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      測試方法、測試裝置、電子裝置以及存儲介質(zhì)與流程

      文檔序號:40363128發(fā)布日期:2024-12-18 13:46閱讀:29來源:國知局
      測試方法、測試裝置、電子裝置以及存儲介質(zhì)與流程

      本公開的實施例涉及測試方法、測試裝置、電子裝置以及存儲介質(zhì)。


      背景技術:

      1、存儲器控制器通常用于控制計算機系統(tǒng)中的內(nèi)存模塊,例如負責管理內(nèi)存訪問、數(shù)據(jù)傳輸和地址解碼等功能。例如雙倍速率(ddr)控制器位于計算機系統(tǒng)總線和dram之間,負責指令解析、數(shù)據(jù)傳輸、時序匹配、功耗管理等。多顆同步動態(tài)隨機存儲器(dram)顆粒排布在雙列直插式存儲模塊(dimm)上組成內(nèi)存條。ddr控制器和dimm內(nèi)存條之間通過ddr端口物理層(ddr?phy)相連接。


      技術實現(xiàn)思路

      1、本公開的至少一實施例提供了一種測試方法,包括:經(jīng)由雙倍速率物理層接口與被測試設備進行數(shù)據(jù)通信以傳輸目標數(shù)據(jù);以及對目標數(shù)據(jù)進行讀寫處理,其中,目標數(shù)據(jù)用于執(zhí)行數(shù)據(jù)校驗以測試被測試設備的性能。

      2、本公開的至少一實施例提供了一種測試裝置,包括:數(shù)據(jù)通信單元,被配置為經(jīng)由雙倍速率物理層接口與被測試設備進行數(shù)據(jù)通信以傳輸目標數(shù)據(jù);以及讀寫單元,被配置為對目標數(shù)據(jù)進行讀寫處理,其中,目標數(shù)據(jù)用于執(zhí)行數(shù)據(jù)校驗以測試被測試設備的性能。

      3、本公開的至少一實施例提供了一種電子裝置,包括至少一個處理單元和存儲器;其中,存儲器存儲計算機可讀指令,且與至少一個處理單元通信連接;至少一個處理單元被配置為執(zhí)行存儲器存儲的計算機可讀指令,以實現(xiàn)根據(jù)本公開的至少一實施例的測試方法。

      4、本公開的至少一實施例提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì),其中,計算機可讀存儲介質(zhì)中存儲有計算機可讀指令,當處理器執(zhí)行計算機可讀指令時,實現(xiàn)根據(jù)本公開的至少一實施例的測試方法。



      技術特征:

      1.一種測試方法,包括:

      2.根據(jù)權利要求1所述的測試方法,其中,所述數(shù)據(jù)校驗包括循環(huán)冗余校驗。

      3.根據(jù)權利要求2所述的測試方法,其中,所述目標數(shù)據(jù)包括寫數(shù)據(jù)和所述寫數(shù)據(jù)的寫循環(huán)冗余校驗碼,

      4.根據(jù)權利要求3所述的測試方法,其中,基于所述寫數(shù)據(jù)和所述寫循環(huán)冗余校驗碼對所述寫數(shù)據(jù)執(zhí)行循環(huán)冗余校驗,包括:

      5.根據(jù)權利要求4所述的測試方法,其中,響應于數(shù)位關系映射是否使能,選擇性地對所述寫數(shù)據(jù)和所述寫循環(huán)冗余校驗碼分別進行正向數(shù)位關系映射轉(zhuǎn)換,以得到目標待處理數(shù)據(jù)和目標待處理循環(huán)冗余校驗碼,包括:

      6.根據(jù)權利要求4所述的測試方法,其中,響應于數(shù)位關系映射是否使能,選擇性地對所述寫數(shù)據(jù)和所述寫循環(huán)冗余校驗碼分別進行正向數(shù)位關系映射轉(zhuǎn)換,以得到目標待處理數(shù)據(jù)和目標待處理循環(huán)冗余校驗碼,包括:

