專利名稱：用于管理盤缺陷的方法和設(shè)備及其盤的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及盤缺陷管理，更具體地講，涉及一種具有其中記錄有驅(qū)動器和盤信息的臨時(shí)缺陷管理區(qū)域的盤、和一種盤缺陷管理方法及其設(shè)備。
背景技術(shù)：
盤缺陷管理是將存儲在其中存在缺陷的盤的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)重寫到盤的數(shù)據(jù)區(qū)的新部分的處理，從而補(bǔ)償由缺陷引起的數(shù)據(jù)丟失。通常，使用線性替換方法或滑動替換方法來執(zhí)行盤缺陷管理。在線性替換方法中，其中存在缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)被沒有缺陷的備用數(shù)據(jù)區(qū)替換。在滑動替換方法中，具有缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)被滑動，并且沒有缺陷的下一用戶數(shù)據(jù)區(qū)被使用。
然而，線性替換方法和滑動替換方法二者都僅能應(yīng)用于諸如可將數(shù)據(jù)重復(fù)地記錄在其上并且可使用隨機(jī)訪問方法來執(zhí)行記錄的DVD-RAM/RW的盤。換言之，傳統(tǒng)線性和滑動替換方法不能被應(yīng)用于其上僅允許記錄一次的一次寫入盤。特別是，通常通過將數(shù)據(jù)記錄在盤上并且確定是否已將數(shù)據(jù)正確地記錄在盤上來檢測盤中缺陷的存在。然而，一旦數(shù)據(jù)被記錄在一次寫入盤上，則覆寫新數(shù)據(jù)并管理其中的缺陷是不可能的。
在一次寫入盤壓縮盤(CD)-R和數(shù)字通用盤(DVD)-R的開發(fā)之后，具有數(shù)十GB的記錄容量的高密度一次寫入盤已被引入。由于其不昂貴并且允許能夠快速讀取操作的隨機(jī)訪問，所以此類盤可被用作備用盤。然而，盤缺陷管理不能用于一次寫入盤。因此，當(dāng)在備份操作期間檢測到缺陷區(qū)(即，存在缺陷的區(qū))時(shí)，備份操作可被終止。而且，當(dāng)系統(tǒng)管理員不操作系統(tǒng)時(shí)，當(dāng)系統(tǒng)未被頻繁使用時(shí)(例如，夜間)執(zhí)行備份操作。在此情況下，更有可能的是因?yàn)闄z測到一次寫入盤的缺陷區(qū)所以備份操作將被終止。
同時(shí)，當(dāng)另外的數(shù)據(jù)將被不記錄在可記錄盤上時(shí)(即，當(dāng)將僅允許數(shù)據(jù)再現(xiàn)時(shí))，寫保護(hù)信息被記錄在盤上以放置記錄在盤上的數(shù)據(jù)被誤擦除。然而，一旦寫保護(hù)信息被記錄，則不再允許記錄，并且因此，不能管理可能的盤缺陷。即，由于在記錄寫保護(hù)信息之后在盤的數(shù)據(jù)區(qū)中不允許記錄，所以也不能執(zhí)行盤缺陷管理。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一方面提供一種一次寫入盤、和一種盤缺陷管理方法及其設(shè)備。
本發(fā)明的一方面還提供一種一次寫入盤和一種即使在記錄操作期間當(dāng)檢測到盤缺陷時(shí)也可管理盤缺陷，允許執(zhí)行記錄操作而無中斷的盤缺陷管理方法及設(shè)備。
本發(fā)明的一方面還提供一種其上可改變已記錄的寫保護(hù)信息的盤、和一種盤缺陷管理方法及其設(shè)備。
本發(fā)明的一方面還提供一種其上即使在記錄寫保護(hù)信息之后也允許盤缺陷管理的盤、和一種盤缺陷管理方法及其設(shè)備。
本發(fā)明的一方面還提供一種盤、和一種可增加存儲在盤上的可靠性的盤缺陷管理方法及設(shè)備。
本發(fā)明的其它方面和/或優(yōu)點(diǎn)將在下面被部分地闡述，并且將從描述中部分地變得清楚，或可通過本發(fā)明的實(shí)踐而被理解。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，一種一次寫入盤，包括單記錄層，順序地具有導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)；在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中的缺陷管理區(qū)；在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中的臨時(shí)缺陷管理區(qū)；以及在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中的驅(qū)動器和盤信息區(qū)，其中，關(guān)于臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的位置的信息記錄在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中，臨時(shí)缺陷信息和包括驅(qū)動器和盤信息的臨時(shí)缺陷管理信息被記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)，并且在盤的完成期間最后記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息被記錄在缺陷管理區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，一種一次寫入盤，具有順序地具有導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)的第一記錄層；順序地具有外部區(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)的第二記錄層；在導(dǎo)入?yún)^(qū)、導(dǎo)出區(qū)和外部區(qū)的至少一個(gè)中的缺陷管理區(qū)；在導(dǎo)入?yún)^(qū)、導(dǎo)出區(qū)和外部區(qū)的至少一個(gè)中的臨時(shí)缺陷管理區(qū)；以及在導(dǎo)入?yún)^(qū)、導(dǎo)出區(qū)和外部區(qū)的至少一個(gè)中的驅(qū)動器和盤信息區(qū)，其中，臨時(shí)缺陷信息和包括驅(qū)動器和盤信息的臨時(shí)缺陷管理信息被記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)，為了盤的完成，最后記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息被記錄在缺陷管理區(qū)，并且關(guān)于臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的位置的信息記錄在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，寫保護(hù)信息還被記錄在驅(qū)動器和盤信息區(qū)并且針對每一記錄操作而被記錄。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，驅(qū)動器和盤信息包括寫保護(hù)信息和測試位置信息的至少一個(gè)。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，一種管理盤缺陷的方法，包括將關(guān)于根據(jù)第i記錄操作記錄在盤的數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)中的缺陷的信息作為第i臨時(shí)缺陷信息幾次記錄在盤的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中；將用于管理第i臨時(shí)缺陷信息的信息作為第i臨時(shí)缺陷管理信息記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中；將關(guān)于第i臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的位置的信息記錄在盤的驅(qū)動器和盤信息區(qū)中；在增加給到記錄操作、臨時(shí)缺陷信息、和臨時(shí)缺陷管理信息的指數(shù)時(shí)，至少一次重復(fù)對第i臨時(shí)缺陷信息的記錄、對第i臨時(shí)缺陷管理信息的記錄、和對關(guān)于位置的信息的記錄；以及為了盤的完成，將最后記錄的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的一個(gè)記錄在盤的缺陷管理器中。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，該方法還包括將寫保護(hù)信息被記錄在驅(qū)動器和盤信息區(qū)。
在記錄第一臨時(shí)缺陷管理信息期間，該第i臨時(shí)缺陷管理信息被記錄以包括測試位置信息和寫保護(hù)信息的至少一個(gè)。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，一種記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，包括記錄/讀單元，由于將數(shù)據(jù)記錄在盤上或從盤讀取數(shù)據(jù)；以及控制器，用于控制記錄/讀單元將關(guān)于記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)中的缺陷的信息作為臨時(shí)缺陷信息記錄在盤的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中；將用于管理臨時(shí)缺陷信息的管理信息作為臨時(shí)缺陷管理信息記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中，該管理信息還包括驅(qū)動器和盤信息；將關(guān)于臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的位置的信息記錄在盤的驅(qū)動器和盤信息區(qū)中；以及在盤完成期間將最后記錄的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息記錄在盤的缺陷管理區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，控制器控制記錄/讀單元以還將寫保護(hù)信息記錄在驅(qū)動器和盤信息中，控制記錄/讀單元以針對每一記錄操作記錄臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息，以及控制記錄/讀單元來針對每一記錄操作記錄臨時(shí)缺陷管理信息以包括測試位置信息和寫保護(hù)信息。


通過下面結(jié)合附圖進(jìn)行對其實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)的描述，本發(fā)明的上述和/或其他方面和優(yōu)點(diǎn)將會變得更加清楚并更易被理解，其中圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的方框圖；圖2A至2D示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的盤的結(jié)構(gòu)；圖3A示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的在圖2A至2D中示出的盤的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖3B示出具有如圖3A所示的驅(qū)動器和盤信息區(qū)、臨時(shí)缺陷管理區(qū)(TDMA)和缺陷管理區(qū)(DMA)的盤的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖4A至4D示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的其中已經(jīng)執(zhí)行盤缺陷管理的TDMA的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖5A和5B示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的其中未執(zhí)行盤缺陷管理的TDMA的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖6A和6B示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖7示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖8A和8B示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的驅(qū)動器和盤信息區(qū)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖9示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用于解釋在用戶數(shù)據(jù)區(qū)A和備用區(qū)B中的數(shù)據(jù)的記錄的圖；圖10是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的數(shù)據(jù)區(qū)的有效使用的圖；圖11示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的臨時(shí)缺陷信息TDFL#0和TDFL#1的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖12示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的關(guān)于缺陷#i的信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖13A和13B顯示根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的盤缺陷管理方法的流程圖；以及圖14A和14B顯示根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的盤缺陷管理方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式
