專(zhuān)利名稱(chēng)：存儲(chǔ)器的驗(yàn)證流程的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種存儲(chǔ)器，特別是涉及一種存儲(chǔ)器的驗(yàn)證流程。
技術(shù)背景非易失性存儲(chǔ)器(non—volat i le memory),是藉由存儲(chǔ)單元(memory eel 1) 來(lái)儲(chǔ)存邏輯數(shù)據(jù)(0/1)。每一個(gè)存儲(chǔ)單元包括一個(gè)具有柵極(gate)、源極 (source)及漏極(drain)的晶體管。藉由施加于柵極、源極及漏極的電壓脈 沖以改變晶體管中存儲(chǔ)層的電荷量，進(jìn)而設(shè)定此晶體管的臨界電壓值。此存 儲(chǔ)層例如多晶硅(polysilicon)層或非導(dǎo)體的氮化硅層。最終非易失性存儲(chǔ) 器便根據(jù)存儲(chǔ)層所儲(chǔ)存的電荷量來(lái)表示不同的邏輯數(shù)據(jù)。為了驗(yàn)證存儲(chǔ)單元的臨界電壓是否達(dá)到預(yù)設(shè)的電壓值，非易失性存儲(chǔ)器 的程序化進(jìn)程(program flow)中將會(huì)提供一驗(yàn)證程序(verification process )。此驗(yàn)證程序是于存儲(chǔ)器程序化(program)后執(zhí)行。即，當(dāng)一定數(shù) 量的存儲(chǔ)單元(例如一個(gè)頁(yè)面內(nèi)所對(duì)應(yīng)到的存儲(chǔ)單元)被執(zhí)行程序化后，將會(huì) 對(duì)這些存儲(chǔ)單元執(zhí)行驗(yàn)證流程(verification process),例如讀取出這些 存儲(chǔ)單元的臨界電壓值并分別比對(duì)其值是否達(dá)到預(yù)設(shè)的電壓值。若有未通過(guò) 驗(yàn)證方法的存儲(chǔ)單元，程序化流程將會(huì)對(duì)這些未通過(guò)驗(yàn)證的存儲(chǔ)單元重新執(zhí) 行程序化或是所有的存儲(chǔ)單元皆重新執(zhí)行程序化。然而重新執(zhí)行程序化后， 此程序化流程將會(huì)再 一 次對(duì)所有的存儲(chǔ)單元執(zhí)行驗(yàn)證流程以確保每個(gè)存儲(chǔ) 單元均能達(dá)到預(yù)設(shè)的臨界電壓值。以多電平存儲(chǔ)單元(multi-level-cell)而言，例如硅-氧化硅-氮化硅-氧化硅-硅(Silicon-Oxide-Nirtide-Oxide-Si 1 icon)存儲(chǔ)器，簡(jiǎn)稱(chēng)S0N0S存 儲(chǔ)器，一個(gè)S0N0S存儲(chǔ)單元可儲(chǔ)存兩位(2bits)的邏輯數(shù)據(jù)(00， 01, 10, 11)， 所以在讀取這種存儲(chǔ)單元需要花費(fèi)較長(zhǎng)的時(shí)間去判斷其邏輯數(shù)據(jù)為何。因此 在程序化進(jìn)程中驗(yàn)證流程將需要較長(zhǎng)的時(shí)間才能讀取出所有的存儲(chǔ)單元所 儲(chǔ)存的邏輯數(shù)據(jù)。如此一來(lái)將造成程序化進(jìn)程的時(shí)間變長(zhǎng)，因?yàn)閷?huì)需要更 長(zhǎng)的時(shí)間以等待驗(yàn)證流程來(lái)讀取完所有的存儲(chǔ)單元。有鑒于此，如何能縮短多電平存儲(chǔ)單元的程序化流程的時(shí)間便是相關(guān)產(chǎn)業(yè)需解決的問(wèn)題。 發(fā)明內(nèi)容有鑒于此，本發(fā)明披露一種快速的驗(yàn)證流程，進(jìn)而加快整個(gè)程序化的流程。本發(fā)明提出 一種驗(yàn)證流程，是于變更一存儲(chǔ)器內(nèi)所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)后執(zhí)行， 以驗(yàn)證該存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)狀態(tài)是否正確。此存儲(chǔ)器具有多個(gè)存儲(chǔ)單元與一隨機(jī)存取存儲(chǔ)器，或是SR細(xì)、緩存器、鎖存器(Latch)等。