專利名稱：盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)中的缺陷管理的制作方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明一般涉及盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)，尤其涉及其中對超出ECC(糾錯碼)能力之外的缺陷的缺陷管理。
2.現(xiàn)有技術(shù)描述一般說來，從/向諸如可重寫CD-RW、CD-MRW、DVD±R/W、DVD-RAM、和DVD+MRW等的光盤再現(xiàn)/寫入信息的系統(tǒng)利用拾取單元來訪問光盤的軌道。可重寫光盤的制造規(guī)范保證了按預定次數(shù)在光盤上可重復寫入信息。
但是，當重復使用可重寫光盤時，由于盤的退化或其它各種各樣原因，可能在光盤上產(chǎn)生缺陷。如圖1所示，這樣的缺陷可能包括黑點、劃痕、和指印等。如圖2所示，在光盤的導入?yún)^(qū)、節(jié)目區(qū)、或?qū)С鰠^(qū)中都有可能產(chǎn)生這些缺陷。
光盤上的缺陷可能是致命的，使得不能通過播放光盤時實現(xiàn)的糾錯碼(ECC)來管理缺陷。在那種情況下，由于盤不再是可重寫的，在現(xiàn)有技術(shù)中不得不扔掉光盤。在諸如CD-MRW和DVD+MRW之類的可重寫光盤的情況中，有關光盤開頭的信息和有關缺陷管理的信息被記錄在導入?yún)^(qū)中。另外，音頻或視頻數(shù)據(jù)被記錄在節(jié)目區(qū)中，和有關光盤末端的信息被記錄在導出區(qū)中。
一般說來，在現(xiàn)有技術(shù)中，可重寫光盤上的缺陷通過播放光盤時執(zhí)行的ECC來管理。當光盤含有諸如黑點、劃痕、或指印之類的輕微缺陷時，不進行拾取單元的伺服跟蹤，和當解碼從拾取單元輸出的RF(射頻)信號再現(xiàn)來自光盤的再現(xiàn)信息時，根據(jù)RS(里德-索洛蒙)算法等執(zhí)行ECC。
隨著光盤記錄密度的增加，疏忽地管理光盤可能更容易產(chǎn)生缺陷。但是，光盤上的嚴重缺陷不能僅僅依靠跟蹤中止的ECC來修復，在那種情況下，光盤系統(tǒng)可能不正常工作。并且，在現(xiàn)有技術(shù)中，即使光盤存在不明顯的缺陷，但當不能精確地進行伺服跟蹤時，不得不扔掉光盤。
因此，在不能精確地進行伺服跟蹤時也能管理光盤上的嚴重缺陷的機制是眾望所歸。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的是管理這樣的嚴重缺陷或不恰當伺服跟蹤。
在數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)中管理數(shù)據(jù)盤上的缺陷的方法中，缺陷檢測器包括缺陷估計單元和缺陷長度計數(shù)器。缺陷檢測器輸入來自拾取單元的RF信號，以便將RF信號與缺陷閾值相比較生成缺陷信號。缺陷長度計數(shù)器利用擺動(wobble)信號和首標位置(ESFS)信號解釋缺陷信號以生成缺陷長度信息。
在本發(fā)明的一個實施例中，缺陷長度計數(shù)器生成與數(shù)據(jù)盤的每個扇區(qū)相對應的缺陷長度信息。另外，系統(tǒng)控制器輸入缺陷長度信息，以便從缺陷長度信息中確定數(shù)據(jù)盤的哪個扇區(qū)含有不可接受缺陷。并且，系統(tǒng)控制器將存在不可接受缺陷的任何扇區(qū)重新指定(reassign)到數(shù)據(jù)盤上的另一個可用扇區(qū)。
在本發(fā)明的另一個實施例中，缺陷長度信息包括缺陷長度計數(shù)、缺陷長度中斷信號、和隱蔽缺陷長度計數(shù)。在本發(fā)明的示范性實施例中，缺陷長度計數(shù)取決于在扇區(qū)的首標中是否存在缺陷。
在本發(fā)明的進一步實施例中，缺陷檢測器進一步包括伺服保持缺陷檢測單元和缺陷標志單元。伺服保持缺陷檢測單元通過比較RFO信號和保持閾值生成伺服保持信號。缺陷標志單元從RFO信號中生成指示數(shù)據(jù)盤上缺陷的類型的至少一個標記信號。
