。S卩，如圖20所示，在掃描期間Txl Tx8、Tyl Ty6，依次根據(jù)選擇定時信號SCN 每次1條來選擇進行電容檢測的電極，并輸出該檢測結(jié)果。其結(jié)果，例如在掃描期間Txl，選擇檢測電極XI，檢測檢測電極Xl的電極電容，因此從電容檢測電路107向輸入坐標(biāo)運算電路109輸出該檢測到的電容的數(shù)字信號DX1。以下，依次進行檢測電極X2 X8的選擇和已選擇的檢測電極X2 X8的電極電容的檢測，并依次從電容檢測電路107向輸入坐標(biāo)運算電路109輸出檢測結(jié)果的數(shù)字信號DX2 DX8。另外，在掃描期間TxS之后的掃描期間 Ty 1，選擇選擇電極Yl，檢測該選擇電極Yl的電極電容，因此從檢測電路108向輸入坐標(biāo)運算電路109輸出該檢測到的電容的數(shù)字信號DY1。以下，依次進行選擇電極Y2 Y6的選擇和已選擇的選擇電極Y2 Y6的電極電容的檢測，依次從電容檢測電路108向輸入坐標(biāo)運算電路109輸出檢測結(jié)果的數(shù)字信號DY1，1周期Tcycle結(jié)束，以后的工作反復(fù)進行。另一方面，參考開關(guān)控制信號RSL_X1 RSL_X8、RSL_Y1 RSL_Y6是從不進行電容檢測的多條檢測電極X_SENS或選擇電極Y_SENS中選擇1條作為各掃描期間的參考電極。例如，在掃描期間Txl，進行檢測電極Xl的電容檢測，而選擇檢測電極X2作為參考電極。 另外，在掃描期間TX2，檢測檢測電極X2的電極電容，選擇檢測電極X3作為參考電極。但是，在各掃描期間選擇作為參考電極的電極條數(shù)不限于1條，其條數(shù)也可以是多條。另外， 以與用于檢測電極電容的電極相鄰的方式選擇了用于選擇為參考電極的電極，但也可以隔開1條或多條電極的間隔來選擇。此時，已選擇為參考電極的檢測電極的驅(qū)動開關(guān)控制信號DSL_X1 DSL_X8或與選擇電極對應(yīng)的驅(qū)動開關(guān)控制信號DSL_Y1 DSL_Y6變成非選擇狀態(tài)。但是，在圖17中，驅(qū)動開關(guān)控制信號和參考開關(guān)控制信號在為高電平時圖示為選擇狀態(tài)，在為低電平時圖示為非選擇狀態(tài)。S卩，如圖20所示，在掃描期間Txl Tx8、Tyl Ty6中，從進行電容檢測以外的電極中選擇1條參考電極，檢測混入該參考電極的噪聲信號。其結(jié)果，例如在掃描期間Txl，選擇檢測電極X2作為參考電極，檢測該檢測電極X2的電極電容，因此該檢測到的電容的數(shù)字信號DX2作為數(shù)字信號DREFX從電容檢測電路107輸出到輸入坐標(biāo)運算電路109。以下，依次進行作為參考電極的檢測電極X3 X8的選擇和已選擇的檢測電極X3 X8的電極電容的檢測，將檢測結(jié)果的數(shù)字信號DX2 DX8作為數(shù)字信號DREFX依次從電容檢測電路107輸出到輸入坐標(biāo)運算電路109。另外，在掃描期間TxS之后的掃描期間Tyl中，選擇選擇電極 Y2作為參考電極，檢測該選擇電極Y2的電極電容，因此將該檢測到的電容的數(shù)字信號DY2 作為數(shù)字信號DREFX從電容檢測電路108輸出到輸入坐標(biāo)運算電路109。以下，依次進行選擇電極Y3 Y6的選擇和已選擇的選擇電極Y2 Y6的電極電容的檢測，將檢測結(jié)果的數(shù)字信號DY2作為數(shù)字信號DREFX依次從電容檢測電路108輸出到輸入坐標(biāo)運算電路109，1 周期Tcycle結(jié)束，以后該工作反復(fù)進行。根據(jù)以上工作，在由掃描期間Txl TxS和掃描期間Tyl Ty6構(gòu)成的1周期 Tcycle中，依次對檢測電極和選擇電極進行電容檢測，與此同時從不進行電容檢測的電極中選擇參考電極。接著，圖18表示用于說明本發(fā)明實施方式2的坐標(biāo)輸入裝置中的掃描期間Txl下的檢測電極Xl的信號路徑的示意圖，圖19表示用于說明本發(fā)明實施方式2的坐標(biāo)輸入裝置中的掃描期間Txl下的檢測電極X3的信號路徑的示意圖，以下，根據(jù)圖18和圖19來說明實施方式2的坐標(biāo)輸入裝置的檢測工作。