專利名稱：不兼容的記錄器無法使用的光盤的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通過照射激光束來記錄信息的光盤，用激光束照射光盤并且記錄信息的光盤記錄裝置，以及該記錄裝置的控制方法和控制程序。
此外，對于諸如CD-R驅(qū)動器之類向光盤中記錄信息的光盤驅(qū)動裝置，有許多關(guān)于增加記錄速度的要求。但是，使用根據(jù)當前標準的光盤是阻礙速度增加的因素，并且有時需要改變光盤的標準，以便實現(xiàn)記錄速度的增加。
但是，當諸如CD-R之類光盤裝置的標準如上所述改變，以及根據(jù)老標準設(shè)計的CD-R驅(qū)動器將信息記錄在根據(jù)新標準制造的CD-R中時，因為標準的變化引起信息寫入策略變化的緣故，所以不能夠以很大的可能性來執(zhí)行信息的適當記錄。因此，當用激光束照射遵循新標準的CD-R，以及遵循老標準的CD-R驅(qū)動器執(zhí)行記錄時，驅(qū)動器的用戶有可能成功執(zhí)行記錄，但是，實際上，由于老標準和新標準之間的差異，有可能不能執(zhí)行適當記錄。即使已經(jīng)執(zhí)行的記錄沒有任何麻煩問題，這種CD-R可能會引起麻煩和不能再現(xiàn)記錄的信息。
為解決此問題，根據(jù)本發(fā)明，提供一種圓形光盤，其沿著圓形圓周方向的預(yù)凹槽形成。本發(fā)明的光盤與設(shè)計的一種記錄裝置兼容，所述的一種記錄裝置能夠?qū)⒓す馐丈湎蚬獗P以便沿著預(yù)凹槽形成用于實際記錄數(shù)據(jù)的凹坑。本發(fā)明的光盤與設(shè)計的另一種類型記錄裝置不兼容，所述另一種記錄裝置能夠在實際記錄之前對常規(guī)光盤的測試區(qū)域重復(fù)實施多達預(yù)定次數(shù)的測試記錄，以及能夠連續(xù)將所述測試記錄的次數(shù)記錄在常規(guī)光盤的計數(shù)區(qū)域，以致于在計數(shù)區(qū)域的預(yù)定部分記錄最終的次數(shù)。本發(fā)明的光盤具有與常規(guī)光盤的測試區(qū)域相對應(yīng)的測試區(qū)域，和與常規(guī)光盤的預(yù)凹坑區(qū)域相對應(yīng)的預(yù)凹坑區(qū)域，至少在與常規(guī)光盤的計數(shù)區(qū)域相對應(yīng)的部分暫時用預(yù)凹坑來形成預(yù)凹坑區(qū)域，以致于防止所述另一種類型的光盤記錄裝置實施測試記錄。
根據(jù)本發(fā)明的結(jié)構(gòu)，當本發(fā)明的光盤設(shè)置在常規(guī)記錄裝置中，用于針對新標準規(guī)定的光盤執(zhí)行測試記錄時，所述與最大測試次數(shù)相對應(yīng)的計數(shù)區(qū)域的預(yù)定部分充滿作為偽計數(shù)信息的預(yù)凹坑，并且記錄裝置根據(jù)偽信息判斷出再也不能夠執(zhí)行測試記錄。因此，防止了遵循老標準的常規(guī)記錄裝置執(zhí)行不適當?shù)挠涗洝?br> 而且，根據(jù)本發(fā)明，提供一種裝置，其能將光束照射在根據(jù)第一標準或者與第一標準不同的第二標準制造的光盤來執(zhí)行實際信息記錄，能夠在實際記錄之前執(zhí)行測試記錄，以致于確定可能在第一標準和第二標準之間變化的光束最優(yōu)功率。本發(fā)明的裝置包括檢測部分，用于檢測光盤是根據(jù)第一標準制造的還是根據(jù)第二標準制造的；第一控制部分，用于按照第一標準執(zhí)行測試記錄以在第一標準下確定光束的最優(yōu)數(shù)值；第二控制部分，用于按照第二標準執(zhí)行測試記錄以在第二標準下確定光束最優(yōu)數(shù)值；選擇部分，用于在從光盤中檢測到第一標準時選擇激活第一控制部分，否則在從光盤中檢測到第二標準時選擇激活第二控制部分。
而且，根據(jù)本發(fā)明，提供一種所述裝置的操作方法，所述裝置能將光束照射在根據(jù)第一標準或者與第一標準不同的第二標準制造的光盤來執(zhí)行實際信息記錄，能夠在實際記錄之前執(zhí)行測試記錄，以致于確定可能在第一標準和第二標準之間變化的光束最優(yōu)功率。本發(fā)明的方法執(zhí)行以下的步驟檢測光盤是按照第一標準制造的還是按照第二標準制造的；當從光盤中檢測到第一標準時，按照第一標準執(zhí)行測試記錄以在第一標準下確定光束最優(yōu)數(shù)值；當從光盤中檢測到第二標準時，按照第二標準執(zhí)行測試記錄以在第二標準下確定光束最優(yōu)數(shù)值。
另外，根據(jù)本發(fā)明，提供一種在設(shè)計的光記錄裝置中使用的計算機程序，所述的記錄裝置能將光束照射在根據(jù)第一標準或者與第一標準不同的第二標準制造的光盤來執(zhí)行實際信息記錄，能夠在實際記錄之前執(zhí)行測試記錄，以致于確定可能在第一標準和第二標準之間變化的光束最優(yōu)功率。本發(fā)明的計算機程序是安裝在光記錄裝置上的處理器執(zhí)行的，用來執(zhí)行包括以下的控制步驟檢測光盤是按照第一標準制造的還是按照第二標準制造的；當從光盤中檢測到第一標準時，按照第一標準執(zhí)行測試記錄以在第一標準下確定光束最優(yōu)數(shù)值；當從光盤中檢測到第二標準時，按照第二標準執(zhí)行測試記錄以在第二標準下確定光束最優(yōu)數(shù)值。
根據(jù)上述本發(fā)明的裝置、方法和計算機程序，可以判斷出設(shè)置在光盤記錄裝置中的光盤是遵循第一標準還是第二標準，并且按照所述的判斷結(jié)果執(zhí)行適當?shù)臏y試記錄。因此，可以防止按照與所述光盤的標準不同的標準來執(zhí)行不適當?shù)挠涗?，和防止針對該光盤執(zhí)行不適當?shù)挠涗洝?br> 圖2是顯示根據(jù)第一標準的CD-R中PCA區(qū)域構(gòu)成的示意圖。
圖3是顯示根據(jù)本發(fā)明第一實施例的CD-R中PCA區(qū)域構(gòu)成的示意圖。
圖4是顯示要由CD-R驅(qū)動器執(zhí)行的處理，用于對根據(jù)第一實施例的CD-R執(zhí)行適當?shù)挠涗洝?br> 圖5是在CD-R驅(qū)動器中設(shè)置不同標準的情況下用來執(zhí)行適當記錄方法的例圖。
圖6是顯示根據(jù)第一實施例的CD-R修改例中PCA區(qū)域構(gòu)成的示意圖。
圖7是顯示根據(jù)第一實施例的CD-R的另一個修改例中PCA區(qū)域構(gòu)成的示意圖。
圖8是顯示據(jù)第一實施例的CD-R的另一個修改例中PCA區(qū)域構(gòu)成的示意圖。
圖9是在本發(fā)明應(yīng)用于CD-RW的情況下CD-RW的PCA區(qū)域構(gòu)成的示意圖。


圖10是顯示根據(jù)本發(fā)明第二實施例的光盤記錄裝置之構(gòu)成的方框圖。
圖11是顯示在記錄期間根據(jù)第二實施例的光盤記錄裝置的控制器執(zhí)行步驟的流程圖。
如圖所述，對于CD-R，設(shè)置作為導入?yún)^(qū)域114的具有46到50mm直徑的部分，并且在所述導入?yún)^(qū)域的外周側(cè)設(shè)置用來記錄數(shù)據(jù)的程序區(qū)域118和剩余區(qū)域120。另一方面，在所述導入?yún)^(qū)域114的內(nèi)周側(cè)設(shè)置程序存儲器區(qū)域(PMA)115，并且在更內(nèi)的內(nèi)周側(cè)設(shè)置功率刻度區(qū)域(PCA)112。