當數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)是光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)時，本發(fā)明可能特別有優(yōu)勢。但是，本發(fā)明也可應用于任何類型的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)。


通過結(jié)合附圖，對本發(fā)明的示范性實施例進行詳細描述，本發(fā)明的上面和/或其它特征和優(yōu)點將更加清楚，在附圖中圖1示出了一般可重寫光盤上的示范性缺陷；圖2示出了從圖1中橫穿光盤的直線A-A′所指的區(qū)域的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；
圖3是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的包括缺陷檢測器的光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)的方塊圖；圖4是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的圖3的缺陷檢測器的方塊圖；圖5是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的圖4的缺陷長度檢測單元的方塊圖；圖6示出了隨缺陷類型而改變的反射光通量(duantity)的曲線圖；圖7是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的生成圖4中的PLWOBB信號的擺動信號發(fā)生器的方塊圖；圖8是根據(jù)本發(fā)明一個實施例，當該當前扇區(qū)的首標沒有缺陷時，圖3的缺陷檢測器操作期間的時序圖；圖9是根據(jù)本發(fā)明一個實施例、當該當前扇區(qū)的首標存在缺陷時，圖3的缺陷檢測器操作期間的時序圖；圖10是根據(jù)本發(fā)明一個實施例、當下一個扇區(qū)的首標存在缺陷時，圖3的缺陷檢測器操作期間的時序圖；和圖11是根據(jù)本發(fā)明一個實施例、圖3的缺陷檢測器操作期間步驟的流程圖。
這里涉及的圖是為了清楚地舉例說明而畫出的，無需按比例畫出。圖1、2、3、4、5、6、7、8、9、10和11中標號相同的單元表示結(jié)構(gòu)和/或功能相似的單元。
本發(fā)明詳述圖3是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的含有缺陷檢測器360的光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)300的方塊圖。光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)300是示范性數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，本發(fā)明可應用于其它類型的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)。系統(tǒng)300還包括主軸電機310、滑架(sled)電機320、拾取單元330、伺服控制器340、再現(xiàn)和寫入單元350、和系統(tǒng)控制器370。
將光盤裝在主軸電機310的旋轉(zhuǎn)軸上使它旋轉(zhuǎn)?；茈姍C320使拾取單元330橫過光盤作水平運動。這里，光盤是可重寫盤。拾取單元330在伺服控制器340的控制下，讀取記錄在光盤上的信息或?qū)⒕幋a數(shù)據(jù)寫在光盤上。伺服控制器340驅(qū)動拾取單元330內(nèi)的跟蹤致動器和聚焦致動器。系統(tǒng)控制器370控制主軸電機310、滑架電機320、和用于光盤跟蹤的伺服控制器340。
音頻或視頻信息以坑的形式被寫在光盤的螺旋形軌道上。包括在拾取單元330中的光學元件跟蹤螺旋形軌道，從寫在光盤上的信息中生成RF(射頻)信號RFO。并且，拾取單元330從再現(xiàn)和寫入單元350接收編碼數(shù)據(jù)和處理編碼數(shù)據(jù)，以便驅(qū)動激光二極管以坑的形式將編碼數(shù)據(jù)寫在光盤的軌道上。