此驗(yàn)證流程敘述如下。 先讀取此隨機(jī)存取存儲(chǔ)器內(nèi)所儲(chǔ)存的存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)。此存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù) 據(jù)系用以指示這些存儲(chǔ)單元前次驗(yàn)證狀態(tài)為"已通過(guò)驗(yàn)證"或"未通過(guò)驗(yàn)證"。 之后根據(jù)存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)，僅對(duì)前次未通過(guò)驗(yàn)證的存儲(chǔ)單元執(zhí)行一驗(yàn)證程 序，其余已通過(guò)驗(yàn)證的存儲(chǔ)單元不被執(zhí)行驗(yàn)證程序。其中執(zhí)行該驗(yàn)證程序的 步驟還包括記錄本次驗(yàn)證程序中未通過(guò)驗(yàn)證的存儲(chǔ)單元位置于隨機(jī)存取存 儲(chǔ)器，以為新的一筆存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)。為使本發(fā)明的上述目的、特征、和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉一較佳 實(shí)施例，并結(jié)合附圖詳細(xì)說(shuō)明如下。


圖1為本發(fā)明一較佳實(shí)施例的一種驗(yàn)證流程的流程圖。 圖2為程序化進(jìn)程的流程圖。
具體實(shí)施方式
本發(fā)明提出 一種驗(yàn)證流程，藉由先讀取出存儲(chǔ)器裝置中的暫存存儲(chǔ)器內(nèi) 所儲(chǔ)存的"存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)"，并根據(jù)此存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)僅對(duì)前次未通 過(guò)驗(yàn)證的存儲(chǔ)單元執(zhí)行驗(yàn)證程序(讀取、比對(duì)與記錄驗(yàn)證結(jié)果)，以縮短驗(yàn)證 流程所需的時(shí)間，進(jìn)而加快各種形式的程序化進(jìn)程的速度。上述的暫存存儲(chǔ)(DRAM)。請(qǐng)參照?qǐng)D1,其為本發(fā)明一較佳實(shí)施例的一種驗(yàn)證流程的流程圖。此驗(yàn) 證流程是于變更存儲(chǔ)器內(nèi)所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)后執(zhí)行，以驗(yàn)證此存儲(chǔ)器變更數(shù)據(jù)后 的數(shù)據(jù)狀態(tài)是否正確。此存儲(chǔ)器即為非易失性存儲(chǔ)器(non-volat i lememory),例如S0N0S存儲(chǔ)器。此存儲(chǔ)器具有多個(gè)陣列式存儲(chǔ)單元與一隨機(jī) 存取存儲(chǔ)器。此隨機(jī)存取存儲(chǔ)器例如為SRAM、緩存器或鎖存器(Latch)等。 此驗(yàn)證流程敘述下。首先于步驟102,讀取此隨機(jī)存取存儲(chǔ)器內(nèi)所儲(chǔ)存的存 儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)。此存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)用以指示這些存儲(chǔ)單元前次的驗(yàn)證結(jié) 果為"已通過(guò)驗(yàn)證，，或"未通過(guò)驗(yàn)證"。接著，于步驟104，根據(jù)此存儲(chǔ)單元 驗(yàn)證數(shù)據(jù)所指示，僅對(duì)前次未通過(guò)驗(yàn)證的存儲(chǔ)單元執(zhí)行驗(yàn)證程序，其余已通 過(guò)驗(yàn)證的存儲(chǔ)單元不被執(zhí)行驗(yàn)證程序，以縮短驗(yàn)證程序中從存儲(chǔ)單元中讀取 出數(shù)據(jù)所需時(shí)間。