專利名稱：光盤、光盤的地址讀取裝置以及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種在光學(xué)上可改寫的光盤以及預(yù)先寫入光盤的地址的讀取裝置和方法。
背景技術(shù)：
近年來，作為能由用戶進行記錄的光盤，已有DVD-RAM、CD-RW、MD等。通過沿著螺旋狀或同心圓狀的多條磁道形成凹槽，并用相變化材料或光磁材料形成凹槽的表面，制造了這些可記錄的光盤。而且，為了特定光盤上的位置，通過在磁道上預(yù)留不能改寫的標(biāo)記來記錄了地址。在特開平8-315426號說明書中公開了有關(guān)地址的一個例子。
根據(jù)特開平8-315426號說明書，在凹槽中設(shè)置不連續(xù)部，把該不連續(xù)部形成為與地址信號對應(yīng)的模式。在此，所謂與地址信號對應(yīng)的模式是指每次出現(xiàn)不連續(xù)部而翻轉(zhuǎn)的二值化信號，是用于生成ATIP(AbsoluteTime In Pregroove)信號的導(dǎo)通、中斷信號。因此，不連續(xù)部僅被作為表示有或者沒有的信號來使用。
但是，為了制造記錄密度更高的光盤，在需要更多的地址信息的同時，還需要更加高效地提供地址信息。但是，在所述的以往例子中，不連續(xù)部只有用于翻轉(zhuǎn)的觸發(fā)信號，只能具有一種含義的信息(觸發(fā)信息)。因此，需要很多的標(biāo)記。
而且，在所述的以往例子中，因為利用了ATIP信號，所以，雖然能特定磁道的大致位置，但是無法高精度地檢測出記錄開始點。因此，當(dāng)進行了記錄后，又追加新的記錄時或改寫記錄完成的數(shù)據(jù)中的一部分時，就有可能在前面的必要數(shù)據(jù)上又覆蓋寫上了新的數(shù)據(jù)。而且，如果磁道間隔設(shè)置得較窄，就容易發(fā)生串?dāng)_問題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種在凹槽中形成不連續(xù)部或者變形部，使有關(guān)的不連續(xù)部或者變形部具有兩種或兩種以上的含義，能更高效地提供地址信息的光盤。
另外，本發(fā)明還提供一種能提高記錄開始點的定位精度的光盤。
而且，本發(fā)明還提供一種能使磁道間隔變窄的光盤。
另外，本發(fā)明還提供一種能以完全的CLV(Constant Linear Velocity)來進行記錄再現(xiàn)的光盤。
另外，本發(fā)明還提供一種以簡單的構(gòu)成來從通過使凹槽的不連續(xù)部或變形部具有兩種或兩種以上的含義而提供地址信息的光盤中正確地讀取有關(guān)的地址信息的裝置和方法。
根據(jù)本發(fā)明的第一方面是具有以螺旋狀或者同心圓狀延伸的磁道的可改寫的光盤，其特征在于它由以下所述部分構(gòu)成沿著磁道以正弦波狀擺動而形成的凹槽；沿著磁道而設(shè)置的段塊；把各段塊分割成多個而設(shè)置的段形成在各段塊的最前面的段上的同步標(biāo)記；形成在各段塊的最前面的段以外的各個段上的正標(biāo)記或負(fù)標(biāo)記；該正標(biāo)記在磁道方向上以第一寬度W1，由凹槽成為不連續(xù)的第一凹槽不連續(xù)部形成；該負(fù)標(biāo)記在磁道方向上以第二寬度W0，由凹槽成為不連續(xù)的第二凹槽不連續(xù)部形成；該同步標(biāo)記在磁道方向以第三寬度Ws，由凹槽成為不連續(xù)的第三凹槽不連續(xù)部形成。
根據(jù)本發(fā)明的第二方面是根據(jù)第一方面所述的光盤，其特征在于所述第一、第二、第三凹槽不連續(xù)部的表面為鏡面。
根據(jù)本發(fā)明的第三方面是根據(jù)第一方面所述的光盤，其特征在于所述第一、第二、第三凹槽不連續(xù)部都形成在擺動的凹槽的振幅最大部分。
根據(jù)本發(fā)明的第四方面是根據(jù)第一方面所述的光盤，其特征在于所述第一、第二、第三凹槽不連續(xù)部都形成在擺動的凹槽的振幅最小部分。
根據(jù)本發(fā)明的第五方面是根據(jù)第一方面所述的光盤，其特征在于所述第一、第二、第三寬度W1、W0、Ws都比凹槽中記錄的記錄數(shù)據(jù)中包含的最長標(biāo)記長度長，并且在擺動周期的1/2以下。
根據(jù)本發(fā)明的第六方面是根據(jù)第一方面所述的光盤，其特征在于所述第一、第二、第三寬度W1、W0、Ws都比凹槽中記錄的記錄數(shù)據(jù)中包含的最長標(biāo)記長度長，并且在擺動周期的1/4以下。
根據(jù)本發(fā)明的第七方面是根據(jù)第一方面所述的光盤，其特征在于所述第一、第二、第三寬度W1、W0、Ws的比率為如果將其中任意一個設(shè)為1，則使剩下兩個的比例為2∶4。
根據(jù)本發(fā)明的第八方面是根據(jù)第一方面所述的光盤，其特征在于所述第一、第二、第三寬度W1、W0、Ws的比率為2∶1∶4。
根據(jù)本發(fā)明的第九方面是根據(jù)第一方面所述的光盤，其特征在于所述第一、第二、第三寬度W1、W0、Ws分別為2字節(jié)、1字節(jié)、4字節(jié)。
根據(jù)本發(fā)明的第十方面是具有以螺旋狀或者同心圓狀延伸的磁道的可改寫光盤，其特征在于它由以下所述部分構(gòu)成沿著磁道以正弦波狀擺動而形成的凹槽；沿著磁道而設(shè)置的段塊；把各段塊分割為多個而設(shè)置的段；形成在各段塊的最前面的段上的同步標(biāo)記；形成在各段塊的最前面的段以外的各個段上的正標(biāo)記或負(fù)標(biāo)記；該正標(biāo)記、該負(fù)標(biāo)記、該同步標(biāo)記分別由凹槽局部地在磁道的垂直方向并且是第一方向偏移的凹槽上偏移部、凹槽局部地在磁道的垂直方向并且是第二方向偏移的凹槽下偏移部、或凹槽上偏移部和凹槽下偏移部的組合部的任意一個來形成。
根據(jù)本發(fā)明的第十一方面是根據(jù)第十方面所述的光盤，其特征在于該正標(biāo)記由凹槽上偏移部形成，該負(fù)標(biāo)記由凹槽下偏移部形成，該同步標(biāo)記由凹槽上偏移部和凹槽下偏移部的組合部形成。
根據(jù)本發(fā)明的第十二方面是根據(jù)第十方面所述的光盤，其特征在于所述凹槽下偏移部、凹槽上偏移部分別設(shè)置在擺動的凹槽的振幅最大的部分，向磁道的中心方向偏移。
根據(jù)本發(fā)明的第十三方面是根據(jù)第十方面所述的光盤，其特征在于所述同步標(biāo)記的凹槽下偏移部和凹槽上偏移部彼此以擺動周期的n+(1/2)倍(n為正的整數(shù))相鄰。
根據(jù)本發(fā)明的第十四方面是根據(jù)第十三方面所述的光盤，其特征在于所述n是0。
根據(jù)本發(fā)明的第十五方面是具有以螺旋狀或者同心圓狀延伸的磁道的可改寫光盤，其特征在于它由以下所述部分構(gòu)成沿著磁道以正弦波狀擺動而形成的凹槽；沿著磁道而設(shè)置的段塊；把各段塊分割為多個而設(shè)置的段；形成在各段塊的最前面的段上的同步標(biāo)記；形成在各段塊的最前面的段以外的各個段上的正標(biāo)記或負(fù)標(biāo)記；該正標(biāo)記、該負(fù)標(biāo)記、該同步標(biāo)記分別由使從擺動的凹槽的谷到擺動周期的大約1/4的部分的相位上下顛倒的凹槽上升倒相部、使從擺動的凹槽的峰到擺動周期的大約1/4的部分的相位上下顛倒的凹槽下降倒相部、凹槽上升倒相部和凹槽下降倒相部的組合部的任意一個來形成。
根據(jù)本發(fā)明的第十六方面是根據(jù)第十五方面所述的光盤，其特征在于該正標(biāo)記由凹槽上升倒相部形成，該負(fù)標(biāo)記由凹槽下降倒相部形成，該同步標(biāo)記由凹槽上升倒相部和凹槽下降倒相部的組合部形成。
根據(jù)本發(fā)明的第十七方面是根據(jù)第十五方面所述的光盤，其特征在于所述凹槽下降倒相部和凹槽上升倒相部的各自的兩端凹槽不連續(xù)。
根據(jù)本發(fā)明的第十八方面是根據(jù)第十五方面所述的光盤，其特征在于所述凹槽下降倒相部和凹槽上升倒相部的各自的兩端是急劇變位的凹槽。
根據(jù)本發(fā)明的第十九方面是具有以螺旋狀或者同心圓狀延伸的磁道的可改寫光盤，其特征在于它由以下所述部分構(gòu)成沿著磁道以正弦波狀擺動而形成的凹槽；
沿著磁道而設(shè)置的段塊；把各段塊分割為多個而設(shè)置的段；形成在各段塊的最前面的段上的同步標(biāo)記；形成在各段塊的最前面的段以外的各個段上的正標(biāo)記或負(fù)標(biāo)記；該正標(biāo)記、該負(fù)標(biāo)記、該同步標(biāo)記分別由從擺動的凹槽的谷到擺動周期的大約1/4的部分以谷的水平形成凹槽，并急劇地變化到峰的水平，到下一個擺動周期的大約1/4的部分以峰的水平形成凹槽，與擺動的峰的部分相連接的凹槽上升矩形部，從擺動的凹槽的峰到擺動周期的大約1/4的部分以峰的水平形成凹槽，并急劇地變化為谷的水平，到下一個擺動周期的大約1/4的部分以谷的水平形成凹槽，與擺動的谷的部分相連接的凹槽下降矩形部，凹槽上升矩形部和凹槽下降矩形部的組合部的任意一個來形成。
