專利名稱：光拾取頭轉(zhuǎn)換電路,光拾取頭以及裝有該電路的重放裝置的制作方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明涉及重放各種盤型記錄介質(zhì)的重放裝置，特別是其機殼位置以類似便攜和移動重放裝置的各種方式變化的重放裝置。
作為光盤記錄介質(zhì)，CD(壓縮光盤)和MD(小光盤)(這些作為商標登記)廣泛流行并使用在各種應用領域，如聲頻等。
在重放各種類型記錄介質(zhì)的盤重放裝置中，為了控制光點的跟蹤，設有雙軸機構(gòu)和滑板機構(gòu)，雙軸機構(gòu)用于根據(jù)跟蹤誤差信號驅(qū)動光拾取頭的物鏡，跟蹤誤差信號從表示如坑系和組等的軌跡導引信息的反射光束中獲得，而滑板機構(gòu)用于在盤徑向移動整個光拾取頭與盤面的相對位置。
作為滑板機構(gòu)，已知它們相對于盤移動整個光拾取頭和相對于固定在預定位置的光拾取頭移動其上安裝有盤的轉(zhuǎn)盤。而且，作為滑板機構(gòu)的控制系統(tǒng)，已提議通過低通濾波器從跟蹤誤差信號中提取低頻分量產(chǎn)生的滑板誤差信號，放大后供給滑板馬達作為滑板驅(qū)動信號。通過整個光拾取頭的雙軸機構(gòu)和光拾取頭，將滑板誤差信號轉(zhuǎn)換成表示用于跟蹤的驅(qū)動物鏡偏移的信號。
這里，

圖1示意性地表示安裝在如CD等盤的重放裝置光拾取頭中的相關技術(shù)的光模塊結(jié)構(gòu)的例子。
該圖中，光拾取頭的光模塊由半導體激光器81，準直透鏡82，偏轉(zhuǎn)光束分裂器83，物鏡84和光檢測器85構(gòu)成。例如，從半導體激光器81發(fā)出的激光束通過準直透鏡82而平行，然后通過偏轉(zhuǎn)光束分裂器83反射以便通過物鏡84照射盤1的記錄面。
激光束聚焦時，由設在盤1上的坑系反射的光束通過偏轉(zhuǎn)光束分裂器83，然后供給光檢測器85，以便在光檢測器85中提供盤1的坑系信息。
圖2顯示在盤1上形成的坑與點射束之間相對位置關系中的反射光束強度的分布原理。在盤1的坑系相對匹配點射束位置的所謂正確跟蹤狀態(tài)下，可在光檢測器84上獲得以(a)表示的反射光束。即，在光檢測器85上可獲得左右側(cè)具有相同強度分布的坑信息。
另外，如果盤1的坑位置相對偏離點射束，例如，當點射束位置在左側(cè)相對偏離坑系(非跟蹤狀態(tài))時，可在光檢測器85上獲得具有如圖中(b)所示的強度分布的坑信息，而當點射束位置在右側(cè)相對偏離坑系(非跟蹤狀態(tài))時，可在光檢測器85上獲得具有如圖中(c)所示的強度分布的坑信息。
即，當設在盤1上的坑與點射束的位置在跟蹤方向相對偏離時，在光檢測器85上可獲得左右側(cè)具有不同強度分布的坑信息。
在光檢測器85上獲得的坑信息左右側(cè)強度分布差中獲得的電壓差供給雙軸機構(gòu)以便作為跟蹤誤差信號而驅(qū)動物鏡84，提取該跟蹤誤差信號的低頻分量以產(chǎn)生滑板誤差信號且隨后將其供給移動整個光拾取頭的滑板機構(gòu)，以便將光拾取頭的跟蹤控制到ON-跟蹤狀態(tài)。檢測這種跟蹤誤差信號的方法通常稱為推挽法而在本發(fā)明的說明書中由此推挽法得到的跟蹤誤差信號稱為推挽誤差信號。
另外，由圖1所示的推挽法控制重放裝置的跟蹤時，如果因跟蹤伺服操作等原因，光拾取頭的物鏡84在圖1中虛線所示的水平方向(跟蹤方向)移動，在光檢測器85上獲得的反射光束也在虛線所示的跟蹤方向移動。
所以，即使在正確跟蹤狀態(tài)下，從在光檢測器85上獲得的坑信息中產(chǎn)生的推挽誤差信號包括取決于物鏡84的移動的直流偏移電壓，于是產(chǎn)生該直流偏移電壓不能精確跟蹤控制的問題。
