專利名稱：用于在記錄介質(zhì)中適當(dāng)?shù)胤峙鋫溆脜^(qū)的方法和裝置以及一種具有使用其分配的備用區(qū)的 ...的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及將備用區(qū)分配給記錄介質(zhì)，更具體地講，涉及一種用于給記錄介質(zhì)分配備用區(qū)以用于缺陷管理的方法和裝置，及其一種記錄介質(zhì)。
背景技術(shù)：
通常，為了缺陷管理的目的，備用區(qū)被分配給記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)。備用區(qū)的分配使得數(shù)據(jù)區(qū)被分成用戶數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)。備用區(qū)是被保留以當(dāng)缺陷在數(shù)據(jù)區(qū)發(fā)生時(shí)而使用的記錄介質(zhì)的區(qū)域。當(dāng)缺陷發(fā)生時(shí)，用戶數(shù)據(jù)能夠被記錄在備用區(qū)中，從而使用戶數(shù)據(jù)能夠被完全地記錄到記錄介質(zhì)中。
通常，在記錄介質(zhì)中，備用區(qū)的分配在初始化期間被執(zhí)行。備用區(qū)與數(shù)據(jù)區(qū)的比根據(jù)記錄介質(zhì)的缺陷比、將被記錄的數(shù)據(jù)的特征、數(shù)據(jù)區(qū)的尺寸等來(lái)被確定。
然而，當(dāng)缺陷比預(yù)期更頻繁地發(fā)生時(shí)，在用戶數(shù)據(jù)區(qū)完成數(shù)據(jù)記錄之前，備用區(qū)可能被整個(gè)地充滿數(shù)據(jù)。備用區(qū)的用盡防止缺陷管理在用戶數(shù)據(jù)區(qū)的剩余部分被執(zhí)行。相反，當(dāng)缺陷比預(yù)期低的頻率發(fā)生時(shí)，備用區(qū)的大部分可能被剩下而不被使用。在前面的情況下，與數(shù)據(jù)區(qū)相聯(lián)系的備用區(qū)的尺寸結(jié)果是過(guò)小的，而在后面的情況下，備用區(qū)的尺寸結(jié)果是過(guò)大的。對(duì)于這兩種情況，數(shù)據(jù)區(qū)都沒(méi)有被有效地使用。
缺陷管理能夠被定義為將其中檢測(cè)出缺陷的一部分用戶數(shù)據(jù)區(qū)的用戶數(shù)據(jù)重寫在記錄介質(zhì)的新的一部分?jǐn)?shù)據(jù)區(qū)中，從而補(bǔ)償由缺陷引起數(shù)據(jù)中的丟失。通常，使用線性替換或滑移替換來(lái)執(zhí)行缺陷管理。在線性替換中，用沒(méi)有缺陷的備用區(qū)來(lái)替換在其中存在缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)。在滑移替換中，記錄在具有缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)被滑移過(guò)以被記錄在沒(méi)有缺陷的下一用戶數(shù)據(jù)區(qū)中。
線性替換和滑移替換都僅僅適用于數(shù)據(jù)能夠被重復(fù)地記錄在其上并且使用隨機(jī)存取的方法在其中能夠執(zhí)行記錄的如DVD-RAM/RW的記錄介質(zhì)。難于將線性替換和滑移替換應(yīng)用到在其中僅僅允許一次記錄的一次寫入記錄介質(zhì)上。通常，不論數(shù)據(jù)是否能夠被記錄在記錄介質(zhì)上，根據(jù)記錄的數(shù)據(jù)，通過(guò)將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)上并且證實(shí)來(lái)檢測(cè)缺陷在記錄介質(zhì)中的存在。然而，一旦數(shù)據(jù)被記錄在一次寫入記錄介質(zhì)上，就不可能重寫新的數(shù)據(jù)并且管理其中的缺陷。
同時(shí)，在CD-R和DVD-R的發(fā)展后面，高密度一次寫入記錄介質(zhì)已經(jīng)被引入，高密度一次寫入記錄介質(zhì)具有幾十個(gè)十億字節(jié)(GB)的記錄容量。因?yàn)檫@些記錄介質(zhì)并不昂貴并且允許使快速讀取操作成為可能的隨機(jī)存取，所以這些記錄介質(zhì)能夠被用作備份記錄介質(zhì)。然而，缺陷管理并不適用于一次寫入記錄介質(zhì)。因此，因?yàn)樵谝淮螌懭胗涗浗橘|(zhì)上不執(zhí)行缺陷管理，所以當(dāng)缺陷區(qū)，即在其中發(fā)生缺陷的區(qū)域在備份操作期間被檢測(cè)出時(shí)，備份操作被中斷。通常，當(dāng)系統(tǒng)不被頻繁地使用時(shí)，如在系統(tǒng)管理員不操作系統(tǒng)的晚上時(shí)，備份操作被執(zhí)行。在這種情況下，更可能的是當(dāng)一次寫入記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)被檢測(cè)出時(shí)，備份操作被停止。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種根據(jù)記錄介質(zhì)中缺陷的發(fā)生率來(lái)更有效地對(duì)記錄介質(zhì)分配備用區(qū)的方法和裝置，從而實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)區(qū)的有效的使用，以及一種具有使用這些方法和裝置來(lái)在其上分配備用區(qū)的記錄介質(zhì)。
本發(fā)明還提供一種根據(jù)記錄介質(zhì)中缺陷的發(fā)生率來(lái)對(duì)一次寫入記錄介質(zhì)分配備用區(qū)的方法和裝置，從而實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)區(qū)的有效的使用，以及一種具有使用這些方法和裝置來(lái)在其上分配備用區(qū)的記錄介質(zhì)。
將在接下來(lái)的描述中部分闡述本發(fā)明另外的方面和/或優(yōu)點(diǎn)，還有一部分通過(guò)描述將是清楚的，或者可以經(jīng)過(guò)本發(fā)明的實(shí)施而得知。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種對(duì)記錄介質(zhì)分配備用區(qū)的方法，包括根據(jù)第一記錄操作將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)中；根據(jù)在第一記錄操作期間在所記錄的數(shù)據(jù)中檢測(cè)出的缺陷來(lái)創(chuàng)建關(guān)于記錄介質(zhì)的所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整的信息；將關(guān)于備用區(qū)的尺寸的調(diào)整的信息、和關(guān)于根據(jù)第一記錄操作所記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷的信息作為第一臨時(shí)缺陷信息記錄在記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)中；和將缺陷管理信息記錄到記錄介質(zhì)，以用于將第一臨時(shí)缺陷信息作為第一臨時(shí)缺陷管理信息在記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)、導(dǎo)出區(qū)和外部區(qū)中的至少一個(gè)中的記錄介質(zhì)的臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中管理。
可以重復(fù)在數(shù)據(jù)區(qū)中數(shù)據(jù)的另一次記錄、另一備用區(qū)尺寸的調(diào)整信息的記錄、另外的缺陷信息的記錄、和在記錄介質(zhì)上進(jìn)行缺陷管理信息的記錄，并且創(chuàng)建關(guān)于另外調(diào)整的備用區(qū)尺寸的信息，同時(shí)將另一記錄操作、另一臨時(shí)缺陷信息區(qū)和臨時(shí)缺陷管理信息的索引加1，以及將最后所記錄的臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息記錄在記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)、導(dǎo)出區(qū)和外部區(qū)中的至少一個(gè)中的記錄介質(zhì)的缺陷管理區(qū)(DMA)中。