以下，將參照附圖來更詳細(xì)說明本發(fā)明的實(shí)施例，其中，相同的標(biāo)號始終指的是同一元件。以下通過參照附圖來描述實(shí)施例以便解釋本發(fā)明。
圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的方框圖。參照圖1，該記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備包括記錄/讀單元1、控制器2和存儲器3。該記錄/讀單元1將數(shù)據(jù)記錄在盤100上，盤100是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的信息存儲介質(zhì)，記錄/讀單元1還從盤100讀回?cái)?shù)據(jù)以校驗(yàn)記錄的數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。控制器2執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的盤缺陷管理，并且控制記錄/讀單元1將寫保護(hù)信息記錄在盤100上。在此實(shí)施例中，控制器2使用寫后校驗(yàn)方法，在該方法中，以預(yù)定數(shù)據(jù)的單位將數(shù)據(jù)記錄在盤100上，并且記錄的數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性被校驗(yàn)以檢測盤100的區(qū)是否具有缺陷。
具體是，控制器2將用戶數(shù)據(jù)以記錄操作為單位記錄在盤100上，并且校驗(yàn)記錄的用戶數(shù)據(jù)以檢測其中存在缺陷的盤100的區(qū)。其后，控制器2生成表示具有缺陷的區(qū)的位置的信息，并且將生成的表示具有缺陷的區(qū)的位置的信息存儲在存儲器3中。當(dāng)存儲的信息達(dá)到預(yù)定的量時(shí)，控制器2將存儲的信息作為臨時(shí)缺陷信息記錄到盤100上。如果用戶不執(zhí)行盤缺陷管理，則控制器2僅將臨時(shí)缺陷管理信息(將在下面解釋)記錄到盤100上。
通常，記錄操作是根據(jù)用戶的意圖確定的操作單位，或是將被執(zhí)行的記錄工作。根據(jù)所示實(shí)施例，記錄操作表示其中盤100被裝入記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備、數(shù)據(jù)被記錄在盤100上、并且盤100被從記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備中取出的過程。在記錄操作期間，數(shù)據(jù)被記錄并且至少校驗(yàn)一次通常，數(shù)據(jù)被記錄并且校驗(yàn)幾次。使用寫后校驗(yàn)方法獲得的缺陷信息作為臨時(shí)缺陷信息被臨時(shí)存儲在存儲器3中。然而，應(yīng)該理解，在本發(fā)明的全部方面，記錄操作可被另外限定，并且/或者數(shù)據(jù)不需要被校驗(yàn)幾次。
當(dāng)用戶按下記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的彈出鍵(未示出)以便在記錄數(shù)據(jù)之后移動盤100時(shí)，或當(dāng)記錄操作被另外終止時(shí)，控制器2期望記錄操作終止。接下來，控制器2從存儲器3讀取信息，將讀取的信息提供到記錄/讀單元1，并且控制記錄/讀單元1將讀取的信息記錄在盤100上。而且，如將在下面解釋的，關(guān)于臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的信息和寫保護(hù)信息被記錄在盤100的驅(qū)動器和盤信息區(qū)。
當(dāng)完成數(shù)據(jù)的記錄時(shí)(即，另外的數(shù)據(jù)將不被記錄在盤100上，并且盤100需要被完成)，控制器2控制記錄/讀單元1將記錄的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息作為缺陷管理信息記錄在盤100的缺陷管理區(qū)(DMA)中。
在再現(xiàn)期間，控制器2控制記錄/讀單元1從盤100的臨時(shí)缺陷管理區(qū)(TDMA)讀取關(guān)于記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)中的缺陷的信息作為臨時(shí)缺陷信息。控制器2進(jìn)一步控制記錄/讀單元1從盤100的TDMA讀取用于管理臨時(shí)缺陷信息的管理信息作為臨時(shí)缺陷管理信息。讀取的管理信息包括驅(qū)動器和盤信息?？刂破?控制記錄/讀單元1從盤100的盤和驅(qū)動器信息區(qū)讀取關(guān)于臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的位置的信息。而且，在盤100被完成的情況下，控制器2控制記錄/讀單元1從盤100的缺陷管理區(qū)(DMA)中讀取最后記錄的臨時(shí)缺陷信息和最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息?？刂破?還控制記錄/讀單元1從驅(qū)動器和盤信息中讀取寫保護(hù)信息和測試位置信息。
圖2A至2D示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的圖1中的盤100的結(jié)構(gòu)。圖2A詳細(xì)示出具有記錄層L0的盤100(單記錄層盤)。盤100包括導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)、和導(dǎo)出區(qū)。導(dǎo)入?yún)^(qū)位于盤100的內(nèi)側(cè)部分，并且導(dǎo)出區(qū)位于盤100的外側(cè)部分。數(shù)據(jù)區(qū)在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)之間，并且被分為用戶數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)。用戶數(shù)據(jù)區(qū)是其中記錄用戶數(shù)據(jù)的區(qū)。備用區(qū)是用于具有缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的替換區(qū)，并且用于補(bǔ)償由于缺陷導(dǎo)致的記錄區(qū)中的丟失。即，備用區(qū)被用于根據(jù)本發(fā)明一方面的盤缺陷管理，從而，當(dāng)缺陷存在于在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中記錄的數(shù)據(jù)中時(shí)，則該數(shù)據(jù)被再次記錄在備用區(qū)中。
除了數(shù)據(jù)區(qū)包括兩個(gè)備用區(qū)之外，圖2B中示出的盤100的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)與圖2A中示出的盤100的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)相同。因此，將省略圖2B中示出的每一區(qū)的描述。在圖2B中，備用區(qū)位于用戶數(shù)據(jù)區(qū)的邊上。在示出的實(shí)施例中，在導(dǎo)入?yún)^(qū)和用戶數(shù)據(jù)區(qū)之間的備用區(qū)將被稱作內(nèi)側(cè)備用區(qū)，并且用戶數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)之間的備用區(qū)將被稱作外側(cè)備用區(qū)。然而，應(yīng)該理解其它備用區(qū)可被使用，并且/或者安排在除用戶數(shù)據(jù)區(qū)的內(nèi)側(cè)和外側(cè)區(qū)之外的區(qū)中。
圖2C示出具有第一和第二記錄層L0和L1的盤100(雙記錄層盤)。第一記錄層L0具有從第一記錄層L0的內(nèi)側(cè)部分到外側(cè)部分順序地形成的導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和外側(cè)區(qū)。而且，第二記錄層L1具有從第二記錄層L1的外側(cè)部分到內(nèi)側(cè)部分順序地形成的外側(cè)區(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)。不同于圖2A和2B中示出的單記錄層盤，導(dǎo)出區(qū)存在于圖2B中的盤100的內(nèi)側(cè)部分。即，圖2B的盤100具有逆光道路徑(OTP)，其中數(shù)據(jù)被從第一記錄層L0的導(dǎo)入?yún)^(qū)開始向著其外側(cè)區(qū)，并且繼續(xù)從第二記錄層L0的外側(cè)區(qū)到其導(dǎo)出區(qū)來記錄。備用區(qū)被分配給記錄層L0和L1的每一個(gè)。
除了第一記錄層L0和第二記錄層L1每一個(gè)還包括另一備用區(qū)從而盤100包括四個(gè)備用區(qū)之外，圖2D中示出的盤100數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)與圖2C中的盤100的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)相同。因此，在此將省略每一備用區(qū)的描述。備用區(qū)形成在第一和第二記錄層L0和L1的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的邊上。在此公開中，與盤100的內(nèi)側(cè)部分相鄰的備用區(qū)將被稱作內(nèi)側(cè)備用區(qū)，并且與盤100的外側(cè)部分相鄰的備用區(qū)將被稱作外側(cè)備用區(qū)。如果需要，用戶數(shù)據(jù)區(qū)的一部分可被用作另一備用區(qū)。備用區(qū)的位置和數(shù)量不限于以上描述。
圖3A示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的在圖2A至2D中示出的盤100的結(jié)構(gòu)。參照圖3A，如果盤100是圖2A和2B中示出的單記錄層盤100，則驅(qū)動器和盤信息區(qū)、DMA、和臨時(shí)DMA(TDMA)存在于盤100的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中。如果盤100是圖2C和2D中示出的雙記錄層盤100，則驅(qū)動器和盤信息區(qū)、DMA、和TDMA存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)、導(dǎo)出區(qū)和外側(cè)區(qū)的至少一個(gè)中，并且分別優(yōu)選地位于盤100的內(nèi)側(cè)部分的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)中。然而，應(yīng)該理解，驅(qū)動器和盤信息區(qū)可另外位于本發(fā)明其它方面。
在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中，存在關(guān)于用于寫和/或讀操作的驅(qū)動器的記錄的信息、關(guān)于盤的信息(例如，該盤是單記錄層盤還是雙記錄層盤)、和關(guān)于其中記錄條件被測試的測試區(qū)的位置的信息。尤其是，盤信息規(guī)定根據(jù)本發(fā)明一方面的盤缺陷管理。例如，盤信息可包括關(guān)于臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的位置信息、和寫保護(hù)信息。然而，應(yīng)該理解，驅(qū)動器和盤信息區(qū)可包括與驅(qū)動器和盤信息相關(guān)的另外的信息。