再現(xiàn)和寫入單元350解碼RF信號RFO以生成再現(xiàn)數(shù)據(jù)和將再現(xiàn)數(shù)據(jù)輸出到系統(tǒng)控制器370。另外，再現(xiàn)和寫入單元350從系統(tǒng)控制器370接收要寫入的數(shù)據(jù)以生成編碼數(shù)據(jù)。系統(tǒng)控制器370與主計算機交接將再現(xiàn)數(shù)據(jù)發(fā)送到主計算機或從主計算機接收要寫入的數(shù)據(jù)。并且，系統(tǒng)控制器370確定光盤的扇區(qū)缺陷狀態(tài)以進行跟蹤控制和光盤扇區(qū)管理。
當在再現(xiàn)或?qū)懭霐?shù)據(jù)的同時，在光盤的扇區(qū)上發(fā)現(xiàn)超出ECC能力之外的嚴重缺陷時，本發(fā)明將有缺陷扇區(qū)重新指定到另一個可用扇區(qū)。缺陷檢測器360處理拾取單元330生成的RF信號RFO，以生成用于伺服保持和與缺陷長度有關的信息的信號。系統(tǒng)控制器370利用來自缺陷檢測器360的信號確定光盤的扇區(qū)缺陷狀態(tài)以進行跟蹤控制和光盤扇區(qū)管理。
系統(tǒng)控制器370利用從RF信號RFO中提取的跟蹤誤差信號和鏡像信號控制光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)300的總體操作。另外，再現(xiàn)和寫入單元350為ECC進行解碼和編碼操作。系統(tǒng)控制器370以及再現(xiàn)和寫入單元350進行的這樣操作是本領域的普通技術(shù)人員所熟知的，這里省略對這樣操作的詳細描述。這里，ECC的基本組成單元是光盤的一個扇區(qū)。
圖4示出了根據(jù)本發(fā)明一個實施例，從RF信號RFO中生成用于伺服保持和與缺陷長度有關的信息的信號的缺陷檢測器360的方塊圖。參照圖4，缺陷檢測器360包括缺陷長度檢測單元410、伺服保持缺陷檢測單元420、和缺陷標志單元430。
缺陷長度檢測單元410從拾取單元33接收的RF信號RFO中生成缺陷信號DEFECT。并且，缺陷長度檢測單元410利用擺動信號PLWOBB和ESFS(編碼器子碼幀同步)信號解釋缺陷信號DEFECT，以便生成缺陷長度信息信號DLINTR、DLCNT、和SDLCNT。ESFS信號表示光盤上扇區(qū)的位置。對缺陷長度檢測單元410將參照圖5作更詳細說明。
伺服保持缺陷檢測單元420從RF信號RFO中生成用于伺服保持的保持信號DPINFO。用于伺服保持的保持閾值HDTHR和用于提取缺陷信號DEFECT的缺陷檢測閾值FDTHR將參照圖6加以說明。缺陷標志單元430生成與缺陷長度檢測單元410檢測的缺陷有關的標志信息信號。另外，缺陷標志單元430從保持信息信號DPINFO中生成與伺服保持缺陷檢測單元420檢測的缺陷有關的標志信息信號。
與缺陷長度檢測單元410檢測的缺陷有關的標志信息信號包括首標標志信號HFLG和當前狀態(tài)標志信號PFLG。首標標志信號HFLAG表示扇區(qū)的首標是否存在缺陷。如果扇區(qū)的首標存在缺陷，將首標標志信號HFLAG從第一邏輯狀態(tài)(邏輯低狀態(tài))激勵(activate)到第二邏輯狀態(tài)(邏輯高狀態(tài))。當前狀態(tài)標志信號PFLAG表示當前跟蹤的光盤軌道是否存在缺陷。當這樣的軌道存在缺陷時，將當前狀態(tài)標志信號從第一邏輯狀態(tài)(邏輯低狀態(tài))激勵到第二邏輯狀態(tài)(邏輯高狀態(tài))。
與伺服保持缺陷檢測單元420檢測的缺陷有關的標志信息信號包括黑點/劃痕標志信號BFLAG。黑點/劃痕標志信號BFLAG表示當前跟蹤的軌道是否存在黑點或劃痕。當這樣的軌道存在缺陷時，將黑點/劃痕標志信號BFLAG從第一邏輯狀態(tài)(邏輯低狀態(tài))激勵到第二邏輯狀態(tài)(邏輯高狀態(tài))。
