觸控電極的電學(xué)性能檢測(cè)裝置和檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種觸控電極的電學(xué)性能檢測(cè)裝置和檢測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]近來，電容式觸摸屏以其透光率高、耐磨損、耐環(huán)境溫度變化、耐環(huán)境濕度變化、壽命長(zhǎng)、可實(shí)現(xiàn)如多點(diǎn)觸摸的高級(jí)復(fù)雜功能而受到大眾的歡迎。
[0003]目前，電容式觸摸屏分為互電容式觸摸屏和自電容式觸摸屏。其中，互電容式觸摸屏中設(shè)置有相對(duì)設(shè)置的兩個(gè)互電容電極層，當(dāng)人體未觸碰屏幕時(shí)，兩個(gè)互電容電極層中對(duì)應(yīng)的互電容電極之間產(chǎn)生固定大小的互電容，當(dāng)人體觸碰屏幕時(shí)，會(huì)改變對(duì)應(yīng)的互電容電極之間的互電容的值，觸控偵測(cè)芯片通過檢測(cè)手指觸屏前后該互電容的改變量，從而可檢測(cè)出手指觸摸點(diǎn)的位置。自電容式觸摸屏中僅設(shè)置有一個(gè)自電容電極層，當(dāng)人體未觸碰屏幕時(shí)，自電容電極層中各自電容電極所承受的電容為一固定值，當(dāng)人體觸碰屏幕時(shí)，對(duì)應(yīng)的自電容電極所承受的電容為固定值疊加人體電容，觸控偵測(cè)芯片通過檢測(cè)各自電容電極的電容值變化可以判斷出觸控位置。
[0004]為保證觸摸屏的觸控性能，則需要對(duì)觸摸屏上用于實(shí)現(xiàn)觸控功能的互電容電極層上的各互電容電極或自電容電極層上的各自電容電極的電學(xué)特性進(jìn)行檢測(cè)，以對(duì)觸摸屏的觸控性能進(jìn)彳丁評(píng)估。
[0005]其中，在對(duì)互電容式觸摸屏中的互電容電極的電學(xué)特性進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，可直接選定用于形成互電容的一對(duì)互電容電極，通過電容檢測(cè)裝置(例如萬用表)來檢測(cè)這一對(duì)互電容電極之間的電容大小，并根據(jù)檢測(cè)出的電容值來評(píng)估這兩個(gè)互電容電極的電學(xué)性能；在對(duì)自電容式觸摸屏中的自電容電極的電學(xué)特性進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，由于所有的自電容電極同層設(shè)置，所以各自電容電極無法與其他自電容電極之間構(gòu)成電容結(jié)構(gòu)，因此無法采用測(cè)量電容的方式來評(píng)估自電容電極的電學(xué)性能。所以，現(xiàn)有技術(shù)中一般是采用測(cè)量各自電容電極的電阻的方式來評(píng)估其對(duì)應(yīng)的電學(xué)性能。
[0006]然而，由于各自電容電極的電阻大小容易受到外界環(huán)境的影響而發(fā)生變化，從而導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確，因此基于各自電容電極的電阻大小來評(píng)估各自電容電極對(duì)應(yīng)的電學(xué)性能的手段并不可靠。
[0007]因此，如何更準(zhǔn)確、更有效地對(duì)自電容電極的電學(xué)性能進(jìn)行檢測(cè)是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟需解決的技術(shù)問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明提供一種觸控電極的電學(xué)性能檢測(cè)裝置和檢測(cè)方法，可有效的對(duì)自電容觸控電極的電學(xué)性能進(jìn)行準(zhǔn)確的檢測(cè)。
[0009]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種觸控電極的電學(xué)性能檢測(cè)裝置，包括:
[0010]電容形成單元，用于與所述觸控電極形成電容結(jié)構(gòu)；[0011 ] 電容檢測(cè)單元，用于獲取所述電容結(jié)構(gòu)的電容值。
[0012]可選地，所述電容形成單元包括:
[0013]導(dǎo)電電極和形成于金屬電極下方的絕緣電介質(zhì)層，所述電容檢測(cè)單元與所述導(dǎo)電電極連接。
[0014]可選地，所述絕緣電介質(zhì)層的材料為低介電常數(shù)材料。
[0015]可選地，所述導(dǎo)電電極的材料為金屬材料。
[0016]可選地，所述電容形成單元還包括:設(shè)置于所述絕緣層下方的保護(hù)層。
[0017]可選地，所述保護(hù)層的材料為柔性材料。
[0018]可選地，所述導(dǎo)電電極與所述觸控電極的形狀和尺寸均相同。
[0019]可選地，所述觸控電極上設(shè)置有金屬引線，所述電容檢測(cè)單元與所述金屬引線連接。
[0020]可選地，還包括:
[0021]驅(qū)動(dòng)單元，與所述電容形成單元連接，用于帶動(dòng)所述電容形成單元進(jìn)行運(yùn)動(dòng)。
[0022]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供了一種觸控電極的電學(xué)性能檢測(cè)方法，所述觸控電極的電學(xué)性能檢測(cè)方法基于上述的觸控電極的電學(xué)性能檢測(cè)裝置；
[0023]所述觸控電極的電學(xué)性能檢測(cè)方法包括:
[0024]將所述電容形成單元移動(dòng)至與所述觸控電極正對(duì)的位置，以使得所述電容形成單元與所述觸控電極之間形成電容結(jié)構(gòu)；