根據(jù)本發(fā)明的第二十方面是根據(jù)第十九方面所述的光盤，其特征在于該正標(biāo)記由凹槽上升矩形部形成，該負(fù)標(biāo)記由凹槽下降矩形部形成，該同步標(biāo)記由凹槽上升矩形部和凹槽下降矩形部的組合部形成。
根據(jù)本發(fā)明的第二十一方面是根據(jù)第十九方面所述的光盤，其特征在于該正標(biāo)記、該負(fù)標(biāo)記、該同步標(biāo)記分別由多周期重復(fù)了凹槽上升矩形部的部分、多周期重復(fù)了凹槽下降矩形部的部分、多周期重復(fù)了凹槽上升矩形部和凹槽下降矩形部的組合部的部分的任意一個來形成。
根據(jù)本發(fā)明的第二十二方面是根據(jù)第二十一方面所述的光盤，其特征在于該正標(biāo)記由多周期重復(fù)了凹槽上升矩形部的部分來形成，該負(fù)標(biāo)記由多周期重復(fù)了凹槽下降矩形部的部分來形成，該同步標(biāo)記由多周期重復(fù)了凹槽上升矩形部和凹槽下降矩形部的組合部的部分來形成。
根據(jù)本發(fā)明的第二十三方面是根據(jù)第一方面所述的光盤中包含的同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記，收集由分散包含在一個段塊中的正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記得到的“1”、“0”的數(shù)據(jù)，并讀取該段塊的地址的地址讀取裝置，其特征在于它由以下所述部分構(gòu)成在光盤的磁道上照射激光，以沿著磁道方向被二分割的兩個受光元件來接收反射光的光頭(2)；取得來自兩個受光元件的信號的差，生成差信號的減法器(4)；
除去擺動的磁道的擺動頻率成分，生成凹槽不連續(xù)部脈沖的濾波器(6)；檢測凹槽不連續(xù)部脈沖的寬度，按照寬度判別同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記，生成同步標(biāo)記信號、正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號的判別器(12)；對應(yīng)于從一個同步標(biāo)記信號到下一個同步標(biāo)記信號所包含的正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號，生成“1”、“0”的解調(diào)器(14)。
根據(jù)本發(fā)明的第二十四方面是根據(jù)第一方面所述的光盤中包含的同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記，收集由分散包含在一個段塊中的正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記得到的“1”、“0”的數(shù)據(jù)，并讀取該段塊的地址的地址讀取方法，其特征在于在光盤的磁道上照射激光，以沿著磁道方向被二分割的兩個受光元件來接收反射光；取得來自兩個受光元件的信號的差，生成差信號；除去擺動的磁道的擺動頻率成分，生成凹槽不連續(xù)部脈沖；檢測凹槽不連續(xù)部脈沖的寬度，按照寬度判別同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記，生成同步標(biāo)記信號、正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號；對應(yīng)于從一個同步標(biāo)記信號到下一個同步標(biāo)記信號所包含的正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號，生成“1”、“0”。
根據(jù)本發(fā)明的第二十五方面是根據(jù)第十方面所述的光盤中包含的同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記，收集由分散包含在一個段塊中的正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記得到的“1”、“0”的數(shù)據(jù)，并讀取該段塊的地址的地址讀取裝置，其特征在于它由以下所述部分構(gòu)成在光盤的磁道上照射激光，以沿著磁道方向被二分割的兩個受光元件來接收反射光的光頭(2)；取得來自兩個受光元件的信號的差，生成差信號的減法器(4)；除去擺動的磁道的擺動頻率成分，生成負(fù)向的凹槽下偏移部脈沖和正向的凹槽上偏移部脈沖的濾波器(6)；用凹槽上偏移部脈沖、凹槽下偏移部脈沖、凹槽上偏移部脈沖和凹槽下偏移部脈沖的對的任意一個來判別正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記、同步標(biāo)記，生成正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號、同步標(biāo)記信號的判別器(52、54、12)；
對應(yīng)于從一個同步標(biāo)記信號到下一個同步標(biāo)記信號所包含的正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號，生成“1”、“0”的解調(diào)器(14)。
根據(jù)本發(fā)明的第二十六方面是根據(jù)第十方面所述的光盤中包含的同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記，收集由分散包含在一個段塊中的正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記得到的”1”、“0”的數(shù)據(jù)，并讀取該段塊的地址的地址讀取方法，其特征在于在光盤的磁道上照射激光，以沿著磁道方向被二分割的兩個受光元件來接收反射光；取得來自兩個受光元件的信號的差，生成差信號；除去擺動的磁道的擺動頻率成分，生成負(fù)向的凹槽下偏移部脈沖和正向的凹槽上偏移部脈沖；用凹槽上偏移部脈沖、凹槽下偏移部脈沖、凹槽上偏移部脈沖和凹槽下偏移部脈沖的對的任意一個來判別正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記、同步標(biāo)記，生成正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號、同步標(biāo)記信號；對應(yīng)于從一個同步標(biāo)記信號到下一個同步標(biāo)記信號所包含的正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號，生成“1”、“0”。
根據(jù)本發(fā)明的第二十七方面是根據(jù)第十五方面所述的光盤中包含的同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記，收集由分散包含在一個段塊中的正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記得到的“1”、“0”的數(shù)據(jù)，并讀取該段塊的地址的地址讀取裝置，其特征在于它由以下所述部分構(gòu)成在光盤的磁道上照射激光，以沿著磁道方向被二分割的兩個受光元件來接收反射光的光頭(2)；取得來自兩個受光元件的信號的差，生成差信號的減法器(4)；除去擺動的磁道的擺動頻率成分，生成負(fù)向的凹槽下降倒相部脈沖和正向的凹槽上升倒相部脈沖的濾波器(6)；分別以凹槽上升倒相部脈沖、凹槽下降倒相部脈沖、凹槽下降倒相部脈沖和凹槽上升倒相部脈沖對的任意一個來判別正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記、同步標(biāo)記，生成正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號、同步標(biāo)記信號的判別器(52、54、12)；對應(yīng)于從一個同步標(biāo)記信號到下一個同步標(biāo)記信號所包含的正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號，生成“1”、“0”的解調(diào)器(14)。
根據(jù)本發(fā)明的第二十八方面是根據(jù)第十五方面所述的光盤中包含的同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記，收集由分散包含在一個段塊中的正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記得到的”1”、“0”的數(shù)據(jù)，并讀取該段塊的地址的地址讀取方法，其特征在于在光盤的磁道上照射激光，以沿著磁道方向被二分割的兩個受光元件來接收反射光；取得來自兩個受光元件的信號的差，生成差信號；除去擺動的磁道的擺動頻率成分，生成負(fù)向的凹槽下降倒相部脈沖和正向的凹槽上升倒相部脈沖；分別以凹槽上升倒相部脈沖、凹槽下降倒相部脈沖、凹槽下降倒相部脈沖和凹槽上升倒相部脈沖對的任意一個來判別正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記、同步標(biāo)記，生成正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號、同步標(biāo)記信號；對應(yīng)于從一個同步標(biāo)記信號到下一個同步標(biāo)記信號所包含的正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號，生成“1”、“0”。