為了解決這個問題，已提出了稱為頂保持推挽法的檢測方法。在該方法中，消除用于檢測跟蹤誤差信號的直流偏移電壓后，檢測跟蹤誤差信號。這種頂保持推挽(TPP)法已在本發(fā)明的同一申請人提交的日本公開專利HE14-23234(1990，5，18申請)中公開。在該申請中，設有用于消除推挽誤差信號中所包括的直流偏移電壓的直流偏移消除電路，以便在消除直流偏移電壓后獲得跟蹤誤差信號。由此，通過消除在光拾取頭的物鏡84的跟蹤方向上的移動操作的影響，可實現(xiàn)精確跟蹤控制。在有關技術(shù)中，通過提取由上述頂保持推挽法獲得的跟蹤誤差信號的低頻分量，已產(chǎn)生滑板誤差信號。
通常，由于重放如CD或MD的盤的重放裝置限定在安裝空間內(nèi)，希望裝置可直立或水平安裝且體積小。不管直立或水平安裝，都要求重放裝置光拾取頭中的光模塊(至少物鏡)能可靠保持且形成雙軸機構(gòu)的臂在跟蹤方向(水平方向)從不因其重力而移動。即，例如，如果重放裝置直立安裝，最好如圖3A所示，盤1直立放置，光拾取頭90的滑板軸91直立設置并設置保持光拾取頭90的物鏡84的臂85以在對角線越過滑板軸91，于是在物鏡84的跟蹤方向中的位置決不受其重力的影響。
但是，這種情況下，由于沿盤1徑向移動光拾取頭90的滑板機構(gòu)大于圖3A陰影區(qū)所表示的盤1的外形，因而妨礙減小重放裝置的體積。
所以，當滑板機構(gòu)傾斜設置時，例如，如圖3B所示，滑板機構(gòu)容納在內(nèi)側(cè)，與圖3A相比，可減小重放裝置尺寸ΔI。但是，由于保持物鏡84的滑板軸91也傾斜，臂85因其自重而偏移且物鏡84在未實現(xiàn)跟蹤伺服的中性狀態(tài)下在跟蹤方向(水平方向)偏移。
在滑板機構(gòu)如圖3B所示傾斜的重放裝置中，通過頂推挽法獲得跟蹤誤差信號的情況下，可消除表示因物鏡84的重力而偏移的量的直流偏移電壓。所以，如圖4B示意性顯示的，保持物鏡84的臂85不回至實際機械中心(下稱機心)，且因此臂85因其重力而偏移至盤1的外或內(nèi)邊側(cè)。
當光拾取頭90的整個光模塊84如上所述偏移至盤1的外或內(nèi)邊側(cè)時，關于如圖11A所示的重放RF信號的峰峰電平和抖動分量表示的可視區(qū)，因為隨著鏡的運動，所重放的RF信號的峰峰電平降低而抖動分量增加，所以重放的RF信號惡化。結(jié)果，用盤重放裝置重放盤時，存在防振性能惡化或RF信號的S/N比惡化從而產(chǎn)生噪音的問題，防振性能由所施加的表示不產(chǎn)生磁道跳越的極限的振動頻率表示。
本發(fā)明針對上述問題而提出，因此本發(fā)明目的是提供能實現(xiàn)減小體積而不惡化防振性能的重放裝置，特別是提供光拾取頭轉(zhuǎn)換電路，包括第一包絡檢測器，用于保持來自光接收裝置中的第一光接收件的已接收光束輸出信號，光接收裝置由多個光接收件形成，用于以從物鏡發(fā)出的光束照射光盤并接收從光盤反射的光束；第一差動放大器，用于取得來自第一包絡檢測器的保持輸出與來自第一光檢測件的接收輸出信號之間的差；第二包絡檢測器，用于保持來自光接收裝置的另一光接收件的接收輸出信號；第二差動放大器，用于取得第二包絡檢測器的保持輸出與來自第二光接收件的光接收輸出信號之間的差；跟蹤誤差信號產(chǎn)生器，通過獲得第一差動放大器的差動輸出與第二差動放大器的差動輸出之間的差，產(chǎn)生表示在物鏡和光盤的徑向上的相對移動的跟蹤誤差信號；以及滑板誤差信號產(chǎn)生器，通過獲得來自光接收裝置的第一光接收件的光接收輸出信號與來自光接收裝置的另一光接收件的光接收輸出信號之間的差，產(chǎn)生在光盤的徑向相對移動整個光拾取頭的滑板誤差信號。