通常，DMA包括與管理盤100中的盤缺陷相關(guān)的信息。這種信息包括用于盤缺陷管理的盤100的結(jié)構(gòu)、缺陷信息的記錄位置、缺陷管理是否執(zhí)行、和備用區(qū)的位置和大小。在TDMA中，在盤完成之前記錄關(guān)于盤缺陷的信息。關(guān)于盤缺陷的信息包括驅(qū)動器和盤信息(即，關(guān)于測試區(qū)的位置的信息和寫保護(hù)信息)。
通常，當(dāng)盤100被裝入諸如圖1中所示的設(shè)備的記錄/讀設(shè)備時(shí)，該設(shè)備從盤100的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)讀取數(shù)據(jù)，以確定如何管理盤100和將數(shù)據(jù)記錄在盤100上，或從盤100中讀取數(shù)據(jù)。然而，如果記錄在導(dǎo)入?yún)^(qū)和/或?qū)С鰠^(qū)中的數(shù)據(jù)量增加，則在裝入盤100之后較長的時(shí)間被花費(fèi)在準(zhǔn)備數(shù)據(jù)的記錄或再現(xiàn)上。為了解決此問題，本發(fā)明的一方面使用將被記錄在TDMA中的臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息。TDMA被分配給與DMA分離的盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)和/或?qū)С鰠^(qū)。即，當(dāng)不將另外的數(shù)據(jù)記錄在盤上(即，需要盤完成)時(shí)，僅最后記錄的缺陷信息和缺陷管理信息被記錄在DMA中，因此使得記錄/讀設(shè)備能夠僅從DMA讀取僅最后記錄的缺陷管理信息。因此，可加速盤初始化。而且，由于缺陷管理信息被記錄在多個(gè)區(qū)中，所以可增加信息的可靠性。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，缺陷管理信息、關(guān)于臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的位置信息、和寫保護(hù)信息被記錄在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中。因此，記錄/讀設(shè)備從驅(qū)動器和盤信息區(qū)讀取位置信息，并且因此能夠基于讀取的位置信息更快速地訪問DMA。即，可基于該位置信息可更有效地執(zhí)行盤缺陷管理。
而且，該驅(qū)動器和盤信息(包括關(guān)于測試區(qū)的位置信息和寫保護(hù)信息)被記錄在臨時(shí)缺陷管理信息中。因此，即使盤驅(qū)動器不訪問驅(qū)動器和盤信息區(qū)，也可從臨時(shí)缺陷管理區(qū)中獲得關(guān)于測試區(qū)的位置信息和寫保護(hù)信息。臨時(shí)缺陷管理信息中包括測試位置信息使得能夠快速尋找到針對測試位置信息的指針。
在所示實(shí)施例中，由于使用線性替換方法執(zhí)行盤缺陷管理，所以臨時(shí)缺陷信息包括表示具有缺陷的盤100的區(qū)的位置的信息和表示作為具有缺陷的區(qū)的替換盤100的區(qū)的位置的信息。更優(yōu)選地是，臨時(shí)缺陷信息還包括表示缺陷是出現(xiàn)在單一的缺陷塊中還是連續(xù)的缺陷塊中的信息。臨時(shí)缺陷管理信息被用于管理臨時(shí)缺陷信息，并且包括表示其中記錄了臨時(shí)缺陷信息的盤100的位置的信息。更優(yōu)選地是，臨時(shí)缺陷管理信息還包括關(guān)于測試區(qū)的位置信息和寫保護(hù)信息。下面將解釋臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的詳細(xì)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
在所示實(shí)施例中，每次當(dāng)記錄操作結(jié)束時(shí)，臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息被記錄。在TDMA中，因此，關(guān)于出現(xiàn)在在記錄操作#0期間記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷的信息和關(guān)于替換區(qū)的信息被記錄為臨時(shí)缺陷信息#0。關(guān)于出現(xiàn)在在記錄操作#1期間記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷的信息和關(guān)于替換區(qū)的信息被記錄為臨時(shí)缺陷信息#1。而且，用于管理臨時(shí)缺陷信息#0、#1…的信息作為臨時(shí)缺陷管理信息#0、#1…被記錄在TDMA中。當(dāng)另外的數(shù)據(jù)不能被記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中時(shí)或當(dāng)用戶不希望將另外的數(shù)據(jù)記錄在其中(即，數(shù)據(jù)不需要被完成)時(shí)，記錄在臨時(shí)缺陷信息區(qū)中的臨時(shí)缺陷信息和記錄在臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中的臨時(shí)缺陷管理信息被重寫到DMA中。
在所示實(shí)施例中，包含在之前記錄的臨時(shí)缺陷信息#0、#1、#2…、#i-1中的全部缺陷信息還被包含在臨時(shí)缺陷信息#i中。因此，僅通過讀取包含在最后記錄的臨時(shí)缺陷信息#i中的缺陷信息并且將讀取的臨時(shí)缺陷信息#i重寫到DMA中來完成盤100是容易的。然而，應(yīng)該理解，在本發(fā)明全部方面，臨時(shí)缺陷信息#i不需要包括之前的缺陷信息。
在諸如藍(lán)光盤或高級光盤(AOD)的具有幾十GB記錄容量的高密度盤100的情況下，可期望一個(gè)簇被分配到臨時(shí)缺陷管理信息#i被記錄到其中的區(qū)并且四到八個(gè)簇被分配到臨時(shí)缺陷信息#i被記錄到其中的區(qū)。這是因?yàn)?，雖然臨時(shí)缺陷信息#i的量僅幾KB時(shí)，但是當(dāng)記錄的最小物理單位為簇時(shí)以簇為單位記錄新信息以更新信息是優(yōu)選的。當(dāng)在全部方面不需要時(shí)，在盤中允許的缺陷的總量優(yōu)選地為大約盤記錄容量的5％。例如，考慮到關(guān)于缺陷的信息是大約8字節(jié)長并且簇的大小為64KB，對于記錄臨時(shí)缺陷信息#i需要大約四到八簇。然而，應(yīng)該理解，在本發(fā)明全部方面中，根據(jù)需要可使用盤記錄容量的附加百分比，并且新信息不需要被記錄在簇中。
還可對臨時(shí)缺陷信息#i和臨時(shí)缺陷管理信息#i執(zhí)行寫后校驗(yàn)方法。當(dāng)缺陷被檢測到時(shí)，記錄在具有缺陷的盤100的區(qū)中的信息可使用線性替換方法而被記錄在備用區(qū)中，或使用滑動替換方法而被記錄到與TDMA相鄰的區(qū)中。
在所示實(shí)施例中，驅(qū)動器和盤信息區(qū)和TDMA是分離的區(qū)。然而，應(yīng)該理解，該區(qū)可被形成為單一區(qū)。在下面的情況下，需要被更新的一部分驅(qū)動器和盤信息(例如，關(guān)于測試區(qū)的位置信息和寫保護(hù)信息)被更新并與臨時(shí)缺陷管理信息一起記錄。
圖3B示出具有如圖3A中所示的驅(qū)動器和盤信息區(qū)、TDMA、和DMA的盤100的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。參照圖3B，兩個(gè)DMA，DMA1和DMA2被形成以增加缺陷管理信息、缺陷信息和寫保護(hù)信息的牢固性。圖3B顯示臨時(shí)缺陷管理區(qū)TDMA、其中測定數(shù)據(jù)的記錄條件的測試區(qū)Test、和其中記錄有驅(qū)動器和盤信息并且位于在DMA DMA1旁邊的緩沖區(qū)緩沖2旁邊的驅(qū)動器和盤區(qū)驅(qū)動器和盤信息。緩沖1、緩沖2和緩沖3是作為表示各個(gè)區(qū)的邊界的緩沖的區(qū)。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的盤100可包括多個(gè)驅(qū)動器和盤信息區(qū)。
圖4A至4D示出其中根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的其中已經(jīng)執(zhí)行盤缺陷管理的TDMA的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。參照圖4A，TDMA被邏輯地分為臨時(shí)缺陷信息區(qū)和臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)。在臨時(shí)缺陷信息區(qū)中，臨時(shí)缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…從該區(qū)的開始向著結(jié)束而被順序地記錄，從而臨時(shí)缺陷信息的物理或邏輯地址增加。臨時(shí)缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…被重復(fù)記錄幾次以增加信息的牢固性。尤其是，圖4A示出P次記錄臨時(shí)缺陷信息TDFL#0。在臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中，臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、TDDS#2、…被從區(qū)的開始順序地記錄。臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、和TDDS#2、…分別相應(yīng)于臨時(shí)缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…。
參照圖4B，與圖4A比較，TDMA也被邏輯的分為臨時(shí)缺陷信息區(qū)和臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)。然而，記錄信息的順序不同。更具體地說，在臨時(shí)缺陷信息區(qū)中，臨時(shí)缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…從該區(qū)的結(jié)束向著開始而被記錄，從而臨時(shí)缺陷信息的物理或邏輯地址減少。類似地，臨時(shí)缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…被重復(fù)記錄幾次以增加信息的牢固性。尤其是，圖4B示出P次記錄臨時(shí)缺陷信息TDFL#0。在臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)中，臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、TDDS#2、…被從區(qū)的結(jié)束順序地記錄。臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、和TDDS#2、…分別相應(yīng)于臨時(shí)缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…。
參照圖4C，相應(yīng)的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息作為信息對記錄在TDMA中。更具體地說，臨時(shí)管理信息TDMA#0、TDMA#1、…。被從TDMA的開始順序地記錄，從而臨時(shí)管理信息的物理或邏輯地址增加。臨時(shí)管理信息TDMA#0包含一對相應(yīng)的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0和臨時(shí)缺陷信息TDFL#0，并且臨時(shí)管理信息TDMA#1包含一對相應(yīng)的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#1和臨時(shí)缺陷信息TDFL#1。臨時(shí)缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…被重復(fù)記錄幾次以增加信息的牢固性。尤其是，圖4C示出P次記錄臨時(shí)缺陷信息TDFL#0。