如上所述，缺陷檢測器360處理RF信號RFO，以便生成缺陷信號DEFECT、保持信息信號DPINFO、缺陷長度信息信號DLINTR、DLCNT和SDLCNT、和標志信息信號HFLAG、PFLAG和BFLAG。于是，系統(tǒng)控制器370利用缺陷長度信息信號DLINTR、DLCNT和SDLCNT、標志信息信號HFLAG、PFLAG和BFLAG、和保持信息信號DPINFO確定光盤的扇區(qū)缺陷狀態(tài)。根據(jù)確定結(jié)果，系統(tǒng)控制器370保持對拾取單元330的跟蹤，或當光盤的扇區(qū)存在超過ECC能力之外的嚴重缺陷時，系統(tǒng)控制器370將有缺陷扇區(qū)重新指定到另一個可用扇區(qū)。
圖5是缺陷長度檢測單元410的方塊圖。參照圖5，缺陷長度檢測單元410包括缺陷估計單元411、缺陷長度計數(shù)器412、寄存器413、和隱蔽缺陷長度計數(shù)器414。缺陷長度檢測單元410的操作將參照圖8、9和10加以說明。
缺陷估計單元411生成當對RF信號RFO濾波獲得的信號比缺陷閾值FDTHR低時激勵的缺陷信號DEFECT。當為了獲取缺陷信號DEFECT而濾波RF信號RFO時，濾波信號的幅度與從光盤反射到拾取單元330的激光束的強度成正比。
示出了隨缺陷類型而改變的反射光通量的曲線圖。例如，當濾波RF信號RFO獲得的信號比缺陷閾值FDTHR低時激勵缺陷信號DEFECT。在圖4中，伺服保持缺陷檢測單元420當處理RF信號RFO獲得的信號比保持閾值HDTHR低時生成激勵的保持信息信號DPINFO。
參照圖6，用于伺服跟蹤保持的保持閾值HDTHR比用于適當扇區(qū)管理的缺陷閾值FDTHR低。當由于在跟蹤期間遇到的黑點或劃痕，反射光的強度變得非常小時，一般說來，保持跟蹤和執(zhí)行ECC。對于與相當大指印相對應的反射光通量，不執(zhí)行ECC。但是，即使通過處理RF信號RFO獲得的信號比保持閾值HDTHR高，但比缺陷閾值FDTHR低，在本發(fā)明中，根據(jù)其長度，也可以不通過ECC處理缺陷。因此，本發(fā)明意在管理超出ECC能力之外的缺陷。
缺陷長度計數(shù)器412處理缺陷信號DEFECT生成缺陷長度計數(shù)信號DLCNT。缺陷長度計數(shù)器412還當缺陷長度計數(shù)信號DLCNT比缺陷長度閾值DLTHR高時生成激勵的缺陷長度中斷信號DLINTR。這里，當缺陷長度中斷信號DLINTR被激勵時，重置缺陷長度計數(shù)信號DLCNT。缺陷長度閾值DLTHR存儲在寄存器413中。隱蔽缺陷長度計數(shù)器414處理前一個扇區(qū)的缺陷信號DEFECT生成隱蔽缺陷長度計數(shù)信號SDLCNT。
缺陷長度計數(shù)器412和隱蔽缺陷長度計數(shù)器414使用被PLL(鎖相環(huán))鎖相的擺動信號PLWOBB。用于生成擺動信號PLWOBB的擺動信號發(fā)生器700顯示在圖7中?，F(xiàn)在說明擺動信號發(fā)生器700的操作。
擺動信號發(fā)生器700包括低通濾波器710、比較器720、和PLL 730。低通濾波器710從拾取單元330生成的RF信號RFO中除去噪聲，生成頻帶與擺動信號PLWOBB相對應的信號。比較器720將低通濾波器710的輸出信號轉(zhuǎn)換成二進制數(shù)字信號。PLL 730鎖住比較器720的輸出信號的頻率，輸出擺動信號PLWOBB。
對于每個光盤，擺動信號PLWOBB具有唯一頻率。生成的擺動信號由系統(tǒng)控制器370用作當前跟蹤的軌道的位置信息。擺動信號PLWOBB還用作生成用于再現(xiàn)或?qū)懭霐?shù)據(jù)的定時時鐘信號的基本信號。另外，擺動信號PLWOBB被缺陷長度計數(shù)器412和隱蔽缺陷長度計數(shù)器414用于與缺陷信號DEFECT一起計數(shù)，生成計數(shù)信號DLCNT和SDLCNT。例如，在激勵缺陷信號DEFECT的同時對擺動信號PLWOBB的周期計數(shù)，生成計數(shù)信號DLCNT和SDLCNT。
現(xiàn)在更詳細地說明圖3的缺陷檢測器360的操作。圖8是當扇區(qū)的首標沒有缺陷時，缺陷檢測器360操作期間的時序圖。圖9是當扇區(qū)的首標存在缺陷時的時序圖，和圖10是當下一個扇區(qū)的首標存在缺陷時的時序圖。下面參照圖8、9、和10和圖11的流程圖描述缺陷檢測器360的操作。