根據(jù)本發(fā)明的第二十九方面是根據(jù)第十九方面所述的光盤中包含的同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記，收集由分散包含在一個段塊中的正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記得到的“1”、“0”的數(shù)據(jù)，并讀取該段塊的地址的地址讀取裝置，其特征在于它由以下所述部分構(gòu)成在光盤的磁道上照射激光，以沿著磁道方向被二分割的兩個受光元件來接收反射光的光頭(2)；取得來自兩個受光元件的信號的差，生成差信號的減法器(4)；除去擺動的磁道的擺動頻率成分，生成負(fù)向的凹槽下降矩形部脈沖和正向的凹槽上升矩形部脈沖的濾波器(6)；分別以凹槽上升矩形部脈沖、凹槽下降矩形部脈沖、凹槽下降矩形部脈沖和凹槽上升矩形部脈沖對的任意一個來判別正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記、同步標(biāo)記，生成正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號、同步標(biāo)記信號的判別器(52、54、12)；對應(yīng)于從一個同步標(biāo)記信號到下一個同步標(biāo)記信號所包含的正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號，生成“1”、“0”的解調(diào)器(14)。
根據(jù)本發(fā)明的第三十方面是根據(jù)第十九方面所述的光盤中包含的同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記，收集由分散包含在一個段塊中的正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記得到的”1”、“0”的數(shù)據(jù)，并讀取該段塊的地址的地址讀取方法，其特征在于在光盤的磁道上照射激光，以沿著磁道方向被二分割的兩個受光元件來接收反射光；取得來自兩個受光元件的信號的差，生成差信號；除去擺動的磁道的擺動頻率成分，生成負(fù)向的凹槽下降矩形部脈沖和正向的凹槽上升矩形部脈沖；分別以凹槽上升矩形部脈沖、凹槽下降矩形部脈沖、凹槽下降矩形部脈沖和凹槽上升矩形部脈沖對的任意一個來判別正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記、同步標(biāo)記，生成正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號、同步標(biāo)記信號；對應(yīng)于從一個同步標(biāo)記信號到下一個同步標(biāo)記信號所包含的正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號，生成“1”、“0”。
根據(jù)本發(fā)明的第三十一方面是根據(jù)第二十一方面所述的光盤中包含的同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記，收集由分散包含在一個段塊中的正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記得到的“1”、“0”的數(shù)據(jù)，并讀取該段塊的地址的地址讀取裝置，其特征在于它由以下所述部分構(gòu)成在光盤的磁道上照射激光，以沿著磁道方向被二分割的兩個受光元件來接收反射光的光頭(2)；取得來自兩個受光元件的信號的差，生成差信號的減法器(4)；除去擺動的磁道的擺動頻率成分，生成負(fù)向的凹槽下降矩形部脈沖和正向的凹槽上升矩形部脈沖的濾波器(6)；計算一個塊中包含的負(fù)向的凹槽下降矩形部脈沖的數(shù)量的第一累計器(93)；計算一個塊中包含的正向的凹槽上升矩形部脈沖的數(shù)量的第二累計器(94)；比較第一累計器的第一計算值和第二累計器的第二計算值，在第一計算值足夠多的情況、第二計算值足夠多的情況、第一計算值和第二計算值大致相等的情況的任意一種情況下來判別正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記、同步標(biāo)記，生成正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號、同步標(biāo)記信號的判別器(95～99)；對應(yīng)于從一個同步標(biāo)記信號到下一個同步標(biāo)記信號所包含的正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號，生成“1”、“0”的解調(diào)器(14)。
根據(jù)本發(fā)明的第三十二方面是根據(jù)第二十一方面所述的光盤中包含的同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記，收集由分散包含在一個段塊中的正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記得到的”1”、“0”的數(shù)據(jù)，并讀取該段塊的地址的地址讀取方法，其特征在于在光盤的磁道上照射激光，以沿著磁道方向被二分割的兩個受光元件來接收反射光；取得來自兩個受光元件的信號的差，生成差信號；除去擺動的磁道的擺動頻率成分，生成負(fù)向的凹槽下降矩形部脈沖和正向的凹槽上升矩形部脈沖；把一個塊中包含的負(fù)向的凹槽下降矩形部脈沖的數(shù)量作為第一計算值計算；把一個塊中包含的正向的凹槽上升矩形部脈沖的數(shù)量作為第二計算值計算；比較第一計算值和第二計算值，在第一計算值足夠多的情況、第二計算值足夠多的情況、第一計算值和第二計算值大致相等的情況的任意一種情況下來判別正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記、同步標(biāo)記，生成正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號、同步標(biāo)記信號；對應(yīng)于從一個同步標(biāo)記信號到下一個同步標(biāo)記信號所包含的正標(biāo)記信號、負(fù)標(biāo)記信號，生成“1”、“0”。
根據(jù)本發(fā)明的第三十三方面是根據(jù)第十九方面所述的光盤，其特征在于所述同步標(biāo)記中還具有表示段塊的開始位置的塊標(biāo)記。
根據(jù)本發(fā)明的第三十四方面是根據(jù)第三十三方面所述的光盤，其特征在于所述塊標(biāo)記是在磁道凹槽上設(shè)置不連續(xù)部而形成的。
根據(jù)本發(fā)明的第三十五方面是根據(jù)第三十三方面所述的光盤，其特征在于所述塊標(biāo)記是局部地改變磁道凹槽的寬度而形成的。
根據(jù)本發(fā)明的第三十六方面是根據(jù)第三十三方面所述的光盤，其特征在于所述塊標(biāo)記是局部地改變擺動的振幅而形成的。
根據(jù)本發(fā)明的第三十七方面是根據(jù)第十九方面所述的光盤，其特征在于按照正信息、負(fù)信息，形成了1周期的擺動，使其占空比不同。
根據(jù)本發(fā)明的第三十八方面是根據(jù)第十九方面所述的光盤，其特征在于只在磁道凹槽的一側(cè)的邊緣上設(shè)置有擺動。
(與現(xiàn)有技術(shù)相比的有益效果)因為以多個不同的形態(tài)在擺動的凹槽中設(shè)置有凹槽變形部，所以不只是識別該變形部的有無，還能使各凹槽變形部具有其他的含義。因此，能以數(shù)量較少的凹槽變形部來提供更多的信息。
而且，地址讀取裝置能以簡單的構(gòu)成來高效、正確地讀取分散地址。


下面簡要說明附圖。
圖1A是本發(fā)明光盤的俯視圖，圖1B是段塊的概要圖。
圖2A是在段塊上設(shè)置有分散地址的說明圖，圖2B是形成了分散地址標(biāo)記的凹槽的概要圖。
圖3是實施例1的具有凹槽不連續(xù)部的光盤的局部放大圖。
圖4是圖3所示光盤的地址讀取裝置的框圖。
圖5是圖4所示裝置的主要點的信號波形圖。
圖6是圖4所示的判別器的框圖。
圖7是圖4所示的解調(diào)器的框圖。
圖8是表示凹槽不連續(xù)部的變形例即凹槽偏移部的放大圖。
圖9是表示凹槽不連續(xù)部的變形例即凹槽偏移部的放大圖。
圖10是實施例2的具有基于凹槽偏移部的光盤的局部放大圖。
圖11是圖10所示的光盤的地址讀取裝置的框圖。
圖12是當(dāng)使用圖10的光盤時，來自圖11的減法器的輸出信號的波形圖。
圖13是當(dāng)使用圖10的光盤時，來自圖11的濾波器的輸出信號的波形圖。
圖14是當(dāng)使用圖10的光盤時，來自圖11的比較器的輸出信號的波形圖。
圖15是不連續(xù)的凹槽倒相部的放大圖。
圖16是連續(xù)的凹槽倒相部的放大圖。