但是，圖18和圖19中，省略用于連接驅(qū)動電路 701及信號檢測電路702與檢測電極X1、X2的驅(qū)動開關(guān)DSL_X1、和用于連接檢測電極X2與參考信號布線REFX的參考開關(guān)RSL_X2。如圖18所示，檢測電極Xl在掃描期間Txl中根據(jù)選擇定時信號SCN_X1而被選擇， 所以連接在驅(qū)動電路701和信號檢測電路702上。在此，電容Cx是檢測電極的電極電容， Cf是由于接觸等而增加的靜電電容。另外，電容Cdx是在與包含于顯示板106的布線DISP_NODE之間存在的寄生電容。驅(qū)動電路701為了檢測電極電容Cx和由于接觸等增加的靜電電容Cf而施加驅(qū)動信號。因此，通過驅(qū)動電路702施加驅(qū)動信號而分別產(chǎn)生信號(電流) S(Cx)、S(Cf)。另一方面，寄生電容Cdx通過根據(jù)顯示內(nèi)容等而變化的顯示板106的布線 DISP_N0DE被進行充放電，由此產(chǎn)生成為噪聲成分的信號S(Cdx)。因此，信號檢測電路702 除了檢測流過電極電容Cx的信號與流過靜電電容Cf的信號相加后的信號S (Cx)+S (Cf)之外，還檢測噪聲的信號S (Cdx)。在此，S (Cdx)僅表示由顯示板106的布線DISP_N0DE的變動而產(chǎn)生信號即噪聲成分，假設(shè)顯示板106的布線DISP_N0DE為恒定電位，由被驅(qū)動電路701 施加的驅(qū)動信號而產(chǎn)生的信號即固定產(chǎn)生信號未圖示。另一方面，如圖19所示，檢測電極X3在掃描期間Txl被選擇為參考電極。因此， 參考信號布線REFX不連接在驅(qū)動電路701上，而連接在信號檢測電路702上。由此，參考電極用的信號檢測電路僅對由于DISP_N0DE的變動而對寄生電容Cdx充放電時產(chǎn)生的噪聲信號S(Cdx)進行檢測。因此，在掃描期間Txl，利用參考電極的檢測結(jié)果DX2從檢測電極 Xl的電容檢測結(jié)果DXl中消除噪聲成分，能夠高精度地檢測檢測電極Xl的電極電容和靜電電容。另外，如圖19所示，即使在用于檢測噪聲成分的參考電極上增加由手指接觸產(chǎn)生的靜電電容的情況下，也由于檢測值不會變動，所以即使在手指等的接觸物移動時，也能夠穩(wěn)定地消除噪聲。如以上說明那樣，即使在實施方式2的顯示裝置中也構(gòu)成為在坐標(biāo)輸入裝置具有的電容電極和選擇電極內(nèi)，將不輸入用于測量該電極電容的驅(qū)動信號的電極作為參考電極來使用，并用由參考電極檢測到的信號對在輸入了驅(qū)動信號的電極上檢測到的檢測信號 (電容檢測結(jié)果)進行修正，因此與實施方式1同樣，能夠根據(jù)電容檢測結(jié)果來降低噪聲， 能夠高精度地計算輸入坐標(biāo)。另外，通過將用于檢測電容的電極以外的電極作為參考電極來使用并與檢測電容的定時同樣檢測由噪聲產(chǎn)生的信號，能夠進行與時常變動的噪聲相對應(yīng)的噪聲消除，提高檢測精度。另外，用于檢測噪聲的參考電極由于不會因有無輸入所產(chǎn)生的靜電電容的增減而使檢測結(jié)果變化，所以即使在坐標(biāo)輸入部101上移動接觸位置的情況下，也能夠穩(wěn)定地進行噪聲消除，提高檢測精度。進而，能夠選擇與用于檢測電容的電極接近的電極作為參考電極，因此當(dāng)存在噪聲分布時，能夠更準(zhǔn)確地測量噪聲，能夠提高檢測精度。另外，由于不需要在坐標(biāo)輸入部101設(shè)置特別的電極作為參考電極，所以在與顯示板 106同時使用時，不需要設(shè)置限制輸入的區(qū)域，設(shè)計變得容易。以上，根據(jù)上述發(fā)明的實施方式來具體說明了本發(fā)明人完成的發(fā)明，但本發(fā)明并不限于上述發(fā)明實施方式，而是在不超出其要旨的范圍內(nèi)可進行各種變更。
權(quán)利要求