參照圖4D，與圖4C的TDMA相比較，相應(yīng)的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息作為信息對記錄在TDMA中。然而，記錄信息的順序不同。更具體地說，在TDMA中，臨時(shí)管理信息TDMA#0、TDMA#1、…從TDMA的結(jié)束開始而被順序地記錄，從而臨時(shí)管理信息的物理或邏輯地址減少。臨時(shí)管理信息TDMA#0包含一對相應(yīng)的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0和臨時(shí)缺陷信息TDFL#0，并且臨時(shí)管理信息TDMA#1包含一對相應(yīng)的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#1和臨時(shí)缺陷信息TDFL#1。類似地，臨時(shí)缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2、…被重復(fù)記錄幾次以增加信息的牢固性。尤其是，圖4D示出P次記錄臨時(shí)缺陷信息TDFL#0。
圖5A和5B示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的其中未執(zhí)行盤缺陷管理的TDMA的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。參照圖5A，當(dāng)用戶決定不執(zhí)行盤缺陷管理時(shí)，臨時(shí)缺陷管理信息以記錄操作單位被記錄到TDMA中。更具體地說，臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、…從TDMA的開始而被記錄，從而臨時(shí)缺陷管理信息的物理或邏輯地址增加。
參照圖5B，當(dāng)用戶決定不執(zhí)行盤缺陷管理時(shí)，臨時(shí)缺陷管理信息以記錄操作為單位被記錄到TDMA中。然而，不同于圖5A，從TDDS#0、TDDS#1、…開始的臨時(shí)缺陷管理信息從TDMA的結(jié)束開始而被記錄，從而臨時(shí)缺陷管理信息的物理或邏輯地址減少。
圖6A和6B示出臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。詳細(xì)地說，圖6A示出記錄在諸如圖2A和2B中所示的單記錄層盤100上的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i包含用于臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i的標(biāo)識符和關(guān)于與臨時(shí)缺陷信息TDFL#i相應(yīng)的位置的信息。如之前參照圖4A至4D所解釋，根據(jù)本發(fā)明一方面的臨時(shí)缺陷信息TDFL#i被重復(fù)記錄幾次。因此，關(guān)于臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的位置的信息包括與臨時(shí)缺陷信息TDFL#i相應(yīng)的指針，并且每一指針相應(yīng)于每一臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的記錄位置。圖5A中所示的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i包括相應(yīng)于P次記錄的臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的P個(gè)指針。
而且，記錄在單記錄層盤100上的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i描述最后記錄在記錄層L0的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)的地址、和作為最后記錄在記錄層L0的備用區(qū)中的替換區(qū)的地址。因此，僅參照最后記錄的用戶數(shù)據(jù)區(qū)和替換區(qū)，用戶可容易地利用盤100。
臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i還包括測試位置信息#i和寫保護(hù)信息#i。因此，即使盤驅(qū)動器不訪問驅(qū)動器和盤信息區(qū)或不執(zhí)行盤缺陷管理，也可在掃描其中測試記錄條件的測試區(qū)時(shí)不檢測可測試的區(qū)而直接訪問可測試的區(qū)。而且，可避免在不期望的區(qū)中記錄。
現(xiàn)在將更詳細(xì)地描述將測試位置信息包括在臨時(shí)缺陷管理信息中的原因。如上所述，臨時(shí)管理信息包含臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息，并且還包含圖中未示出的記錄管理信息。根據(jù)一方面，記錄管理信息是空位圖(SBM)。SBM表示是否使用比特值基于記錄塊將數(shù)據(jù)記錄在記錄介質(zhì)的區(qū)中。臨時(shí)管理信息被記錄在臨時(shí)缺陷管理信息區(qū)(TDMA)中。
為了TDMA的有效使用，當(dāng)需要更新一部分臨時(shí)管理信息時(shí)，僅在TDMA中更新該部分。當(dāng)臨時(shí)缺陷信息需要被更新而SBM不需要被更新時(shí)，在TDMA的下一可用區(qū)中僅更新臨時(shí)缺陷信息。在此情況下，最后記錄的臨時(shí)缺陷信息的記錄位置改變。因此，臨時(shí)缺陷管理信息需要被更新。類似地，當(dāng)需要更新SBM而不需要更新臨時(shí)缺陷信息時(shí)，在TDMA的下一可用區(qū)中僅更新SBM。在此情況下，由于最后記錄的SBM的記錄位置改變，所以也需要更新臨時(shí)缺陷管理信息。
如上所述，由于臨時(shí)缺陷管理信息必須規(guī)定關(guān)于更新的部分的位置信息，所以當(dāng)僅更新一部分記錄在TDMA中的臨時(shí)管理信息時(shí)，臨時(shí)缺陷管理信息也必須被更新。換句話說，當(dāng)盤100被裝入驅(qū)動系統(tǒng)中時(shí)，對驅(qū)動系統(tǒng)來說檢測最后記錄的臨時(shí)管理信息是困難的。為了解決此問題，關(guān)于包含在臨時(shí)管理信息中的各個(gè)信息的位置信息被包括在臨時(shí)缺陷管理信息中，并且臨時(shí)缺陷管理信息被記錄在TDMA的末端。因此，通過從臨時(shí)缺陷管理信息中讀取關(guān)于最后記錄的臨時(shí)管理信息的位置信息，驅(qū)動系統(tǒng)可容易地檢測最后記錄的臨時(shí)管理信息。在這方面，臨時(shí)缺陷管理信息被順序地記錄在TDMA中。
驅(qū)動系統(tǒng)能夠區(qū)分在臨時(shí)缺陷管理信息中包含數(shù)據(jù)的區(qū)和不包含數(shù)據(jù)的區(qū)，并且檢測最后記錄的數(shù)據(jù)塊?？赏ㄟ^從盤100讀取射頻(RF)信號來確定盤的區(qū)是否包含數(shù)據(jù)。因此，當(dāng)測試位置信息包括在臨時(shí)管理信息中時(shí)，最好將測試位置信息記錄在臨時(shí)缺陷管理信息中。
因?yàn)?，?dāng)盤100被裝入驅(qū)動系統(tǒng)時(shí)，驅(qū)動系統(tǒng)通過訪問在TDMA中最后記錄的數(shù)據(jù)塊、從數(shù)據(jù)塊檢測臨時(shí)缺陷管理信息、并從臨時(shí)缺陷管理信息中檢測最后記錄的臨時(shí)管理信息來讀取最后記錄在盤100上的臨時(shí)管理信息，所以，測試位置信息被記錄在臨時(shí)缺陷管理信息中。驅(qū)動系統(tǒng)基于最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息來執(zhí)行寫/讀操作。為此，測試位置信息被包含在盤驅(qū)動器必須首先檢測其以便將數(shù)據(jù)記錄在盤100上或從盤100上讀取數(shù)據(jù)的最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i中，因此允許容易地立刻檢測關(guān)于臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的位置信息和測試位置信息。
不考慮另一臨時(shí)管理信息是否被更新，包括測試位置信息在臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i中允許基于最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i的地址從TDMA中容易地檢測到測試位置信息。如果測試位置信息被記錄在除最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i以外的區(qū)中，則最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i還必須包括對于此用于測試位置信息的檢測的區(qū)的指針。在此情況下，為了測試位置信息的檢測，最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i被檢測以獲得對應(yīng)于包含測試位置信息的區(qū)的指針，并且使用該指針來檢測包含測試位置信息的區(qū)，因此導(dǎo)致開銷。
圖6B示出記錄在諸如在圖2C和2D中所示的盤的雙記錄層盤100上的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i包含用于臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i的標(biāo)識符、和關(guān)于相應(yīng)的臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的記錄位置的信息。如之前參照圖4A至4D所述，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的臨時(shí)缺陷信息TDFL#i被重復(fù)記錄幾次。因此，關(guān)于臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的記錄位置的信息包含相應(yīng)于各個(gè)臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的記錄位置的指針。尤其是，圖5B中所示的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i包括P個(gè)指針，對于每一臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i的每一指針被重復(fù)記錄P次。
而且，在雙記錄層盤100上記錄的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i描述最后記錄在第一記錄層L0的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)的地址、最后記錄在第一記錄層L0的備用區(qū)中的替換的地址、最后記錄在第二記錄層L1的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)的地址、和最后記錄在第二記錄層L1的備用區(qū)中的替換的地址。因此，僅通過參照最后記錄的用戶數(shù)據(jù)和替換，用戶可容易地利用盤100。
與單記錄層盤100類似，臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i還包括測試位置信息#i和寫保護(hù)信息#i。因此，即使盤驅(qū)動器不訪問驅(qū)動器和盤信息區(qū)或不執(zhí)行盤缺陷管理，也可在掃描其中記錄條件被測試的測試區(qū)時(shí)不檢測可測試的區(qū)而直接訪問可測試的區(qū)。而且，可避免在不期望的區(qū)中記錄。
圖7示出臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。參照圖7，臨時(shí)缺陷信息TDFL#i包含用于臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的標(biāo)識符、和關(guān)于缺陷#1、#2、…、#k的信息。關(guān)于缺陷#1、#2、…、#k的信息是表示缺陷和替換的位置、和缺陷區(qū)是包括單一缺陷塊還是包括連續(xù)缺陷塊的狀態(tài)信息。
圖8A和8B示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的驅(qū)動器和盤信息區(qū)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。參照圖8A，當(dāng)臨時(shí)缺陷信息TDFL#i和臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i被分別記錄在如圖4A或4B所示的TDMA中時(shí)，寫保護(hù)信息#i、對臨時(shí)缺陷信息TDFL#i的位置的指針、和對臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i的位置的指針被以記錄操作單位記錄在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中。參照圖8B，當(dāng)臨時(shí)缺陷信息TDFL#i和臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i被記錄以包括在如圖4C或4D所示的TDMA中的臨時(shí)管理信息區(qū)TDMA#i中時(shí)，寫保護(hù)信息#i和對臨時(shí)管理信息區(qū)TDMA#i的位置的指針被以記錄操作單位記錄在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中。
