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      Qsfp接口測試方法及系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號:6433448閱讀:896來源:國知局
      專利名稱:Qsfp接口測試方法及系統(tǒng)的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種接口測試方法及系統(tǒng),特別涉及一種QSFP (Quad SmalIForm-factor Pluggable,四通道小型可插拔)接口測試方法及系統(tǒng)。
      背景技術(shù)
      QSFP接口作為存儲設(shè)備的核心接口之一,也是工廠制造中的重點測試對象之一。在傳統(tǒng)的測試方法中,一般將主板上的QSFP接口與JBOD (Just a Bunch Of Disks,磁盤簇)設(shè)備相連,從而形成一條CPU—MCH (memory controller hub,內(nèi)存控制中心)一PC1-E(Peripheral Component Interconnect-Expansion,高速外設(shè)組件互連)設(shè)備一SASCSerialAttached SCSI,串行連接小型計算機系統(tǒng)接口)控制芯片一QSFP接口一JBOD設(shè)備的測試鏈路(如圖1所示)。CPU通過該測試鏈路對JBOD設(shè)備中的硬盤進行讀寫,當從該硬盤中讀出的數(shù)據(jù)與寫入的數(shù)據(jù)一致時,則可以判斷該測試鏈路的連通性良好,間接反映該QSFP接口正常。然而此種測試方法有許多缺陷(I) JBOD設(shè)備中包括多個硬盤(通常為12個),需要較長的硬盤驅(qū)動加載時間,導致整個測試流程的時間增加,但若減少硬盤數(shù),又無法保證功能測試的完整性;(2) JBOD設(shè)備較占空間,而且十分笨重,工廠測試環(huán)境布局與人力有限,使測試不便;(3) JBOD設(shè)備價格昂貴,成本太高。

      發(fā)明內(nèi)容
      鑒于以上內(nèi)容,有必要提供一種QSFP接口測試方法,可以用QSFP環(huán)回適配器替代昂貴的JBOD設(shè)備來測試QSFP接口,從而節(jié)約成本和提高測試效率。還有必要提供一種QSFP接口測試系統(tǒng),可以用QSFP環(huán)回適配器替代昂貴的JBOD設(shè)備來測試QSFP接口,從而節(jié)約成本和提高測試效率。一種四通道小型可插拔QSFP接口測試方法,應用于主機中,該QSFP接口與外接的QSFP環(huán)回適配器和該主機主板上的CPU形成一個測試鏈路CPU —內(nèi)存控制中心MCH—PC1-E設(shè)備一SAS控制芯片一QSFP接口一QSFP環(huán)回適配器,該方法包括以下步驟配置步驟通過該CPU控制該MCH對該SAS控制芯片中的相關(guān)寄存器進行配置,使SAS控制芯片經(jīng)該配置后與PC1-E設(shè)備之間進行高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作;判斷步驟一根據(jù)PC1-E設(shè)備的相關(guān)狀態(tài)寄存器和PC1-E設(shè)備的數(shù)據(jù)表的規(guī)定判斷PC1-E設(shè)備和SAS控制芯片之間的高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作是否執(zhí)行成功;控制步驟當PC1-E設(shè)備和SAS控制芯片之間的高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作執(zhí)行成功時,控制SAS控制芯片發(fā)送一個測試值至QSFP接口,該測試值經(jīng)QSFP接口被傳送到所述QSFP環(huán)回適配器;判斷步驟二 獲取QSFP環(huán)回適配器發(fā)送的回送值,當該回送值與該測試值一致時,判斷QSFP接口正常。