測試區(qū)域112a，計數(shù)區(qū)域112b，空閑區(qū)域112c，112d設(shè)置在PCA112中。在測試區(qū)域112a中，測試記錄先于實際記錄執(zhí)行。在這里，將最多執(zhí)行100次測試記錄的區(qū)域設(shè)置為測試區(qū)域112a，并且在計數(shù)區(qū)域112b中設(shè)置用來記錄多達100片8-14調(diào)制(EFM)信號的區(qū)域，所述調(diào)制信號用來指示已經(jīng)執(zhí)行測試記錄的測試區(qū)域112a的范圍。
這里，圖2是顯示PCA112更詳細區(qū)域結(jié)構(gòu)的圖。如圖所示，在所述CD-R的最內(nèi)周側(cè)將1500幀的區(qū)域設(shè)置為測試區(qū)域112a，并且CD-R驅(qū)動器執(zhí)行一次測試記錄就在15幀中記錄數(shù)據(jù)。這里，在將測試區(qū)域112a按15幀分成的部分中，在最外圍側(cè)的區(qū)域A1中執(zhí)行第一次測試記錄，在與區(qū)域A1內(nèi)周側(cè)相鄰的區(qū)域A2中執(zhí)行第二次測試記錄，在位于更內(nèi)的內(nèi)周側(cè)的區(qū)域A3中執(zhí)行第三次測試記錄。在此之后，對內(nèi)周側(cè)的各15幀區(qū)域進行相似的測試記錄，并且在位于PCA112最內(nèi)周側(cè)15幀的A100區(qū)域中執(zhí)行最后第100次測試記錄。
在PCA112的測試區(qū)域112a的外圍側(cè)設(shè)置30幀的空閑區(qū)域112c。將100幀的計數(shù)區(qū)域112b設(shè)置在空閑區(qū)域112c的更外圍側(cè)。當CD-R驅(qū)動器結(jié)束第一次測試記錄時，EFM信號寫入計數(shù)區(qū)域112b最外圍側(cè)的幀B1。在第二次測試記錄結(jié)束之后，EFM信號寫入與幀B1內(nèi)周側(cè)相鄰的幀B2。在第三次測試之后，EFM信號寫入位于更內(nèi)的內(nèi)周側(cè)的幀B3。在此之后，每執(zhí)行一次測試記錄，就將EFM信號寫入位于內(nèi)周側(cè)的各幀。在最后第100次測試記錄結(jié)束之后，將EFM信號寫入最內(nèi)的內(nèi)周側(cè)的幀B100，以便于指示該測試區(qū)域已經(jīng)用完。
在計數(shù)區(qū)域112b更外的外圍側(cè)設(shè)置30幀的空閑區(qū)域112d，并且將PMA115設(shè)置在空閑區(qū)域112d更外的外圍側(cè)。在CD-R驅(qū)動器結(jié)束記錄信息之后，PMA115作為在記錄了數(shù)據(jù)的軌跡上記錄信息的工作區(qū)域來使用。PMA115是1000幀的區(qū)域，而在外圍側(cè)設(shè)置導入?yún)^(qū)域114。這就是說，在100次測試記錄結(jié)束之后要寫入EFM信號的計數(shù)區(qū)域112b的幀位于從導入?yún)^(qū)114的起始位置算起跨過1130幀的內(nèi)周側(cè)位置。開始最后第100次測試記錄的測試區(qū)域112a的位置位于從導入?yún)^(qū)114的起始位置算起跨過2660幀的內(nèi)周側(cè)。
在先于實際記錄的OPC處理中，CD-R驅(qū)動器利用帶有設(shè)置了上述區(qū)域的CD-R中的PCA112來執(zhí)行測試記錄，并且測量再現(xiàn)信號的不對稱性，以便獲得激光功率的最優(yōu)數(shù)值。在OPC處理中，CD-R驅(qū)動器控制光學拾取器發(fā)出的激光束的照射位置(以下稱為照射位置)，并且在開始時把最內(nèi)的內(nèi)周側(cè)計數(shù)區(qū)域112b的位置當作目標位置來搜索。在CD-R驅(qū)動器中，為了將照射位置移動至目標位置(這里指最內(nèi)的內(nèi)周側(cè)計數(shù)區(qū)域112b的位置)，執(zhí)行以下控制將照射位置從目標位置略微靠內(nèi)周側(cè)的位置移動；將照射位置向外圍側(cè)移動的同時讀取CD-R中記錄的信息；使用該信息檢測目標位置。這里，CD-R驅(qū)動器搜索目標位置使用的信息是與預(yù)槽(ATIP)信息有關(guān)的絕對時間信息(＝絕對位置信息)，根據(jù)CD-R中形成的預(yù)槽所反射出的光中提取的擺動信號，就可以獲得所述的預(yù)槽信息。對于ATIP信息之絕對時間信息，導入?yún)^(qū)域114的起始位置設(shè)置為0，而該位置內(nèi)周側(cè)1130幀處的位置就是計數(shù)區(qū)域112b的最內(nèi)的內(nèi)周側(cè)位置。因此，CD-R驅(qū)動器將獲得用來指示1130幀跨距的絕對時間信息的位置判定為計數(shù)區(qū)域112b最內(nèi)的內(nèi)周側(cè)位置，并執(zhí)行位置控制。而且，還用ATIP信息調(diào)節(jié)光學拾取器的位置，例如，下述各區(qū)域的起始位置。另外，從由目標位置算起略微靠內(nèi)周側(cè)的位置開始搜索，以致于能更加精確地檢測目標位置。更詳細地講，設(shè)置一個在找到目標位置之前與ATIP信息同步的上升部分。此外，ATIP是橙皮書中定義的已有技術(shù)，故省略其詳細說明。
如上所述，要將照射位置移動至一定的目標位置(此處為計數(shù)區(qū)域112b的內(nèi)周側(cè)位置)，CD-R驅(qū)動器執(zhí)行控制，以便從由目標位置算起略微移向內(nèi)周側(cè)的位置開始搜索，然后將照射位置向外圍側(cè)移動并且檢測目標位置。因此，當搜索在哪個地方計數(shù)區(qū)域112b的內(nèi)周側(cè)位置是目標位置時，從計數(shù)區(qū)域112b的最內(nèi)內(nèi)周側(cè)幀開始向外圍側(cè)搜索，這就是說，從由幀B100算起略微移向內(nèi)周側(cè)(例如，20到30幀)的位置開始搜索，所述幀B100在第100次記錄結(jié)束之后寫入EFM信號。
在CD-R驅(qū)動器如上所述從由幀B100算起略微移向內(nèi)周側(cè)的位置開始搜索之后，可以檢測到是否EFM信號寫入了幀B100。當信號寫入時，CD-R已經(jīng)在其中進行了100次測試記錄，并且不再執(zhí)行任何的測試記錄。因此，CD-R驅(qū)動器執(zhí)行差錯處理，并且通知用戶CD-R不能使用了。另一方面，當幀B100中沒有寫入EFM信號時，可以判斷出是否EFM信號要寫入幀B100外圍側(cè)的相鄰幀中。當EFM信號沒有寫入相鄰的幀，則針對更外圍側(cè)的幀來作出判斷。對于計數(shù)區(qū)域112b，照射位置按照這種方式連續(xù)地移動至外圍側(cè)幀，直至檢測到寫入了EFM信號的幀。因此可以檢測是否EFM信號寫入了各幀。
當檢測到EFM信號寫入了除幀B100之外的幀時，然后該幀指示出對CD-R所執(zhí)行的測試記錄的次數(shù)，因此，當認為鄰近計數(shù)區(qū)域112b中檢測的幀數(shù)目對應(yīng)測試記錄次數(shù)的要進行測試記錄的區(qū)域位置是目標位置時，CD-R驅(qū)動器開始搜索。同樣，在該搜索過程中，與所述相同，照射位置移動至由目標位置算起略微移向內(nèi)周側(cè)的位置。例如，當在計數(shù)區(qū)域112b中執(zhí)行第30次測試記錄之后檢測到EFM信號寫入了第30幀時，然后CD-R驅(qū)動器將照射位置移動至從測試區(qū)域112a中執(zhí)行第31次測試記錄的區(qū)域位置略微向內(nèi)的位置。