創(chuàng)建關(guān)于所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整的信息的步驟可以包括計(jì)算缺陷的發(fā)生率；和根據(jù)所計(jì)算的發(fā)生率來(lái)創(chuàng)建關(guān)于所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整的信息。根據(jù)所計(jì)算的發(fā)生率來(lái)創(chuàng)建關(guān)于所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整的信息的步驟可使用缺陷的發(fā)生率和所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整，或者缺陷的發(fā)生率和備用區(qū)的可能位置在其中被映射的映射表。
根據(jù)第一記錄操作將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)中的步驟可包括將數(shù)據(jù)以數(shù)據(jù)的預(yù)定單位記錄在記錄介質(zhì)上；驗(yàn)證所記錄的數(shù)據(jù)以檢測(cè)在其中發(fā)生缺陷的所記錄的數(shù)據(jù)的區(qū)域；將指定具有缺陷的區(qū)域和在其中數(shù)據(jù)被記錄在具有缺陷的區(qū)域后面的隨后的區(qū)域?yàn)槿毕輩^(qū)的信息存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中；以預(yù)定的單位，在缺陷區(qū)后面將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)上；并且記錄所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整和缺陷信息包括從存儲(chǔ)器中讀出第一臨時(shí)缺陷信息；和將所讀出的第一臨時(shí)缺陷信息記錄在記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)區(qū)的第一臨時(shí)缺陷信息區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供一種記錄或記錄和再現(xiàn)裝置，其包括記錄/讀出單元，用于將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)上和/或從記錄介質(zhì)讀出數(shù)據(jù)；和控制器，用于控制記錄/讀出單元以根據(jù)第一記錄操作將關(guān)于在記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)中所記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷的信息作為第一臨時(shí)缺陷信息記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中，以根據(jù)缺陷來(lái)調(diào)整記錄介質(zhì)的備用區(qū)的尺寸，并且用于控制記錄/讀出單元來(lái)將關(guān)于備用區(qū)的尺寸的調(diào)整的信息記錄在第一臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中，以及用于控制記錄/讀出單元以將用于管理第一臨時(shí)缺陷信息區(qū)的缺陷管理信息作為第一臨時(shí)缺陷管理信息記錄在記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中的記錄介質(zhì)上的臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中。
控制器可以控制記錄/讀出單元以將數(shù)據(jù)記錄在數(shù)據(jù)區(qū)，同時(shí)將另一記錄操作、另一臨時(shí)缺陷信息和另一臨時(shí)缺陷管理信息的索引加1，并且控制記錄/讀出單元以將最后所記錄的臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息記錄在記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中的記錄介質(zhì)上的缺陷管理區(qū)中。
控制器可以計(jì)算根據(jù)第一記錄操作所記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷的發(fā)生率，并且根據(jù)所計(jì)算的發(fā)生率來(lái)調(diào)整所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整。
控制器可以控制記錄單元來(lái)根據(jù)預(yù)定的記錄操作以預(yù)定的數(shù)據(jù)單位記錄數(shù)據(jù)，驗(yàn)證所記錄的數(shù)據(jù)以檢測(cè)所記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷，創(chuàng)建用于將具有缺陷的記錄介質(zhì)的區(qū)域和記錄在具有缺陷的區(qū)域后面的數(shù)據(jù)指定為缺陷區(qū)的缺陷區(qū)信息，；并且將缺陷區(qū)信息作為第i臨時(shí)缺陷信息存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中，控制記錄單元來(lái)根據(jù)預(yù)定的記錄操作在缺陷區(qū)后面以數(shù)據(jù)的預(yù)定單位記錄數(shù)據(jù)，以及控制記錄/讀出單元以在根據(jù)預(yù)定的記錄操作完成數(shù)據(jù)的記錄后從存儲(chǔ)器中讀出第i臨時(shí)缺陷信息，并且將所讀出的數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)區(qū)的第i臨時(shí)缺陷信息區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供一種具有在其中導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)被順序地形成的單記錄層的一次寫入記錄介質(zhì)，，該記錄介質(zhì)包括缺陷管理區(qū)，其在該記錄介質(zhì)上，在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中；和臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)，其存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中，并且關(guān)于備用區(qū)的信息被記錄在其中以實(shí)現(xiàn)記錄介質(zhì)的缺陷管理。


參照附圖，通過(guò)詳細(xì)地描述其實(shí)施例，本發(fā)明的以上和/或其它方面和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更加清楚，其中圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄裝置的方框圖；圖2A和2B示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄介質(zhì)的結(jié)構(gòu)；圖3示出圖2A和2B中所示的記錄介質(zhì)的結(jié)構(gòu)；圖4是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄操作的詳細(xì)圖解；圖5是示出在備用區(qū)和備用區(qū)信息之間的關(guān)系的圖解；圖6A和6B示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的臨時(shí)缺陷信息#1和#2的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖7示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的備用區(qū)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖8示出根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的備用區(qū)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；和圖9示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于給記錄介質(zhì)分配備用區(qū)的方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式