其中執(zhí)行驗(yàn)證程序的步驟還包括了記錄本次驗(yàn)證程序中未 通過(guò)驗(yàn)證的存儲(chǔ)單元位置于此隨機(jī)存取存儲(chǔ)器，以為新的一筆存儲(chǔ)單元驗(yàn)證 數(shù)據(jù)。進(jìn)一步以具體的方式說(shuō)明本發(fā)明如何有效地縮短驗(yàn)證流程。例如在程序 化進(jìn)程(program f low)中，此驗(yàn)證流程跟隨于一程序化(program)后#丸行。 如圖2所示，其為程序化進(jìn)程的流程圖。程序化進(jìn)程中具有兩大步驟，步驟 202為一程序化流程，而步驟204為本發(fā)明的驗(yàn)證流程。于步驟202,此一 程序化流程用以根據(jù)欲寫(xiě)入至存儲(chǔ)單元的邏輯數(shù)據(jù)程序化存儲(chǔ)單元，例如在 程序化流程中，首先是先對(duì)存儲(chǔ)器中對(duì)應(yīng)于一被寫(xiě)入單元的全部或部份的多 個(gè)存儲(chǔ)單元進(jìn)行程序化，例如對(duì)需要寫(xiě)入"0"的存儲(chǔ)單元操作。在程序的 定義中， 一個(gè)被寫(xiě)入單元對(duì)應(yīng)于一頁(yè)面(page)。之后，在執(zhí)行驗(yàn)證流程204 時(shí)，首先從RAM中讀取此頁(yè)面所對(duì)應(yīng)到的存儲(chǔ)單元的驗(yàn)證狀態(tài)，以決定對(duì)應(yīng) 于此頁(yè)面中哪些存儲(chǔ)單元需要被讀取以驗(yàn)證數(shù)據(jù)狀態(tài)是否正確。換句話說(shuō)， 在執(zhí)行驗(yàn)證流程時(shí)本發(fā)明并不會(huì)先對(duì)存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀取，而是先從RAM得知 此次驗(yàn)證流程中哪些存儲(chǔ)單元需要被驗(yàn)證，然后再對(duì)這些需要被驗(yàn)證的存儲(chǔ) 單元執(zhí)行驗(yàn)證程序，包括讀取、比對(duì)與記錄此次驗(yàn)證的結(jié)果。接著，在步驟 206中，如仍有未進(jìn)行驗(yàn)證的存儲(chǔ)單元，則重復(fù)步驟202的程序化方法，直 至所有存儲(chǔ)單元皆完成驗(yàn)證為止。在驗(yàn)證程序中，可同時(shí)于RAM中搜尋待驗(yàn) 證的下一地址，亦即步驟102與104可同時(shí)執(zhí)行。由于讀取RAM的速度遠(yuǎn)快于讀取存儲(chǔ)單元的速度。例如讀取出 一個(gè)存儲(chǔ) 單元內(nèi)所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)需要500ns,而讀取存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)中的一筆對(duì)應(yīng)一 個(gè)存儲(chǔ)單元位置的驗(yàn)證數(shù)據(jù)僅僅需要50ns。一個(gè)被程序化單元對(duì)應(yīng)512byte。 每次讀取或?qū)懭?個(gè)bit。在此頁(yè)面僅有兩個(gè)存儲(chǔ)單元需要被驗(yàn)證的情況下， 例如前一次驗(yàn)證中是記錄兩個(gè)存儲(chǔ)單元未通過(guò)驗(yàn)證，因此此次程序化僅對(duì)此兩存儲(chǔ)單元操作。在傳統(tǒng)的驗(yàn)證流程下，程序化后對(duì)所有對(duì)應(yīng)于此頁(yè)面的存儲(chǔ)單元進(jìn)行驗(yàn)證程序，故需要512x500ns=256us，即讀取512byte的存儲(chǔ)單 元所需的時(shí)間。然而本發(fā)明先從RAM得知需要^:驗(yàn)證的存儲(chǔ)單元位置，然后 僅對(duì)對(duì)應(yīng)于此兩存儲(chǔ)單元位置的兩存儲(chǔ)單元進(jìn)行驗(yàn)證，故所需的時(shí)間為50ns x 512+500ns x 2=26. 6us,即讀取RAM所需的時(shí)間(50ns x 512)加上讀取兩 存儲(chǔ)單元所需的時(shí)間(500ns x 2)。