CD-R驅(qū)動器從內(nèi)周側(cè)位置略微向外圍側(cè)執(zhí)行搜索，從而檢測要進行當前測試的區(qū)域，然后對該區(qū)域執(zhí)行測試記錄。在這里執(zhí)行的測試記錄中，記錄激光束的功率值按照15個級別變化，每一個激光束值記錄一個子代碼幀的EFM信號，并且記錄總共15個幀的EFM信號。在以這種方式結(jié)束測試記錄，從測試記錄的區(qū)域得到再現(xiàn)的信號并且確定出最優(yōu)激光束功率值之后，CD-R驅(qū)動器移動光學拾取器，將EFM信號寫入計數(shù)區(qū)域112b中與從其中檢測的EFM信號的幀內(nèi)周側(cè)相鄰的幀中，然后結(jié)束OPC。例如，當執(zhí)行第31次測試記錄時，EFM信號寫入從計數(shù)區(qū)域112b算起第31個幀中。
此外，當EFM信號沒有寫入上述計數(shù)區(qū)域112b的幀B1中時，也就是說，EFM信號沒有寫入計數(shù)區(qū)域112b的任何一幀時，決不在CD-R中執(zhí)行測試記錄，因此，針對測試區(qū)域112a中要進行第一次測試記錄的第一區(qū)域A1執(zhí)行測試記錄。
上面是CD-R驅(qū)動器針對與CD-R中PCA112有關(guān)的各區(qū)域執(zhí)行OPC的詳細過程，所述CD-R遵循在提交本申請時的橙皮書(第一標準)。A-2.根據(jù)第一實施例的CD-R接著說明根據(jù)本實施例的CD-R。本實施例的CD-R是按照與上述標準不同的標準(為了便利，以下稱為第二標準)制造的CD-R。當使用遵循第二標準的新CD-R，在常規(guī)CD-R驅(qū)動器中設(shè)置新的CD-R以便針對帶有上述設(shè)置區(qū)域的老CD-R執(zhí)行適當?shù)腛PC處理，以及根據(jù)第一實施例來執(zhí)行記錄處理時，對用戶來說，看起來是完成了記錄。但在實際上，并未執(zhí)行適當?shù)挠涗?，并且有時會發(fā)生記錄的CD-R不能被再現(xiàn)的問題。本發(fā)明直接用來解決該問題。也就是說，當將根據(jù)本發(fā)明實施例的CD-R放入常規(guī)設(shè)計的CD-R中，用于針對遵循第一標準的老CD-R來執(zhí)行包括OPC的記錄處理時，根據(jù)本發(fā)明實施例的CD-R利用區(qū)域結(jié)構(gòu)來使常規(guī)CD-R驅(qū)動器不記錄數(shù)據(jù)。以下將參考圖3來說明根據(jù)本實施例的新CD-R的構(gòu)成，在所述的本實施例中，禁止具有不同標準的老CD-R驅(qū)動器執(zhí)行記錄處理。此外，由于程序區(qū)域和外圍側(cè)區(qū)域具有與遵循第一標準的老CD-R相似的區(qū)域結(jié)構(gòu)，故省略其說明。
如圖所示，在根據(jù)本實施例的新CD-R100中，PCA212設(shè)置在內(nèi)周側(cè)，而PMA215，導入?yún)^(qū)214，程序區(qū)(未示出)和剩余區(qū)設(shè)置在外圍側(cè)，PCA212外圍側(cè)幀的數(shù)目和各幀的開始位置與遵循上述第一標準的老CD-R(見圖1和2)的相似。這就是說，PCA212是從導入?yún)^(qū)214的開始位置算起跨過2660幀的內(nèi)周側(cè)位置延伸出1660幀的區(qū)域，而PMA215是從導入?yún)^(qū)214的開始位置算起跨過1000幀的內(nèi)周側(cè)位置延伸出1000幀的區(qū)域。
在第二標準中，與上述遵循第一標準的老CD-R相似，將PMA215作為記錄處理的工作區(qū)域來使用。與第一標準相似，導入?yún)^(qū)214是在程序區(qū)域記錄結(jié)束之后將內(nèi)容表(TOC)寫入的區(qū)域。而且，記錄作為這個區(qū)域的ATIP信息的程序區(qū)時間、導入?yún)^(qū)時間、導入?yún)^(qū)開始時間、最大導出區(qū)的可能開始時間(LLO導出區(qū)的最終可能開始時間)、特殊信息等等。在遵循第二標準的新CD-R中，預(yù)先記錄作為ATIP信息之特殊信息的標準識別信息，其用來指示所述的CD-R是按照第二標準制造的。
在根據(jù)本實施例的新CD-R中，設(shè)置作為PCA212的測試區(qū)域212a，空閑區(qū)域212c、212d，和預(yù)凹坑(prepit)區(qū)域212b。與遵循上述第一標準的老CD-R相似(見圖2)，將從導入?yún)^(qū)214的開始位置算起跨過2660幀的內(nèi)周側(cè)位置延伸出1500幀的區(qū)域設(shè)置為測試區(qū)域。與第一標準相似，設(shè)置各測試記錄的15幀區(qū)域，即，用來執(zhí)行多達100次測試記錄的區(qū)域A1，A2，...A100。
預(yù)凹坑區(qū)域212b包括從導入?yún)^(qū)214的開始位置算起跨過1130幀的內(nèi)周側(cè)位置延伸出的100幀，而通過該區(qū)域中的控制來形成預(yù)凹坑，以便預(yù)先記錄(prerecord)偽信息。這就是說，在設(shè)置了新CD-R的老CD-R驅(qū)動器中，100幀的預(yù)凹坑區(qū)域作為已經(jīng)寫入的EFM信號來對待。這里，預(yù)凹坑區(qū)域212b設(shè)置在作為光學拾取器控制位置基準從導入?yún)^(qū)的開始位置來看的相對位置，其與第一標準中的計數(shù)區(qū)域的一樣。上面已經(jīng)對根據(jù)本發(fā)明實施例的CD-R的構(gòu)成區(qū)域進行了說明。A-3.針對根據(jù)第一實施例CD-R的OPC處理下面說明當設(shè)置根據(jù)本實施例的新CD-R時的OPC處理，即，將根據(jù)第二標準的CD-R設(shè)置在遵循第一標準的常規(guī)CD-R驅(qū)動器中時的OPC處理。如上所述，遵循第一標準的CD-R驅(qū)動器自然地執(zhí)行與針對遵循上述第一標準的老CD-R(見圖1和2)所執(zhí)行的OPC相似的過程。這就是說，為了針對遵循上述第一標準的CD-R執(zhí)行OPC，就要按照記錄EFM信號的計數(shù)區(qū)域112b中幀的范圍來識別針對該CD-R執(zhí)行過的測試記錄次數(shù)。因此，CD-R驅(qū)動器將光學拾取器從導入?yún)^(qū)214的開始位置LS向內(nèi)周側(cè)移動(步驟S1)，并且開始從計數(shù)區(qū)域112b略微靠內(nèi)的位置(從計數(shù)區(qū)域112b的開始位置算起跨過大約20幀在內(nèi)周側(cè)的位置)向外圍側(cè)執(zhí)行搜索。甚至當按照這種方式來設(shè)置本實施例的新CD-R時，老CD-R執(zhí)行與上述相似的搜索過程，并且從預(yù)凹坑212b略微間隔開的內(nèi)周側(cè)位置P1開始執(zhí)行搜索。
因此，CD-R驅(qū)動器開始從位置P1執(zhí)行搜索，將光學拾取器向外圍側(cè)移動，并檢測記錄了EFM信號的預(yù)凹坑區(qū)域的幀(步驟S2)。這里，識別遵循第二標準的CD-R的預(yù)凹坑區(qū)域212b，如同老CD-R驅(qū)動器記錄EFM的計數(shù)區(qū)域一樣。因此，由于預(yù)凹坑提供的偽信息的緣故，常規(guī)CD-R驅(qū)動器識別出EFM信號記錄到預(yù)凹坑區(qū)域212b最內(nèi)周側(cè)的幀(與第一標準中第100計數(shù)區(qū)域相對應(yīng)位置的幀)。因此，常規(guī)CD-R驅(qū)動器判斷出CD-R的100次測試記錄完畢，并且執(zhí)行通知用戶不能再進行記錄的差錯處理。這就是說，CD-R驅(qū)動器結(jié)束處理而不用針對根據(jù)本實施例的新CD-R執(zhí)行實際的記錄。