現(xiàn)在將參照附圖來(lái)更全面地描述本發(fā)明，其附圖中，顯示了本發(fā)明的實(shí)施例。
圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄裝置的方框圖。參照?qǐng)D1，該記錄裝置包括記錄/讀取單元1、控制器2和存儲(chǔ)器3。記錄/讀取單元1將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)100上，如光盤上，并且從記錄介質(zhì)100讀取數(shù)據(jù)以驗(yàn)證所記錄的數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性?？刂破?執(zhí)行缺陷管理，并且根據(jù)缺陷的發(fā)生率來(lái)給記錄介質(zhì)100分配備用區(qū)。例如，控制器2當(dāng)缺陷的發(fā)生率大于預(yù)定的閾值時(shí)增加記錄介質(zhì)100中的備用區(qū)的尺寸，并且當(dāng)發(fā)生率小于預(yù)定的閾值時(shí)，降低備用區(qū)的尺寸。關(guān)于所調(diào)整的備用區(qū)的尺寸的信息被記錄在記錄介質(zhì)100的臨時(shí)缺陷信息區(qū)中，下面將更詳細(xì)地解釋。這里，不存在關(guān)于預(yù)定的閾值的范圍的限制。然而，預(yù)定的閾值通常根據(jù)缺陷的一般的發(fā)生率來(lái)被適當(dāng)?shù)卮_定。
在本實(shí)施例中，控制器2使用寫入后驗(yàn)證(verify-after-write)的方法。即，控制器2控制記錄/讀取單元1以預(yù)定的單位來(lái)記錄數(shù)據(jù)并且驗(yàn)證所記錄的數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。接下來(lái)，控制器2創(chuàng)建指示記錄介質(zhì)100的缺陷區(qū)的位置的缺陷信息并將其存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器3中。每當(dāng)缺陷信息被創(chuàng)建時(shí)，新的缺陷信息被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器3中。當(dāng)缺陷信息的量達(dá)到了預(yù)定的水平時(shí)，控制器2將缺陷信息作為臨時(shí)缺陷信息記錄在記錄介質(zhì)100上?？刂破?計(jì)算缺陷的發(fā)生率并且根據(jù)計(jì)算出的發(fā)生率來(lái)調(diào)整備用區(qū)的尺寸。關(guān)于所調(diào)整的備用區(qū)的尺寸的信息被加給缺陷信息以用于在記錄介質(zhì)100的臨時(shí)缺陷信息區(qū)中記錄。臨時(shí)缺陷信息和用于管理備用區(qū)信息的管理信息作為臨行缺陷管理信息被記錄在記錄介質(zhì)100上。
在本實(shí)施例中，所調(diào)整的備用區(qū)的尺寸以記錄操作為單位被周期性地記錄。因此，備用區(qū)信息以及臨時(shí)缺陷信息以記錄操作為單位被周期性地記錄。通常，記錄操作是根據(jù)用戶意向來(lái)確定的一單位的工作或者是將被執(zhí)行的記錄工作。根據(jù)本實(shí)施例，記錄操作表示記錄介質(zhì)100被裝入記錄裝置、數(shù)據(jù)被記錄在記錄介質(zhì)100上和記錄介質(zhì)100從記錄裝置中取出的這樣一種過(guò)程。在記錄操作執(zhí)行幾次期間，通常數(shù)據(jù)被記錄并驗(yàn)證至少一次。在寫入后驗(yàn)證的方法后面所獲得的信息作為臨時(shí)缺陷信息被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器3中。
當(dāng)用戶為了在記錄數(shù)據(jù)后面取出記錄介質(zhì)100而按下記錄裝置的彈出按鈕(未示出)時(shí)，控制器2期望記錄操作被終止。然后，控制器2根據(jù)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器3中的臨時(shí)缺陷信息來(lái)調(diào)整備用區(qū)的大小。此外，控制器2控制備用區(qū)信息和臨時(shí)缺陷信息以及用于管理臨時(shí)缺陷信息的管理信息以作為臨時(shí)缺陷管理信息被記錄在記錄介質(zhì)100上。
如果將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)100上被完成，那么沒(méi)有更多的數(shù)據(jù)將被記錄在記錄介質(zhì)100上，即，記錄介質(zhì)100將被最終確定，并且控制器2將臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息記錄在記錄介質(zhì)100的缺陷管理區(qū)(DMA)中。
圖2A和2B示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的圖1的記錄介質(zhì)100的結(jié)構(gòu)。具體地，圖2A示出具有記錄層L0的單記錄層記錄介質(zhì)的記錄介質(zhì)100。記錄介質(zhì)100包括導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)。導(dǎo)入?yún)^(qū)位于記錄介質(zhì)100的內(nèi)徑向部分，并且導(dǎo)出區(qū)位于記錄介質(zhì)100的外徑向部分。數(shù)據(jù)區(qū)存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)之間，并且被分成用戶數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)，用戶數(shù)據(jù)區(qū)是用戶數(shù)據(jù)被記錄在其中的區(qū)域。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例，因?yàn)閭溆脜^(qū)的尺寸能夠根據(jù)記錄介質(zhì)100中的缺陷的發(fā)生率來(lái)被調(diào)整，所以該尺寸是可變的。備用區(qū)替換具有缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)以確保由于缺陷被記錄到用戶數(shù)據(jù)區(qū)的數(shù)據(jù)不被丟失。最好，備用區(qū)最初達(dá)到記錄介質(zhì)100的整個(gè)數(shù)據(jù)容量的大約5％，從而，更多的數(shù)據(jù)能夠被記錄在記錄介質(zhì)100上。此外，最好，備用區(qū)位于記錄介質(zhì)100的記錄區(qū)的一端。特別地，在一次寫入記錄介質(zhì)的情況下，備用區(qū)必須位于記錄介質(zhì)的記錄區(qū)的一端，從而當(dāng)備用區(qū)數(shù)據(jù)被記錄時(shí)，滑移替換從記錄介質(zhì)100的內(nèi)徑向部分開(kāi)始向著外徑向部分被執(zhí)行。