圖17是具有基于凹槽倒相部的標(biāo)記的光盤的局部放大圖。
圖18是當(dāng)使用圖17的光盤時，來自圖11的減法器的輸出信號的波形圖。
圖19是當(dāng)使用圖17的光盤時，來自圖11的濾波器的輸出信號的波形圖。
圖20是當(dāng)使用圖17的光盤時，來自圖11的比較器的輸出信號的波形圖。
圖21是凹槽矩形部的放大圖。
圖22是具有基于凹槽矩形部的標(biāo)記的光盤的局部放大圖。
圖23是當(dāng)使用圖22的光盤時，來自圖11的減法器的輸出信號的波形圖。
圖24是當(dāng)使用圖22的光盤時，來自圖11的濾波器的輸出信號的波形圖。
圖25是當(dāng)使用圖22的光盤時，來自圖11的比較器的輸出信號的波形圖。
圖26是設(shè)置有統(tǒng)一記錄的開始位置的凹槽不連續(xù)部的光盤的放大圖。
圖27是具有基于連續(xù)的凹槽矩形部的標(biāo)記的光盤的局部放大圖。
圖28是當(dāng)使用圖27的光盤時，來自圖31的矩形部檢測器的減法器的輸出信號的波形圖。
圖29是當(dāng)使用圖27的光盤時，來自圖31的矩形部檢測器的濾波器的輸出信號的波形圖。
圖30是當(dāng)使用圖27的光盤時，來自圖31的矩形部檢測器的比較器的輸出信號的波形圖。
圖31是圖27所示的光盤的地址讀取裝置的框圖。
圖32是表示改變了占空比的擺動的俯視圖。
圖33是表示塊標(biāo)記的俯視圖。
圖34是表示其他的塊標(biāo)記的俯視圖。
圖35當(dāng)只在凹槽的一側(cè)設(shè)置擺動時的立體圖。
具體實施例方式
下面，參照附圖就本發(fā)明的實施例加以說明。
(實施例1)圖1A是本發(fā)明實施例1的光盤的結(jié)構(gòu)圖，1B是表示了段的排列的說明圖。在圖1A中，101是光盤襯底，102是在制造光盤時預(yù)先形成的標(biāo)題部，103是能記錄信息的記錄部，104表示數(shù)據(jù)的信息單位即段。在圖1B中，105是表示以給定數(shù)，例如32個為一個單位的段塊。
在光盤襯底101上預(yù)先形成了在光學(xué)上使相狀態(tài)象非晶體、晶體那樣變化、進行記錄，再現(xiàn)時，根據(jù)反射率差讀取信號的相變化膜。
下面，參照圖2A，詳細(xì)說明段104和段塊105的關(guān)系。
本實施例的光盤，通過連續(xù)的段塊105構(gòu)成了軌跡。如上所述，各段塊105由32個段104構(gòu)成，各段104的結(jié)構(gòu)為在開始部分存在標(biāo)題部102，接著是進行了信號的記錄再現(xiàn)的記錄部103。另外，一個段的長度為2448字節(jié)。
在各段塊105中，在配置在最前面的段104的標(biāo)題部102中設(shè)置有同步標(biāo)記“S”。通過檢測該同步標(biāo)記“S”，能檢測段塊105的開始。
接著，在配置為該段塊105內(nèi)的第二的段104的標(biāo)題部102中設(shè)置有正標(biāo)記或負(fù)標(biāo)記。在此，正標(biāo)記分配給“1”的信息，負(fù)標(biāo)記分配給“0”的信息。在圖2a所示的例子中，配置在第二的段104的標(biāo)題部102中分配了負(fù)標(biāo)記“0”。這樣，在第二以后的各段104(稱作后續(xù)段)的標(biāo)題部中能分別增加1位的信息。
這樣，如果匯總段塊105所含的32個段的標(biāo)題部的信息，就能生成由同步標(biāo)記“S”、以及接著它的正標(biāo)記“1”或負(fù)標(biāo)記“0”構(gòu)成的31位的信息。反過來說，在每個段塊105中，把31位的信息分割為每位，分散、配置到31個段104中，為了檢測段塊105的開始，在其開始配置了同步標(biāo)記。把這樣分散0、1配置的地址稱作分散地址。
在此，在以上所述的31位的信息中，19位的信息為主信息，12位的信息為副信息。該19位的主信息為段塊105的位置信息。此時，能進行2的19次方＝524288個段塊105的位置檢測。因此，在光盤整體中，以開始段塊的地址為0，以后，在接著的每個段塊，分配位置信息增加1的信息，如果把19位的主信息作為段塊105的絕對位置信息，例如，段104具有2048字節(jié)的信息，段塊105具有65536(＝2048×32)字節(jié)的信息，則根據(jù)19位的位置信息，最大能分配能訪問34千兆字節(jié)的數(shù)據(jù)的位置信息。
而12位的副信息分配當(dāng)19位的主信息以及12位的副信息的任意位由于缺陷而欠缺時，或再現(xiàn)時的錯誤檢測時也能訂正的錯誤訂正符號。這例如為31位所有信息的錯誤訂正符號。另外，因為段塊105的位置信息是在連續(xù)的段塊105每次增加1的信息，所以高位的信息能從先行的段塊105預(yù)測，所以也可以把例如低位8位作為錯誤訂正符號。
關(guān)于分散地址，在特愿平11-343060中進行了詳細(xì)的說明。
如圖2B所示，在本發(fā)明中，光盤101具有螺旋狀或同心圓狀(在實施例中為螺旋狀)的多個軌跡，在軌跡上配置了段。在圖1A的例子中，表示了沿著半徑方向的假想線(點線)，只在假想線上排列了標(biāo)題部(包含同步標(biāo)記“S”、正標(biāo)記“1”、負(fù)標(biāo)記“0”的任意一個)，但是如圖2B所示，最好在任意半徑方向都不排列標(biāo)題部。
另外，如圖3所示，在凹槽形成，并在相連接的軌跡之間，例如在凹槽n和凹槽n+1之間變?yōu)榧y間表面。紋間表面由鏡面形成。凹槽成為蜿蜒為波浪狀的擺動形狀，在一個例子中，1段中存在153個周期的擺動。此時，擺動的周期為16字節(jié)。當(dāng)把記錄的數(shù)據(jù)用8-16調(diào)制記錄時，如果1時鐘長度為T，則最短標(biāo)記為3T，最長標(biāo)記為14T。另外，用1字節(jié)＝16T表示。
另外，在本實施例中，如圖3所示，正標(biāo)記“1”由在磁道方向延伸的寬度為W1的第一凹槽不連續(xù)部形成，負(fù)標(biāo)記“0”由在磁道方向延伸的寬度為W0的第二凹槽不連續(xù)部形成，同步標(biāo)記“S”由在磁道方向延伸的寬度為Ws的第三凹槽不連續(xù)部形成。這些凹槽不連續(xù)部具有與與紋間表面同樣的鏡面結(jié)構(gòu)。
同步標(biāo)記“S”沒有必要排列在光盤的半徑方向。其他的標(biāo)記也同樣。因此，段長度在光盤的任意位置都能是同樣的長度，所以能實現(xiàn)完全的CLV。
另外，因為能從凹槽不連續(xù)點之后開始記錄，所以能得到高精度的記錄開始點。
基于這樣的凹槽不連續(xù)部的同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記是按如下方式形成的。
形成凹槽之前的光盤的結(jié)構(gòu)為在全面鏡面加工之上涂抹了光刻膠。使該光盤回轉(zhuǎn)如果使直線傳播、擺動的激光照射到磁道上，就形成了擺動的凹槽。在形成凹槽時如果中斷激光，按照中斷的時間長度，凹槽變?yōu)椴贿B續(xù)的，形成了同步標(biāo)記“S”、正標(biāo)記“1”或負(fù)標(biāo)記“0”。在首選的實施例中，同步標(biāo)記″S″、正標(biāo)記″1″或負(fù)標(biāo)記″0″都在擺動凹槽的峰或谷即振幅最大的部分形成，使相關(guān)的凹槽不連續(xù)部的檢測變得容易。這樣用凹槽不連續(xù)部形成了標(biāo)記，所以能用一束激光進行加工。
與同步標(biāo)記″S″、正標(biāo)記″1″或負(fù)標(biāo)記″0″對應(yīng)的凹槽不連續(xù)部的各自的寬度Ws、W1、W0被決定如下。
為了不把作為噪聲漏入循跡誤差信號中的記錄數(shù)據(jù)信號與分散地址信號的一個即同步標(biāo)記″S″、正標(biāo)記″1″或負(fù)標(biāo)記″0″的任意一個信號誤認(rèn)、混同，選擇的標(biāo)記寬度最好在記錄數(shù)據(jù)中包含的最長標(biāo)記長度以上。
另外，同步標(biāo)記″S″、正標(biāo)記″1″或負(fù)標(biāo)記″0″都配置在擺動的振幅最大點，因此，標(biāo)記寬度有必要為擺動周期的1/2以下，為了提高檢測精度，最好為擺動周期的1/4以下。
據(jù)此，同步標(biāo)記″S″、正標(biāo)記″1″或負(fù)標(biāo)記″0″的任意的凹槽不連續(xù)部的寬度為14T＜W＜擺動周期的1/2(1)最好為14T＜W＜擺動周期的1/4(2)滿足該(1)、(2)的條件，用容易識別的比率例如4∶2∶1設(shè)置代表同步標(biāo)記″S″、正標(biāo)記″1″或負(fù)標(biāo)記″0″的凹槽不連續(xù)部的寬度。雖然任意的凹槽不連續(xù)部的比率可以為4，但是，最好使識別中最重要的同步標(biāo)記″S″所對應(yīng)的第三凹槽不連續(xù)部的比率為4，正標(biāo)記″1″所對應(yīng)的比率為2(或1)，負(fù)標(biāo)記″0″所對應(yīng)的比率為1(或2)。作為凹槽不連續(xù)部的寬度的具體的一個例子為第三凹槽不連續(xù)部(同步標(biāo)記″S″)＝4字節(jié)，第一凹槽不連續(xù)部(正標(biāo)記“1”)＝2字節(jié)；第二凹槽不連續(xù)部(負(fù)標(biāo)記″0″)＝1字節(jié)。如上所述，凹槽不連續(xù)部不僅表示了相關(guān)的凹槽不連續(xù)部的有無，還通過凹槽不連續(xù)部的長度表示了3種不同的含義(同步標(biāo)記″S″、正標(biāo)記″1″或負(fù)標(biāo)記″0″)。