隨著如上述本實施例的CD-R的使用，甚至當將新CD-R設(shè)置在按照作為不同標準的第一標準設(shè)計的老CD-R中時，可以防止老CD-R驅(qū)動器執(zhí)行記錄處理。當標準與上述的不同時，諸如記錄策略之類的各種單元有時也要變化。在這種情況下，甚至當在CD-R驅(qū)動器側(cè)明顯執(zhí)行了處理時，在一些情況下也不可能執(zhí)行正常的記錄。因此，當使用根據(jù)本實施例的CD-R時，可以防止按不同的標準設(shè)計的CD-R驅(qū)動器執(zhí)行處理，并且可以事先防止由于上述標準的不同而產(chǎn)生的記錄差錯。
當如上所述使用本實施例的新CD-R時，可以防止按照第一標準設(shè)計的老CD-R驅(qū)動器進行記錄處理。但是，當新CD-R放入新CD-R驅(qū)動器中時，需要在測試區(qū)域212a中執(zhí)行測試記錄，以致于對該CD-R進行OPC處理。因此，根據(jù)本發(fā)明，在為了針對遵循第二標準的CD-R驅(qū)動器執(zhí)行記錄而設(shè)計的新CD-R中，可以按照如圖4所示的步驟執(zhí)行OPC。
首先，與上述相似，確定導入?yún)^(qū)214的開始位置LS。而且，將光學拾取器從導入?yún)^(qū)214的開始位置移動至由測試區(qū)域212a略微靠內(nèi)周側(cè)(大約20幀)的位置P2(步驟Sa1)。
而且，CD-R驅(qū)動器開始從位置P2向外圍側(cè)搜索，直接訪問和讀取測試區(qū)域212a，以及檢測測試區(qū)域212a中執(zhí)行測試記錄的次數(shù)(步驟Sa2)。這里，所述測試區(qū)域212a中預(yù)備了1500幀。當以基本速度(每秒搜索75幀)執(zhí)行搜索時，讀取所有1500幀的區(qū)域需要20秒時間。但是，近年來已經(jīng)實現(xiàn)了CD-R驅(qū)動器搜索速度的增加。例如，當以十倍基本速度執(zhí)行搜索時，讀取整個測試區(qū)域212需要兩秒。這就是說，甚至當直接讀取測試區(qū)域212a而不使用計數(shù)區(qū)域112b，并且檢測到已執(zhí)行的測試記錄數(shù)目時，不需要很多時間。因此，當針對根據(jù)第二標準的CD-R執(zhí)行OPC時，CD-R驅(qū)動器使用直接讀取測試區(qū)域212a并檢測已執(zhí)行的測試數(shù)目的方法。
如上所述，讀取測試區(qū)域212a中記錄的有/無，以及檢測測試的數(shù)目，然后在所述檢測的記錄之后要進行測試記錄的部分(15幀)中執(zhí)行測試記錄，除了檢測到100次測試記錄都已執(zhí)行。例如，與第一標準相似，這里執(zhí)行的測試記錄使用一種按照15個級別來改變記錄激光束數(shù)值的方法，并且每一個激光束的數(shù)值用來記錄一個子代碼幀的EFM信號。CD-R驅(qū)動器按照測試的結(jié)果來設(shè)置最優(yōu)激光功率數(shù)值，并且依據(jù)所述的設(shè)置執(zhí)行實際的信息記錄。這里，在CD-R驅(qū)動器中，其它諸如記錄策略之類與記錄有關(guān)的單元也按照第二標準來設(shè)計，以致于在本實施例的CD-R中執(zhí)行適當?shù)挠涗洝?br> 當按照這種方式來使用根據(jù)本實施例的CD-R，以及將該CD-R設(shè)置在按照不同的第一標準來設(shè)計的CD-R驅(qū)動器中時，就防止了所述的CD-R驅(qū)動器執(zhí)行記錄處理，并且事先防止了不適當?shù)挠涗洷粓?zhí)行。另一方面，當把所述CD-R設(shè)置在按照第二標準設(shè)計的CD-R驅(qū)動器中時，正常執(zhí)行OPC并且執(zhí)行適當?shù)挠涗浱幚怼?br> 如上所述，當使用根據(jù)本實施例的CD-R時，可以事先防止由于標準的差異而引起的不適當記錄，以及下面使用ATIP信息的方法也看作用來事先防止由于標準的不同而引起的不適當記錄處理。這就是說，如圖5所示，考慮一種使用所述CD-R的方法，在所述CD-R中，PCA112附近ATIP信息中指示的絕對時間信息中止于空閑區(qū)域112c中。對于ATIP信息，導入?yún)^(qū)域114開始位置的絕對時間具有基準“000”，正絕對時間信息指示在從導入?yún)^(qū)114的開始位置算起的外圍側(cè)，而負絕對時間信息指示在內(nèi)周側(cè)。另外，在圖5中，縱坐標指示ATIP的絕對時間信息，橫坐標指示各區(qū)域的位置。
上述空閑區(qū)域112c中間位置(從最內(nèi)周側(cè)算起第16幀的開始位置)的ATIP信息中指示的絕對時間信息具有30秒的中斷(2250幀的位置)。因此，從空閑區(qū)域112c的最內(nèi)側(cè)算起第16幀的開始位置ATIP信息中包括的絕對時間信息指示一個比從中斷區(qū)域內(nèi)側(cè)空閑區(qū)域112c的最內(nèi)側(cè)算起第15幀的開始位置ATIP信息中指示的絕對時間信息大大約30秒或者更多的值。
在具有這種CD-R設(shè)置并按照第一標準設(shè)計的CD-R驅(qū)動器中，當執(zhí)行OPC時，首先移動光學拾取器，以及從空閑區(qū)域112c內(nèi)周側(cè)的位置算起開始向外圍側(cè)搜索。這就是說，從ATIP信息的絕對時間信息的中斷區(qū)域算起略微靠內(nèi)側(cè)的位置就是搜索開始位置。而且，當CD-R驅(qū)動器開始從該位置向外圍搜索，以及將搜索位置向外圍移動越過ATIP信息的絕對時間信息的中斷部分時，絕對時間信息增加了30秒或者更多。因此，盡管CD-R驅(qū)動器在空閑區(qū)域112c中搜索位置，但其可以識別出搜索位置經(jīng)過計數(shù)區(qū)域112b移動到更遠的外圍側(cè)。因此，所述的CD-R驅(qū)動器將光學拾取器向內(nèi)側(cè)移動并且再一次從空閑區(qū)域112c內(nèi)周側(cè)的位置開始搜索。其后，執(zhí)行允許搜索光學拾取器的位置以便經(jīng)過中斷部分在中斷部分的內(nèi)周側(cè)和外圍側(cè)位置之間往復(fù)多次的操作之后，執(zhí)行向用戶通知不能檢測預(yù)凹坑區(qū)域212b的差錯處理，以便停止記錄處理。
因此，當使用帶有空閑區(qū)域112c中ATIP信息之絕對時間信息的中斷部分的CD-R時，與上述的實施例相似，禁止用不同標準設(shè)計的CD-R驅(qū)動器執(zhí)行記錄處理，并且可以事先防止不適當?shù)挠涗洝５?，這種方法有下面的問題。
當搜索位置移動到一定的目標位置(例如，計數(shù)區(qū)域112b的最內(nèi)側(cè)位置)時，CD-R驅(qū)動器移動光學拾取器，以致于將搜索開始位置設(shè)置在如上述略微靠內(nèi)周側(cè)的位置。這是由于為了與ATIP信息同步，設(shè)置上升部分，以便于更正確地檢測目標位置。該上升部分的長度在由各公司制造的CD-R中是固有的，并且具有設(shè)置為較長的部分的CD-R和具有設(shè)置為較短的部分的CD-R實際上都有銷售。這里，當將具有上述空閑區(qū)域112c中絕對時間信息的中斷區(qū)域設(shè)置在具有設(shè)置為較長的上升部分(例如，具有設(shè)置為200幀的上升周期)的CD-R驅(qū)動器中時，不但計數(shù)區(qū)域112b而且PMA115都不再有缺點。更具體地講，從內(nèi)周側(cè)算起200幀的內(nèi)周側(cè)(開始)位置就是從上述中斷部分算起內(nèi)周側(cè)的位置。這就是說，搜索PMA115開始位置的CD-R驅(qū)動器反復(fù)允許搜索位置以便經(jīng)過中斷區(qū)域在內(nèi)周側(cè)和外圍側(cè)之間往復(fù)，與搜索作為目標的上述計數(shù)區(qū)域的操作一樣。因此，當具有上述空閑區(qū)域112c中ATIP信息之絕對時間信息的中斷部分的CD-R設(shè)置在具有設(shè)置為較長的上升部分的CD-R驅(qū)動器中時，就有不利之處。