圖2B示出作為具有兩個(gè)記錄層L0和L1的雙記錄層記錄介質(zhì)的記錄介質(zhì)100。導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和外部區(qū)順序地從第一記錄層L0的內(nèi)徑向部分到外徑向部分形成。此外，外部區(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)順序地從第二記錄層L1的外徑向部分到內(nèi)徑向部分形成。與圖2A的單記錄層記錄介質(zhì)不同，圖2B中的記錄介質(zhì)100的導(dǎo)出區(qū)出現(xiàn)在記錄介質(zhì)100的內(nèi)徑向部分。即，圖2B的記錄介質(zhì)100具有相反軌道路徑(OTP)，在該相反軌道路徑中，數(shù)據(jù)從第一記錄層L0的導(dǎo)入?yún)^(qū)開(kāi)始朝向外部區(qū)，并且繼續(xù)從第二記錄層L1的外部區(qū)到導(dǎo)出區(qū)被記錄。各個(gè)備用區(qū)被分配在第一記錄層L0和第二記錄層L1中。在圖2B的記錄介質(zhì)100中，備用區(qū)沿著記錄方向被分配在記錄介質(zhì)100的每一記錄層的一端，從而當(dāng)滑移替換沿著OTP被執(zhí)行時(shí)，它們的尺寸在數(shù)據(jù)被記錄的同時(shí)能夠被改變。
圖3示出根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例的圖2A和2B中所示的記錄介質(zhì)100的結(jié)構(gòu)的示例。參照?qǐng)D3，DMA存在于記錄介質(zhì)100的導(dǎo)入?yún)^(qū)、導(dǎo)出區(qū)和外部區(qū)的至少一個(gè)中。此外，臨時(shí)缺陷管理區(qū)在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中形成。在每個(gè)記錄操作期間，臨時(shí)缺陷信息在數(shù)據(jù)區(qū)中被形成，并且備用區(qū)的尺寸被調(diào)整并且被再分配。
通常，關(guān)于管理記錄介質(zhì)100中的缺陷的信息被記錄在DMA中。例如，這種信息包括用于缺陷管理的記錄介質(zhì)100的結(jié)構(gòu)、缺陷信息的位置、缺陷管理是否被執(zhí)行，和備用區(qū)的位置和尺寸。在一次寫入記錄介質(zhì)的情況下，當(dāng)先前記錄的數(shù)據(jù)改變時(shí)新的數(shù)據(jù)被記錄在先前記錄的數(shù)據(jù)后面。通常，當(dāng)記錄介質(zhì)被裝入記錄或記錄和再現(xiàn)裝置時(shí)，該裝置從記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)讀出數(shù)據(jù)，以確定如何管理記錄介質(zhì)并且如何將數(shù)據(jù)記錄到記錄介質(zhì)中或者從記錄介質(zhì)中讀出數(shù)據(jù)。然而，如果記錄在導(dǎo)入?yún)^(qū)的數(shù)據(jù)量增加，那么在裝入該記錄介質(zhì)后，更多的時(shí)間將被花費(fèi)在準(zhǔn)備數(shù)據(jù)的記錄或者再現(xiàn)上。因此，本發(fā)明的實(shí)施例利用臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息。即，只有比臨時(shí)缺陷信息更加重要的臨時(shí)缺陷管理信息被記錄在導(dǎo)入?yún)^(qū)中，并且臨時(shí)缺陷信息被記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中。關(guān)于備用區(qū)的信息被記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)中。
最好，新信息被加到臨時(shí)缺陷信息中的先前被記錄的信息中，從而所有記錄的信息在其中累積。記錄/再現(xiàn)裝置讀出最后記錄的臨時(shí)缺陷信息以識(shí)別整個(gè)記錄介質(zhì)的缺陷。因此，關(guān)于最后記錄的臨時(shí)缺陷信息的位置的信息被記錄在臨時(shí)缺陷管理信息被記錄在其中的臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中。
更具體地講，關(guān)于在記錄的數(shù)據(jù)中發(fā)生的缺陷的信息、和關(guān)于在記錄操作#1期間調(diào)整的備用區(qū)的尺寸的信息被記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)#1中。此外，關(guān)于在記錄操作#2期間發(fā)生的缺陷的信息、和關(guān)于在記錄操作#2期間調(diào)整的備用區(qū)的尺寸的信息被記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)#2中。用于管理臨時(shí)缺陷信息區(qū)#1、#2、…、#i的缺陷管理信息被記錄在臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中，i是整數(shù)。如果沒(méi)有更多的數(shù)據(jù)能夠被記錄在記錄介質(zhì)100上或者用戶不想將任何更多的數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)100上，那么記錄介質(zhì)100需要被最終確定，并且記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)中的臨時(shí)缺陷信息、和記錄在臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中的臨時(shí)缺陷管理信息被記錄在DMA中。關(guān)于備用區(qū)的信息的記錄是可選擇的。
現(xiàn)在將解釋將臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息記錄在DMA中的原因。當(dāng)沒(méi)有更多的數(shù)據(jù)將被記錄在記錄介質(zhì)100上，并且記錄介質(zhì)100需要被最終確定時(shí)，被更新了幾次的臨時(shí)缺陷管理信息、和記錄在數(shù)據(jù)區(qū)的臨時(shí)缺陷信息被記錄在導(dǎo)入?yún)^(qū)的DMA中，從而使記錄在記錄介質(zhì)100中的信息的快速讀取成為可能。此外，還可以通過(guò)將缺陷管理信息記錄在多個(gè)區(qū)域中來(lái)提高所記錄的信息的再現(xiàn)的可靠性。
在本實(shí)施例中，記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)#0至#i-1中的缺陷信息被重復(fù)地記錄在順序的臨時(shí)缺陷信息區(qū)中。因此，在記錄介質(zhì)100的最終確定期間，足以從最后的臨時(shí)缺陷信息區(qū)讀出缺陷信息并且將所讀出的信息記錄在DMA中。同時(shí)，因?yàn)橹挥凶罱碌膫溆脜^(qū)信息是可用的，所以最好不要將記錄在前面的臨時(shí)缺陷信息區(qū)#1、#2、#3、…、和#i-1中的備用區(qū)信息記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)#i中。
在如高密度藍(lán)光光盤的具有幾十個(gè)GB的記錄容量的高密度記錄介質(zhì)的情況下，期望被記錄在臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)并相應(yīng)于臨時(shí)缺陷信息區(qū)#i的大量的臨時(shí)缺陷管理信息#i被分配大約1簇，臨時(shí)缺陷信息區(qū)#i的尺寸被設(shè)置為4到8簇。這是因?yàn)楸M管記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)#i的信息量?jī)H僅是大約幾KB，然而當(dāng)最小的物理記錄單位是簇時(shí)，最好以簇為單位來(lái)記錄新信息以更新信息。同時(shí)，最好在記錄介質(zhì)中所允許的缺陷的總量是記錄介質(zhì)記錄容量的大約百分之五。例如，考慮到關(guān)于缺陷的信息假定大約為8字節(jié)，并且簇的尺寸大約為64KB，需要大約4-8簇以記錄臨時(shí)缺陷信息#i。
在臨時(shí)缺陷信息區(qū)#i和臨時(shí)缺陷管理信息#i中能夠執(zhí)行寫入后驗(yàn)證的方法。當(dāng)缺陷被檢測(cè)出時(shí)，信息再次被記錄在鄰近的區(qū)域中。
圖4是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄操作的詳細(xì)的圖解。
在由圖4所表示的實(shí)施例中，數(shù)據(jù)可以以扇區(qū)或簇為單位來(lái)被處理。扇區(qū)表示以計(jì)算機(jī)的文件系統(tǒng)或應(yīng)用程序來(lái)管理的數(shù)據(jù)的最小單元，并且簇表示能夠一次被物理地記錄在記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)的最小單元。通常，一個(gè)或更多個(gè)扇區(qū)組成一個(gè)簇。