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例，寫保護(hù)信息(其記錄在驅(qū)動器和盤信息區(qū)和臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i中)不允許另外的數(shù)據(jù)記錄在盤100上。寫保護(hù)信息可包括表示在整個(gè)盤100上寫保護(hù)啟用或未啟用的標(biāo)志信息、和表示即使寫保護(hù)啟用還是可記錄的區(qū)的信息。例如，寫保護(hù)信息的第一比特被設(shè)置為表示寫保護(hù)啟用或未啟用的標(biāo)志信息，并且每一其它比特被設(shè)置以表示至少一個(gè)預(yù)定區(qū)是可記錄的或不是可記錄的。如果寫保護(hù)啟用，則寫保護(hù)信息的第二比特可表示驅(qū)動器和盤信息區(qū)是可記錄的或不是可記錄的。另外，第二比特可表示驅(qū)動器和盤信息區(qū)是可記錄的或不是可記錄的，并且第三比特可表示DMA是可記錄的或不是可記錄的。第三和第四比特可表示DMA和備用區(qū)是可記錄的或不是可記錄的。
根據(jù)本發(fā)明的方面，當(dāng)寫保護(hù)信息被記錄時(shí)，下面的區(qū)可能是可記錄的。
在一個(gè)區(qū)中，即使寫保護(hù)信息被記錄在盤100上并且不能再記錄另外的數(shù)據(jù)，在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中也允許數(shù)據(jù)記錄。換句話說，驅(qū)動器和盤信息區(qū)不被記錄以啟用寫保護(hù)的寫保護(hù)信息影響。因此，可改變寫保護(hù)信息。
在另一個(gè)區(qū)中，即使寫保護(hù)信息被記錄以啟用寫保護(hù)，為寫保護(hù)信息分配的一部分驅(qū)動器和盤信息區(qū)也不被寫保護(hù)影響。換句話說，在一部分馬驅(qū)動器和盤信息區(qū)中允許數(shù)據(jù)記錄。因此，寫保護(hù)信息可被改變。
在另一個(gè)區(qū)中，即使寫保護(hù)信息被記錄以啟用寫保護(hù)，臨時(shí)缺陷管理區(qū)(TDMA)、驅(qū)動器和盤信息區(qū)、和備用區(qū)不被寫保護(hù)影響(即，在這些區(qū)中允許數(shù)據(jù)記錄)。因此，寫保護(hù)信息可被改變。而且，即使在寫保護(hù)信息的記錄之后，也可執(zhí)行盤缺陷管理。
如果當(dāng)再現(xiàn)存儲在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)時(shí)用戶數(shù)據(jù)區(qū)的數(shù)據(jù)塊中的糾錯(cuò)率低于預(yù)定參考值，則可執(zhí)行盤缺陷管理，從而數(shù)據(jù)塊被看作產(chǎn)生錯(cuò)誤的可能性更高的區(qū)，在數(shù)據(jù)的再現(xiàn)之前存儲在數(shù)據(jù)塊中的數(shù)據(jù)被寫到備用區(qū)中，并且數(shù)據(jù)塊被確定為缺陷區(qū)。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，如果盤100包括超過一個(gè)區(qū)，則至少備用區(qū)的一個(gè)區(qū)被確定為可記錄的區(qū)。
其中即使寫保護(hù)信息被記錄也允許數(shù)據(jù)記錄的區(qū)不限于以上描述。即，如果需要，可調(diào)整區(qū)的數(shù)量和類型。
圖9是詳細(xì)地根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的在用戶數(shù)據(jù)區(qū)A和備用區(qū)B中記錄數(shù)據(jù)的參考圖。數(shù)據(jù)可以扇區(qū)或簇為單位而被處理。一個(gè)扇區(qū)表示在計(jì)算機(jī)的文件系統(tǒng)中或在應(yīng)用程序中可管理的數(shù)據(jù)的最小單位。一個(gè)簇表示一次可在盤上物理記錄的數(shù)據(jù)的最小單位。通常，一個(gè)或多個(gè)扇區(qū)構(gòu)成一個(gè)簇。
有兩類扇區(qū)物理扇區(qū)和邏輯扇區(qū)。物理扇區(qū)是其中數(shù)據(jù)的扇區(qū)將被記錄的盤上的區(qū)。用于檢測物理扇區(qū)的地址被稱作物理扇區(qū)號(PSN)。邏輯扇區(qū)是在文件系統(tǒng)中或在應(yīng)用程序中可管理的數(shù)據(jù)的單位。用于檢測邏輯扇區(qū)的地址被稱作邏輯扇區(qū)號(LSN)。盤記錄/讀設(shè)備使用PSN檢測盤上的數(shù)據(jù)的記錄位置。在計(jì)算機(jī)或數(shù)據(jù)應(yīng)用程序中，以LSN為單位管理整體數(shù)據(jù)，并且使用LSN來檢測數(shù)據(jù)的位置?；诒P是否包含缺陷和記錄數(shù)據(jù)的初始位置，由記錄/讀設(shè)備的控制器改變LSN和PSN之間的關(guān)系。
參照圖9，A表示用戶數(shù)據(jù)區(qū)，并且B表示其中PSN被順序地分配到多個(gè)扇區(qū)(未示出)的備用區(qū)。通常，每一LSN與至少一個(gè)PSN相應(yīng)。然而，由于LSN被分配給包括備用區(qū)中記錄的替換的非缺陷區(qū)，所以當(dāng)盤100具有缺陷區(qū)時(shí)PSN和LSN之間的對應(yīng)不被保持。即使物理扇區(qū)的大小與邏輯扇區(qū)的大小相同，這也是真實(shí)的。
在用戶數(shù)據(jù)區(qū)A中，用戶數(shù)據(jù)被以連續(xù)記錄模式或以隨機(jī)記錄模式記錄。在連續(xù)記錄模式中，用戶數(shù)據(jù)被順序地并且連續(xù)地記錄。在隨機(jī)記錄模式中，用戶數(shù)據(jù)被隨機(jī)記錄。在數(shù)據(jù)區(qū)A中，扇區(qū)1001至1007表示其中執(zhí)行寫后校驗(yàn)方法的數(shù)據(jù)的預(yù)定單元。記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備將用戶數(shù)據(jù)記錄在扇區(qū)1001中，返回扇區(qū)1001的開始，并且檢查用戶數(shù)據(jù)是否被正確記錄或扇區(qū)1001中是否存在缺陷。如果在扇區(qū)1001中檢測到缺陷，則該部分被指明為缺陷#1。記錄在缺陷#1中的用戶數(shù)據(jù)也被記錄在一部分備用區(qū)B上。在此，在缺陷#1中記錄數(shù)據(jù)的備用區(qū)B的該部分被稱作替換#1。接下來，記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備將用戶數(shù)據(jù)記錄在扇區(qū)1002中，返回扇區(qū)1002的開始，并且檢驗(yàn)數(shù)據(jù)是被正確地記錄還是在扇區(qū)1002的一部分中存在缺陷。如果在扇區(qū)1002中檢測到缺陷，則該部分被指定為缺陷#2。另外，在備用區(qū)B中形成與缺陷#2相應(yīng)的替換#2。而且，在用戶數(shù)據(jù)區(qū)A的扇區(qū)1003和備用區(qū)B中分別指明缺陷#3和替換#3。在扇區(qū)1004中，未出現(xiàn)缺陷，并且缺陷區(qū)未被指明。
在將數(shù)據(jù)記錄到扇區(qū)1004并且校驗(yàn)數(shù)據(jù)之后(即，當(dāng)用戶按下記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的彈出鍵，或完成在記錄操作中分配的用戶數(shù)據(jù)的記錄時(shí))，當(dāng)期望結(jié)束記錄操作#0時(shí)，記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備將關(guān)于在扇區(qū)1001至1004中出現(xiàn)的缺陷#1、#2和#3的信息作為臨時(shí)缺陷信息TDFL#0記錄在TDMA中。而且，用于管理臨時(shí)缺陷信息TDFL#0的管理信息作為臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0被記錄在TDMA中。
當(dāng)記錄操作#1開始時(shí)，數(shù)據(jù)被記錄在扇區(qū)1005至1007中，并且如在扇區(qū)1001至1004中所解釋，分別在用戶數(shù)據(jù)區(qū)A和備用區(qū)B中形成缺陷#4和#5以及替換#4和#5。在單一塊中出現(xiàn)缺陷#1、#2、#3和#4，而缺陷#5在連續(xù)的缺陷塊中出現(xiàn)。作為用于缺陷#5的替換的替換#5被記錄在連續(xù)的替換塊中。在此，塊指的是物理的或邏輯的記錄單元，單元塊的范圍未被限定。如果期望結(jié)束第二記錄操作，則記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備記錄關(guān)于缺陷#4和#5的信息作為臨時(shí)缺陷信息TDFL#1，并且再次記錄包含在缺陷信息DFL#1中的信息。其后，用于管理臨時(shí)缺陷信息TDFL#1的管理信息作為臨時(shí)缺陷管理信息#1被記錄在TDMA中。
為了盤完成，最后記錄的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息被分別作為缺陷信息和缺陷管理信息記錄在缺陷管理區(qū)(DMA)中。而且，關(guān)于最后記錄的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的信息和上述寫保護(hù)信息還被記錄在TDMA中。
圖10是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的用戶數(shù)據(jù)區(qū)的有效使用的圖。圖10顯示用戶數(shù)據(jù)區(qū)的可用部分可通過最后記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的用戶數(shù)據(jù)的地址和最后記錄在備用區(qū)中的替換的地址而被容易地檢測。尤其是，當(dāng)用戶數(shù)據(jù)分別被從用戶數(shù)據(jù)區(qū)的內(nèi)側(cè)部分/外側(cè)部分向其外側(cè)部分/內(nèi)側(cè)部分記錄，并且作為用于缺陷的替換的數(shù)據(jù)被從備用區(qū)的外側(cè)部分/內(nèi)側(cè)部分向內(nèi)側(cè)部分/外側(cè)部分記錄時(shí)，該可用部分可被更容易地檢測。換句話說，優(yōu)選地以相反的記錄方向記錄用戶數(shù)據(jù)和用于替換的數(shù)據(jù)。
當(dāng)用戶數(shù)據(jù)的物理地址從記錄層L0的內(nèi)側(cè)部分向外側(cè)部分增加，并且從記錄層L1的外側(cè)部分向內(nèi)側(cè)部分增加，最后記錄在記錄層L0和L1的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)的物理地址具有最大號碼。而且，當(dāng)替換的物理地址被從記錄層L0的備用區(qū)中的外側(cè)部分向內(nèi)側(cè)部分降低并且從記錄層L1的備用區(qū)中的內(nèi)側(cè)部分向外側(cè)部分增加時(shí)，最后記錄的替換具有最小號碼的物理地址。因此，如果最后記錄的數(shù)據(jù)和替換區(qū)的地址被包括在如圖6A和6B中所示的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i中，則可檢測將被重新記錄的數(shù)據(jù)和替換的位置，而不用徹底讀取臨時(shí)缺陷信息TDFL#i并估計(jì)缺陷和替換的位置。而且，用戶數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)的可用部分被連續(xù)設(shè)置，因此允許對用戶區(qū)的有效使用。為此，即使在盤完成期間記錄寫保護(hù)信息之后也可記錄或改變另外的數(shù)據(jù)，并且可更有效地執(zhí)行盤缺陷管理。