圖4表示了圖3所示的分散地址的讀取裝置，圖5表示了讀取裝置的主要點的輸出信號的波形圖。在圖4中，2是由發(fā)射激光的發(fā)光元件2c和在磁道方向2分割的受光元件2a、2b構(gòu)成的光頭，4是取得來自受光元件2a、2b的信號的差，輸出差信號Sa(圖5)的減法器，6是使高頻成分通過，輸出凹槽不連續(xù)部信號Sb(圖5)的高通濾波器，8是把凹槽不連續(xù)部信號Sb與來自闕值設(shè)置器10的給定的闕值Sc(圖5)比較，輸出二值化的凹槽不連續(xù)部信號Sd(圖5)的比較器，12是判斷二值化的凹槽不連續(xù)部信號Sd與第一凹槽不連續(xù)部(正標(biāo)記″1″)、第二凹槽不連續(xù)部(負(fù)標(biāo)記″0″)，第三凹槽不連續(xù)部(同步標(biāo)記″S″)的哪一個對應(yīng)的判別器，14是按順序收集同步標(biāo)記″S″以后的31位正標(biāo)記″1″或負(fù)標(biāo)記″0″，把分散地址變?yōu)檫B續(xù)地址的解調(diào)器。從減法器4輸出的差信號Sa是推挽信號，所以也可以作為循跡誤差信號加以利用。
如圖5所示，差信號Sa根據(jù)磁道的擺動描繪出正弦波。在有凹槽不連續(xù)部的地方，差信號變?yōu)?，所以以與凹槽不連續(xù)部的寬度對應(yīng)的脈沖寬度輸出了0電平。用濾波器8除去了擺動的正弦波即低頻成分的凹槽不連續(xù)部信號Sb只存在基于凹槽不連續(xù)部的脈沖。把該脈沖與給定的闕值比較，生成2值化的凹槽不連續(xù)部信號Sd。
圖6表示了判別器12的細(xì)節(jié)。22是接收2值化的凹槽不連續(xù)部信號Sd，檢測信號Sd的脈沖寬度的脈沖寬度檢測器。如果檢測的信號Sd的脈沖寬度在14T以下，就發(fā)送給無視處理部24，該信號被忽略。
如果檢測的信號Sd的脈沖寬度在14T以上，就發(fā)送給0-輸出處理部26，確認(rèn)為第二凹槽不連續(xù)部信號，輸出了表示“0”的信號Se(圖5)。信號Se通過下一個的凹槽不連續(xù)部信號Sd被復(fù)位。
如果檢測的信號Sd的脈沖寬度在24T以上，48T以下，則發(fā)送給1-輸出處理部28，確認(rèn)為第一凹槽不連續(xù)部信號，輸出了表示“1”的信號Sf(圖5)。信號Sf通過下一個凹槽不連續(xù)部信號Sd被復(fù)位。
如果檢測的信號Sd的脈沖寬度在48T以上，80T以下，則發(fā)送給S-輸出處理部30，確認(rèn)為第三凹槽不連續(xù)部信號，輸出了表示段塊的開始的信號“S”。信號“S”通過下一個凹槽不連續(xù)部信號Sd被復(fù)位。
如果檢測的信號Sd的脈沖寬度在80T以上，則發(fā)送給無視處理部32，該信號被忽略?？傊硎尽?”的信號Se與負(fù)標(biāo)記″0″對應(yīng)，表示“1”的信號Sf與正標(biāo)記″1″對應(yīng)，信號“S”與同步標(biāo)記″S″對應(yīng)。
來自0-輸出處理部26的表示“0”的信號Se、來自1-輸出處理部28的表示“1”的信號Sf、來自S-輸出處理部30的信號“S”被發(fā)送給解調(diào)器14，作為分散地址的一個地址被確認(rèn)。
如上所述，在判別器12，不是判別凹槽的有無，而是根據(jù)凹槽不連續(xù)部信號的長度，生成了表示3種不同的含義的信號(表示“1”的信號Sf、表示“0”的信號Se、表示“S”的信號)。
圖7表示解調(diào)器14的細(xì)節(jié)。42是把信號Se變換為1位信號“0”，把信號Sf變換為1位信號“1”的編碼器，44是按順序接收來自編碼器42的1位信號“0”或1位信號“1”，把31位的串行分散地址變換為并行的移位寄存器，46是響應(yīng)信號“S”，保持在移位寄存器中排列的31位的地址信號的閂鎖，48是為了把31位的低位12位用于奇偶校驗檢查用的代碼的奇偶編碼器，50是使用奇偶校驗檢查用的代碼，進行對31位的高位19位地址的錯誤訂正的錯誤訂正處理部。這樣，從解調(diào)器14輸出了對于各段塊的19位地址。
并且，根據(jù)光盤的種類，有的凹槽成為凹部，有的成為凸部。另外，由鏡面部構(gòu)成的標(biāo)題部102也能從后面開始寫入數(shù)據(jù)。
以上說明的地址讀取裝置以簡單的結(jié)構(gòu)，能高效地讀取分散地址。另外，因為使用差信號進行同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記的讀取，所以能容易地與凹槽上記錄的信息信號分離。
另外，因為同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記都收斂在擺動的最大振度的寬度以內(nèi)，所以不會增大相鄰的磁道間的串?dāng)_。
另外，在光盤的內(nèi)周一側(cè)和外周一側(cè)不改變段的長度配置了段，并且，沒有必要使段塊的分割線與光盤的半徑方向一致，所以能實現(xiàn)完全的CLV。如圖1A所示的環(huán)帶CLV的例子，配置了標(biāo)題的段和段塊的分割線在磁道間一致，集中配置在光盤的半徑方向時，在標(biāo)題以外的部分和標(biāo)題的一部分，光盤的記錄層的光透射率有很大不同。即使光透射率不同，當(dāng)光盤的記錄面為單層時也沒有問題，但是當(dāng)光盤的記錄面由2層或2層以上的層構(gòu)成時，記錄層的透射率的局部變化產(chǎn)生從上層對下層的串?dāng)_，所以不好。在圖2B所示的例子的光盤中，因為能實現(xiàn)完全的CLV，所以沒有必要使標(biāo)題部集中在光盤的半徑方向，能分散配置，即使在多層結(jié)構(gòu)的光盤中，也能降低層間的串?dāng)_。
另外，在完全的CLV中，因為與環(huán)帶CLV相比，能減少無用的空間，所以能提高光盤的容量。
能用一束光加工凹槽和同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記。
另外，在以上說明的光盤中，中斷形成凹槽的激光，形成凹槽不連續(xù)部，但是，如圖8、圖9所示，也可以使激光在瞬間錯開，形成凹槽偏移部62或63。此時，只需調(diào)整錯開的時間長度。
在本實施例中，在段的開始部分配置了識別標(biāo)記，但是沒有必要在段的開始部分檢測識別標(biāo)記，例如也可以在段的末尾部分配置。
如上所述，實施例1的光盤在各段的開始標(biāo)題102形成不同長度的凹槽不連續(xù)部，使凹槽不連續(xù)部自身具有同步標(biāo)記″S″、正標(biāo)記″1″或負(fù)標(biāo)記″0 ″的任意一個的含義，能用更小的空間提供段塊的地址。
另外，本實施例的光盤適用于來自發(fā)光元件2c的激光是使用了400nm附近的波長的高密度光盤。其理由如下。
本發(fā)明的光盤是記錄再現(xiàn)型的光盤，凹槽內(nèi)的光盤表面處于結(jié)晶狀態(tài)(非記錄狀態(tài))的相變化材料，例如由鍺銻化合物或銀銦化合物構(gòu)成。如果被照射了給定水平的激光，則通過形成從結(jié)晶狀態(tài)(非記錄狀態(tài))相變?yōu)榉墙Y(jié)晶狀態(tài)(記錄狀態(tài))的標(biāo)記，進行了記錄。通過照射更低水平的激光，根據(jù)來自反射率不同的結(jié)晶狀態(tài)的部分和非結(jié)晶狀態(tài)的部分的反射光的強弱，讀出記錄的信息。如果激光為830nm或650nm帶，來自非結(jié)晶狀態(tài)(記錄狀態(tài))的部分的反射光比來自結(jié)晶狀態(tài)(非記錄狀態(tài))的部分的反射光弱。另外，鏡面部的反射光比來自結(jié)晶狀態(tài)的部分反射光強，所以來自鏡面部、結(jié)晶狀態(tài)的部分、非結(jié)晶狀態(tài)的部分的反射光分別為強、中、弱，能容易地識別三者的部分。
但是，如果激光使用了400nm附近的波長，則反射率翻轉(zhuǎn)，來自非結(jié)晶狀態(tài)(記錄狀態(tài))的部分的反射光比來自結(jié)晶狀態(tài)(非記錄狀態(tài))的部分的反射光強。因此，來自鏡面部、結(jié)晶狀態(tài)的部分、非結(jié)晶狀態(tài)的部分的反射光分別為稍強、中、強，鏡面部和非結(jié)晶狀態(tài)(記錄狀態(tài))的部分的識別變得困難。但是，在本實施例中，因為鏡面部即凹槽不連續(xù)部的寬度被設(shè)置為能區(qū)別于記錄標(biāo)記的寬度的寬度，所以能容易地識別記錄標(biāo)記。