存在兩種類型的扇區(qū)物理扇區(qū)和邏輯扇區(qū)。物理扇區(qū)是在其中一扇區(qū)的數(shù)據(jù)可以被記錄在記錄介質(zhì)上的區(qū)域。用于檢測(cè)無(wú)論扇區(qū)的地址被稱作為物理扇區(qū)號(hào)(PSN)。邏輯扇區(qū)是用于以記錄在記錄介質(zhì)上的物理扇區(qū)中的文件系統(tǒng)或應(yīng)用程序來(lái)管理數(shù)據(jù)的扇區(qū)單元，并且用于檢測(cè)邏輯扇區(qū)的地址被稱作為邏輯扇區(qū)號(hào)(LSN)。記錄/再現(xiàn)裝置使用PSN來(lái)檢測(cè)將被記錄在記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)的位置。整個(gè)數(shù)據(jù)以將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)上的計(jì)算機(jī)或應(yīng)用程序中的LSN為單位來(lái)被管理，即，將被記錄的數(shù)據(jù)的位置使用LSN來(lái)被檢測(cè)。LSN和PSN之間的關(guān)系根據(jù)記錄介質(zhì)是否包含缺陷、缺陷出現(xiàn)的位置、以及記錄數(shù)據(jù)的初始位置的物理扇區(qū)號(hào)來(lái)由記錄/再現(xiàn)裝置的控制器控制。
參照?qǐng)D4，A表示其中PSN已經(jīng)以升序被分配給多個(gè)扇區(qū)(未示出)的數(shù)據(jù)區(qū)。通常，每個(gè)LSN相應(yīng)于至少一個(gè)PSN。然而，因?yàn)槌巳毕萆葏^(qū)之外，LSN以升序被分配給扇區(qū)，所以即使物理扇區(qū)的尺寸與邏輯扇區(qū)的尺寸相同，當(dāng)記錄介質(zhì)具有缺陷區(qū)時(shí)，各個(gè)PSN和LSN之間的相應(yīng)也不被維持。
在圖4中，數(shù)據(jù)單元區(qū)段①至⑨表示一系列記錄的數(shù)據(jù)單元，在每一記錄后相應(yīng)的驗(yàn)證被執(zhí)行。詳細(xì)地，記錄裝置將用戶數(shù)據(jù)記錄在區(qū)段①中，返回到區(qū)段①的開(kāi)始，并且開(kāi)始檢查用戶數(shù)據(jù)是否已經(jīng)被正確地記錄或者缺陷是否已經(jīng)發(fā)生。如果缺陷被檢測(cè)出，那么在區(qū)段①中包含缺陷和在缺陷后面被記錄在缺陷后面的數(shù)據(jù)的區(qū)域被指定為缺陷區(qū)#1。接下來(lái)，記錄裝置將用戶數(shù)據(jù)記錄在區(qū)段②中，返回到區(qū)段②的開(kāi)始，并且檢查用戶數(shù)據(jù)是否被正確地記錄或者缺陷是否已經(jīng)發(fā)生。如果缺陷被檢測(cè)出，那么在區(qū)段②中包含缺陷和被記錄在缺陷后面的數(shù)據(jù)的區(qū)域被指定為缺陷區(qū)#2。同樣地，缺陷區(qū)#3在區(qū)段③中被指定。然而，因?yàn)樵趨^(qū)段④中沒(méi)有檢測(cè)出缺陷，所以在區(qū)段④中沒(méi)有指定缺陷區(qū)。
因?yàn)楦鶕?jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄介質(zhì)100是一次寫入記錄介質(zhì)，所以期望記錄在具有缺陷的區(qū)域后面的數(shù)據(jù)不被使用，并且包括記錄在缺陷后面的數(shù)據(jù)的區(qū)域以及包含缺陷的區(qū)域被指定為缺陷區(qū)。假定LSNi被分配給在其中數(shù)據(jù)被記錄在具有缺陷的區(qū)域后面的區(qū)域，為了使用該數(shù)據(jù)，在其中數(shù)據(jù)被記錄在具有LSNi的區(qū)域后面的區(qū)域必須被表示為i-1以用于數(shù)據(jù)再現(xiàn)。然而，如果存在LSN沒(méi)有以升序分配給其的區(qū)段，那么不容易管理邏輯扇區(qū)。因此，在本實(shí)施例中，在缺陷區(qū)后面的所有的數(shù)據(jù)區(qū)也被當(dāng)作缺陷區(qū)，從而提高了管理邏輯扇區(qū)的效率。
在對(duì)區(qū)段④的數(shù)據(jù)的記錄并驗(yàn)證后面，當(dāng)記錄操作#1被期望結(jié)束時(shí)，即當(dāng)用戶接下記錄裝置的彈出按鈕或者在記錄操作#1期間用戶數(shù)據(jù)的記錄被完成時(shí)，備用區(qū)的尺寸根據(jù)先前檢測(cè)出的缺陷的數(shù)量來(lái)被重新調(diào)整。關(guān)于在區(qū)段①至④發(fā)生的缺陷#1至#3的信息和備用區(qū)信息被記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)#1中。因此，臨時(shí)缺陷信息區(qū)#1包含用于記錄操作#1的缺陷區(qū)的信息、和關(guān)于所調(diào)整的備用區(qū)尺寸的信息。此外，當(dāng)記錄操作被期望結(jié)束時(shí)，考慮到在區(qū)段⑥-⑧發(fā)生的缺陷，備用區(qū)的尺寸也被重新調(diào)整。臨時(shí)缺陷信息#2包含對(duì)記錄操作#2的缺陷區(qū)的信息、記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)#1中的信息以及備用區(qū)信息。
圖5是示出備用區(qū)和備用區(qū)信息之間的關(guān)系的圖解。參照?qǐng)D5，例如，備用區(qū)信息被記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)#1和#2中。當(dāng)記錄操作#1被預(yù)期望結(jié)束時(shí)，備用區(qū)的尺寸被調(diào)整，并且關(guān)于所調(diào)整的備用區(qū)尺寸的信息被記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)#1中。記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)#1中的備用區(qū)信息包含關(guān)于其尺寸被調(diào)整的備用區(qū)的信息。相似地，記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)#2中的備用區(qū)信息包含關(guān)于其尺寸再次被調(diào)整的備用區(qū)的信息。在記錄操作#2終止后，備用區(qū)信息被更新并且被記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)#2中。
圖6A和6B示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的臨時(shí)缺陷信息#1和#2的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。參照?qǐng)D6A，臨時(shí)缺陷信息#1包含關(guān)于缺陷#1至#3的信息。關(guān)于缺陷#1的信息描述了缺陷#1的位置，關(guān)于缺陷#2的信息描述了缺陷#2的位置，并且關(guān)于缺陷#3的信息描述了缺陷#3的位置。
關(guān)于臨時(shí)缺陷信息#1的信息還被包含在臨時(shí)缺陷信息#1中。關(guān)于臨時(shí)缺陷信息#1的信息包括臨時(shí)缺陷信息#1的位置。然而，臨時(shí)缺陷信息#1不包含用戶數(shù)據(jù)，因此，在用戶數(shù)據(jù)的再現(xiàn)期間，其不被再現(xiàn)為用戶數(shù)據(jù)。即，對(duì)于用戶數(shù)據(jù)的再現(xiàn)，因?yàn)橛脩魯?shù)據(jù)不被包含在其中，所以區(qū)別缺陷區(qū)#i和臨時(shí)缺陷信息#1是毫無(wú)意義的。總之，臨時(shí)缺陷信息#1包含關(guān)于其位置的信息，即，關(guān)于臨時(shí)缺陷信息#1的信息，因此能夠被用作有用的信息，例如用于表示該信息是臨時(shí)缺陷信息，并不是用戶數(shù)據(jù)。
另外，關(guān)于備用區(qū)的信息被包含在臨時(shí)缺陷信息#1中。關(guān)于備用區(qū)的信息提供關(guān)于在記錄操作#1終止后面設(shè)置的備用區(qū)的信息，使記錄裝置能夠檢測(cè)用于記錄操作#2的備用區(qū)的位置和尺寸。