參照圖5和8，缺陷長度計數(shù)器412識別當前扇區(qū)n的首標的位置(圖11的步驟S110)。再現(xiàn)和寫入單元350處理RF信號RFO生成ESFS信號。系統(tǒng)控制器370根據(jù)ESFS信號識別當前跟蹤位置的扇區(qū)。ESFS信號的觸發(fā)位置對應于扇區(qū)首標位置。缺陷標志單元430生成的首標標志信號HFLAG表示當前扇區(qū)n的首標是否存在缺陷(圖11的步驟S120)。當在扇區(qū)首標位置期間激勵缺陷信號DEFECT時，缺陷標志單元430將首標標志信號HFLAG激勵到第二邏輯狀態(tài)。
當該當前扇區(qū)n的首標沒有缺陷時(如圖8所示)，缺陷長度計數(shù)器412在扇區(qū)首標位置重置缺陷長度計數(shù)信號DLCNT(圖11的步驟S130)。當缺陷長度計數(shù)信號DLCNT比缺陷長度閾值高時，缺陷長度計數(shù)器412激勵缺陷長度中斷信號DLINTR。當缺陷長度中斷信號DLINTR被激勵時，缺陷長度計數(shù)器412重置缺陷長度計數(shù)信號DLCNT。如果當前扇區(qū)n的首標存在缺陷(如圖9所示)，缺陷長度計數(shù)器412不重置缺陷長度計數(shù)信號DLCNT，從最后扇區(qū)開始繼續(xù)對DLCNT計數(shù)(圖11的步驟S170)。
然后，缺陷長度計數(shù)器412響應首標標志信號，確定下一個扇區(qū)(n+1)的首標是否存在缺陷(圖11的步驟S140)。當下一個扇區(qū)(n+1)的首標沒有缺陷時，缺陷長度計數(shù)器412重置缺陷長度計數(shù)信號DLCNT和對扇區(qū)(n+1)進行與對扇區(qū)n進行的操作相同的操作。
另外，當DLCNT大于DLTHR時，為當前扇區(qū)n激勵缺陷長度中斷信號DLINTR。而且，在那種情況下，系統(tǒng)控制器370將當前扇區(qū)n和前一個扇區(qū)(n-1)確定為不可寫扇區(qū)(圖11的步驟S180)，和將這樣的不可寫扇區(qū)n和(n-1)重新指定到其它可用扇區(qū)(圖11的步驟S200)。
這里，考慮到當在ECC處理期間根據(jù)RS(里德-索洛蒙)算法進行CIRC(相互交織里德-索洛蒙碼)交織時，當前扇區(qū)的數(shù)據(jù)和相鄰扇區(qū)的數(shù)據(jù)的加擾或解擾，除了當前扇區(qū)n之外，還將前一個扇區(qū)(n-1)確定為不可寫扇區(qū)。也就是說，由于當該當前扇區(qū)n存在缺陷時，扇區(qū)(n-1)的信息不可用，也為扇區(qū)(n-1)重新指定另一個扇區(qū)。
另外，系統(tǒng)控制器370響應隱蔽缺陷長度計數(shù)器414生成的隱蔽缺陷長度計數(shù)信號SDLCNT，對前一個扇區(qū)(n-1)前面的扇區(qū)(n-2)確定另一個扇區(qū)的重新指定(圖11的步驟S190)。如果如SDLCNT所指，前一個扇區(qū)(n-1)存在缺陷，考慮到CIRC交織，扇區(qū)(n-2)也被確定為不可寫扇區(qū)，和為扇區(qū)(n-2)重新指定另一個扇區(qū)(圖11的步驟S200)。
圖10示出了為當前扇區(qū)n連續(xù)累計缺陷信號DEFECT，為當前扇區(qū)n激勵缺陷長度中斷信號DLINTR，和下一個扇區(qū)(n+1)的首標存在缺陷的情況。當為當前扇區(qū)n激勵缺陷長度中斷信號DLI NTR和下一個扇區(qū)(n+1)的首標存在缺陷時，系統(tǒng)控制器370將前一個扇區(qū)(n-1)、當前扇區(qū)n、和下一個扇區(qū)(n+1)確定為不可寫扇區(qū)(圖11的步驟S150)，和重新指定其它可用扇區(qū)，取代這樣的扇區(qū)(n-1)、n、和(n+1)(圖11的步驟S200)。
并且，系統(tǒng)控制器370響應隱蔽缺陷長度計數(shù)器414生成的隱蔽缺陷長度計數(shù)信號SDLCNT，對前面扇區(qū)(n-2)確定另一個扇區(qū)的重新指定(圖11的步驟S160)。如果如SDLCNT所指，前一個扇區(qū)(n-1)存在缺陷，考慮到CI RC交織，扇區(qū)(n-2)也被確定為不可寫扇區(qū)，和為扇區(qū)(n-2)重新指定另一個可用扇區(qū)(圖11的步驟S200)。