而且，本發(fā)明還提供含有該光拾取頭轉(zhuǎn)換電路的光拾取頭和重放裝置。
通過下面結(jié)合附圖對優(yōu)選實施例的詳細描述，本發(fā)明的其它目的和優(yōu)點將更清楚，其中圖1是有關技術(shù)的光傳感裝置內(nèi)側(cè)的結(jié)構(gòu)圖；圖2顯示在光傳感裝置的光檢測器上接收反射光束時的光接收方式，反射光束通過將光束發(fā)射到預先刻在盤上的坑系而獲得；圖3A表示安裝直立安裝的重放裝置的光傳感裝置的機械裝置與盤之間的關系；圖3B是顯示在直立安裝的重放裝置中安裝光傳感裝置且與圖3A相比減小突出部分的機械裝置與盤之間關系的配置；圖4A顯示隨著透鏡的運動重放RF信號電平和抖動值的變化；圖4B是表示物鏡可視區(qū)范圍的示意圖；圖5是應用本發(fā)明的交換型盤重放裝置的總方框圖；圖6是應用本發(fā)明的光傳感裝置內(nèi)側(cè)的結(jié)構(gòu)圖；圖7是應用本發(fā)明的光傳感裝置內(nèi)側(cè)的結(jié)構(gòu)圖；圖8是應用本發(fā)明的激光耦合器內(nèi)側(cè)的結(jié)構(gòu)圖；圖9是應用本發(fā)明的光接收部件的結(jié)構(gòu)圖；圖10是應用本發(fā)明的跟蹤誤差信號TE1和滑板誤差信號TE2發(fā)生電路的方框圖；圖11是顯示采用本發(fā)明光拾取頭轉(zhuǎn)換電路的重放裝置與采用有關技術(shù)光拾取頭轉(zhuǎn)換電路的重放裝置的抗震性能比較結(jié)果的圖。
圖5是設有作為本發(fā)明優(yōu)選實施例的交換器功能的用于如CD的盤的重放裝置方框圖。
盤1由主軸馬達(M)2驅(qū)動旋轉(zhuǎn)。這種狀態(tài)下，通過光拾取頭3可讀出信息。光拾取頭3發(fā)射激光至盤1且從反射光束可讀出所記錄的信息，例如盤1上坑狀態(tài)中的。
光拾取頭3包括光系統(tǒng)，作為激光輸出端的物鏡34和用于檢測反射光束的光檢測器37，光系統(tǒng)由用于從盤1讀數(shù)據(jù)的、后面描述的作為激光輸出裝置的激光二極管31，偏轉(zhuǎn)光束分裂器和1/4波長板構(gòu)成，同時通過雙軸機構(gòu)4將物鏡34保持在盤徑向(跟蹤方向)和接近與遠離盤的方向(聚焦方向)的兩方向移動。而且，通過滑板機構(gòu)5，整個光拾取頭3可在盤1的徑向移動。
利用光拾取頭3由重放操作從盤1中檢測出的信息供給RF放大器/運算單元6。RF放大器/運算單元6利用所提供的信息對所重放的RF信號，跟蹤誤差信號TE1、TE2，以及聚焦誤差信號FE等進行運算處理。
然后由RF放大器/運算單元6獲得的跟蹤誤差信號TE1、TE2和聚焦誤差信號FE供給伺服處理器7。伺服處理器7根據(jù)聚焦誤差信號TE產(chǎn)生，如作為PWM已調(diào)制信號的伺服信號，且然后將該伺服信號供給伺服驅(qū)動器8。伺服驅(qū)動器8根據(jù)所供給的PWM已調(diào)制信號，產(chǎn)生聚焦驅(qū)動信號FD，并隨后將該信號傳給雙軸機構(gòu)4的聚焦線圈。即，由聚焦誤差信號FE控制物鏡在聚焦方向的驅(qū)動。
伺服處理器7根據(jù)跟蹤誤差信號TE1，產(chǎn)生作為PWM已調(diào)制信號的伺服信號，并隨后將該信號供給伺服驅(qū)動器8。伺服驅(qū)動器8根據(jù)所供給的PWM已調(diào)制信號，產(chǎn)生跟蹤驅(qū)動信號TD，并隨后將該信號傳給雙軸機構(gòu)4的跟蹤線圈。即，在雙軸機構(gòu)4中根據(jù)跟蹤誤差信號TE1控制物鏡在跟蹤方向的驅(qū)動。