圖11示出臨時(shí)缺陷信息TDFL#0和TDFL#1的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。參照圖11，臨時(shí)缺陷信息TDFL#0包含關(guān)于缺陷#1、#2和#3的信息。關(guān)于缺陷#1的信息表示其中存在由缺陷#1的區(qū)的位置和其中記錄有替換#1的區(qū)的位置。根據(jù)本發(fā)明的一方面，關(guān)于缺陷#1的信息還可包括表示在連續(xù)的缺陷塊中或在單一的缺陷塊中出現(xiàn)缺陷#1的信息。同樣地，關(guān)于缺陷#2的信息表示是否在連續(xù)的缺陷塊中或在單一的缺陷塊中出現(xiàn)缺陷#2、缺陷#2存在于其中的區(qū)的位置、和其中記錄有替換#2的區(qū)的位置。關(guān)于缺陷#3的信息表示在連續(xù)的缺陷塊中或在單一的缺陷塊中出現(xiàn)缺陷#3、缺陷#3存在于其中的區(qū)的位置、和其中記錄有替換#3的區(qū)的位置。
在所示實(shí)施例中，臨時(shí)缺陷信息TDFL#1還包含處理包含在臨時(shí)缺陷信息TDFL#0中的信息之外的關(guān)于缺陷#4和#5的信息。更具體地說，臨時(shí)缺陷信息TDFL#1包括關(guān)于缺陷#1的信息、關(guān)于缺陷#2的信息、關(guān)于缺陷#3的信息、關(guān)于缺陷#4的信息、和關(guān)于缺陷#5的信息。然而，在本發(fā)明的全部方面中不需要這樣累計(jì)的記錄。
圖12示出關(guān)于缺陷#i的信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。參照圖12，關(guān)于缺陷#i的信息包括表示在連續(xù)的缺陷塊中或在單一的缺陷塊中出現(xiàn)缺陷#i的狀態(tài)信息、對缺陷#i的指針、和對替換#i的指針。當(dāng)缺陷#i被確定出現(xiàn)在連續(xù)的缺陷塊中時(shí)，狀態(tài)信息還表示對缺陷#i的指針指向連續(xù)的缺陷塊的開始或結(jié)束并且用于替換#i的指針指出替換缺陷#i的替換塊的開始或結(jié)束。當(dāng)狀態(tài)信息表示用于缺陷#i的指針作為連續(xù)的缺陷塊的開始并且用于替換#i的指針作為替換塊的開始時(shí)，用于缺陷#i的指針表示連續(xù)的缺陷塊的起始物理扇區(qū)號并且用于替換#i的指針表示替換#i的起始物理扇區(qū)號。與此相反，當(dāng)狀態(tài)信息表示用于缺陷#i的指針作為連續(xù)的缺陷塊的結(jié)束并且用于替換#i的指針作為替換塊的結(jié)束時(shí)，用于缺陷#i的指針表示連續(xù)的缺陷塊的結(jié)束物理扇區(qū)號并且用于替換#i的指針表示替換#i的結(jié)束物理扇區(qū)號。即使關(guān)于缺陷的信息未被以塊為單位記錄，使用狀態(tài)信息連續(xù)的缺陷塊的限定也允許信息的有效記錄并且節(jié)省記錄空間。
用于缺陷#i的指針規(guī)定缺陷#i的起始和/或結(jié)束點(diǎn)。根據(jù)本發(fā)明的一方面，用于缺陷#i的指針可包括缺陷#i的起始PSN。用于替換#i的指針規(guī)定替換#i的起始和/或結(jié)束點(diǎn)。用于替換#i的指針還可包括替換#i的起始PSN。
下面，將參照圖13A和13B中所示的流程圖來描述根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的盤缺陷管理方法。參照圖13A和13B，諸如圖1中所示的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備將關(guān)于根據(jù)第一記錄操作記錄的數(shù)據(jù)的缺陷信息作為第一臨時(shí)缺陷管理信息記錄在盤100的TDMA中(操作1301)。記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的控制器1控制記錄/讀單元2將用于管理定義臨時(shí)缺陷信息的管理信息作為第一臨時(shí)缺陷管理信息記錄在TDMA中(操作1302)。如上所述，根據(jù)本發(fā)明一方面，第一臨時(shí)缺陷管理信息包括驅(qū)動器和盤信息(即，測試位置信息或?qū)懕Ｗo(hù)信息)。接下來，關(guān)于第一臨時(shí)缺陷信息和第一臨時(shí)缺陷管理信息的位置的信息被記錄在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中(操作1303)。其后，寫保護(hù)信息也被記錄在驅(qū)動器和盤信息區(qū)(操作1304)。
接下來，檢查是否需要盤完成(操作1305)。如果在操作1305中確定不需要盤完成，則在將給到記錄操作、臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的指數(shù)i增加1時(shí)重復(fù)操作1301至1304(操作1306)。然而，如果在操作1305中確定需要盤完成，則最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息被記錄在DMA中(操作1307)。即，在DMA中，最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息被分別記錄為最終缺陷管理信息和缺陷信息。該最終缺陷信息和缺陷管理信息可被重復(fù)記錄以增加數(shù)據(jù)檢測的可靠性。
而且，當(dāng)在本發(fā)明的所有方面中不需要時(shí)，可對最終缺陷管理信息和缺陷信息執(zhí)行寫后校驗(yàn)方法。如果從最終缺陷管理信息中檢測到缺陷，則具有缺陷的盤100的區(qū)和接下來的包含數(shù)據(jù)的區(qū)可被認(rèn)為是不可用的(即，他們被指定為缺陷區(qū))，并且最終臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息被再次記錄在缺陷區(qū)之后。另外，根據(jù)本發(fā)明的另一方面，在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中記錄的或在最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i中包括的寫保護(hù)信息還可被記錄在DMA中。
圖14A和14B顯示根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的盤缺陷管理方法的流程圖。參照圖14A和14B，諸如圖1中所示的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備以數(shù)據(jù)單位將用戶數(shù)據(jù)記錄在盤的數(shù)據(jù)區(qū)中以方便寫后校驗(yàn)方法(操作1401)。在操作1201中記錄的數(shù)據(jù)被校驗(yàn)以檢測具有缺陷的盤100的區(qū)(操作1402)。圖1的控制器2指明具有缺陷的區(qū)作為缺陷區(qū)，控制記錄/讀單元1將在缺陷區(qū)中記錄的數(shù)據(jù)重寫到備用區(qū)中，從而生成替換區(qū)?？刂破?還控制記錄/讀單元1生成規(guī)定缺陷區(qū)是包括單一缺陷塊還是連續(xù)缺陷塊的狀態(tài)信息、和指出缺陷區(qū)和替換區(qū)的位置的指針信息(操作1403)。狀態(tài)信息和指針信息作為第一臨時(shí)缺陷信息被存儲在存儲器中(操作1404)。檢查是否期望第一記錄操作結(jié)束(操作1405)。
如果在操作1405中確定不期望第一記錄操作結(jié)束，則操作1401至1404重復(fù)。如果在操作1405中確定期望第一記錄操作結(jié)束(即，當(dāng)由用戶輸入或根據(jù)單一記錄操作來完成用戶數(shù)據(jù)的記錄時(shí))，則存儲的臨時(shí)缺陷信息被讀取并且作為第一臨時(shí)缺陷信息TDFL#0幾次記錄在TDMA中重復(fù)(操作1406)。接下來，用于管理第一臨時(shí)缺陷信息TDFL#0的管理信息在TDMA中被記錄為第一臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0(操作1407)。該第一臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0還包括測試位置信息和寫保護(hù)信息。其后，對于第一臨時(shí)缺陷信息TDFL#0的位置的指針、對于第一臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#0的位置的指針、和寫保護(hù)信息被記錄在盤100的驅(qū)動器和盤信息區(qū)中(操作1408和1409)。
另外，除臨時(shí)缺陷信息TDFL#i和臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i之外，用于臨時(shí)管理信息TDMA#i的指針可在操作1408中記錄。
接下來，檢查是否需要完成數(shù)據(jù)(操作1410)。如果在操作1410中確定不需要完成盤100，則重復(fù)操作1401至1409。每當(dāng)重復(fù)操作1401至1409時(shí)，給到每一記錄操作、臨時(shí)缺陷信息TDFL和臨時(shí)缺陷管理信息TDDS的指數(shù)i增加1(操作1411)。如果在操作1410中確定需要完成盤100時(shí)，最后記錄的臨時(shí)缺陷信息TDFL#i和最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i作為最終缺陷信息DFL和最終缺陷管理信息DDS記錄在DMA中被(操作1412)。最終缺陷信息DFL和最終缺陷管理信息DDS可被記錄幾次以增加數(shù)據(jù)檢測的可靠性。類似地，可對最終記錄的缺陷信息和缺陷管理信息執(zhí)行寫后校驗(yàn)方法。如果在此信息中檢測到缺陷，則具有缺陷的100的區(qū)和接著的包含數(shù)據(jù)的區(qū)可被認(rèn)為是不可用的(即，該區(qū)總體被指明為缺陷區(qū))，并且最終臨時(shí)缺陷管理信息和臨時(shí)缺陷信息可被再次記錄在缺陷區(qū)之后。另外，存儲在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中或包括在最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息TDDS#i中的寫保護(hù)信息還可被記錄在DMA中。盡管如描述增加1時(shí)，應(yīng)該理解，圖13A至14B中所示的方法中的指數(shù)可基于其它號而被替代。
上述缺陷管理可被實(shí)施為可由可為通用或?qū)Ｓ糜?jì)算機(jī)的計(jì)算機(jī)運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序。因此，應(yīng)該理解，控制器2可為這種計(jì)算機(jī)。構(gòu)成計(jì)算機(jī)程序的代碼和代碼片斷可由本領(lǐng)域中的計(jì)算機(jī)程序容易地得出。該程序存儲在計(jì)算機(jī)可讀的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)中。當(dāng)由計(jì)算機(jī)讀取并運(yùn)行該程序時(shí)，執(zhí)行缺陷管理。在此，計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)可為磁記錄介質(zhì)、光學(xué)記錄介質(zhì)、載波、固件或其它可記錄介質(zhì)。
在再現(xiàn)期間，記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備利用在缺陷管理區(qū)和/或臨時(shí)缺陷管理區(qū)中的缺陷信息和缺陷管理信息，以便訪問記錄的用戶數(shù)據(jù)。盡管根據(jù)如圖1中所示的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備描述，但應(yīng)該理解，該設(shè)備可為單獨(dú)的記錄或再現(xiàn)設(shè)備或記錄和再現(xiàn)設(shè)備。
盡管根據(jù)使用一次寫入盤描述，應(yīng)該理解，本發(fā)明可使用包括可重寫記錄介質(zhì)的其它可寫的盤。
如上所述，本發(fā)明的一方面提供一種適于使用一次寫入盤的盤缺陷管理方法。根據(jù)本發(fā)明的一方面，在盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)或?qū)С鰠^(qū)中至少存在一個(gè)臨時(shí)缺陷信息區(qū)，從而關(guān)于在盤中存在的缺陷的信息可被累計(jì)地記錄。而且，通過僅從臨時(shí)缺陷信息區(qū)讀取最后記錄的臨時(shí)缺陷信息并且將讀取的信息記錄在缺陷管理區(qū)來完成盤是容易的，因此允許有效使用DMA。因此，當(dāng)執(zhí)行盤缺陷管理時(shí)，用戶數(shù)據(jù)可被記錄在盤上(即使在一次寫入盤上)，因此，允許在不中斷的情況下執(zhí)行備份操作。而且，即使在將寫保護(hù)信息記錄在盤上之后，也可改變寫保護(hù)信息或執(zhí)行盤缺陷管理。而且，即使盤驅(qū)動器不訪問驅(qū)動器和盤信息區(qū)并且未獲得測試位置信息或?qū)懕Ｗo(hù)信息，臨時(shí)缺陷管理信息還包括測試位置信息和寫保護(hù)信息。因此，可直接訪問測試區(qū)并防止數(shù)據(jù)被記錄在不正確區(qū)中。另外，即使用戶不期望執(zhí)行盤缺陷管理，也可通過將測試位置信息和寫保護(hù)信息記錄為臨時(shí)缺陷管理信息來增加系統(tǒng)的可靠性。