另一方面，包括根據(jù)本實施例的預(yù)凹坑區(qū)域的CD-R卻不受CD-R驅(qū)動器中設(shè)置的上升長度的影響，并因此對于各個制造商制造的CD-R驅(qū)動器都有效。A-4.第一實施例的修改例A-4-1.修改例1另外，在上述第一實施例中，在所有預(yù)凹坑區(qū)域212b中形成預(yù)凹坑，但是，如圖6所示，可以僅僅在作為預(yù)凹坑區(qū)域212b中第100幀的最內(nèi)側(cè)幀B100(圖中以斜線來表示)中形成。甚至當僅僅在幀B100中形成預(yù)凹坑時，與實施例相似，按照第一標準設(shè)計的CD-R驅(qū)動器檢測到EFM信號寫入了幀B100，并因此判斷已經(jīng)執(zhí)行了100次測試記錄。因此，與上述實施例相似，防止了以不同的標準設(shè)計的CD-R驅(qū)動器執(zhí)行記錄處理，以及可以事先防止不適當?shù)挠涗?。A-4-2.修改例2而且，在上述實施例中，在預(yù)凹坑區(qū)域212b中形成預(yù)凹坑，但是，也可以在測試區(qū)域212a中形成凹坑。例如，如圖7所示，可以僅僅在執(zhí)行100次測試記錄的測試區(qū)域212a的區(qū)域A100(圖中以斜線表示)中形成。例如，作為按照第一標準設(shè)計的CD-R驅(qū)動器，甚至在EFM信號寫入了計數(shù)區(qū)域112b的第100幀的情況下，一種被設(shè)置成以確認的方式在測試區(qū)域112a中檢測測試記錄是否已經(jīng)實際執(zhí)行的過程的裝置想必已有銷售。甚至對于設(shè)置成要執(zhí)行控制處理的CD-R驅(qū)動器，也可以在測試區(qū)域212a中形成預(yù)凹坑，可以判斷出沒有執(zhí)行測試記錄，以及事先防止執(zhí)行不適當?shù)挠涗洝Ａ硗?，當在測試區(qū)域212a的區(qū)域100中形成預(yù)凹坑時，遵循第二標準的CD-R驅(qū)動器以執(zhí)行第99次測試記錄的區(qū)域作為起始點開始向外圍側(cè)搜索，以便于檢測已經(jīng)執(zhí)行的測試的數(shù)目。A-4-3.修改例3此外，在上述實施例中，遵循第二標準的CD-R驅(qū)動器直接搜索測試區(qū)域212a，并且檢測已經(jīng)執(zhí)行的測試數(shù)目而不使用計數(shù)區(qū)域。但是，可以在CD-R中除與計數(shù)區(qū)域212b相對應(yīng)的位置之外的位置設(shè)置新的計數(shù)區(qū)域，以及CD-R驅(qū)動器可以搜索新的計數(shù)區(qū)域，以便于檢測測試的數(shù)目。
例如，如圖8所示，將上述實施例中預(yù)備了1500幀的測試區(qū)域外圍側(cè)1370幀(91個15幀一次的測試記錄+5幀)設(shè)置為新的測試區(qū)域212aa，并且可以將從測試區(qū)域212a外圍側(cè)算起的100幀設(shè)置為新的計數(shù)區(qū)域212ab。
而且，除了將與第一標準測試區(qū)域212ab相對應(yīng)位置的測試區(qū)域212a分為新的區(qū)域212aa和新的計數(shù)區(qū)域212ab，以及如上所述設(shè)置新的計數(shù)區(qū)域之外，也可以在測試區(qū)域212a的更內(nèi)側(cè)設(shè)置新的計數(shù)區(qū)域。新的計數(shù)區(qū)域也可以設(shè)置在從最大時間(1分鐘30秒)在ATIP信息中指示的最大引出區(qū)可能開始時間(LLO引出區(qū)的最終可能開始時間)算起的外圍側(cè)位置，所述最大時間可以由引出區(qū)來使用。當在CD-R中設(shè)置新的計數(shù)區(qū)域時，需要設(shè)置遵循所述標準的CD-R驅(qū)動器，以便于使用遵循所述標準的CD-R驅(qū)動器設(shè)置的新計數(shù)區(qū)域來執(zhí)行步驟。
而且，如修改例中的一樣，在測試區(qū)域212的區(qū)域A100中形成預(yù)凹坑時，可以將除測試區(qū)域之外的區(qū)域分為測試區(qū)域和計數(shù)區(qū)域并且使用之。A-4-4.修改例4此外，在上述實施例和修改例中，已經(jīng)對使用本發(fā)明的CD-R進行了說明，但是本發(fā)明可以廣泛應(yīng)用于諸如遵循所述標準的CD-RW之類的光盤中，在所述的光盤中設(shè)置有用來檢測已執(zhí)行的測試次數(shù)。
另外，當本發(fā)明應(yīng)用于CD-RW，以及如上實施例和修改例所述，僅僅在預(yù)凹坑區(qū)域212a中形成預(yù)凹坑時，依據(jù)要由CD-RW驅(qū)動器執(zhí)行的OPC處理內(nèi)容設(shè)置，有時會產(chǎn)生不利之處。這就是說，當EFM信號寫入所有的計數(shù)區(qū)域212b時，遵循在提交本申請時的第一標準的CD-RW驅(qū)動器擦除(DC擦除)計數(shù)區(qū)域112b和測試區(qū)域112a中記錄的EFM信號，使用擦除了EFM信號的計數(shù)區(qū)域112b和測試區(qū)域112a，以及執(zhí)行OPC。
因此，如上所述，當在預(yù)凹坑區(qū)域212b中形成預(yù)凹坑時，CD-RW驅(qū)動器針對預(yù)凹坑區(qū)域212b執(zhí)行擦除處理，并因此針對要進行第一次測試記錄處理(因為預(yù)凹坑，故不可能進行擦除)的測試區(qū)域212a的區(qū)域A1執(zhí)行記錄處理。這里，在針對預(yù)凹坑區(qū)域212b執(zhí)行擦除處理之后，設(shè)置CD-RW驅(qū)動器，以便于執(zhí)行檢測擦除是否成功和當擦除不成功時向用戶通知失敗的差錯處理。在這種情況下，可以防止CD-RW驅(qū)動器執(zhí)行記錄處理。但是，設(shè)置某一裝置類型，以便于針對測試區(qū)域212a中要進行第一次測試記錄的區(qū)域A1執(zhí)行記錄處理，同樣不用針對預(yù)凹坑區(qū)域212b檢測擦除處理是否成功，并且在實際中，用戶已經(jīng)可以得到這種類型的裝置。當如上所述在CD-RW驅(qū)動器中設(shè)置具有形成了預(yù)凹坑的預(yù)凹坑區(qū)域212b時，在OPC處理期間不會產(chǎn)生差錯，并且同樣可以執(zhí)行不滿足第二標準的不適當記錄處理。
為了解決這個問題，當本發(fā)明應(yīng)用于CD-RW中時，如圖9所示，與上述實施例和修改例相似，在預(yù)凹坑區(qū)域212b中形成預(yù)凹坑，并且ATIP信息之絕對時間信息的中斷部分可以設(shè)置在測試區(qū)域212a的最內(nèi)側(cè)或者測試區(qū)域212a略微靠內(nèi)周一側(cè)。此外，在圖9中，縱坐標表示ATIP的絕對時間信息，而橫坐標表示各區(qū)域的位置。