而且，伺服處理器7利用跟蹤誤差信號TE2的電頻分量，產(chǎn)生作為PWM已調(diào)制信號的滑板伺服信號，并隨后將該信號供給伺服驅(qū)動器8。伺服驅(qū)動器8根據(jù)所供給的PWM已調(diào)制信號，產(chǎn)生滑板驅(qū)動信號SLD，以便驅(qū)動滑板機構(gòu)5。
另外，根據(jù)來自譯碼器9的主軸誤差信號SPE和來自系統(tǒng)控制器12的主軸急沖與主軸制動指令等，伺服處理器7產(chǎn)生主軸伺服信號并隨后將該主軸伺服信號供給伺服驅(qū)動器8。伺服驅(qū)動器8根據(jù)主軸伺服信號將主軸驅(qū)動信號SPD傳給主軸馬達2。于是，在主軸馬達2的旋轉(zhuǎn)期間可進行旋轉(zhuǎn)和停止以及恒定線速度(CLV)控制。
在該優(yōu)選實施例的重放裝置中，設定RF放大器/運算單元6和伺服處理器7用IC等整體構(gòu)成。
同時，由RF放大器/運算單元6提取的重放RF信號供給譯碼器9且在譯碼器9中對所供給的重放RF信號進行如EFM解調(diào)(8-14解調(diào))和CIRC譯碼(交叉隔行里德-索洛蒙譯碼)的處理，然后在主控制器10的控制下，再次將重放RF信號存儲在緩沖存儲器11中。在預定時限內(nèi)從緩沖存儲器11讀出的數(shù)字音頻數(shù)據(jù)由D/A轉(zhuǎn)換器12轉(zhuǎn)換為模擬信號，從端子13供給預定放大電路且隨后作為輸出而重放，如作為左右信道的音頻信號。例如，緩沖存儲器11可由具有用于存儲約4秒的作為重放音頻信號的數(shù)字音頻數(shù)據(jù)的容量的D-RAM(動態(tài)隨機存取存儲器)構(gòu)成。
譯碼器9提取子碼信息，即與音頻數(shù)據(jù)一起記錄在盤1上的TOC(內(nèi)容表)和地址數(shù)據(jù)，然后將這些數(shù)據(jù)供給系統(tǒng)控制器14。而且，通過將EFM信號供給PLL(鎖相環(huán))電路而產(chǎn)生與重放數(shù)據(jù)同步的重放時鐘并用于如譯碼等的各種處理。但是，由于該重放時鐘與盤旋轉(zhuǎn)速度同步，將重放時鐘與從主時鐘產(chǎn)生的基準時鐘相比較以獲得作為差信號的主軸誤差信號SPE。然后將該主軸誤差信號SPE供給伺服處理器7。
系統(tǒng)控制器14由微機構(gòu)成以控制各種電路并提供主時鐘。除了上述控制外，還可對伺服處理器7進行設定與改變每一伺服增益。
多片盤1可以裝在盤箱21內(nèi)，由傳送機構(gòu)20選擇某一片盤并隨后裝載至用光拾取頭3重放的位置。
這里，參照附圖6至9說明設在本發(fā)明優(yōu)選實施例的重放裝置中的光拾取頭3的結(jié)構(gòu)。
圖6是光拾取頭3的平面圖，它由激光源31，偏轉(zhuǎn)光束分裂器32，1/2波長板33，物鏡34，聚光鏡35，柱面透鏡36和光檢測器37構(gòu)成。與圖1所示的有關技術(shù)光拾取頭相比，上述構(gòu)造的光拾取頭3允許取消準直透鏡，從而整個光拾取頭3的體積減小。
下面參照附圖7說明光拾取頭3結(jié)構(gòu)的實例。圖7中，激光耦合器40包括激光源31，偏轉(zhuǎn)光束分裂器32和圖6中所示的并安裝在同一硅基片上的光檢測器37，用于偏轉(zhuǎn)從該激光耦合器40發(fā)出的光的光軸O-O’的硅鏡41，42的耦合，聚光從硅鏡42反射的光而后將光束發(fā)射至盤1的記錄面1a的物鏡34和1/2波長板33，該1/2波長板33位于激光耦合器40與盤1之間且具有區(qū)域33a，33b，區(qū)域33a，33b在垂直光軸O-O’的平面處至少分成兩區(qū)域，在這些區(qū)域中產(chǎn)生不同光軸。