這樣，根據(jù)本發(fā)明的光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)300包括生成與光盤上的缺陷的類型和長度有關的信息信號DPINFO、DLINTR、DLCNT、SDLCNT、HFLAG、PFLAG和BFLAG的缺陷檢測器360。系統(tǒng)控制器370響應這樣的信號控制伺服保持，和為存在超過ECC能力的缺陷的扇區(qū)重新指定可用扇區(qū)。因此，即使存在缺陷，光盤也可以用得更長久些。并且，由于在寫入和再現(xiàn)操作期間有效地進行伺服跟蹤保持和扇區(qū)重新指定，本發(fā)明可以提供穩(wěn)定光盤跟蹤控制。
雖然通過參照本發(fā)明的某些示范性實施例，已經(jīng)對本發(fā)明進行了圖示和描述，但本領域的普通技術(shù)人員會理解，可以在形式上和細節(jié)上對其作各種各樣的改變，而不偏離所附權(quán)利要求書所限定的本發(fā)明的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種管理數(shù)據(jù)盤上的缺陷的方法，包括從讀取數(shù)據(jù)盤中生成RF信號；通過將RF信號與缺陷閾值相比較生成缺陷信號；和利用擺動信號和首標位置(ESFS)信號解釋缺陷信號以生成缺陷長度信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，進一步包括生成與數(shù)據(jù)盤的每個扇區(qū)相對應的缺陷長度信息；和從缺陷長度信息中確定數(shù)據(jù)盤的哪個扇區(qū)含有不可接受缺陷。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，進一步包括將存在不可接受缺陷的任何扇區(qū)重新指定到數(shù)據(jù)盤上的另一個可用扇區(qū)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，缺陷長度信息包括缺陷長度計數(shù)、缺陷長度中斷信號、和隱蔽缺陷長度計數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中，缺陷長度計數(shù)取決于在扇區(qū)的首標中是否存在缺陷。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，進一步包括通過比較RFO信號和保持閾值生成伺服保持信號；和從RFO信號中生成指示數(shù)據(jù)盤上缺陷的類型的至少一個標記信號。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，數(shù)據(jù)盤是光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)的一部分。
8.一種在數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)中的缺陷長度檢測器，包括輸入RF信號的缺陷估計單元，用于通過將RF信號與缺陷閾值相比較生成缺陷信號；和缺陷長度計數(shù)器，用于利用擺動信號和首標位置(ESFS)信號解釋缺陷信號以生成缺陷長度信息。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的缺陷長度檢測器，其中，缺陷長度計數(shù)器生成與數(shù)據(jù)盤的每個扇區(qū)相對應的缺陷長度信息。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的缺陷長度檢測器，其中，缺陷長度計數(shù)器將缺陷長度信息發(fā)送到系統(tǒng)控制器，系統(tǒng)控制器從缺陷長度信息中確定數(shù)據(jù)盤的哪個扇區(qū)含有不可接受缺陷。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的缺陷長度檢測器，其中，系統(tǒng)控制器將存在不可接受缺陷的任何扇區(qū)重新指定到數(shù)據(jù)盤上的另一個可用扇區(qū)。