(實施例2)在實施例2中，代替圖3所示的寬度不同的凹槽不連續(xù)部，如圖10所示，利用凹槽變形部即凹槽下偏移部65、凹槽上偏移部66、以及他的組合部67提供分散地址。如圖10所示，用凹槽上偏移部66單獨表示正標(biāo)記“1”，用凹槽下偏移部65和在接著的給定時間內(nèi)出現(xiàn)的凹槽上偏移部66的組合部67表示同步標(biāo)記″S″，如果凹槽下偏移部65，并且在接著的給定時間內(nèi)不出現(xiàn)的凹槽上偏移部66，表示負(fù)標(biāo)記″0″。把凹槽下偏移部和凹槽上偏移部總稱為凹槽偏移部。部65、部66、組合部67的任意一個都可以作為同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記，但是最好使檢測頻率小的同步標(biāo)記為組合部67。在后面說明的變形例中也是同樣的。
通過從擺動的凹槽的峰的部分向磁道的中心設(shè)置瞬間的偏移，形成凹槽下偏移部65。通過從擺動的凹槽的谷的部分向磁道的中心設(shè)置瞬間的偏移，形成凹槽上偏移部66。通過在擺動的相連接的峰和谷上設(shè)置瞬間的偏移，形成組合部67。
并且，在圖10的組合部67中，凹槽下偏移部65和凹槽上偏移部66以擺動周期的1/2相鄰，但是，也可以以擺動周期的n+(1/2)倍(n為正整數(shù))相鄰。
另外，凹槽下偏移部除了圖8所示的形態(tài)，還可以具有圖9所示的形態(tài)。對于凹槽上偏移部，也能采取同樣的形態(tài)。
圖11表示了圖10所示的分散地址的讀取裝置。圖12、圖13、圖14表示了讀取裝置的主要點的輸出信號的波形圖。在圖11中，對與圖4所示的讀取裝置同樣的部分采用了同樣的符號，省略了對其的詳細(xì)說明。2是光頭，4是輸出差信號Sa(圖12)的減法器，6是輸出凹槽偏移部信號Sb(圖13)的高通濾波器，52是把凹槽上偏移部信號Sb與給定的第一闕值+Vth(圖13)比較，輸出2值化的凹槽上偏移部信號Si(圖14)的比較器，54是把凹槽下偏移部信號Sb與給定的第二闕值-Vth(圖13)比較，輸出2值化的凹槽下偏移部信號Sj(圖14)的比較器，56是判別2值化的凹槽偏移部信號Si、Sj與第一凹槽偏移部(正標(biāo)記″1″)、第二凹槽偏移部(負(fù)標(biāo)記″0 ″)、第三凹槽偏移部(同步標(biāo)記″S″)的哪一個對應(yīng)的判別器，14是把分散地址變?yōu)檫B續(xù)地址的解調(diào)器。
圖12的信號Sa(S)表示凹槽下偏移部和凹槽上偏移部的組合部67的差信號，信號Sa(0)表示只有凹槽下偏移部65的差信號，信號Sa(1)表示只有凹槽上偏移部66的差信號。當(dāng)在擺動的凹槽的峰的部分具有向下的偏移部時，生成了負(fù)向的脈沖，當(dāng)在擺動的凹槽的谷的部分具有向上的偏移部時，生成了正向的脈沖。
圖13的信號Sb(S)、Sb(0)、Sb(1)分別是去掉了信號Sa(S)、Sa(0)、Sa(1)的低頻成分的波形。
圖14的信號Si(S)、Sj(S)分別是把信號Sb(S)的正向脈沖、負(fù)向脈沖2值化的信號。因為信號Sb(S)中含有正向脈沖、負(fù)向脈沖的雙方，所以Si(S)、Sj(S)中都存在脈沖。在信號Sb(0)中只含有負(fù)向脈沖，在Si(0)中不存在脈沖，Sj(0)中存在脈沖。在信號Sb(1)中只含有正向脈沖，在Si(1)中存在脈沖，Sj(1)不中存在脈沖。
判別器56按如下方式工作。
接收信號Si或信號Sj的任意一方的脈沖后，在給定的時間內(nèi)(擺動周期的1/2內(nèi))接收了另一方的脈沖時，檢測為同步標(biāo)記″S″，輸出表示同步標(biāo)記″S″的“S”信號。該“S”信號被保持到檢測到下一個標(biāo)記。
從接收Si的脈沖后，在給定的時間內(nèi)(擺動周期的1/2內(nèi))沒有Sj的脈沖時，檢測為正標(biāo)記″1″，輸出表示正標(biāo)記″1″的“1”信號。該“1”信號被保持到檢測到下一個標(biāo)記。
從接收Sj的脈沖后，在給定的時間內(nèi)(擺動周期的1/2內(nèi))沒有Si的脈沖時，檢測為負(fù)標(biāo)記″0″，輸出表示負(fù)標(biāo)記″0″的“0”信號。該“0”信號被保持到檢測到下一個標(biāo)記。
以上所述的“S”信號、“1”信號、“0”信號都是圖5的下兩行中表示的信號，分別從圖11的判別器的3條輸出線輸出。
解調(diào)器14與圖7所示的解調(diào)器同樣地工作。
凹槽下偏移部65和凹槽上偏移部66不僅表示了相關(guān)的偏移部的有無，還包含上下的偏移方向的信息。因此，能區(qū)分、生成信號Si、Sj。
另外，在擺動周期的1/2中，能利用凹槽下偏移部65、凹槽上偏移部，識別3種含義(“S”、“0”、“1”)。
另外，因為同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記收斂于擺動的最大振幅的寬度以內(nèi)，所以不會增大相鄰的磁道間的串?dāng)_。
另外，在光盤的內(nèi)周一側(cè)和外周一側(cè)不改變段的長度配置了段，并且，沒有必要使段塊的分割線與光盤的半徑方向一致，所以能實現(xiàn)完全的CLV。
另外，能用一束光加工凹槽和同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記。
因為，從磁道中心離開形成了同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記，所以即使沿著磁道中心記錄了信息數(shù)據(jù)，在同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記的檢測信號中摻雜信息數(shù)據(jù)的信號的程度小。
另外，當(dāng)用推挽信號檢測凹槽偏移部時，因為差信號變?yōu)榇蟮牟钚盘枺阅軠?zhǔn)確地進行凹槽偏移部的檢測。
(變形例1)從圖15到圖20表示了實施例2的凹槽變形部的第一變形例。
在圖10中，雖然使用了凹槽下偏移部65、凹槽上偏移部66，但是在圖17的第一變形例中，分別變?yōu)榘疾巯陆档瓜嗖?4、凹槽上升倒相部75。凹槽下降倒相部74是以正弦波擺動的凹槽的峰到谷的下降部分即使從凹槽的峰開始的擺動周期的大約1/4的部分的相位上下顛倒，凹槽上升倒相部75是凹槽的谷到峰的上升部分即使從凹槽的谷開始的擺動周期的大約1/4的部分的相位上下顛倒。凹槽下降倒相部、凹槽上升倒相部總稱為凹槽倒相部。
如圖17所示，同步標(biāo)記″S″由連續(xù)包含了凹槽下降倒相部74、凹槽上升倒相部75的部分76表示，負(fù)標(biāo)記“0”由只包含凹槽下降倒相部74的部分表示，正標(biāo)記″1″由只包含凹槽上升倒相部75的部分表示。用于表示標(biāo)記的擺動周期1/4的部分的兩端如圖15所示，可以是不連續(xù)的，也可以是如圖16所示，是急劇變化的凹槽。
用圖11的讀取裝置讀取了這些標(biāo)記。
圖18表示了圖17所示的3個標(biāo)記所對應(yīng)的凹槽倒相部的差信號。這些差信號是從圖11的減法器4得到的。從差信號Sa(S)可知，在相位顛倒，凹槽從上向下急劇變化的部分中，得到了向右下急劇變化的差信號，而在相位顛倒，凹槽從下向上急劇變化的部分中，得到了向右上急劇變化的差信號。
圖19表示了使差信號通過高通濾波器6的信號。向右下急劇變化的差信號表現(xiàn)為負(fù)向脈沖，向右上急劇變化的差信號表現(xiàn)為正向脈沖。
在圖20中，用信號Si表示把正向的脈沖從比較器52作為2值化信號取出的信號，用信號Sj表示把負(fù)向的脈沖從比較器54作為2值化信號取出的信號。
此時，判別器56按如下方式工作。
接收信號Si或信號Sj的任意一方的脈沖后，在第一給定時間內(nèi)(擺動周期內(nèi))接收了另一方的脈沖時，檢測為同步標(biāo)記″S″，輸出表示同步標(biāo)記″S″的“S”信號。該“S”信號被保持到檢測到下一個標(biāo)記。
從接收信號Si的脈沖后，在第二給定時間內(nèi)(擺動周期的1/2內(nèi))出現(xiàn)了第二個信號Si的脈沖時，檢測為正標(biāo)記″1″，輸出表示正標(biāo)記″1″的“1”信號。此時，也能把從接收信號Si的最初的脈沖到接收第二個脈沖之間不存在信號Sj的脈沖作為條件。該“1”信號被保持到檢測到下一個標(biāo)記。
從接收信號Sj的脈沖后，在第二給定時間內(nèi)(擺動周期的1/2內(nèi))出現(xiàn)了第二個信號Sj的脈沖時，檢測為負(fù)標(biāo)記″0″，輸出表示負(fù)標(biāo)記″0″的“0”信號。此時，也能把從接收信號Sj的最初的脈沖到接收第二個脈沖之間不存在信號Si的脈沖作為條件。該“0”信號被保持到檢測到下一個標(biāo)記。
然后與上述同樣，用解調(diào)器14進行處理。
凹槽下降倒相部74和凹槽上升倒相部75不僅表示了相關(guān)的倒相部的有無，還包含上升、下降的信息。因此，能區(qū)分、生成信號Si、Sj。
另外，在一個擺動周期中，能利用凹槽下降倒相部74、凹槽上升倒相部75，識別3種含義(“S”、“0”、“1”)。
另外，因為同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記收斂于擺動的最大振幅的寬度以內(nèi)，所以不會增大相鄰的磁道間的串?dāng)_。