例如，如圖8所示，激光耦合器40包括設在硅基片51上的激光源31，具有沿激光源31與圖7所示的物鏡34之間的光軸O-O’而設置的偏轉(zhuǎn)面以隔離由盤1記錄面1a反射的反射光束的預定偏轉(zhuǎn)分量并產(chǎn)生聚焦誤差信號FE的微棱鏡52，以及在離硅基片51上形成的聚焦點距離相等的位置分別檢測光量的光檢測器53，54。
光檢測器53，54的光接收區(qū)分別分成四個區(qū)53a，53b，53c，53d和四個區(qū)54a，54b，54c，54d，例如，如圖9所示。于是，在垂直越過1/2波長板33的光軸O-O’的平面，在至少分成兩部分的這些區(qū)域——如在分成兩部分的區(qū)域33a，33b—的光軸設定于不同角度，且將微棱鏡52的面52a的P波與S波的反射率分別設為0％與100％，使已通過來自激光源31的輸出光束的1/2波長板33的第一區(qū)域33a且由盤1的記錄面1a已反射的反射光束通過1/2波長板33的第二區(qū)域33b，且已通過來自激光源31的輸出光束的1/2波長板33的第二區(qū)域33b且由盤1的記錄面1a已反射的反射光束通過1/2波長板33的第一區(qū)域33a。
在圖9所示的光檢測器53的區(qū)53a，53b，53c，53d和光檢測器54的區(qū)54a，54b，54c，54d中分別檢測的反射光束供給RF放大器/運算單元6并由此可提取重放RF信號，跟蹤誤差信號TE1、TE2和聚焦誤差信號FE等。
圖10顯示用于控制由IC形成的RF放大器/運算單元6和伺服處理器7的電路結(jié)構(gòu)之中的跟蹤的跟蹤控制電路方框的結(jié)構(gòu)實例。在光檢測器53的區(qū)53a，53b，53c，53d和光檢測器54的區(qū)54a，54b，54c，54d中檢測的電流信號分別供給設在各區(qū)中的電流-電壓轉(zhuǎn)換器55(下稱“I-V轉(zhuǎn)換器”)。例如，在光檢測器53的區(qū)53a中檢測的電流信號轉(zhuǎn)換成電壓信號A1，同時分別將在區(qū)53c中檢測的電流信號轉(zhuǎn)換成電壓信號A3，在區(qū)53d中檢測的電流信號轉(zhuǎn)換成電壓信號A4且在區(qū)53b中檢測的電流信號轉(zhuǎn)換成電壓信號A2。另外，在光檢測器54的區(qū)54a中檢測的電流信號轉(zhuǎn)換成電壓信號B1，同時分別將在區(qū)54c中檢測的電流信號轉(zhuǎn)換成電壓信號B3，在區(qū)54d中檢測的電流信號轉(zhuǎn)換成電壓信號B4且在區(qū)54b中檢測的電流信號轉(zhuǎn)換成電壓信號B2，并隨后輸出這些信號。
加法放大器56由加法器56a，56b，56c，56d構(gòu)成。在加法器56a中，由I-V轉(zhuǎn)換器55轉(zhuǎn)換的電壓信號A1，A2，B3，B4相加并輸出作為PD1信號，同時在加法器56b中，來自I-V轉(zhuǎn)換器55的電壓信號A3，A4，B1，B2相加并輸出作為PD2信號。根據(jù)這些PD1信號和PD2信號產(chǎn)生重放RF信號和聚焦誤差信號FE等并輸出。例如，通過PD1信號與PD2信號相加得到重放RF信號，而根據(jù)PD1信號與PD2信號之差產(chǎn)生聚焦誤差信號。
另外，加法器56c輸出推挽信號E，該信號通過將來自I-V轉(zhuǎn)換器55的電壓信號A2，A4，B1，B3相加而得到，同時加法器56d通過將來自I-V轉(zhuǎn)換器55的電壓信號A1，A3，B2，B4相加而輸出推挽信號F。這些推挽信號E和推挽信號F設為包括光拾取頭3的物鏡34在跟蹤方向移動時產(chǎn)生的直流偏移電壓。這些推挽信號E，F(xiàn)分別供給保持電路57a，57b。于是，保持峰電壓且將以預定系數(shù)(例如，0.8)放大峰電壓而得到的電壓信號T1，T2供給放大器58a，58b的一個終端。