12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的缺陷長度檢測器，其中，缺陷長度信息包括缺陷長度計數(shù)、缺陷長度中斷信號、和隱蔽缺陷長度計數(shù)。
13.根據(jù)權(quán)利要求8所述的缺陷長度檢測器，其中，缺陷長度計數(shù)取決于在扇區(qū)的首標中是否存在缺陷。
14.根據(jù)權(quán)利要求8所述的缺陷長度檢測器，其中，數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)是光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)。
15.一種數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，包括數(shù)據(jù)盤；從讀取數(shù)據(jù)盤中生成RF信號的拾取單元；和缺陷檢測器，包括如下輸入RF信號的缺陷估計單元，用于通過將RF信號與缺陷閾值相比較生成缺陷信號；和缺陷長度計數(shù)器，用于利用擺動信號和首標位置(ESFS)信號解釋缺陷信號以生成缺陷長度信息。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，其中，缺陷長度計數(shù)器生成與數(shù)據(jù)盤的每個扇區(qū)相對應的缺陷長度信息。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，進一步包括輸入缺陷長度信息的系統(tǒng)控制器，用于從缺陷長度信息中確定數(shù)據(jù)盤的哪個扇區(qū)含有不可接受缺陷。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，其中，系統(tǒng)控制器將存在不可接受缺陷的任何扇區(qū)重新指定到數(shù)據(jù)盤上的另一個可用扇區(qū)。
19.根據(jù)權(quán)利要求15所述的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，其中，缺陷長度信息包括缺陷長度計數(shù)、缺陷長度中斷信號、和隱蔽缺陷長度計數(shù)。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，其中，缺陷長度計數(shù)取決于在扇區(qū)的首標中是否存在缺陷。
21.根據(jù)權(quán)利要求15所述的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，其中，缺陷檢測器進一步包括伺服保持缺陷檢測單元，用于通過比較RFO信號和保持閾值生成伺服保持信號；和缺陷標志單元，用于從RFO信號中生成指示數(shù)據(jù)盤上缺陷的類型的至少一個標記信號。
22.根據(jù)權(quán)利要求21所述的數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)，其中，數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)是光盤再現(xiàn)/重寫系統(tǒng)。
全文摘要
數(shù)據(jù)盤系統(tǒng)中的缺陷檢測器包括缺陷估計單元和缺陷長度計數(shù)器。缺陷檢測器輸入來自拾取單元的RF信號，以便生成缺陷信號。缺陷長度計數(shù)器利用擺動信號和首標位置(ESFS)信號解釋缺陷信號以生成缺陷長度信息。系統(tǒng)控制器從缺陷長度信息中確定數(shù)據(jù)盤的哪個扇區(qū)含有不可接受缺陷，以便將這樣的扇區(qū)重新指定到數(shù)據(jù)盤上的另一個可用扇區(qū)。
文檔編號G11B20/18GK1750160SQ20051008977
公開日2006年3月22日 申請日期2005年8月9日 優(yōu)先權(quán)日2004年8月10日
發(fā)明者吳基煥 申請人:三星電子株式會社