由此可知本發(fā)明確實(shí)可以大幅縮短驗(yàn)證 程序所需的時(shí)間，進(jìn)而縮短整個(gè)程序化流程所需的時(shí)間。其中本發(fā)明并不限定驗(yàn)證流程須于程序化進(jìn)程或任何流程中執(zhí)行。其 它，例如軟性程序化進(jìn)程(sof t-program f low)、預(yù)先程序化進(jìn)程 (pre-program flow)等亦可。例如預(yù)先程序化流程是于一#~除進(jìn)程中執(zhí)行， 用以提高擦除存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。此驗(yàn)證程序是對(duì)應(yīng)于此預(yù)先程序化對(duì)存 儲(chǔ)單元執(zhí)行驗(yàn)證(讀取、比對(duì)與記錄驗(yàn)證結(jié)果)，以驗(yàn)證數(shù)據(jù)狀態(tài)是否正確。 或是，驗(yàn)證流程是于一軟程序化(soft program)后執(zhí)行。此軟程序化用以緊 縮存儲(chǔ)單元的臨界電壓的分布。而驗(yàn)證程序亦對(duì)應(yīng)于此軟程序化，對(duì)存儲(chǔ)單 元執(zhí)行驗(yàn)證。此外本實(shí)施例在讀取存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)的步驟中，若讀取到未通過(guò)驗(yàn)證 的一存儲(chǔ)單元位置(address)，在對(duì)此存儲(chǔ)單元位置所對(duì)應(yīng)到的存儲(chǔ)單元執(zhí) 行驗(yàn)證程序的同時(shí)持續(xù)從存儲(chǔ)器RAM中讀取剩下的存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)。例如 第一次程序化后(于此并不限定何種形式的程序化，可以是根據(jù)數(shù)據(jù)進(jìn)行寫(xiě) 入才喿作的program或是sof t—program與pre—program)， 由于所有的存f者單 元均未被驗(yàn)證過(guò)，所以讀取出存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)中的第一筆存儲(chǔ)單元位置 后，便開(kāi)始對(duì)對(duì)應(yīng)于此第一筆存儲(chǔ)單元位置的存儲(chǔ)單元執(zhí)行驗(yàn)證程序。在此 驗(yàn)證流程亦同時(shí)持續(xù)讀取出第二、三…至最后一筆存儲(chǔ)單元位置，并加載這 些存儲(chǔ)單元位置以依序驗(yàn)證這些存儲(chǔ)單元。如此一來(lái)才不至于浪費(fèi)時(shí)間在等 待讀取驗(yàn)證RAM上。本發(fā)明上述實(shí)施例所披露的驗(yàn)證流程，并不會(huì)先對(duì)存儲(chǔ)單元做讀取，而 是先從隨機(jī)存取存儲(chǔ)器那得知哪些存儲(chǔ)單元需要被驗(yàn)證，然后僅對(duì)這些需要 被驗(yàn)證的存儲(chǔ)單元執(zhí)行驗(yàn)證程序。如此一來(lái)將可以大幅縮短驗(yàn)證流程所需的 時(shí)間。綜上所述，雖然本發(fā)明已以一較佳實(shí)施例披露如上，然其并非用以限定 本發(fā)明，本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的前提下可作各種 的更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍以本申請(qǐng)的權(quán)利要求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1. 