從保持電路57a，57b輸出的電壓信號T1，T2和從加法放大器56c，56d輸出的推挽信號E，F(xiàn)分別輸入至放大器58a，58b。放大器58a輸出來自保持電路57a的電壓信號T1與來自加法放大器56c的推挽誤差信號E之間的電壓差，且放大器58b輸出來自保持電路57b的電壓信號T2與來自加法放大器56d的推挽誤差信號F之間的電壓差。結(jié)果，放大器58a，58b分別輸出頂保持推挽信號TPPE，TPPF，其中消除了推挽誤差信號E，F(xiàn)所含的直流偏移電壓。本發(fā)明的TPP電路可由保持電路57a，57b和放大器58a，58b，58c構(gòu)成。
放大器58c輸出從放大器58a，58b輸出的頂保持推挽信號TPPE，TPPF之間的電壓差，作為跟蹤誤差信號TE1。
于是，跟蹤誤差信號TE1供給雙軸機構(gòu)4以控制物鏡34。因此，如果物鏡34在水平方向(跟蹤方向)移動，根據(jù)移動量可消除直流偏移電壓，于是雙軸機構(gòu)4可精確控制跟蹤。
另外，在該優(yōu)選實施例中，從加法放大器56c輸出的推挽信號E和從加法放大器56d輸出的推挽信號F供給放大器58d，且放大器58d輸出電壓差作為跟蹤誤差信號TE2。利用未示出的低通濾波器，從含有直流偏移電壓的跟蹤誤差信號TE2中提取低頻分量(2Hz至3Hz或更低)，以產(chǎn)生滑板誤差信號。
于是，當滑板誤差信號供給滑板機構(gòu)5以控制整個光拾取頭3的跟蹤時，即使形成雙軸機構(gòu)4以保持物鏡34的臂因其重力在跟蹤方向移動，也可根據(jù)移動量由加了直流偏移電壓的滑板誤差信號控制滑板機構(gòu)5。因此，光拾取頭3可回到實際機心。
結(jié)果，在可視區(qū)維持良好改進狀態(tài)的同時能實現(xiàn)重放操作，且即使如圖3B所示，以一定傾斜角設置重放裝置的光拾取頭時，由圖11中虛線表示的有關技術(shù)的防振性能可改進為圖11中實線所示。即，即使在以一定傾斜角設置光拾取頭時，也可獲得幾乎等于光拾取頭3垂直設置時的防振性能。因此，現(xiàn)在能以一定傾斜角度設置重放裝置的光拾取頭，整個重放裝置可減小體積。
如上所述，本發(fā)明的重放裝置設有跟蹤控制信號產(chǎn)生裝置，它能產(chǎn)生控制物鏡移動的第一跟蹤控制信號和提取滑板控制信號以控制光拾取頭移動的第二跟蹤控制信號。這里，產(chǎn)生第一跟蹤控制信號，作為對應于物鏡的移動不包括直流偏移電壓的信號，同時第二跟蹤控制信號作為對應于物鏡的移動包括直流偏移電壓的信號。于是，即使以一定傾斜角設置光拾取頭，也可防止防止性能惡化。結(jié)果，現(xiàn)在能以一定傾斜角設置光拾取頭且重放裝置的體積可減小。
權(quán)利要求
1.一種光拾取頭轉(zhuǎn)換電路，包括第一保持裝置，用于保持來自多個光檢測件形成的光檢測器的一個光檢測件的接收光輸出信號，將從物鏡發(fā)出的光束射至光盤并接收從所述光盤反射的光束；第一差動放大器，用于取得所述第一保持裝置的保持輸出與來自所述第一光檢測件的光接收輸出信號之間的差；第二保持裝置，用于保持來自所述光檢測器的另一光檢測件的光接收輸出信號；第二差動放大器，用于取得來自所述第二保持裝置的保持輸出與來自所述第二光檢測件的光接收輸出信號之間的差；跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置，通過獲得所述第一差動放大器的差動輸出與所述第二差動放大器的差動輸出之間的差，產(chǎn)生表示在所述物鏡和光盤的徑向上的相對移動量的跟蹤誤差信號；以及滑板誤差產(chǎn)生裝置，通過獲得來自所述光檢測器的第一光檢測件的光接收輸出信號與來自所述光檢測器的另一光檢測件的光接收輸出信號之間的差，產(chǎn)生在所述光盤的徑向相對移動整個光拾取頭的滑板誤差信號。
