1.一種芯片損壞判定方法，其特征在于，應(yīng)用于基板管理控制器，所述基板管理控制器與可編程邏輯器件相連，所述可編程邏輯器件連接至主控器的預(yù)設(shè)管腳，所述主控器與基本輸入輸出系統(tǒng)儲(chǔ)存芯片相連，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片損壞判定方法，其特征在于，通過(guò)所述可編程邏輯器件獲取所述主控器中所述預(yù)設(shè)管腳的管腳狀態(tài)，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片損壞判定方法，其特征在于，輸出告警提示，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片損壞判定方法，其特征在于，當(dāng)所述電源信號(hào)有效時(shí)，通過(guò)所述可編程邏輯器件獲取所述主控器中所述預(yù)設(shè)管腳的管腳狀態(tài)，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片損壞判定方法，其特征在于，判斷所述電源信號(hào)是否有效，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片損壞判定方法，其特征在于，所述基板管理控制器與所述可編程邏輯器件之間通過(guò)i2c總線連接，通過(guò)所述可編程邏輯器件獲取所述主控器中所述預(yù)設(shè)管腳的管腳狀態(tài)，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片損壞判定方法，其特征在于，判斷所述管腳狀態(tài)是否為預(yù)設(shè)狀態(tài)，所述預(yù)設(shè)狀態(tài)由所述基本輸入輸出系統(tǒng)儲(chǔ)存芯片在接收到所述上電信號(hào)時(shí)設(shè)定，包括：
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片損壞判定方法，其特征在于，判斷是否可讀取得到所述基本輸入輸出系統(tǒng)儲(chǔ)存芯片的芯片信息，包括：
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的芯片損壞判定方法，其特征在于，所述基本輸入輸出系統(tǒng)儲(chǔ)存芯片與所述主控器之間通過(guò)串行外圍接口總線連接，控制當(dāng)前設(shè)備進(jìn)入關(guān)機(jī)狀態(tài)，以實(shí)現(xiàn)所述基本輸入輸出系統(tǒng)儲(chǔ)存芯片與所述主控器斷連，所述基本輸入輸出系統(tǒng)儲(chǔ)存芯片與所述基板管理控制器建連，包括：
10.根據(jù)權(quán)利要求1至9任一項(xiàng)所述的芯片損壞判定方法，其特征在于，當(dāng)確定所述基本輸入輸出系統(tǒng)儲(chǔ)存芯片有損壞時(shí)，所述方法還包括：
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的芯片損壞判定方法，其特征在于，發(fā)送芯片切換命令至所述可編程邏輯器件，以使所述可編程邏輯器件將所述基本輸入輸出系統(tǒng)儲(chǔ)存芯片切換至備用基本輸入輸出系統(tǒng)儲(chǔ)存芯片之后，還包括：
12.一種芯片損壞判定裝置，其特征在于，應(yīng)用于基板管理控制器，所述基板管理控制器與可編程邏輯器件相連，所述可編程邏輯器件連接至主控器的預(yù)設(shè)管腳，所述主控器與基本輸入輸出系統(tǒng)儲(chǔ)存芯片相連，所述裝置包括：
13.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：
14.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至11任一項(xiàng)所述的芯片損壞判定方法的步驟。
15.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序/指令，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序/指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至11任一項(xiàng)所述芯片損壞判定方法的步驟。