1.一種坐標(biāo)輸入裝置，包括坐標(biāo)輸入部，具有多條第一檢測電極和與上述第一檢測電極交叉的多條第二檢測電極；電極驅(qū)動電路，向上述第一檢測電極和/或上述第二檢測電極之中的1條以上的檢測電極施加驅(qū)動信號；電容檢測電路，與上述驅(qū)動信號同步，檢測上述第一檢測電極和/或上述第二檢測電極的電容；以及輸入坐標(biāo)運算電路，根據(jù)上述電容檢測電路的電容檢測結(jié)果來計算輸入坐標(biāo)， 上述坐標(biāo)輸入裝置的特征在于，還包括在與被施加上述驅(qū)動信號的檢測電極并列設(shè)置的檢測電極之中，從不被施加上述驅(qū)動信號的檢測電極中選擇1條以上的檢測電極來作為參考電極的單元； 對已選擇作為上述參考電極的電容進行檢測的單元；以及根據(jù)上述參考電極的檢測電容來修正上述電容檢測電路的電容檢測結(jié)果的單元， 上述輸入坐標(biāo)運算電路根據(jù)上述修正后的電容檢測結(jié)果來計算輸入坐標(biāo)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的坐標(biāo)輸入裝置，其特征在于，上述參考電極是在被施加上述驅(qū)動信號的檢測電極的附近并列設(shè)置的檢測電極。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的坐標(biāo)輸入裝置，其特征在于，上述電極驅(qū)動電路包括從上述多條第一檢測電極中選擇1條以上的第一檢測電極來施加驅(qū)動信號的單元，上述電容檢測電路包括與上述驅(qū)動信號同步來測量上述多條第二檢測電極的電流或者電壓并根據(jù)該測量值檢測電容的單元。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的坐標(biāo)輸入裝置，其特征在于，修正上述電容檢測結(jié)果的單元包括對來自上述參考電極的電容檢測結(jié)果進行加上或減去預(yù)定值的運算，并計算預(yù)定范圍所包含的修正值的單元，上述輸入坐標(biāo)運算電路根據(jù)上述第二檢測電極的電容檢測結(jié)果減去或加上上述修正值，進行上述第二檢測電極的電容檢測結(jié)果的修正。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的坐標(biāo)輸入裝置，其特征在于， 上述電容檢測電路包括第一電容檢測電路，從上述多條第一檢測電極中選擇1條以上的第一檢測電極，并檢測該選擇出的第一檢測電極的電容；和第二電容檢測電路，從上述多條第二檢測電極中選擇1條以上的第二檢測電極，并檢測該選擇出的第二檢測電極的電容。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的坐標(biāo)輸入裝置，其特征在于， 修正上述電容檢測結(jié)果的單元包括對上述第一參考電極的電容檢測結(jié)果進行加上或減去第一預(yù)定值的運算，并計算預(yù)定范圍所包含的第一修正值的單元；和對上述第二參考電極的電容檢測結(jié)果進行加上或減去第二預(yù)定值的運算，并計算預(yù)定范圍所包含的第二修正值的單元，上述輸入坐標(biāo)運算電路根據(jù)上述第一檢測電極的電容檢測結(jié)果減去或加上上述第一修正值，進行上述第一檢測電極的電容檢測結(jié)果的修正，并且根據(jù)上述第二檢測電極的電容檢測結(jié)果減去或加上上述第二修正值，進行上述第二檢測電極的電容檢測結(jié)果的修正。
7.一種顯示裝置，包括根據(jù)來自外部系統(tǒng)的視頻信號進行圖像顯示的顯示板；和坐標(biāo)輸入裝置， 上述坐標(biāo)輸入裝置包括坐標(biāo)輸入部，形成多條第一檢測電極和與上述第一檢測電極交叉的多條第二檢測電極，且被配置在上述顯示板的顯示面一側(cè)；電極驅(qū)動電路，向上述第一檢測電極和/或上述第二檢測電極之中的1條以上的檢測電極施加驅(qū)動信號；電容檢測電路，與上述驅(qū)動信號同步，檢測上述第一檢測電極和/或上述第二檢測電極的電容；以及輸入坐標(biāo)運算電路，根據(jù)上述電容檢測電路的電容檢測結(jié)果來計算輸入坐標(biāo)， 上述顯示裝置的特征在于，還包括在與被施加上述驅(qū)動信號的檢測電極并列設(shè)置的檢測電極之中，從不被施加上述驅(qū)動信號的檢測電極中選擇1條以上的檢測電極來作為參考電極的單元； 對已選擇作為上述參考電極的電容進行檢測的單元；以及根據(jù)上述參考電極的檢測電容來修正上述電容檢測電路的電容檢測結(jié)果的單元， 上述輸入坐標(biāo)運算電路根據(jù)上述修正后的電容檢測結(jié)果來計算輸入坐標(biāo)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示裝置，其特征在于，上述參考電極是在被施加上述驅(qū)動信號的檢測電極的附近并列設(shè)置的檢測電極。