另外，在光盤的內(nèi)周一側(cè)和外周一側(cè)不改變段的長度配置了段，并且，沒有必要使段塊的分割線與光盤的半徑方向一致，所以能實現(xiàn)完全的CLV。
另外，能用一束光加工凹槽和同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記。
另外，因為擺動的最大振幅的位置使相位顛倒，所以能以高精度檢測同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記的位置。
并且，也可以檢測擺動的相位，檢測凹槽下降倒相部74、凹槽上升倒相部75。此時，比檢測倒相的邊緣更加改善了SN比。
(變形例2)從圖21到圖25表示了實施例2的凹槽變形部的第二變形例。
在圖10中，雖然使用了凹槽下偏移部65、凹槽上偏移部66，但是在圖22的第二變形例中，分別變?yōu)榘疾巯陆稻匦尾?3、凹槽上升矩形部84。凹槽下降矩形部83是以矩形連接以正弦波擺動的凹槽的峰到谷的部分。即從凹槽的峰到擺動周期的大約1/4的部分以峰的水平形成凹槽，使其急劇地變化為谷的水平，以谷的水平形成接著的擺動周期的大約1/4的部分，與擺動的谷的部分相連。另外，凹槽上升矩形部84是以矩形連接以正弦波擺動的凹槽的谷到峰的部分。即從凹槽的谷到擺動周期的大約1/4的部分以谷的水平形成凹槽，使其急劇地變化為峰的水平，以峰的水平形成接著的擺動周期的大約1/4的部分，與擺動的峰的部分相連。凹槽下降矩形部、凹槽上升矩形部總稱為凹槽矩形部。另外，把含有凹槽矩形部、凹槽倒相部、凹槽偏移部等的擺動波稱作變形擺動波。
如圖22所示，同步標(biāo)記″S″由連續(xù)包含了凹槽下降矩形部83、凹槽上升矩形部84的部分85表示，負(fù)標(biāo)記“0”由只包含凹槽下降矩形部83的部分表示，正標(biāo)記″1″由只包含凹槽上升矩形部85的部分表示。圖21表示了凹槽下降矩形部83的細(xì)節(jié)。
用圖11的讀取裝置讀取了這些標(biāo)記。
圖18表示了圖22所示的3個標(biāo)記所對應(yīng)的凹槽矩形部的差信號。這些差信號是從圖11的減法器4得到的。從差信號Sa(S)可知，在凹槽矩形部從上向下急劇變化的部分中，得到了向右下急劇變化的差信號，而在凹槽矩形部從下到上變化的部分中，得到了向右上急劇變化的差信號。
圖24表示了使差信號通過高通濾波器6的信號。向右下急劇變化的差信號表現(xiàn)為負(fù)向脈沖，向右上急劇變化的差信號表現(xiàn)為正向脈沖。
在圖25中，用信號Si表示把正向的脈沖從比較器52作為2值化信號取出的信號，用信號Sj表示把負(fù)向的脈沖從比較器54作為2值化信號取出的信號。
此時，判別器56按如下方式工作。
接收信號Si或信號Sj的任意一方的脈沖后，在給定時間內(nèi)(擺動周期內(nèi))接收了另一方的脈沖時，檢測為同步標(biāo)記″S″，輸出表示同步標(biāo)記″S″的“S”信號。該“S”信號被保持到檢測到下一個標(biāo)記。
從接收信號Si的脈沖后，在給定時間內(nèi)(擺動周期內(nèi))沒有信號Sj的脈沖，檢測為正標(biāo)記″1″，輸出表示正標(biāo)記″1″的“1”信號。該“1”信號被保持到檢測到下一個標(biāo)記。
從接收信號Sj的脈沖后，在給定時間內(nèi)(擺動周期內(nèi))沒有信號Si的脈沖時，檢測為負(fù)標(biāo)記″0″，輸出表示負(fù)標(biāo)記″0″的“0”信號。該“0”信號被保持到檢測到下一個標(biāo)記。
然后與上述同樣，用解調(diào)器14進行處理。
凹槽下降矩形部83、凹槽上升矩形部84不僅表示了相關(guān)的矩形部的有無，還包含上升、下降的信息。因此，能區(qū)分、生成信號Si、Sj。
另外，在一個擺動周期中，能利用凹槽下降矩形部83、凹槽上升矩形部84，識別3種含義(“S”、“0”、“1”)。
另外，因為同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記收斂于擺動的最大振幅的寬度以內(nèi)，所以不會增大相鄰的磁道間的串?dāng)_。
另外，在光盤的內(nèi)周一側(cè)和外周一側(cè)不改變段的長度配置了段，并且，沒有必要使段塊的分割線與光盤的半徑方向一致，所以能實現(xiàn)完全的CLV。
另外，能用一束光加工凹槽和同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記。
另外，因為跨擺動的最大振幅設(shè)置有矩形部，所以能以高精度檢測同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記的位置。
因為正弦波即擺動的過零點和矩形部的過零點在同一位置，所以當(dāng)從擺動抽出時鐘信號時，在標(biāo)記的地方時鐘信號也不會亂。
并且，在實施例2中，凹槽變形部的位置由于“S”、“0”、“1”的標(biāo)記而不同，所以能開始記錄的位置也不同。為了統(tǒng)一能開始記錄的位置，可以加上追加的標(biāo)記。例如，在圖10的形態(tài)中，如圖26所示，可以追加凹槽不連續(xù)部68。如果在凹槽不連續(xù)部68的檢測后開始記錄，則能統(tǒng)一能開始記錄的位置。
(變形例3)從圖27到圖31表示了實施例2的凹槽變形部的第三變形例。
在圖22中用一個變形擺動波表示一個標(biāo)記。具體地說，用一個凹槽下降矩形部83表示負(fù)標(biāo)記″0″，用一個凹槽上升矩形部84表示正標(biāo)記“0”，用一個矩形部對85(包含了一個凹槽下降矩形部83和一個凹槽上升矩形部84)表示同步標(biāo)記″S″。
在圖27所示的第三變形例中，使用了把變形擺動波重復(fù)連續(xù)表現(xiàn)的部分。即在圖2的段塊105中包含的一個段104的標(biāo)題部102中，使其存在給定的多個周期(例如32個周期)的擺動波。當(dāng)為同步標(biāo)記時，如圖27的上段所示，在標(biāo)題部102中矩形對85重復(fù)，存在多個周期(例如32個周期)。當(dāng)為負(fù)標(biāo)記“0”時，如圖27的中段所示，在標(biāo)題部102中凹槽下降矩形部83重復(fù)，存在多個周期(例如32個周期)。當(dāng)為正標(biāo)記“1”時，如圖27的下段所示，在標(biāo)題部102中凹槽上升矩形部84重復(fù)，存在多個周期(例如32個周期)。
作為別的變形例，不局限于標(biāo)題部102，在包含記錄部103的整個段104中，使用了變形擺動波的重復(fù)。在一個例子中，因為在一個段中存在153個周期的擺動波，所以對于153個周期的全部擺動波使用變形擺動波。
具體地說，在段塊105的開始段的整個領(lǐng)域中，重復(fù)包含矩形對85的變形擺動波，連續(xù)153個周期，使矩形對85中具有同步信息″S″。接著開始段的剩下的各段中，當(dāng)使其具有負(fù)信息“0”時，在該段的整個領(lǐng)域中，重復(fù)包含凹槽下降矩形部83的變形擺動波，連續(xù)153個周期。同樣是剩下的段中，當(dāng)使其具有正信息“1”時，在該段的整個領(lǐng)域中，重復(fù)包含凹槽上升矩形部84的變形擺動波，連續(xù)153個周期。
并且，變形擺動波的重復(fù)可以不在段的整個領(lǐng)域，而在段的任意部分設(shè)置多個周期的變形擺動波。另外，存在變形擺動波的多個周期可以是隔一個的周期，也可以是隔多個周期。如果這樣空出周期間隔，能測定周期間隔，使承載別的信息。
這樣，當(dāng)使用變形擺動波時，因為能沿著擺動波進行寫入，所以沒有必要取得用于寫入同步信息″S″、正信息″1″或負(fù)信息″0″的磁道間隔，只通過觀測構(gòu)成磁道的變形擺動波的形狀，就能取出信息。因此，沒有必要把同步信息″S″、正信息″1″或負(fù)信息″0″放入標(biāo)題部102等特定領(lǐng)域中，能放在段的任意地方中。
為了準(zhǔn)確地檢測段塊的開始，如圖27的上段所示，在開始的擺動波內(nèi)設(shè)置有不連續(xù)部86。如圖27所示，該不連續(xù)部86可以設(shè)置在擺動波的上或下峰部分(振幅最大部分)，也可以設(shè)置在凹槽下降矩形部83和凹槽上升矩形部84存在的過零點(振幅最小部分)。最好設(shè)置在過零點，因為在檢測擺動波的頻率時，不連續(xù)部86不會產(chǎn)生不必要的噪聲。形成不連續(xù)部的說明與實施例1的不連續(xù)部對應(yīng)。
并且，在圖27中，因為切斷磁道凹槽設(shè)置有不連續(xù)部86，所以在其上寫信息時會出現(xiàn)問題。這是因為由于凹槽的有無，反射光量有很大區(qū)別，對再現(xiàn)信號起干擾的作用。在此，在本變形例中，把含有不連續(xù)部86的領(lǐng)域(例如塊85)作為VFO記錄領(lǐng)域分配。所謂VFO記錄領(lǐng)域是指為了再現(xiàn)接著它的記錄信息，用于引入PLL的單一頻率信號被記錄VFO的領(lǐng)域。如果是VFO，則即使有一些干擾，也只變?yōu)榫植康钠鸱?，而不引起直接錯誤。因為VFO是單一頻率，所以能頻率分離基于不連續(xù)部86的干擾。
圖31是讀取圖27所示的變形擺動波的讀取裝置的框圖。