在示出的例子中，由測試區(qū)域212a最內(nèi)側(cè)位置中的ATIP信息指示的絕對時間信息具有與以前的絕對時間信息相差30秒(2250幀的位置)的中斷部分。因此，包括在測試區(qū)域112a最內(nèi)側(cè)位置ATIP信息中的絕對時間信息指示的數(shù)值比中斷部分內(nèi)側(cè)的ATIP信息中指示的絕對時間信息多30秒或者更多。此外，中斷部分可以設(shè)置在測試區(qū)域212a最內(nèi)側(cè)略微靠內(nèi)側(cè)的位置。中斷部分也可以按照比CD-RW驅(qū)動器的上升部分短的范圍設(shè)置在測試區(qū)域212a最內(nèi)側(cè)更靠內(nèi)的位置，以便于搜索測試區(qū)域212a最內(nèi)側(cè)的位置。
在由根據(jù)第一標準設(shè)計并設(shè)置有CD-RW的CD-RW驅(qū)動器執(zhí)行的OPC中，由于設(shè)置的CD-RW的預(yù)凹坑區(qū)域是預(yù)凹坑，所以針對預(yù)凹坑區(qū)域212b執(zhí)行擦除處理，并因此針對測試區(qū)域212a執(zhí)行擦除處理。在由CD-RW驅(qū)動器執(zhí)行的測試區(qū)域212a的擦除處理中，CD-RW驅(qū)動器首先將光學拾取器移動至測試區(qū)域212a外圍側(cè)的位置，然后將拾取器向該位置的外圍側(cè)移動，同時連續(xù)執(zhí)行擦除處理。這里，對于如圖9所示的CD-RW驅(qū)動器，將ATIP信息之絕對時間信息的中斷部分設(shè)置在測試區(qū)域212a的最內(nèi)側(cè)位置，這就是說，CD-RW驅(qū)動器將搜索位置向ATIP信息之絕對時間信息的中斷部分內(nèi)側(cè)移動。因此，當CD-RW驅(qū)動器開始向該位置的外圍側(cè)搜索，以及將搜索位置向外圍側(cè)移動越過ATIP信息之絕對時間信息的中斷區(qū)域時，絕對時間信息增加了30秒或者更多。因此，CD-RW驅(qū)動器搜索測試區(qū)域212a最內(nèi)側(cè)的位置，但是識別出搜索位置已經(jīng)進一步通過測試區(qū)域212a移動到外圍側(cè)的位置。因此，CD-RW驅(qū)動器將光學拾取器向內(nèi)周側(cè)移動，并且再次從測試區(qū)域212a最內(nèi)側(cè)略微靠內(nèi)的位置開始搜索。因此，執(zhí)行允許搜索光學拾取器的位置以便經(jīng)過中斷部分在中斷部分的內(nèi)周側(cè)和外圍側(cè)位置之間往復(fù)多次的操作之后，針對測試區(qū)域212a執(zhí)行向用戶通知不能執(zhí)行擦除處理的差錯處理，以便停止處理。
因此，除了在預(yù)凹坑區(qū)域212a中形成預(yù)凹坑之外，利用在其中將ATIP信息之絕對時間信息的中斷部分設(shè)置在測試區(qū)域212a的內(nèi)周側(cè)位置或者該位置略微靠內(nèi)的位置的CD-RW，就可以防止設(shè)計成針對測試區(qū)域212a和預(yù)凹坑區(qū)域212b執(zhí)行擦除處理的CD-RW驅(qū)動器執(zhí)行記錄處理，并且事先防止不適當?shù)挠涗?。B.第二實施例B-1.結(jié)構(gòu)下面說明根據(jù)本發(fā)明第二實施例的光盤記錄裝置。根據(jù)第二實施例的光盤記錄裝置是一種針對按照不同標準制造的光盤執(zhí)行適當記錄處理的裝置，所述光盤例如有，遵循上述第一標準(見圖1和圖2)的CD-R和遵循第二實施例(見圖3，6，7，9)的上述CD-R或者CD-RW。下面參考圖10說明根據(jù)第二實施例的光盤裝置的構(gòu)成，其用來針對按照不同標準制造的各自光盤執(zhí)行適當?shù)挠涗浱幚怼?br> 如附圖所示，光盤記錄裝置包括光學拾取器10，主軸電動機11，射頻(RF)放大器12，伺服電路13，ATIP檢測電路14，解碼器15，控制器16，編碼器17，策略電路18，激光驅(qū)動器19，激光功率控制電路20，頻率發(fā)生器21，包絡(luò)檢測電路22，β檢測電路24。
主軸電動機11是一種用來旋轉(zhuǎn)/驅(qū)動作為數(shù)據(jù)記錄對象的光盤D的電動機。光學拾取器10具有激光二極管，諸如透鏡和反射鏡的光學系統(tǒng)，和反射光接收單元，在記錄和再現(xiàn)期間使用激光束照射光盤D，接收光盤D的反射光并且將EFM調(diào)制信號作為光接收信號輸出到RF放大器12。而且，光學拾取器10具有監(jiān)測二極管，光盤D的反射光在監(jiān)測二極管中產(chǎn)生電流，并且將該電流提供給激光功率控制電路20。
RF放大器12放大光學拾取器10提供的EFM調(diào)制RF信號，并且把放大的RF信號輸出給伺服電路13、ATIP檢測電路14、包絡(luò)檢測電路22、β檢測電路24和解碼器15。解碼器15對RF放大器12提供的EFM調(diào)制信號進行EFM解調(diào)并且在再現(xiàn)期間產(chǎn)生再現(xiàn)數(shù)據(jù)。
為了執(zhí)行上述的記錄，根據(jù)本發(fā)明的光盤記錄裝置在實際記錄之前執(zhí)行OPC處理。OPC處理包括在光盤D內(nèi)周側(cè)的PCA(見第一實施例)中執(zhí)行測試記錄；獲得激光功率值，以致于按照測試記錄的再現(xiàn)結(jié)果針對光盤D執(zhí)行令人滿意的記錄。光盤記錄裝置中一次測試記錄包括按15個級別改變記錄激光功率值；為每個記錄激光功率值的一個子代碼幀記錄EFM信號；為全部15個幀記錄EFM信號。在根據(jù)本實施例的光盤記錄裝置中，在執(zhí)行實際記錄之前對上述測試區(qū)域112a和測試區(qū)域212a進行測試記錄。
ATIP檢測電路14從RF放大器12提供的EFM信號中提取擺動信號分量，對包括在擺動信號分量中的ATIP信息進行解碼，獲得指示光盤D中的位置的絕對時間信息、識別光盤的識別信息、指示諸如盤片染料的盤片類型信息，并且將所述的信息輸出給控制器16。這里，指示該盤片遵循第二標準的標準識別信息在遵循上述第二標準的CD-R的ATIP信息中之特殊信息中說明，并且ATIP檢測電路還從遵循第二標準的CD-R中獲得標準識別信息，以及將該信息輸出到控制器16中。
β檢測電路24依據(jù)在上述測試區(qū)域再現(xiàn)期間RF放大器12提供的EFM調(diào)制RF信號來計算作為與再現(xiàn)信號質(zhì)量等級有關(guān)的參數(shù)的β(不對稱性)值，并且將計算結(jié)果輸出到控制器16。此外，所述的β值通過(a+b)/(a-b)來獲得，其中a是EFM調(diào)制信號波形的峰值電平(符號為+)，b是波谷電平(符號為-)。
在上述測試記錄執(zhí)行之前，包絡(luò)檢測電路22檢測上述光盤裝置D計數(shù)區(qū)域112b的EFM信號包絡(luò)，以便于檢測光盤D預(yù)定測試區(qū)域部分，由此開始進行測試記錄。
伺服電路13執(zhí)行主軸電動機11的旋轉(zhuǎn)控制和聚焦控制、跟蹤控制和光學拾取器10的反饋控制。作為記錄期間驅(qū)動主軸電動機的方法，以常角速度驅(qū)動光盤D的方法(CAV常角速度)和旋轉(zhuǎn)/驅(qū)動光盤D以獲得常數(shù)線速度的方法(CLV常線速度)中的任何一種方法都可以使用。例如，當使用CLV方法時，伺服電路13執(zhí)行CLV控制，以便按照設(shè)置在與控制器16提供的控制信號相對應(yīng)的線速度來驅(qū)動主軸電動機，以及指示設(shè)置的速度，這里，伺服電路13控制CLV，控制主軸電動機11，以致于RF放大器12提供的EFM調(diào)制信號的擺動信號具有線速度放大率。