參照?qǐng)D6B，除了包含在臨時(shí)缺陷信息#1中的信息之外，臨時(shí)缺陷信息#2包含關(guān)于缺陷#4和#5的信息。因?yàn)榕c臨時(shí)缺陷信息#1中相同的原因，臨時(shí)缺陷信息#2也包含指示臨時(shí)缺陷信息#2的位置的關(guān)于臨時(shí)缺陷信息#2的信息。此外，備用區(qū)信息也被包含在臨時(shí)缺陷信息#2中。關(guān)于備用區(qū)的信息提供在記錄操作#2的終止后面設(shè)置的備用區(qū)的信息，使記錄裝置能夠檢測(cè)用于下一記錄操作的備用區(qū)的位置和尺寸。
在本實(shí)施例中，關(guān)于缺陷#i的信息包括關(guān)于缺陷#i的開(kāi)始位置和結(jié)束位置以及狀態(tài)的如狀態(tài)信息的信息。通常，狀態(tài)信息被理解為指示本區(qū)域是缺陷區(qū)還是臨時(shí)缺陷信息被記錄在其中的區(qū)域的標(biāo)志信息。在關(guān)于缺陷#i的信息中，狀態(tài)信息是指示本區(qū)域是缺陷區(qū)的標(biāo)志信息。關(guān)于開(kāi)始位置的信息表示本區(qū)域的開(kāi)始，即缺陷#i的開(kāi)始。關(guān)于結(jié)束位置的信息表示本區(qū)域的結(jié)束，即缺陷#i的結(jié)束。關(guān)于臨時(shí)缺陷信息#i的信息還包括關(guān)于臨時(shí)缺陷信息#i的狀態(tài)以及開(kāi)始和結(jié)束位置的信息。通常，狀態(tài)信息被理解為指示本區(qū)域是在其中發(fā)生缺陷的缺陷區(qū)還是臨時(shí)缺陷信息被記錄在其中的區(qū)域的標(biāo)志信息。在關(guān)于臨時(shí)缺陷信息#i的信息中，狀態(tài)信息是指示本區(qū)域是臨時(shí)缺陷信息被記錄在其中的區(qū)域而不是缺陷區(qū)的標(biāo)志信息。
圖7示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的備用區(qū)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。圖8示出根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施例的備用區(qū)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
參照?qǐng)D7，備用區(qū)信息指示備用區(qū)的開(kāi)始位置。開(kāi)始位置能夠用PSN來(lái)表示。參照?qǐng)D8，備用區(qū)信息指示備用區(qū)的尺寸。在本實(shí)施例中，因?yàn)閭溆脜^(qū)的結(jié)束位置是固定的，所以可以根據(jù)關(guān)于備用區(qū)的尺寸的信息來(lái)容易地檢測(cè)備用區(qū)的開(kāi)始位置。
圖9是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的在記錄介質(zhì)中分配備用區(qū)的方法的流程圖。參照?qǐng)D9，在操作901中，記錄裝置在根據(jù)第一記錄操作被記錄在記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)區(qū)中創(chuàng)建關(guān)于缺陷的信息，以管理在記錄介質(zhì)中發(fā)生的缺陷。在操作902中，缺陷的發(fā)生率基于根據(jù)第一記錄操作被記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷來(lái)被計(jì)算，并且備用區(qū)的尺寸根據(jù)所計(jì)算的發(fā)生率來(lái)被調(diào)整。這里，記錄裝置可包括映射表，在該映射表中，關(guān)于相應(yīng)于缺陷的幾個(gè)發(fā)生率的備用區(qū)的尺寸(或位置)的信息被映射以用于備用區(qū)尺寸的調(diào)整。在操作903中，記錄裝置將關(guān)于所調(diào)整的備用區(qū)尺寸的信息以及在操作901中創(chuàng)建的缺陷信息記錄在第一臨時(shí)缺陷信息區(qū)中。在操作904中，記錄裝置將用于管理第一臨時(shí)缺陷信息區(qū)的第一缺陷管理信息記錄在記錄介質(zhì)中的臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中。
接下來(lái)，在操作905中，檢查記錄介質(zhì)是否需要被最終確定。如果確定記錄介質(zhì)不需要被最終確定，那么操作901至904被重復(fù)，同時(shí)在操作906中，分給記錄操作、臨時(shí)缺陷信息區(qū)以及臨時(shí)缺陷管理信息的索引加1。在操作907中，如果在操作905中確定記錄介質(zhì)需要被最終確定，那么最后所記錄的臨時(shí)缺陷管理信息和相應(yīng)的臨時(shí)缺陷信息被記錄在DMA中，并且最后所記錄的數(shù)據(jù)的位置的信息被記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中。即，最后所記錄的臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息作為最后臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息被記錄在DMA中。因?yàn)橐坏┯涗浗橘|(zhì)被最終確定，備用區(qū)的存在變得毫無(wú)意義，所以最好備用區(qū)信息不被記錄在DMA中。而關(guān)于在用戶數(shù)據(jù)區(qū)所記錄的數(shù)據(jù)的位置的信息，即PSN和LSN，被記錄在DMA中。
最終的臨時(shí)信息和最終的管理信息可被重復(fù)地記錄在DMA中，從而提高數(shù)據(jù)檢測(cè)的可靠性。此外，寫入后驗(yàn)證的方法可對(duì)最終的臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息執(zhí)行。如果缺陷從這兩條信息中被檢測(cè)出，那么在其中發(fā)生缺陷的記錄介質(zhì)的區(qū)域和記錄在具有缺陷的區(qū)域后面÷的數(shù)據(jù)可被看作不可用，即，它們被指定為缺陷區(qū)，并且最終的臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息可被再次記錄在缺陷區(qū)的后面。
同時(shí)，在上述的實(shí)施例中，備用區(qū)的尺寸在每一記錄操作期間被周期性地調(diào)整，但是調(diào)整的周期不受限制。例如，每隔一個(gè)記錄操作，備用區(qū)的尺寸可被調(diào)整。
產(chǎn)業(yè)上的可利用性如上所述，本發(fā)明提供了一種根據(jù)記錄介質(zhì)中的缺陷的發(fā)生率來(lái)分配備用區(qū)而導(dǎo)致了數(shù)據(jù)區(qū)的有效的使用的方法和裝置，以及一種使用本發(fā)明的實(shí)施例的方法和裝置的在其上具有備用區(qū)的記錄介質(zhì)。具體地講，在一次寫入記錄介質(zhì)中發(fā)生的缺陷能被管理，并且備用區(qū)根據(jù)在記錄介質(zhì)中的缺陷的發(fā)生率能夠被分配，從而數(shù)據(jù)區(qū)能夠被有效地使用。
盡管參照其一些方面已經(jīng)具體地顯示和描述了本發(fā)明，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該理解，在不脫離由所附權(quán)利要求所限定本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以在其中做各種形式和細(xì)節(jié)的改變。
權(quán)利要求