[0025]利用電容檢測(cè)單元獲取所述電容結(jié)構(gòu)的電容值。
[0026]本發(fā)明具有以下有益效果:
[0027]本發(fā)明提供了一種觸控電極的電學(xué)性能檢測(cè)裝置和檢測(cè)方法，其中該電學(xué)性能檢測(cè)裝置包括:電容形成單元和電容檢測(cè)單元，其中該電容形成單元用于與觸控電極形成電容結(jié)構(gòu)，電容檢測(cè)單元用于獲取電容結(jié)構(gòu)的電容值。本發(fā)明的技術(shù)方案通過電容形成單元來與待檢測(cè)的觸控電極之間形成電容結(jié)構(gòu)，然后利用電容檢測(cè)單元獲取電容結(jié)構(gòu)的電容值，此時(shí)檢測(cè)人員基于獲取到的電容結(jié)構(gòu)的電容值可對(duì)觸控電極的電學(xué)性能進(jìn)行有效且準(zhǔn)確的評(píng)估。
【附圖說明】
[0028]圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種觸控電極的電學(xué)性能檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0029]圖2為利用圖1所示電學(xué)性能檢測(cè)裝置對(duì)觸控電極進(jìn)行檢測(cè)時(shí)的示意圖；
[0030]圖3為本發(fā)明實(shí)施例二提供的一種觸控電極的電學(xué)性能檢測(cè)方法的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0031]為使本領(lǐng)域的技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案，下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明提供的一種觸控電極的電學(xué)性能檢測(cè)裝置和檢測(cè)方法進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0032]需要說明的是，在本申請(qǐng)中的觸控電極具體是指自電容式觸摸屏中的自電容式觸控電極。
[0033]實(shí)施例一
[0034]圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種觸控電極的電學(xué)性能檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，圖2為利用圖1所示電學(xué)性能檢測(cè)裝置對(duì)觸控電極進(jìn)行檢測(cè)時(shí)的示意圖，如圖1和圖2所示，該電學(xué)性能檢測(cè)裝置包括:電容形成單元I和電容檢測(cè)單元2，其中，電容形成單元I用于與觸控電極形4成電容結(jié)構(gòu)，電容檢測(cè)單元2具有兩探測(cè)端21、22，其一探測(cè)端21與觸控電極4電連接，另一探測(cè)端22與電容形成單元I電連接，電容檢測(cè)單元用2于獲取電容結(jié)構(gòu)的電容值。
[0035]需要說明的是，本實(shí)施例中電容檢測(cè)單元可以為一個(gè)萬用表。
[0036]在本實(shí)施例中，通過電容形成單元I來與待檢測(cè)的觸控電極4之間形成電容結(jié)構(gòu)，然后利用電容檢測(cè)單元2獲取電容結(jié)構(gòu)的電容值，此時(shí)，檢測(cè)人員基于獲取到的電容結(jié)構(gòu)的電容值來對(duì)的待檢測(cè)的觸控電極4的電學(xué)性能進(jìn)行評(píng)估(電容形成單元I中各部件的電學(xué)性能可以預(yù)先獲取)。
[0037]可選地，電容形成單元I包括:導(dǎo)電電極11和形成于金屬電極下方的絕緣電介質(zhì)層12，電容檢測(cè)單元2的一端與導(dǎo)電電極11電連接。在對(duì)待檢測(cè)的觸控電極4的電學(xué)性能進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，僅需將絕緣電介質(zhì)層12與待檢測(cè)的觸控電極4接觸，此時(shí)導(dǎo)電電極11與待檢測(cè)的觸控電極4形成之間可形成電容。
[0038]在利用電容形成單元I與觸控電極4形成電容結(jié)構(gòu)的過程中發(fā)現(xiàn)，由于待檢測(cè)的觸控電極4往往是由ITO等軟質(zhì)導(dǎo)電材料構(gòu)成，當(dāng)絕緣電介質(zhì)層12與觸控電極4接觸時(shí)，會(huì)劃傷觸控電極4的表面，從而導(dǎo)致觸控電極4的不良。為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)施例中在絕緣電介質(zhì)層12的下方設(shè)置保護(hù)層13，該保護(hù)層13用于防止絕緣電介質(zhì)層12對(duì)觸控電極4的表面造成損傷?？蛇x地，保護(hù)層13的材料為柔性材料。
[0039]需要說明的是，當(dāng)電容形成單元I中包括保護(hù)層13時(shí)，則在對(duì)觸控電極4的電學(xué)性能進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，僅需將該保護(hù)層13與待檢測(cè)的觸控電極4接觸即可。
[0040]本實(shí)施例中，為了實(shí)現(xiàn)對(duì)整個(gè)觸控電極4的電學(xué)性能進(jìn)行檢測(cè)，可將導(dǎo)電電極11的形狀和尺寸設(shè)置的與觸控電極4完全相同，此時(shí)導(dǎo)電電極11可以與觸控電極4完全正對(duì)。當(dāng)然，上述絕緣電介質(zhì)層12、保護(hù)層