      7.根據(jù)權利要求4所述的測試方法,還包括:

      8.根據(jù)權利要求4所述的測試方法,還包括:

      9.根據(jù)權利要求8所述的測試方法,其中,將所述寫數(shù)據(jù)存儲到所述數(shù)據(jù)存儲裝置,包括:

      10.根據(jù)權利要求2中所述的測試方法,其中,所述目標數(shù)據(jù)包括讀數(shù)據(jù)和所述讀數(shù)據(jù)的讀循環(huán)冗余校驗碼,

      11.根據(jù)權利要求10所述的測試方法,其中,生成所述讀數(shù)據(jù)和所述讀循環(huán)冗余校驗碼,包括:

      12.根據(jù)權利要求11所述的測試方法,其中,所述多個數(shù)據(jù)源包括執(zhí)行所述測試方法的測試裝置內(nèi)部的數(shù)據(jù)存儲裝置和隨機數(shù)據(jù)生成器。

      13.根據(jù)權利要求12所述的測試方法,其中,所述隨機數(shù)據(jù)生成器包括第一隨機數(shù)據(jù)生成器和第二隨機數(shù)據(jù)生成器,并且從多個數(shù)據(jù)源中選擇目標源數(shù)據(jù),包括:

      14.根據(jù)權利要求13所述的測試方法,其中,基于所述目標數(shù)據(jù)源的目標源數(shù)據(jù)獲得讀數(shù)據(jù)和所述讀數(shù)據(jù)的讀循環(huán)冗余校驗碼,包括:

      15.一種測試裝置,包括:

      16.根據(jù)權利要求15所述的測試裝置,其中,所述數(shù)據(jù)校驗包括循環(huán)冗余校驗,并且所述目標數(shù)據(jù)包括寫數(shù)據(jù)和所述寫數(shù)據(jù)的寫循環(huán)冗余校驗碼,

      17.根據(jù)權利要求16所述的測試裝置,其中,所述寫單元包括:

      18.根據(jù)權利要求15所述的測試裝置,其中,所述數(shù)據(jù)校驗包括循環(huán)冗余校驗,并且所述目標數(shù)據(jù)包括讀數(shù)據(jù)和所述讀數(shù)據(jù)的讀循環(huán)冗余校驗碼,

      19.根據(jù)權利要求18所述的測試裝置,其中,所述讀單元包括:

      20.根據(jù)權利要求19所述的測試裝置,其中,所述多個數(shù)據(jù)源包括所述測試裝置內(nèi)部的數(shù)據(jù)存儲裝置和第一隨機數(shù)據(jù)生成器和第二隨機數(shù)據(jù)生成器,并且所述目標數(shù)據(jù)源選擇單元包括:

      21.一種電子裝置,包括至少一個處理單元和存儲器;其中,

      22.一種計算機可讀存儲介質(zhì),其中,所述計算機可讀存儲介質(zhì)中存儲有計算機可讀指令,當處理器執(zhí)行所述計算機可讀指令時,實現(xiàn)根據(jù)權利要求1-14中任一項所述的測試方法。


      技術總結
      本公開的至少一實施例提供了測試方法、測試裝置、電子裝置以及存儲介質(zhì)。該測試方法包括:經(jīng)由雙倍速率物理層接口與被測試設備進行數(shù)據(jù)通信以傳輸目標數(shù)據(jù);以及對目標數(shù)據(jù)進行讀寫處理,其中,所述目標數(shù)據(jù)用于執(zhí)行數(shù)據(jù)校驗以測試所述被測試設備的性能。該測試方法可以擺脫對第三方指示產(chǎn)權(IP)供應商的依賴。

      技術研發(fā)人員:涂維政,齊睿,彭真,田維付
      受保護的技術使用者:海光信息技術股份有限公司
      技術研發(fā)日:
      技術公布日:2024/12/17
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