1.一種對(duì)記錄介質(zhì)分配備用區(qū)的方法，包括根據(jù)第一記錄操作將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)中；根據(jù)在第一記錄操作期間在所記錄的數(shù)據(jù)中檢測(cè)出的缺陷來(lái)創(chuàng)建關(guān)于記錄介質(zhì)的所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整的信息；將關(guān)于備用區(qū)的尺寸的調(diào)整的信息、和關(guān)于根據(jù)第一記錄操作所記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷的信息作為第一臨時(shí)缺陷信息記錄在記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)中；將缺陷管理信息記錄到記錄介質(zhì)，以用于將第一臨時(shí)缺陷信息作為第一臨時(shí)缺陷管理信息在記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)、導(dǎo)出區(qū)和外部區(qū)中的至少一個(gè)中的記錄介質(zhì)的臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中管理。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括重復(fù)在數(shù)據(jù)區(qū)中數(shù)據(jù)的另一次記錄、另一備用區(qū)尺寸的調(diào)整信息的記錄、另外的缺陷信息的記錄、和在記錄介質(zhì)上缺陷管理信息的記錄，并創(chuàng)建關(guān)于另外調(diào)整的備用區(qū)尺寸的信息，同時(shí)將另一記錄操作、另一臨時(shí)缺陷信息區(qū)和臨時(shí)缺陷管理信息的索引加1；和將最后所記錄的臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息記錄在記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)、導(dǎo)出區(qū)和外部區(qū)中的至少一個(gè)中的記錄介質(zhì)的缺陷管理區(qū)(DMA)中。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，根據(jù)最后的記錄操作，在將數(shù)據(jù)記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中的后面，執(zhí)行最后所記錄的臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息的記錄。
4.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，最后所記錄的臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息的記錄還包括將關(guān)于所記錄的數(shù)據(jù)的位置信息記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，其中，最后所記錄的臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息的記錄還包括將物理扇區(qū)號(hào)和邏輯扇區(qū)號(hào)中的至少一個(gè)記錄為位置信息。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，創(chuàng)建關(guān)于所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整的信息的步驟包括計(jì)算缺陷的發(fā)生率；和根據(jù)所計(jì)算的發(fā)生率來(lái)創(chuàng)建關(guān)于所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整的信息。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其中，根據(jù)所計(jì)算的發(fā)生率來(lái)創(chuàng)建關(guān)于所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整的信息的步驟使用缺陷的發(fā)生率和所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整，或者缺陷的發(fā)生率和備用區(qū)的可能位置在其中被映射的映射表。
8.如權(quán)利要求6所述的方法，其中，根據(jù)所計(jì)算的發(fā)生率來(lái)創(chuàng)建關(guān)于所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整的信息的步驟包括使用關(guān)于備用區(qū)的開(kāi)始位置的信息來(lái)創(chuàng)建所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整。
9.如權(quán)利要求6所述的方法，其中，根據(jù)所計(jì)算的發(fā)生率來(lái)創(chuàng)建關(guān)于所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整的信息包括關(guān)于備用區(qū)尺寸的信息作為備用區(qū)信息。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，根據(jù)第一記錄操作將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)中的步驟包括將數(shù)據(jù)以數(shù)據(jù)的預(yù)定單位記錄在記錄介質(zhì)上；驗(yàn)證所記錄的數(shù)據(jù)以檢測(cè)在其中發(fā)生缺陷的所記錄的數(shù)據(jù)的區(qū)域；將指定具有缺陷的區(qū)域和在其中數(shù)據(jù)被記錄在具有缺陷的區(qū)域后面的隨后的區(qū)域?yàn)槿毕輩^(qū)的信息存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中；以預(yù)定的單位在缺陷區(qū)后面將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)上；記錄所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整和缺陷信息的步驟包括從存儲(chǔ)器中讀出第一臨時(shí)缺陷信息；和將所讀出的第一臨時(shí)缺陷信息記錄在記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)區(qū)的第一臨時(shí)缺陷信息區(qū)中。
11.如權(quán)利要求10所述的方法，其中，根據(jù)第一記錄操作將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)的步驟還包括在記錄介質(zhì)上將指定第一臨時(shí)缺陷信息區(qū)為缺陷區(qū)的信息記錄在第一臨時(shí)缺陷信息區(qū)中。
12.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括重復(fù)在數(shù)據(jù)區(qū)中數(shù)據(jù)的另一次記錄、另外的缺陷信息的記錄、和對(duì)多次記錄操作在記錄介質(zhì)上進(jìn)行缺陷管理信息的記錄的循環(huán)；和對(duì)連續(xù)的記錄操作交替地記錄關(guān)于另外的所調(diào)整的備用區(qū)尺寸的信息。
13.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，當(dāng)缺陷的發(fā)生率低于預(yù)定的閾值時(shí)，備用區(qū)的尺寸減少。
14.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，當(dāng)缺陷的發(fā)生率高于預(yù)定的閾值時(shí)，備用區(qū)的尺寸增加。