盡管本發(fā)明被特別示出并且參照其實(shí)施例進(jìn)行描述，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該理解，在不脫離由所附權(quán)利要求及其等同物所限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可在其中進(jìn)行形式上的或細(xì)節(jié)的各種改變。
權(quán)利要求
1.一種與記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備一起使用的一次寫入盤，該盤包括記錄層，其中順序地放置有導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和導(dǎo)出區(qū)；缺陷管理區(qū)，在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中；臨時(shí)缺陷管理區(qū)，在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中，并且包括臨時(shí)缺陷信息和包括有驅(qū)動器和盤信息的臨時(shí)缺陷管理信息；以及驅(qū)動器和盤信息區(qū)，在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中，并且其中包括關(guān)于在執(zhí)行缺陷管理時(shí)由記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備使用的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的位置的信息，其中，為了盤完成，由記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備將最后記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中的最后記錄的臨時(shí)缺陷信息和最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息記錄在缺陷管理區(qū)中。
2.一種與記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備一起使用的一次寫入盤，該盤具有第一記錄層，順序地包括導(dǎo)入?yún)^(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和第一導(dǎo)出區(qū)；第二記錄層，順序地包括外部區(qū)、數(shù)據(jù)區(qū)和第二導(dǎo)出區(qū)；缺陷管理區(qū)，在導(dǎo)入?yún)^(qū)、第一導(dǎo)出區(qū)、第二導(dǎo)出區(qū)和外部區(qū)的至少一個(gè)中；臨時(shí)缺陷管理區(qū)，在導(dǎo)入?yún)^(qū)、第一導(dǎo)出區(qū)、第二導(dǎo)出區(qū)和外部區(qū)的至少一個(gè)中，并且包括在執(zhí)行缺陷管理時(shí)由記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備使用的臨時(shí)缺陷信息和包括驅(qū)動器和盤信息的臨時(shí)缺陷管理信息；以及驅(qū)動器和盤信息區(qū)，在導(dǎo)入?yún)^(qū)、第一導(dǎo)出區(qū)、第二導(dǎo)出區(qū)和外部區(qū)的至少一個(gè)中，并且其包括關(guān)于臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的位置的信息，其中，為了盤的完成，最后記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中的最后記錄的臨時(shí)缺陷信息和最后記錄的臨時(shí)缺陷管理信息被記錄在缺陷管理區(qū)中。
3.如權(quán)利要求1所述的一次寫入盤，其中，寫保護(hù)信息還被記錄在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中。
4.如權(quán)利要求3所述的一次寫入盤，其中在不連續(xù)的記錄操作中將數(shù)據(jù)寫到數(shù)據(jù)區(qū)中，并且寫保護(hù)信息針對每一記錄操作而被記錄。
5.如權(quán)利要求1所述的一次寫入盤，其中，驅(qū)動器和盤信息包括寫保護(hù)信息和測試位置信息的至少一個(gè)。
6.如權(quán)利要求1所述的一次寫入盤，其中，在每一將數(shù)據(jù)記錄到數(shù)據(jù)區(qū)中的記錄操作中記錄臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息。
7.如權(quán)利要求1所述的一次寫入盤，包括多個(gè)缺陷管理區(qū)、臨時(shí)缺陷管理區(qū)和驅(qū)動器和盤信息區(qū)的至少一個(gè)。
8.如權(quán)利要求1所述的一次寫入盤，包括多個(gè)臨時(shí)缺陷管理區(qū)和不止一次在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中的驅(qū)動器和盤信息區(qū)的至少一個(gè)。
9.如權(quán)利要求1所述的一次寫入盤，還包括包括臨時(shí)缺陷管理區(qū)和驅(qū)動器和盤信息區(qū)的的結(jié)合區(qū)。
10.一種管理盤缺陷的方法，包括將關(guān)于根據(jù)第i記錄操作記錄在盤的數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)中的缺陷的信息作為第i臨時(shí)缺陷信息幾次記錄在盤的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中，其中i是指數(shù)；將用于管理第i臨時(shí)缺陷信息的信息作為第i臨時(shí)缺陷管理信息記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中；將關(guān)于第i臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的位置的信息記錄在盤的驅(qū)動器和盤信息區(qū)中；在增加給到記錄操作、臨時(shí)缺陷信息、和臨時(shí)缺陷管理信息的指數(shù)時(shí)，至少一次重復(fù)對第i臨時(shí)缺陷信息的記錄、對第i臨時(shí)缺陷管理信息的記錄、和對關(guān)于位置的信息的記錄；以及為了盤的完成，將最后記錄的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息中的一個(gè)記錄在盤的缺陷管理區(qū)中。
11.如權(quán)利要求10所述的方法，還包括將寫保護(hù)信息被記錄在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中。
12.如權(quán)利要求10所述的方法，其中，在記錄第i臨時(shí)缺陷管理信息期間，該第i臨時(shí)缺陷管理信息被記錄以包括測試位置信息和寫保護(hù)信息的至少一個(gè)。
13.如權(quán)利要求10所述的方法，其中，記錄第i臨時(shí)缺陷信息還包括以預(yù)定單位記錄數(shù)據(jù)；校驗(yàn)記錄的數(shù)據(jù)以檢測其中存在有缺陷的盤的缺陷區(qū)；將指出缺陷區(qū)的信息和指出用于缺陷區(qū)的替換區(qū)的信息作為第一臨時(shí)缺陷信息記錄在存儲器中；至少一次重復(fù)以預(yù)定單位記錄數(shù)據(jù)，校驗(yàn)記錄的數(shù)據(jù)，并存儲信息；以及讀取存儲在存儲器中的信息并且將讀取的信息作為第i臨時(shí)缺陷信息幾次記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中。
14.一種與盤一起使用的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，包括記錄/讀單元，用于將數(shù)據(jù)記錄在盤上和/或從盤的數(shù)據(jù)區(qū)中讀取數(shù)據(jù)；以及控制器，用于控制記錄/讀單元將關(guān)于記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中的數(shù)據(jù)中的缺陷的信息作為臨時(shí)缺陷信息記錄在盤的臨時(shí)缺陷管理區(qū)中；將用于管理臨時(shí)缺陷信息的管理信息作為臨時(shí)缺陷管理信息記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中，該管理信息還包括驅(qū)動器和盤信息；將關(guān)于臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的位置的信息記錄在盤的驅(qū)動器和盤信息區(qū)中；以及在盤完成期間將最后記錄的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息記錄在盤的缺陷管理區(qū)中。
15.如權(quán)利要求14所述的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中，控制器控制記錄/讀單元還將寫保護(hù)信息記錄在驅(qū)動器和盤信息中。
16.如權(quán)利要求14所述的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中，控制器控制記錄/讀單元在不連續(xù)的記錄操作中將數(shù)據(jù)記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中，并且對每一記錄操作記錄臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息。
17.如權(quán)利要求14所述的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中，控制器控制記錄/讀單元在分離的記錄操作中將數(shù)據(jù)記錄在數(shù)據(jù)區(qū)中，并且記錄臨時(shí)缺陷管理信息以包括用于每一記錄操作的測試位置信息和寫保護(hù)信息。
18.如權(quán)利要求1所述的一次寫入盤，其中，驅(qū)動器和盤信息包括關(guān)于盤的測試區(qū)的位置的信息和關(guān)于是否可將信息寫到盤中的寫保護(hù)信息。
19.如權(quán)利要求18所述的一次寫入盤，其中，驅(qū)動器和盤信息也被包括在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中。
20.如權(quán)利要求19所述的一次寫入盤，其中，驅(qū)動器和盤信息區(qū)還包括關(guān)于盤的類型的信息、關(guān)于用于寫和/或讀操作的驅(qū)動器的信息。
21.如權(quán)利要求1所述的一次寫入盤，其中，臨時(shí)缺陷管理區(qū)還包括用戶數(shù)據(jù)的最后記錄的單元的地址和被記錄以替換缺陷區(qū)的替換數(shù)據(jù)的最后記錄的單元的地址。
22.如權(quán)利要求2所述的一次寫入盤，其中，驅(qū)動器和盤信包括關(guān)于盤的測試區(qū)的位置的信息和關(guān)于是否可將信息寫到盤中的寫保護(hù)信息。
23.如權(quán)利要求22所述的一次寫入盤，其中，驅(qū)動器和盤信息也被包括在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中。
24.如權(quán)利要求23所述的一次寫入盤，其中，驅(qū)動器和盤信息區(qū)還包括關(guān)于盤的類型的信息、關(guān)于用于寫和/或讀操作的驅(qū)動器的信息。
25.如權(quán)利要求2所述的一次寫入盤，其中，臨時(shí)缺陷管理區(qū)還包括用戶數(shù)據(jù)的最后記錄的單元的地址和被記錄以替換缺陷區(qū)的替換數(shù)據(jù)的最后記錄的單元的地址。
26.一種與記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備一起使用的可記錄盤，該盤包括導(dǎo)入?yún)^(qū)；導(dǎo)出區(qū)；數(shù)據(jù)區(qū)，位于導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)之間，并且數(shù)據(jù)被記錄在其中和/或數(shù)據(jù)從其再現(xiàn)；臨時(shí)缺陷管理區(qū)，在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中，并且包括在解決盤中的缺陷時(shí)由記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備使用的臨時(shí)缺陷管理信息；以及驅(qū)動器和盤信息區(qū)，在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中，并且其包括關(guān)于臨時(shí)缺陷管理信息的位置的信息。