2.一種光拾取頭裝置，包括多個光檢測件形成的光檢測器，用于將從物鏡發(fā)出的光束射至光盤并接收從所述光盤反射的光束；第一保持裝置，用于保持來自所述光檢測器的光檢測件的光接收輸出信號；第一差動放大器，用于取得來自所述第一保持裝置的保持輸出與來自所述第一光檢測件的光接收輸出信號之間的差；第二保持裝置，用于保持來自所述光檢測器的另一光檢測件的光接收輸出信號；第二差動放大器，用于取得來自所述第二保持裝置的保持輸出與來自所述第二光檢測件的光接收輸出之間的差；跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置，通過獲得所述第一差動放大器的差動輸出與所述第二差動放大器的差動輸出之間的差，產(chǎn)生表示在所述物鏡和光盤的徑向上的相對移動的跟蹤誤差信號；以及滑板誤差信號產(chǎn)生裝置，通過獲得來自所述光檢測器的第一光檢測件的光接收輸出信號與來自所述光檢測器的另一光檢測件的光接收輸出信號之間的差，產(chǎn)生用于在所述光盤的徑向相對移動整個光拾取頭的滑板誤差信號。
3.一種重放裝置，包括多個光檢測件形成的光檢測器，用于將從物鏡發(fā)出的光束射至光盤并接收從所述光盤反射的光束；第一保持裝置，用于保持來自所述光檢測器的第一光檢測件的光接收輸出信號；第一差動放大器，用于取得來自所述第一保持裝置的保持輸出與來自所述第一光檢測件的光接收輸出信號之間的差；第二保持裝置，用于保持來自所述光檢測器的另一光檢測件的光接收輸出信號；第二差動放大器，用于取得來自所述第二保持裝置的保持輸出與來自所述第二光檢測件的光接收輸出信號之間的差；跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置，通過獲得所述第一差動放大器的差動輸出與所述第二差動放大器的差動輸出之間的差，產(chǎn)生表示在所述物鏡和所述光盤的徑向上的相對移動的跟蹤誤差信號；滑板誤差信號產(chǎn)生裝置，通過獲得來自所述光檢測器的第一光檢測件的光接收輸出信號與來自所述光檢測器的另一光檢測件的光接收輸出信號之間的差，產(chǎn)生用于在所述光盤的徑向相對移動整個光拾取頭的滑板誤差信號；第一驅(qū)動裝置，用于根據(jù)由所述跟蹤誤差信號產(chǎn)生裝置產(chǎn)生的跟蹤誤差信號，在所述光盤的徑向相對移動所述物鏡；以及第二驅(qū)動裝置，用于根據(jù)由所述滑板誤差信號產(chǎn)生裝置產(chǎn)生的滑板誤差信號，在所述光盤的徑向相對移動所述光拾取頭。
全文摘要
在有關技術(shù)的光拾取頭轉(zhuǎn)換電路中,僅通過低通濾波器產(chǎn)生的滑板誤差信號已用作跟蹤誤差信號,但是,本發(fā)明提供便攜式重放裝置,它能根據(jù)由于帶有滑板饋送機構(gòu)的重放裝置的狀態(tài)變化而產(chǎn)生的物鏡移動,補償直流分量,不會因直立或水平安裝而引起重放性能的惡化,并在振動性能上實現(xiàn)較大改進,因為根據(jù)物鏡的移動,消除直流分量的信號用作跟蹤誤差信號且己根據(jù)尚未消除直流分量的信號產(chǎn)生了滑板誤差信號。
文檔編號G11B7/09GK1180889SQ9712277
公開日1998年5月6日 申請日期1997年10月4日 優(yōu)先權(quán)日1996年10月4日
發(fā)明者黑巖仁 申請人:索尼株式會社