15.一種記錄或記錄并再現(xiàn)裝置，包括記錄/讀出單元，用于將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)上和/或從記錄介質(zhì)讀出數(shù)據(jù)；和控制器，用于控制記錄/讀出單元以將關(guān)于根據(jù)第一記錄操作的在記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)中所記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷的信息作為第一臨時(shí)缺陷信息記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中，以根據(jù)缺陷來(lái)調(diào)整記錄介質(zhì)的備用區(qū)的尺寸，并且用于控制記錄/讀出單元來(lái)將關(guān)于備用區(qū)的尺寸的調(diào)整的信息記錄在第一臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中，以及用于控制記錄/讀出單元以將用于管理第一臨時(shí)缺陷信息區(qū)的缺陷管理信息作為第一臨時(shí)缺陷管理信息記錄在記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中的記錄介質(zhì)上的臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中。
16.如權(quán)利要求15所述的裝置，其中，控制器控制記錄/讀出單元以將數(shù)據(jù)記錄在數(shù)據(jù)區(qū)，同時(shí)將另一記錄操作、另一臨時(shí)缺陷信息和另一臨時(shí)缺陷管理信息的索引加1，并且控制記錄/讀出單元以將最后所記錄的臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息記錄在記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中的記錄介質(zhì)上的缺陷管理區(qū)中。
17.如權(quán)利要求15所述的裝置，其中，控制器計(jì)算根據(jù)第一記錄操作所記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷的發(fā)生率，并且根據(jù)所計(jì)算的發(fā)生率來(lái)調(diào)整所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整。
18.如權(quán)利要求15所述的裝置，其中，控制器根據(jù)缺陷的發(fā)生率和備用區(qū)尺寸，或者缺陷的發(fā)生率和備用區(qū)的可能位置在其中被映射的映射表來(lái)創(chuàng)建關(guān)于所分配的備用區(qū)的尺寸的調(diào)整的信息。
19.如權(quán)利要求15所述的裝置，其中，控制器將備用區(qū)的開(kāi)始位置信息創(chuàng)建為備用區(qū)信息。
20.如權(quán)利要求15所述的裝置，其中，控制器將關(guān)于備用區(qū)的尺寸的信息創(chuàng)建為備用區(qū)信息。
21.如權(quán)利要求15所述的裝置，還包括存儲(chǔ)器，并且其中，控制器控制記錄單元來(lái)根據(jù)預(yù)定的記錄操作以預(yù)定的數(shù)據(jù)單元記錄數(shù)據(jù)，驗(yàn)證所記錄的數(shù)據(jù)以檢測(cè)所記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷，創(chuàng)建用于將具有缺陷的記錄介質(zhì)的區(qū)域和被記錄在具有缺陷的區(qū)域后面的數(shù)據(jù)指定為缺陷區(qū)的缺陷區(qū)信息，并且將缺陷區(qū)信息作為第i臨時(shí)缺陷信息存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中，控制記錄單元來(lái)根據(jù)預(yù)定的記錄操作在缺陷區(qū)后面以數(shù)據(jù)的預(yù)定單位記錄數(shù)據(jù)，以及控制記錄/讀出單元以在根據(jù)預(yù)定的記錄操作完成數(shù)據(jù)的記錄后從存儲(chǔ)器中讀出第i臨時(shí)缺陷信息，并且將所讀出的數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)區(qū)的第i臨時(shí)缺陷信息區(qū)中。
22.如權(quán)利要求15所述的裝置，其中控制器重復(fù)在數(shù)據(jù)區(qū)中數(shù)據(jù)的另一次記錄、另外的缺陷信息的記錄、和對(duì)多次記錄操作在記錄介質(zhì)上進(jìn)行缺陷管理信息的記錄的循環(huán)；和控制器對(duì)連續(xù)的記錄操作交替地記錄關(guān)于另外調(diào)整的備用區(qū)尺寸的信息。
23.如權(quán)利要求15所述的裝置，其中，當(dāng)缺陷的發(fā)生率低于預(yù)定的閾值時(shí)，備用區(qū)的尺寸降低。
24.如權(quán)利要求15所述的裝置，其中，當(dāng)缺陷的發(fā)生率高于預(yù)定的閾值時(shí)，備用區(qū)的尺寸增加。
25.一種具有在其中導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)被順序地形成的單記錄層的一次寫入記錄介質(zhì)，該記錄介質(zhì)包括缺陷管理區(qū)，在記錄介質(zhì)上，在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中；和臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)，其存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中，并且關(guān)于備用區(qū)的信息被記錄在其中以實(shí)現(xiàn)記錄介質(zhì)的缺陷管理。
26.如權(quán)利要求25所述的記錄介質(zhì)，其中，用于管理臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)的管理信息將被記錄在臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中。
27.如權(quán)利要求25所述的記錄介質(zhì)，其中，備用區(qū)信息包括關(guān)于備用區(qū)的開(kāi)始位置的信息。
28.如權(quán)利要求25所述的記錄介質(zhì)，其中，備用區(qū)信息包括關(guān)于備用區(qū)的尺寸的信息。
29.如權(quán)利要求25所述的記錄介質(zhì)，其中，指示數(shù)據(jù)區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)的位置的信息被記錄在缺陷管理區(qū)中。
30.如權(quán)利要求25所述的記錄介質(zhì)，其中，當(dāng)缺陷的發(fā)生率低于預(yù)定的閾值時(shí)，備用區(qū)的尺寸減少。
31.如權(quán)利要求25所述的記錄介質(zhì)，其中，當(dāng)缺陷的發(fā)生率高于預(yù)定的閾值時(shí)，備用區(qū)的尺寸增加。
全文摘要
一種用于對(duì)記錄介質(zhì)分配備用區(qū)的方法和裝置，及其一種記錄介質(zhì)。該方法包括根據(jù)第一記錄操作將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)中；根據(jù)包含在所記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷來(lái)創(chuàng)建關(guān)于所調(diào)整的備用區(qū)尺寸的信息；將關(guān)于備用區(qū)的信息和關(guān)于根據(jù)第一記錄操作所記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷的信息作為第一臨時(shí)缺陷信息記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中；和將用于管理第一臨時(shí)缺陷信息的缺陷管理信息作為第一臨時(shí)缺陷管理信息記錄在其存在于記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)、導(dǎo)出區(qū)和外部區(qū)中的至少一個(gè)中的臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中。
文檔編號(hào)G11B20/18GK1682308SQ03821542
公開(kāi)日2005年10月12日 申請(qǐng)日期2003年9月9日 優(yōu)先權(quán)日2002年9月10日
發(fā)明者高禎完, 李坰根 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社