27.如權(quán)利要求26所述的可記錄盤，其中，臨時(shí)缺陷管理區(qū)還包括在執(zhí)行缺陷管理時(shí)由臨時(shí)缺陷管理信息管理并且由記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備使用的臨時(shí)缺陷信息，并且關(guān)于臨時(shí)缺陷信息的位置的信息被記錄在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中。
28.如權(quán)利要求27所述的可記錄盤，其中數(shù)據(jù)被記錄在相應(yīng)的記錄單元中，每一記錄單元具有用于至少關(guān)于該記錄單元執(zhí)行缺陷管理的相應(yīng)的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息對，并且臨時(shí)缺陷信息的位置包括其中記錄有用于相應(yīng)的記錄單元的相應(yīng)的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息對的區(qū)的位置。
29.如權(quán)利要求26所述的可記錄盤，其中，驅(qū)動器和盤信息區(qū)還包括關(guān)于數(shù)據(jù)區(qū)中記錄的數(shù)據(jù)的寫保護(hù)信息。
30.如權(quán)利要求29所述的可記錄盤，其中，驅(qū)動器和盤信息區(qū)還包括可記錄的區(qū)，從而，如果寫保護(hù)信息表示盤被寫保護(hù)，則附加的寫保護(hù)信息可寫到可記錄的區(qū)從而記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備可改變盤的寫保護(hù)狀態(tài)以再次允許在數(shù)據(jù)區(qū)中記錄。
31.如權(quán)利要求26所述的可記錄盤，其中，驅(qū)動器和盤信息區(qū)還包括關(guān)于驅(qū)動器的類型的信息和關(guān)于盤的類型的信息。
32.如權(quán)利要求26所述的可記錄盤，還包括其中數(shù)據(jù)未被記錄并且其中記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備對盤執(zhí)行測試的測試區(qū)，其中，驅(qū)動器和盤信息區(qū)還包括關(guān)于測試區(qū)的信息。
33.如權(quán)利要求26所述的可記錄盤，其中，臨時(shí)缺陷管理信息還包括關(guān)于在數(shù)據(jù)區(qū)中記錄的數(shù)據(jù)的寫保護(hù)信息。
34.如權(quán)利要求26所述的可記錄盤，其中，臨時(shí)缺陷管理信息還包括關(guān)于驅(qū)動器的類型的信息和關(guān)于盤的類型的信息。
35.如權(quán)利要求26所述的可記錄盤，還包括其中數(shù)據(jù)未被記錄并且其被保留用于記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備對盤執(zhí)行測試的測試區(qū)，其中，臨時(shí)缺陷管理信息還包括關(guān)于測試區(qū)的信息。
36.如權(quán)利要求26所述的可記錄盤，還包括其中記錄有由記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備使用以替換其中檢測到缺陷的一部分?jǐn)?shù)據(jù)區(qū)的替換數(shù)據(jù)的備用區(qū)，其中，臨時(shí)缺陷管理信息還包括關(guān)于最后記錄的數(shù)據(jù)的部分的位置的數(shù)據(jù)位置信息和關(guān)于替換數(shù)據(jù)的最后記錄的部分的位置的替換位置信息。
37.一種與盤一起使用的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，包括記錄/讀單元，用于將數(shù)據(jù)記錄在盤上和/或從盤的數(shù)據(jù)區(qū)中讀取數(shù)據(jù)；以及控制器，用于控制記錄/讀單元如果正執(zhí)行缺陷管理，則將作為臨時(shí)缺陷信息的關(guān)于在數(shù)據(jù)區(qū)中記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷的信息記錄在盤臨時(shí)缺陷管理區(qū)中；將包括作為臨時(shí)缺陷管理信息的用于管理臨時(shí)缺陷信息的信息的管理信息記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中；以及將關(guān)于臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的位置的信息記錄在盤的驅(qū)動器和盤信息區(qū)中。
38.如權(quán)利要求37所述的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中，當(dāng)控制器執(zhí)行缺陷管理并且臨時(shí)缺陷信息被記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中時(shí)，控制器控制記錄/讀單元將關(guān)于臨時(shí)缺陷信息的位置的信息記錄到驅(qū)動器和盤信息區(qū)中。
39.如權(quán)利要求38所述的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中控制器控制數(shù)據(jù)從被記錄在相應(yīng)的記錄單元中，對于每一記錄單元，控制器將用于至少關(guān)于該記錄單元執(zhí)行缺陷管理的相應(yīng)的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息對記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中，并且在盤和驅(qū)動器信息區(qū)中記錄的臨時(shí)缺陷信息的位置包括其中記錄有用于相應(yīng)的記錄單元的相應(yīng)的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息對的區(qū)的位置。
40.如權(quán)利要求37所述的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中驅(qū)動器和盤信息區(qū)還包括關(guān)于記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的類型的信息和關(guān)于盤的類型的信息，并且控制器關(guān)于數(shù)據(jù)區(qū)在記錄和/或再現(xiàn)數(shù)據(jù)時(shí)，使用記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的類型和盤的類型的信息。
41.如權(quán)利要求37所述的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中驅(qū)動器和盤信息區(qū)還包括關(guān)于在數(shù)據(jù)區(qū)中記錄的數(shù)據(jù)的寫保護(hù)信息，并且當(dāng)寫保護(hù)狀態(tài)表示該盤被寫保護(hù)時(shí)，控制器不記錄數(shù)據(jù)。
42.如權(quán)利要求41所述的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中驅(qū)動器和盤信息區(qū)還包括可記錄的區(qū)，并且即使寫保護(hù)信息表示盤被寫保護(hù)，控制器也將附加的寫保護(hù)信息記錄到可記錄的區(qū)中，從而記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備可改變盤的寫保護(hù)狀態(tài)以再次允許在數(shù)據(jù)區(qū)中記錄。
43.如權(quán)利要求41所述的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中，即使寫保護(hù)信息表示盤被寫保護(hù)，控制器記錄臨時(shí)缺陷管理信息、臨時(shí)缺陷信息、和/或用于在數(shù)據(jù)區(qū)的缺陷部分中記錄的數(shù)據(jù)的替換數(shù)據(jù)，從而對寫保護(hù)的盤執(zhí)行缺陷管理。
44.如權(quán)利要求37所述的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中該盤還包括其中未記錄數(shù)據(jù)并且控制器將其識別為用于記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備而保留以執(zhí)行對盤的測試的測試區(qū)，并且控制器從記錄在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中的信息中檢測測試區(qū)的位置。
45.如權(quán)利要求37所述的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中控制器將寫保護(hù)信息記錄在臨時(shí)缺陷管理信息中，并且控制器使用寫保護(hù)信息以確定另外的數(shù)據(jù)是否可被記錄到數(shù)據(jù)區(qū)中。
46.如權(quán)利要求37所述的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中，控制器還將關(guān)于記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備的類型的信息和關(guān)于盤的類型的信息包括在臨時(shí)缺陷管理信息中。
47.如權(quán)利要求37所述的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中盤還包括其中未記錄有數(shù)據(jù)并且控制器將其識別為為記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備而保留的區(qū)以對盤執(zhí)行測試的測試區(qū)，并且控制器在臨時(shí)缺陷管理信息中記錄測試區(qū)的位置。
48.如權(quán)利要求37所述的記錄和/或再現(xiàn)設(shè)備，其中盤還包括備用區(qū)，控制器檢測在數(shù)據(jù)區(qū)中記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷，并且控制記錄/讀單元記錄替換數(shù)據(jù)以替換其中檢測到缺陷的一部分?jǐn)?shù)據(jù)區(qū)，臨時(shí)缺陷管理信息還包括關(guān)于一部分?jǐn)?shù)據(jù)的位置的數(shù)據(jù)位置信息、和關(guān)于一部分替換數(shù)據(jù)的位置的替換位置信息，并且控制器使用在臨時(shí)缺陷管理信息中記錄的數(shù)據(jù)位置信息和替換位置信息來檢測在數(shù)據(jù)區(qū)和備用區(qū)中可記錄的空間的量。
49.一種使用用于由計(jì)算機(jī)執(zhí)行的實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求10中的方法的處理指令而編碼的計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)。
全文摘要
一種一次寫入盤包括存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中的缺陷管理區(qū)；存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中的臨時(shí)缺陷管理區(qū)；以及存在于導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)的至少一個(gè)中的驅(qū)動器和盤信息區(qū)。關(guān)于臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息的位置的信息記錄在驅(qū)動器和盤信息區(qū)中，臨時(shí)缺陷信息和包括驅(qū)動器和盤信息的臨時(shí)缺陷管理信息被記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中，并且為了盤完成，最后記錄在臨時(shí)缺陷管理區(qū)中的臨時(shí)缺陷信息和臨時(shí)缺陷管理信息被記錄在缺陷管理區(qū)中。
文檔編號G11B7/007GK1701358SQ200480000874
公開日2005年11月23日 申請日期2004年2月27日 優(yōu)先權(quán)日2003年3月3日
發(fā)明者李坰根, 高禎完, 黃盛凞 申請人:三星電子株式會社