一種四通道小型可插拔QSFP接口測試系統(tǒng),運行于主機中,該QSFP接口與外接的QSFP環(huán)回適配器和該主機主板上的CPU形成一個測試鏈路CPU —內(nèi)存控制中心MCH—PC1-E設(shè)備一SAS控制芯片一QSFP接口一QSFP環(huán)回適配器,該系統(tǒng)包括配置模塊,用于通過該CPU控制該MCH對該SAS控制芯片中的相關(guān)寄存器進行配置,使SAS控制芯片經(jīng)該配置后與PC1-E設(shè)備之間進行高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作;判斷模塊,用于根據(jù)PC1-E設(shè)備的相關(guān)狀態(tài)寄存器和PC1-E設(shè)備的數(shù)據(jù)表的規(guī)定判斷PC1-E設(shè)備和SAS控制芯片之間的高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作是否執(zhí)行成功;控制模塊,用于當PC1-E設(shè)備和SAS控制芯片之間的高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作執(zhí)行成功時,控制SAS控制芯片發(fā)送一個測試值至QSFP接口,該測試值經(jīng)QSFP接口被傳送到所述QSFP環(huán)回適配器;所述判斷模塊,還用于獲取QSFP環(huán)回適配器發(fā)送的回送值,以及當該回送值與該測試值一致時,判斷QSFP接口正常。相較于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明QSFP接口測試方法及系統(tǒng),可以用QSFP環(huán)回適配器替代昂貴的JBOD設(shè)備來測試QSFP接口,從而節(jié)約成本和提高測試效率。


      圖1是傳統(tǒng)方法中利用JBOD設(shè)備測試QSFP接口的示例圖。 圖2是本發(fā)明QSFP接口測試系統(tǒng)較佳實施例的運行環(huán)境圖。圖3是本發(fā)明QSFP接口測試系統(tǒng)較佳實施例的功能模塊圖。圖4是本發(fā)明QSFP接口測試方法較佳實施例的流程圖。主要元件符號說明 _
      權(quán)利要求
      1.一種四通道小型可插拔QSFP接口測試方法,應用于主機中,其特征在于,該QSFP接口與外接的QSFP環(huán)回適配器和該主機主板上的CPU形成一個測試鏈路CPU—內(nèi)存控制中心MCH — PC1-E設(shè)備一SAS控制芯片一QSFP接口一QSFP環(huán)回適配器,該方法包括以下步驟 配置步驟通過該CPU控制該MCH對該SAS控制芯片中的相關(guān)寄存器進行配置,使SAS控制芯片經(jīng)該配置后與PC1-E設(shè)備之間進行高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作; 判斷步驟一根據(jù)PC1-E設(shè)備的相關(guān)狀態(tài)寄存器和PC1-E設(shè)備的數(shù)據(jù)表的規(guī)定判斷PC1-E設(shè)備和SAS控制芯片之間的高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作是否執(zhí)行成功; 控制步驟當PC1-E設(shè)備和SAS控制芯片之間的高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作執(zhí)行成功時,控制SAS控制芯片發(fā)送一個測試值至QSFP接口,該測試值經(jīng)QSFP接口被傳送到所述QSFP環(huán)回適配器; 判斷步驟二 獲取QSFP環(huán)回適配器發(fā)送的回送值,當該回送值與該測試值一致時,判斷QSFP接口正常。
      2.如權(quán)利要求1所述的QSFP接口測試方法,其特征在于,所述配置步驟根據(jù)SAS控制芯片的數(shù)據(jù)表對SAS控制芯片的相關(guān)寄存器進行配置。
      3.如權(quán)利要求1所述的QSFP接口測試方法,其特征在于,在PC1-E設(shè)備與SAS控制芯片之間進行高速反復傳輸?shù)臄?shù)據(jù)由PC1-E設(shè)備的底層驅(qū)動決定。
      4.如權(quán)利要求1所述的QSFP接口測試方法,其特征在于,在所述判斷步驟一中,若該相關(guān)狀態(tài)寄存器的值符合PC1-E設(shè)備的數(shù)據(jù)表中對PC1-E設(shè)備和SAS控制芯片之間的高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作執(zhí)行成功的規(guī)定,則判斷PC1-E設(shè)備和SAS控制芯片之間的高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作執(zhí)行成功。
      5.如權(quán)利要求1所述的QSFP接口測試方法,其特征在于,所述測試值由SAS控制芯片的底層驅(qū)動生成。