一種驗(yàn)證流程，用以于變更一存儲(chǔ)器系統(tǒng)中的一數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器后，驗(yàn)證該數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器的狀態(tài)，其中，該數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器具有多個(gè)存儲(chǔ)單元，該存儲(chǔ)器系統(tǒng)還包括用以儲(chǔ)存一存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)的一暫存存儲(chǔ)器，該驗(yàn)證方法包括對(duì)該數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器進(jìn)行一第一驗(yàn)證程序；將所述存儲(chǔ)單元中“未通過(guò)驗(yàn)證”的結(jié)果記錄于該暫存存儲(chǔ)器；以及依據(jù)該“未通過(guò)驗(yàn)證”的結(jié)果，對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行一第二驗(yàn)證程序。
2. 如權(quán)利要求1所述的驗(yàn)證流程，還包括記錄該第一驗(yàn)證程序中未通過(guò)驗(yàn)證的該存儲(chǔ)單元位置于該暫存存儲(chǔ)器， 并更新該存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)。
3. 如權(quán)利要求2所述的驗(yàn)證流程，其中在進(jìn)行該第二驗(yàn)證程序時(shí)，還 包括若讀取到未通過(guò)驗(yàn)證的一存儲(chǔ)單元位置，在對(duì)該存儲(chǔ)單元位置所對(duì)應(yīng)到 的該存儲(chǔ)單元執(zhí)行該第二驗(yàn)證程序的同時(shí)，自該暫存存儲(chǔ)器中讀取該存儲(chǔ)單 元驗(yàn)證數(shù)據(jù)。
4. 如權(quán)利要求3所述的驗(yàn)證流程，其中該驗(yàn)證流程是于一程序化后執(zhí) 行，該程序化用以根據(jù)欲寫(xiě)入至所述存儲(chǔ)單元的數(shù)據(jù)程序化所述存儲(chǔ)單元。
5. 如權(quán)利要求3所述的驗(yàn)證流程，其中該驗(yàn)證流程是于一預(yù)先程序化 后執(zhí)行，該預(yù)先程序化是于一擦除進(jìn)程中執(zhí)行。
6. 如權(quán)利要求3所述的驗(yàn)證流程，其中該驗(yàn)證流程是于一軟程序化后 執(zhí)行，該軟程序化用以改變存儲(chǔ)單元的臨界電壓的分布。
7. 如權(quán)利要求1所述的驗(yàn)證流程，其中該暫存存儲(chǔ)器為一隨機(jī)存取存 儲(chǔ)器。
8. 如權(quán)利要求1所述的驗(yàn)證流程，其中該暫存存儲(chǔ)器為一動(dòng)態(tài)隨機(jī)存 取存儲(chǔ)器。
全文摘要
一種驗(yàn)證流程，于變更一存儲(chǔ)器內(nèi)所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)后執(zhí)行，用以驗(yàn)證該存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)狀態(tài)是否正確。此一存儲(chǔ)器具有多個(gè)存儲(chǔ)單元陣列與一易失性存儲(chǔ)器。首先，讀取此易失性存儲(chǔ)器內(nèi)所儲(chǔ)存的存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)。此存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)用以指示這些存儲(chǔ)單元前次驗(yàn)證狀態(tài)為“已通過(guò)驗(yàn)證”或“未通過(guò)驗(yàn)證”。之后，根據(jù)存儲(chǔ)單元驗(yàn)證數(shù)據(jù)，僅對(duì)前次未通過(guò)驗(yàn)證的存儲(chǔ)單元執(zhí)行一驗(yàn)證程序，其余已通過(guò)驗(yàn)證的存儲(chǔ)單元不被執(zhí)行驗(yàn)證程序。
文檔編號(hào)G11C29/00GK101256839SQ20071012866
公開(kāi)日2008年9月3日 申請(qǐng)日期2007年7月9日 優(yōu)先權(quán)日2007年2月27日
發(fā)明者廖惇雨 申請(qǐng)人:旺宏電子股份有限公司