9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的顯示裝置，其特征在于，上述電極驅(qū)動電路包括從上述多條第一檢測電極中選擇1條以上的第一檢測電極來施加驅(qū)動信號的單元，上述電容檢測電路包括與上述驅(qū)動信號同步來測量上述多條第二檢測電極的電流或電壓并根據(jù)該測量值檢測電容的單元。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的顯示裝置，其特征在于，修正上述電容檢測結(jié)果的單元包括對來自上述參考電極的電容檢測結(jié)果進行加上或減去預(yù)定值的運算，并計算預(yù)定范圍所包含的修正值的單元，上述輸入坐標(biāo)運算電路根據(jù)上述第二檢測電極的電容檢測結(jié)果減去或加上上述修正值，進行上述第二檢測電極的電容檢測結(jié)果的修正。
11.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的顯示裝置，其特征在于， 上述電容檢測電路包括第一電容檢測電路，從上述多條第一檢測電極中選擇1條以上的第一檢測電極，并檢測該選擇出的第一檢測電極的電容；和第二電容檢測電路，從上述多條第二檢測電極中選擇1條以上的第二檢測電極，并檢測該選擇出的第二檢測電極的電容。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的顯示裝置，其特征在于， 修正上述電容檢測結(jié)果的單元包括對上述第一參考電極的電容檢測結(jié)果進行加上或減去第一預(yù)定值的運算，并計算預(yù)定范圍所包含的第一修正值的單元；和對上述第二參考電極的電容檢測結(jié)果進行加上或減去第二預(yù)定值的運算，并計算預(yù)定范圍所包含的第二修正值的單元，上述輸入坐標(biāo)運算電路根據(jù)上述第一檢測電極的電容檢測結(jié)果減去或加上上述第一修正值，進行上述第一檢測電極的電容檢測結(jié)果的修正，并且根據(jù)上述第二檢測電極的電容檢測結(jié)果減去或加上上述第二修正值，進行上述第二檢測電極的電容檢測結(jié)果的修正。
全文摘要
本發(fā)明提供一種坐標(biāo)輸入裝置和具有該坐標(biāo)輸入裝置的顯示裝置。坐標(biāo)輸入裝置包括具有多條第一檢測電極和多條第二檢測電極的坐標(biāo)輸入部；向1條以上的檢測電極施加驅(qū)動信號的電極驅(qū)動電路；檢測第一檢測電極和/或第二檢測電極的電容的電容檢測電路；以及根據(jù)電容檢測電路的電容檢測結(jié)果計算輸入坐標(biāo)的輸入坐標(biāo)運算電路，還包括在與被施加驅(qū)動信號的檢測電極并列設(shè)置的檢測電極之中從不被施加驅(qū)動信號的檢測電極中選擇1條以上的檢測電極作為參考電極的單元；對已選擇作為參考電極的電容進行檢測的單元；以及根據(jù)參考電極的檢測電容修正電容檢測電路的電容檢測結(jié)果的單元，輸入坐標(biāo)運算電路根據(jù)修正后的電容檢測結(jié)果計算輸入坐標(biāo)。由此，能減輕從顯示板混入的隨機噪聲，提高電容檢測的精度。
文檔編號G06F3/044GK102193698SQ201110023499
公開日2011年9月21日 申請日期2011年1月17日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月2日
發(fā)明者萬場則夫, 早川浩二, 永田浩司 申請人:株式會社日立顯示器