編碼器17對記錄的數(shù)據(jù)進行EFM調(diào)制，并且將該數(shù)據(jù)輸出到策略電路18。策略電路18針對編碼器17提供的EFM信號執(zhí)行時間軸校正處理，并且將該信號輸出到激光驅(qū)動器19。根據(jù)策略電路18提供的記錄數(shù)據(jù)和激光控制電路20的控制，激光驅(qū)動器19驅(qū)動光學拾取器10，以響應(yīng)調(diào)制的信號。
激光功率控制電路20控制光學拾取器10的激光二極管發(fā)射的激光。具體地，按照光學拾取器10的監(jiān)測二極管提供的電流值和控制器16提供的用來指示由OPC獲得的最優(yōu)激光功率值的信息，激光功率控制電路20控制激光驅(qū)動器19，以致于從光學拾取器10中發(fā)出具有最優(yōu)激光功率的激光束。
控制器16包括中央處理單元(CPU)16A，只讀存儲器(ROM)16B和隨機存取存儲器(RAM)16C，并且按照存儲在ROM中的程序來控制光盤記錄裝置的部件，以及針對光盤D執(zhí)行記錄。
控制器16控制各自裝置部件的裝置，以致于對光盤記錄裝置中設(shè)置的光盤D的PCA進行測試記錄，以在上述實際記錄之前執(zhí)行OPC。在這種情況下，按照ATIP檢測電路14提供的所述光盤D導入?yún)^(qū)域中的ATIP信息，控制器16判斷設(shè)置的光盤D是遵循第一標準的光盤還是遵循第二標準的光盤。而且，控制器16控制各自的裝置部件，以便于按照第一標準執(zhí)行測試記錄。另一方面，當設(shè)置的光盤D遵循第二標準時，控制器控制各自的裝置部件，以便于按照第二標準執(zhí)行測試記錄。這里，在上述的第一實施例中已經(jīng)對在OPC處理期間遵循第一和第二標準的測試記錄的控制進行了說明，因此省略其說明。
當執(zhí)行遵循設(shè)置的光盤的測試記錄時，與通常的光盤記錄裝置相似，控制器16執(zhí)行根據(jù)測試記錄的再現(xiàn)結(jié)果來確定最優(yōu)激光功率的OPC處理，在此之后，控制各自的裝置部件，以便于使用其反映出的OPC結(jié)果執(zhí)行記錄。B-2.操作上面已經(jīng)對根據(jù)本發(fā)明第二實施例的光盤記錄裝置進行了說明。下面將參考附圖11來說明記錄期間如上所述構(gòu)成的光盤記錄裝置側(cè)操作，所述圖11示出了控制器16按照ROM中存儲的程序所執(zhí)行的步驟。
首先，當用戶將光盤設(shè)置在光盤記錄裝置中，以及指示開始記錄時，控制器16讀取光盤D的導入?yún)^(qū)中描述的信息，以便在實際記錄之前執(zhí)行OPC(步驟Sb1)。因此，可以判斷出ATIP信息是否包括在光盤D導入?yún)^(qū)中(步驟Sb2)。這里，當不包括ATIP信息時，控制器16判斷出光盤是諸如CD-ROM之類的只讀光盤，執(zhí)行向用戶通知記錄是不可能的差錯處理(步驟Sb3)，并結(jié)束記錄。
另一方面，當ATIP信息包括在光盤D的導入?yún)^(qū)中時，控制器16判斷出光盤D是可記錄光盤，例如，CD-R和CD-RW。然后判斷ATIP信息之特殊信息是否包括用來指示所述的光盤遵循第二標準的標準識別信息(步驟Sb4)。這就是說，控制器16判斷出光盤D遵循第二標準或者第一標準。
這里，當ATIP信息不包括標準識別信息時，控制器16判斷出光盤D遵循第一標準，并控制各自的裝置部件，以便于執(zhí)行遵循測試區(qū)域112a(見圖2)中第一標準的測試記錄(步驟Sb5)。在控制過程中，控制器16控制光學拾取器以搜索計數(shù)區(qū)域112b，并且，通過判斷寫入了EFM信號的計數(shù)區(qū)域112b的幀范圍，它針對光盤記錄裝置檢測測試記錄已經(jīng)執(zhí)行的數(shù)目。而且，控制器16控制光學拾取器10，并且針對測試區(qū)域112a中檢測的測試記錄相鄰的測試記錄執(zhí)行測試記錄。另一方面，在步驟Sb4的判斷中，當ATIP信息包括標準識別信息，則控制器16判斷出光盤D遵循第二標準，并且控制各自的裝置部件，以便于測試區(qū)域112a(見圖3)中遵循第二標準的測試記錄(步驟Sb6)。在控制過程中，控制器1 6按照第二標準針對光盤D檢測測試記錄已經(jīng)執(zhí)行的數(shù)目。例如，第二標準規(guī)定新的計數(shù)區(qū)域設(shè)置在與計數(shù)區(qū)域112b(見圖2)的位置不同的位置。在這種情況下，控制光學拾取器10，以致于搜索新設(shè)置的計數(shù)區(qū)域，以及檢測測試執(zhí)行的數(shù)目。而且，第二標準規(guī)定了直接搜索測試區(qū)域212a，以及檢測測試的數(shù)目而不用設(shè)置計數(shù)區(qū)域。在這種情況下，控制光學拾取器10，以便于搜索測試區(qū)域212a，以及檢測測試執(zhí)行的數(shù)目。因此，控制器16控制光學拾取器10，并且針對要進行測試記錄的區(qū)域執(zhí)行測試記錄，所述的區(qū)域與測試區(qū)域212a中檢測的測試區(qū)域相鄰。
當對各自的裝置部件進行控制，以便于執(zhí)行測試記錄時，按照從進行測試記錄的再現(xiàn)信號中獲得的OPC處理結(jié)果，控制器16決定最優(yōu)激光功率值(步驟Sb7)。因此，控制器16控制激光功率控制電路20和伺服電路13，以致于使用由OPC結(jié)果確定的最優(yōu)激光功率值執(zhí)行記錄，以及針對光盤D執(zhí)行實際的記錄(步驟Sb8)，在此記錄期間，當諸如記錄策略之類與記錄有關(guān)的內(nèi)容與第一標準和第二標準不同時，使用光盤D的遵循該標準的記錄策略，并執(zhí)行記錄。
如上所述，在根據(jù)第二實施例的光盤記錄裝置中，判斷光盤D是遵循第一標準還是遵循第二標準，并且執(zhí)行遵循分辨出的標準的記錄處理。因此，甚至當設(shè)置具有任何標準的光盤D時，都可以執(zhí)行適當?shù)挠涗?。B-3.第二實施例的修改例此外，在第二實施例中，針對根據(jù)兩種標準制造的光盤D執(zhí)行適當?shù)挠涗?，所述兩種標準包括第一標準和第二標準，但是也可以針對遵循三種或者更多種標準的各自的光盤執(zhí)行適當?shù)挠涗?。具體地，在光盤記錄裝置側(cè)識別的信息類型事先在具有所述各種標準的光盤D的ATIP信息中進行說明，可以按照識別的結(jié)果來執(zhí)行各種標準的適當記錄處理。
此外，根據(jù)如上所述光盤D的標準來執(zhí)行記錄處理的控制器16可以由專用硬件來構(gòu)成。而且，可以向用戶提供各種記錄媒介，例如記錄著允許計算機實現(xiàn)記錄處理的程序的CD-ROM?；蛘呓?jīng)過諸如因特網(wǎng)之類的通信線路來向用戶提供程序。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明，當光盤標準發(fā)生變化時，可以防止在變化之前遵循該標準的記錄裝置執(zhí)行不適當?shù)挠涗洝?br> 權(quán)利要求