圖31的讀取裝置由矩形部檢測器90、不連續(xù)部檢測器91、分布判別器構(gòu)成。矩形部檢測器90采用了圖11的讀取裝置的主要部分。矩形部檢測器90的主要點的信號波形如圖28、圖29、圖30所示。
圖28表示了與圖27所示的3個變形擺動波分別對應(yīng)的差信號。這些差信號是從圖31的加法器4得到的。其動作為用圖11說明的。
圖29表示了使差信號通過高通濾波器6的信號。向右下急劇變化的差信號表現(xiàn)為負(fù)向脈沖，向右上急劇變化的差信號表現(xiàn)為正向脈沖。
在圖30中，用信號Si表示把正向的脈沖從比較器52作為2值化信號取出的信號，用信號Sj表示把負(fù)向的脈沖從比較器54作為2值化信號取出的信號。當(dāng)為連續(xù)的矩形部對85的變形擺動波時，信號Si和信號Sj中交替表現(xiàn)了脈沖。這些脈沖以在變形擺動波的一個周期中為一個的比例出現(xiàn)。
當(dāng)在一個段中有153個周期的變形擺動波時的動作如下所述。當(dāng)是開始段(包含了同步信息″S″)時，在信號Si中表現(xiàn)了153個脈沖，在信號Sj中也表現(xiàn)了153個脈沖。另外，在后續(xù)段中，當(dāng)是含有負(fù)信息“0”的段時，在信號Si中表現(xiàn)了0個脈沖，在信號Sj中表現(xiàn)了153個脈沖。當(dāng)在后續(xù)段中為包含了正信息“1”的段時，在信號Si中表現(xiàn)了153個脈沖，在信號Sj中表現(xiàn)了0個脈沖。實際上，由于噪聲等，脈沖數(shù)會變多，或變少。
圖31的不連續(xù)部檢測器91采用了圖4的讀取裝置的主要部分。如用圖5所說明的那樣，檢測了不連續(xù)部86，輸出了脈沖。并且，在不連續(xù)部檢測器91中設(shè)置的減法器4也可以變?yōu)榧臃ㄆ?。?dāng)使用了減法器時，只有在擺動波的峰部具有不連續(xù)部86時，才能檢測，但是，當(dāng)使用了加法器時，不僅是在擺動波的峰部，在過零點部具有不連續(xù)部86時也能檢測。
下面，就圖31的分布判別器92加以說明。
分布判別器92由脈沖數(shù)累計器93、94、比較器95、96、97、段同步計數(shù)器98、閂鎖99構(gòu)成。
脈沖累計器93、94分別計算包含在信號Si、信號Sj中的脈沖數(shù)。把脈沖累計器93的計數(shù)值與比較器95、96、97的輸入a相加，把脈沖累計器94的計數(shù)值與比較器95、96、97的輸入b相加。比較器95在a＞b(a是加到輸入a中的計數(shù)值，b是加到輸入b中的計數(shù)值)時，最好該差十分大時(即當(dāng)a＞＞b時)，輸出了高的信號。比較器95在a＜b時，最好該差十分大時(即當(dāng)a＜＜b時)，輸出了高的信號。比較器97在ab時，最好該差十分小時，輸出了高的信號。
這些高的信號被送到閂鎖99。當(dāng)從比較器95接收了高的信號時，閂鎖99輸出表示正信息“1”的“1”信號。該“1”信號被保持到檢測到細(xì)一個段的信息。當(dāng)從比較器96接收了高的信號時，閂鎖99輸出表示負(fù)信息“0”的“0”信號。該“0”信號被保持到檢測到細(xì)一個段的信息。當(dāng)從比較器97接收了高的信號時，閂鎖99輸出表示同步信息“S”的“S”信號。該“S”信號被保持到檢測到細(xì)一個段的信息。
段同步計數(shù)器98計算同步信號的周期數(shù)(與擺動波的周期數(shù)相同，但是，當(dāng)為擺動波時，由于含有噪聲，所以數(shù)不穩(wěn)定)。同步信號例如從檢測的擺動信號通過PLL電路生成。首先，根據(jù)來自不連續(xù)部檢測器91的不連續(xù)部檢測脈沖，把計數(shù)值清除為0。接著，計算同步信號的周期數(shù)即同步脈沖。在以上所述的例子中，因為在一個段中含有153個擺動波周期，所以每數(shù)了153個同步脈沖，就把一個復(fù)位信號發(fā)送給脈沖數(shù)累計器93、94和閂鎖99。在脈沖數(shù)累計器93、94計數(shù)值被復(fù)位。
通過分布判別器，在一個段內(nèi)，把信號Si中包含的脈沖數(shù)和信號Sj中包含的脈沖數(shù)比較，當(dāng)信號Si的脈沖數(shù)比信號Sj的脈沖數(shù)多很多時，從比較器95輸出了高的信號，相反，當(dāng)信號Sj的脈沖數(shù)比信號Si的脈沖數(shù)多很多時，從比較器96輸出了高的信號。當(dāng)信號Si的脈沖數(shù)與信號Sj的脈沖數(shù)大致相等時，從比較器97輸出了高的信號。在閂鎖99中，把比較器95、96、97的任意一個的高的信號閂鎖住，輸出“1”信號或“0”信號或“S”信號。并且，根據(jù)“S”信號，段同步計數(shù)器98被復(fù)位。
然后，與上述同樣，用解調(diào)器14進行了處理。
通過重復(fù)設(shè)置變形擺動波，能更正確地得到“1”信號或“0”信號或“S”信號。另外，如果在變形擺動波內(nèi)也使用了含有凹槽矩形部的變形擺動波，由于擺動波本來會對應(yīng)該檢測的同步信號造成的不良影響就少了。
(變形例4)圖32表示了變形例4的主要部分的結(jié)構(gòu)。在圖32中，擺動的振幅在正向的部分的長度和在負(fù)向的部分的長度不同，在不改變擺動的頻率的前提下，使占空比不同。即圖32的180的部分中，負(fù)向的振幅部分的長度變長，在181的部分中，正向的振幅部分的長度變長。如圖32所示，形成擺動，當(dāng)是負(fù)信息“0”時，180的部分變寬，當(dāng)是正信息“1”時，181的部分變寬。這樣，當(dāng)判別正信息、負(fù)信息時，沒有必要對再現(xiàn)信號微分，使用時鐘定時器計測占空比就可以了，所以能減輕噪聲的影響。
(變形例5)圖33表示了變形例5的主要部分的結(jié)構(gòu)圖。在圖27的變形例中，在開始的擺動波內(nèi)設(shè)置有不連續(xù)部86，但是，在圖33的變形例中，設(shè)置有把磁道凹槽局部變粗的標(biāo)記212。該標(biāo)記212是用于發(fā)現(xiàn)段塊的開始，也叫做塊標(biāo)記。如果是圖33的結(jié)構(gòu)，就不會發(fā)生凹槽被切斷，變?yōu)椴贿B續(xù)，所以在塊標(biāo)記上不僅能記錄VFO，還能記錄各種信息。結(jié)果，能降低浪費。
(變形例6)圖34表示了變形例6的主要部分的結(jié)構(gòu)圖。在圖34的變形例中，設(shè)置有把磁道凹槽局部變大的標(biāo)記213。與圖33的變形例5同樣，在該結(jié)構(gòu)中，不會發(fā)生凹槽被切斷，在塊標(biāo)記上不僅能記錄VFO，還能記錄各種信息。
(變形例7)圖35表示了變形例7的主要部分的結(jié)構(gòu)圖。其特征在于只在磁道凹槽的一側(cè)的邊緣上設(shè)置有擺動。在到此為止的實施例和變形例中，說明了在磁道凹槽上記錄信息即所謂的凹槽記錄形態(tài)的光盤記錄媒體，但是，光盤除此以外，還有沿著磁道，能在凹槽和紋間表面(相鄰的凹槽夾著的領(lǐng)域)的雙方上記錄即具有所謂的紋間表面凹槽記錄形態(tài)的光盤。變形例7是對紋間表面凹槽記錄形態(tài)的適用例。
在圖35中，在凹槽的一側(cè)的邊緣上形成表示負(fù)信息“0”(用221表示的區(qū)間)或表示正信息“1”(用231表示的區(qū)間)。據(jù)此，該凹槽2與和它相鄰的紋間表面4用同一地址表示。信息被記錄在紋間表面4和磁道凹槽2的雙方中。通過進行這樣的記錄，就能使磁道間隔變窄，能進一步實現(xiàn)高密度化。
綜上所述，本發(fā)明在磁道凹槽上，在單位區(qū)間內(nèi)周期性地設(shè)置有給定形狀的蜿蜒，并且，通過將所述形狀在所述單位區(qū)間內(nèi)按照在一個意義上記述的副信息來設(shè)置為不同的形狀，能減少或者消除附加來形成地址，并且能得到單一頻率的擺動再現(xiàn)信號，從而能提供適用于高密度化的光盤記錄媒體。
權(quán)利要求
1.一種光盤，包括軌道；和沿所述軌道形成的、并被分成扇區(qū)塊的擺動凹槽，其中每個所述扇區(qū)塊被分成多個扇區(qū)；其中所述擺動凹槽包含在每個扇區(qū)塊中的特定多個扇區(qū)中形成的正標(biāo)記；其中正標(biāo)記由凹槽部分表示，與正弦擺動相比，表示正標(biāo)記的凹槽部分中的擺動凹槽的擺動包含更陡的向外傾斜，和其中所述正標(biāo)記用于給出每個扇區(qū)塊的地址信息。
全文摘要
提供一種能高精度、簡單地進行檢測的附加有分散地址用標(biāo)記的光盤。用同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記構(gòu)成分散地址。使擺動的凹槽一部分不連續(xù)，或者一部分變形，沿著凹槽形成同步標(biāo)記、正標(biāo)記、負(fù)標(biāo)記。
文檔編號G11B20/14GK1953066SQ20061009088
公開日2007年4月25日 申請日期2000年12月27日 優(yōu)先權(quán)日2000年1月14日
發(fā)明者古宮成, 石橋廣通, 石田隆, 小林良治 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社