技術(shù)特征：

1.一種vpx陣列存儲卡轉(zhuǎn)接測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：轉(zhuǎn)接板、存儲系統(tǒng)上位機、調(diào)試機、硬盤陣列以及掉電保護電路；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述存儲系統(tǒng)上位機，具體用于如果所述第一數(shù)據(jù)與所述第二數(shù)據(jù)一致，則生成所述待測vpx陣列存儲卡正常的測試結(jié)果。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述存儲系統(tǒng)上位機，還用于如果所述第一數(shù)據(jù)與所述第二數(shù)據(jù)不一致，則生成所述待測vpx陣列存儲卡異常的測試結(jié)果。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述sata接口包括sata連接器，所述保護接口包括保護電路插針連接器、供電接口和信號接口，所述pcie接口包括pcie連接器，所述調(diào)試接口包括jtag接口、gpio接口、rs232接口以及調(diào)試插針連接器，所述vpx接口包括vpx連接器。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述轉(zhuǎn)接板還包括供電控制電路；所述掉電保護電路包括電源管理單元和延遲供電單元；

6.一種vpx陣列存儲卡轉(zhuǎn)接測試方法，其特征在于，所述方法應用于待測vpx陣列存儲卡轉(zhuǎn)接測試裝置，所述待測vpx陣列存儲卡轉(zhuǎn)接測試裝置包括：轉(zhuǎn)接板、存儲系統(tǒng)上位機、調(diào)試機、硬盤陣列以及掉電保護電路；所述轉(zhuǎn)接板包括sata接口、保護接口、pcie接口、調(diào)試接口和vpx接口；所述存儲系統(tǒng)上位機通過所述pcie接口與所述轉(zhuǎn)接板連接，所述調(diào)試機通過所述調(diào)試接口與所述轉(zhuǎn)接板連接，所述硬盤陣列通過所述sata接口與所述轉(zhuǎn)接板連接，所述掉電保護電路通過所述保護接口與所述轉(zhuǎn)接板連接；所述vpx接口用于與待測vpx陣列存儲卡連接；所述方法包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述通過比對第一數(shù)據(jù)和所述第二數(shù)據(jù)，對所述待測vpx陣列存儲卡進行測試，包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

9.一種計算設備，其特征在于，包括存儲器和處理器；

10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質(zhì)用于存儲計算機程序，所述計算機程序用于執(zhí)行如權(quán)利要求6至8任一項所述的方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請公開了一種VPX陣列存儲卡轉(zhuǎn)接測試裝置、方法、設備及存儲介質(zhì)，涉及測試技術(shù)領域，該包括：轉(zhuǎn)接板、存儲系統(tǒng)上位機、調(diào)試機、硬盤陣列以及掉電保護電路，其中，調(diào)試機通過調(diào)試接口對待測VPX陣列存儲卡中的存儲控制器進行程序加載，以使待測VPX陣列存儲卡運行，存儲系統(tǒng)上位機，用于在識別到待測VPX陣列存儲卡后，在待測VPX陣列存儲卡上生成虛擬陣列存儲空間，向虛擬陣列存儲空間的目標位置寫入第一數(shù)據(jù)，從虛擬陣列存儲空間的目標位置讀出第二數(shù)據(jù)，通過比對第一數(shù)據(jù)和所述第二數(shù)據(jù)，對待測VPX陣列存儲卡進行測試。該裝置能夠滿足前期快速測試需求。

技術(shù)研發(fā)人員：周津,仇旭東,何全,商綿友,張瀅
受保護的技術(shù)使用者：天津津航計算技術(shù)研究所
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19