1.一種光盤，具有沿著圓形圓周方向的預(yù)凹槽形成的圓形，其特征在于所述的光盤與設(shè)計的一種記錄裝置兼容，所述的記錄裝置能夠?qū)⒓す馐丈湎蚬獗P，以便沿著預(yù)凹槽形成用于實際記錄數(shù)據(jù)的凹坑；所述的光盤與設(shè)計的另一種類型記錄裝置不兼容，所述另一種記錄裝置能夠在實際記錄之前對常規(guī)光盤的測試區(qū)域重復(fù)實施多達預(yù)定次數(shù)的測試記錄，以及能夠連續(xù)將所述測試記錄的次數(shù)記錄在常規(guī)光盤的計數(shù)區(qū)域，以致于在計數(shù)區(qū)域的預(yù)定部分記錄最終的次數(shù)；所述的光盤具有與常規(guī)光盤的測試區(qū)域相對應(yīng)的測試區(qū)域，和與常規(guī)光盤的計數(shù)區(qū)域相對應(yīng)的預(yù)凹坑區(qū)域，至少在與常規(guī)光盤的計數(shù)區(qū)域相對應(yīng)的部分暫時用預(yù)凹坑來形成預(yù)凹坑區(qū)域，以致于防止所述另一種類型的記錄裝置實施測試記錄。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤，其特征在于，在與形成預(yù)凹坑區(qū)域分開的一部分測試區(qū)域中形成新計數(shù)區(qū)域，以致于可以將測試區(qū)域中執(zhí)行的測試記錄次數(shù)連續(xù)記錄在新計數(shù)區(qū)域中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤，其特征在于，將測試區(qū)域分成預(yù)定號碼的部分，以致于可以在各自的部分中連續(xù)執(zhí)行多達預(yù)定次數(shù)的測試記錄，所述測試區(qū)域包括分配給要在最后一次執(zhí)行的測試區(qū)域的預(yù)定部分，使用預(yù)凹坑來暫時形成所述預(yù)定部分，以便有效防止所述另一種類型的記錄裝置實施測試記錄。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光盤，其特征在于，預(yù)凹坑僅暫時形成預(yù)定部分，而剩余的部分沒有預(yù)凹坑，并為所述一種類型的記錄裝置要實施的測試記錄所保留。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光盤，其特征在于，預(yù)凹坑僅暫時形成預(yù)定部分，除預(yù)定部分之外的一些部分分派給新的計數(shù)區(qū)域，以致于連續(xù)地將測試記錄的次數(shù)記錄在新的計數(shù)區(qū)域中，并且剩余部分為所述一種類型的記錄裝置要實施的測試記錄所保留。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤，其特征在于，在測試區(qū)域的內(nèi)側(cè)放射狀形成新的測試區(qū)域，同時在所述測試區(qū)域的外圍側(cè)放射狀形成預(yù)凹坑區(qū)域，以致于測試區(qū)域中實施的測試記錄次數(shù)可以連續(xù)地記錄在新的計數(shù)區(qū)域中而非預(yù)凹坑區(qū)域中。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤，其特征在于，從最大引出區(qū)的開始位置向外以不小于引出區(qū)最大長度的距離放射狀形成新的計數(shù)區(qū)域，以致于測試區(qū)域中實施的測試次數(shù)可以連續(xù)地記錄在所述新的計數(shù)區(qū)中。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤，其特征在于，使用指示絕對位置或者絕對時間進度的索引信息暫時將預(yù)凹槽記錄在從放射狀內(nèi)側(cè)位置到放射狀外側(cè)的位置，所述索引信息間斷地圍繞著測試區(qū)域的放射狀內(nèi)側(cè)開始位置，以致于防止所述另一種類型的記錄裝置搜索和存取測試區(qū)域。
9.一種裝置，其能將光束照射在根據(jù)第一標準或者與第一標準不同的第二標準制造的光盤來執(zhí)行實際信息記錄，能夠在實際記錄之前執(zhí)行測試記錄，以致于確定可能在第一標準和第二標準之間變化的光束最優(yōu)激光功率，所述的裝置包括檢測部分，用于檢測光盤是根據(jù)第一標準制造的還是根據(jù)第二標準制造的；第一控制部分，用于按照第一標準執(zhí)行測試記錄，以在第一標準下確定光束的最優(yōu)數(shù)值；第二控制部分，用于按照第二標準執(zhí)行測試記錄，以在第二標準下確定光束的最優(yōu)數(shù)值；和選擇部分，用于在從光盤中檢測到第一標準時選擇激活第一控制部分，否則在從光盤中檢測到第二標準時選擇激活第二控制部分。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述第一控制部分在執(zhí)行測試記錄之前工作，用于訪問記錄過去實施的測試記錄歷史并按照第一標準定位的第一計數(shù)區(qū)域，以致于第一控制部分如第一標準所指定的那樣將光束從其放射狀內(nèi)側(cè)控制到接近第一計數(shù)區(qū)域，所述第二控制部分在執(zhí)行測試記錄之前工作，用于訪問記錄過去實施的測試記錄歷史并按照第二標準獨立于第一計數(shù)區(qū)域定位的第二計數(shù)區(qū)域，以致于第二控制部分如第二標準所指定的那樣將光束從其放射狀內(nèi)側(cè)控制到接近第二計數(shù)區(qū)域。
11.一種操作裝置的方法，所述的裝置能將光束照射在根據(jù)第一標準或者與第一標準不同的第二標準制造的光盤來執(zhí)行實際信息記錄，能夠在實際記錄之前執(zhí)行測試記錄，以致于確定可能在第一標準和第二標準之間變化的光束最優(yōu)激光功率，所述的方法包括以下步驟檢測光盤是按照第一標準制造的還是按照第二標準制造的；當從光盤中檢測到第一標準時，按照第一標準執(zhí)行測試記錄，以在第一標準下確定光束最優(yōu)數(shù)值；當從光盤中檢測到第二標準時，按照第二標準執(zhí)行測試記錄，以在第二標準下確定光束最優(yōu)數(shù)值。
12.一種在設(shè)計的光記錄裝置中使用的計算機程序，所述的光記錄裝置能將光束照射在根據(jù)第一標準或者與第一標準不同的第二標準制造的光盤來執(zhí)行實際信息記錄，能夠在實際記錄之前執(zhí)行測試記錄，以致于確定可能在第一標準和第二標準之間變化的光束最優(yōu)功率，所述的計算機程序是安裝在光記錄裝置上的處理器可執(zhí)行的，用來執(zhí)行以下控制步驟檢測光盤是按照第一標準制造的還是按照第二標準制造的；當從光盤中檢測到第一標準時，按照第一標準執(zhí)行測試記錄，以在第一標準下確定光束最優(yōu)數(shù)值；當從光盤中檢測到第二標準時，按照第二標準執(zhí)行測試記錄，以在第二標準下確定光束最優(yōu)數(shù)值。
全文摘要
一種圓形光盤，其由沿著圓周方向的預(yù)凹槽形成。本發(fā)明的光盤與一種記錄裝置兼容，所述一種記錄裝置能夠?qū)⒓す馐丈湎蚬獗P以便沿著預(yù)凹槽形成用于實際記錄數(shù)據(jù)的凹坑。本發(fā)明的光盤與另一種類型記錄裝置不兼容，所述另一種記錄裝置能夠在實際記錄之前對常規(guī)光盤的測試區(qū)域重復(fù)實施多達預(yù)定次數(shù)的測試記錄，并能夠連續(xù)將所述測試記錄的次數(shù)記錄在常規(guī)光盤的計數(shù)區(qū)域，以致于在計數(shù)區(qū)域的預(yù)定部分記錄最終的次數(shù)。本發(fā)明的光盤具有與常規(guī)光盤的測試區(qū)域相對應(yīng)的測試區(qū)域，和與常規(guī)光盤的預(yù)凹坑區(qū)域相對應(yīng)的預(yù)凹坑區(qū)域，至少在與常規(guī)光盤的計數(shù)區(qū)域相對應(yīng)的部分暫時用預(yù)凹坑來形成預(yù)凹坑區(qū)域，以致于防止所述類型的光盤記錄裝置實施測試記錄。
文檔編號G11B7/007GK1407544SQ0214197
公開日2003年4月2日 申請日期2002年8月29日 優(yōu)先權(quán)日2001年8月29日
發(fā)明者村田守啟, 平井明樹夫 申請人:雅馬哈株式會社