      6.一種四通道小型可插拔QSFP接口測試系統(tǒng),運行于主機中,其特征在于,該QSFP接口與外接的QSFP環(huán)回適配器和該主機主板上的CPU形成一個測試鏈路CPU—內(nèi)存控制中心MCH — PC1-E設(shè)備一SAS控制芯片一QSFP接口一QSFP環(huán)回適配器,該系統(tǒng)包括 配置模塊,用于通過該CPU控制該MCH對該SAS控制芯片中的相關(guān)寄存器進行配置,使SAS控制芯片經(jīng)該配置后與PC1-E設(shè)備之間進行高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作; 判斷模塊,用于根據(jù)PC1-E設(shè)備的相關(guān)狀態(tài)寄存器和PC1-E設(shè)備的數(shù)據(jù)表的規(guī)定判斷PC1-E設(shè)備和SAS控制芯片之間的高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作是否執(zhí)行成功; 控制模塊,用于當PC1-E設(shè)備和SAS控制芯片之間的高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作執(zhí)行成功時,控制SAS控制芯片發(fā)送一個測試值至QSFP接口,該測試值經(jīng)QSFP接口被傳送到所述QSFP環(huán)回適配器; 所述判斷模塊,還用于獲取QSFP環(huán)回適配器發(fā)送的回送值,以及當該回送值與該測試值一致時,判斷QSFP接口正常。
      7.如權(quán)利要求6所述的QSFP接口測試系統(tǒng),其特征在于,所述配置模塊根據(jù)SAS控制芯片的數(shù)據(jù)表對SAS控制芯片的相關(guān)寄存器進行配置。
      8.如權(quán)利要求6所述的QSFP接口測試系統(tǒng),其特征在于,在PC1-E設(shè)備與SAS控制芯片之間進行高速反復傳輸?shù)臄?shù)據(jù)由PC1-E設(shè)備的底層驅(qū)動決定。
      9.如權(quán)利要求6所述的QSFP接口測試系統(tǒng),其特征在于,若該相關(guān)狀態(tài)寄存器的值符合PC1-E設(shè)備的數(shù)據(jù)表中對PC1-E設(shè)備和SAS控制芯片之間的高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作執(zhí)行成功的規(guī)定,則所述判斷模塊判斷PC1-E設(shè)備和SAS控制芯片之間的高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作執(zhí)行成功。
      10.如權(quán)利要求6所述的QSFP接口測試系統(tǒng),其特征在于,所述測試值由SAS控制芯片的底層驅(qū)動生成。
      全文摘要
      一種QSFP接口測試方法,包括以下步驟通過CPU控制MCH對SAS控制芯片中的相關(guān)寄存器進行配置,使SAS控制芯片與PCI-E設(shè)備之間進行高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作;根據(jù)PCI-E設(shè)備的相關(guān)狀態(tài)寄存器和PCI-E設(shè)備的數(shù)據(jù)表的規(guī)定判斷該高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作是否執(zhí)行成功;當該高速反復地數(shù)據(jù)傳輸動作執(zhí)行成功時,控制SAS控制芯片發(fā)送一個測試值至QSFP接口,該測試值經(jīng)QSFP接口被傳送到所述QSFP環(huán)回適配器;獲取QSFP環(huán)回適配器發(fā)送的回送值,當該回送值與該測試值一致時,判斷QSFP接口正常。本發(fā)明還提供一種QSFP接口測試系統(tǒng)。利用本發(fā)明可以節(jié)約成本和提高測試效率。
      文檔編號G06F11/267GK102999411SQ20111027775
      公開日2013年3月27日 申請日期2011年9月19日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月19日
      發(fā)明者童鈺, 賀顏 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司
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