專利名稱：檢查裝置的插口的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及檢查裝置的插口。
背景技術(shù)：
通常，在組裝步驟中封裝的半導(dǎo)體設(shè)備產(chǎn)品，例如IC或LSI(大規(guī)模集成電路)需檢查電氣特征，且僅確定無故障的產(chǎn)品可以運輸出去。在用于檢查半導(dǎo)體設(shè)備的電氣特征的半導(dǎo)體檢查裝置中，封裝的半導(dǎo)體設(shè)備產(chǎn)品的端子經(jīng)由半導(dǎo)體檢查裝置的插口而連接到具有檢查電路的檢查電路板，例如，日本專利申請案第2003-84047號中所揭示的。
圖7是檢查裝置的常規(guī)插口的橫截面圖。
在圖7中，參考數(shù)字301顯示半導(dǎo)體檢查裝置的插口。所述插口使封裝的半導(dǎo)體設(shè)備302的端子302a電連接到檢查電路板303的各自的電極303a，其中所述檢查電路板303連接到未圖示的半導(dǎo)體檢查裝置，藉此，檢查半導(dǎo)體設(shè)備302的電氣特征。
檢查裝置301的半導(dǎo)體插口包括例如樹脂的絕緣材料制成的外殼311，所述外殼包括多個檢查孔，其以預(yù)定的間隔定位以對應(yīng)于半導(dǎo)體設(shè)備302的端子302a。在每個所述檢查孔中容納一探針。一般被稱作彈簧針(pogopin)或彈簧探針(spring probe)的探針具有由導(dǎo)電材料制成的導(dǎo)向管312，和由導(dǎo)電材料制成的并分別從其下端和上端插入導(dǎo)向管312中的第一和第二探針腳315和316。未圖示的彈簧安置在導(dǎo)向管312內(nèi)以介于所述第一和第二探針腳315和316之間。因為彈簧可延長和收縮，所以第一與第二探針腳315和316之間的距離會改變，且因此整個探針可延長和收縮。因而，即使當(dāng)半導(dǎo)體設(shè)備302的下表面或檢查電路板303的上表面具有扭曲時，探針可通過延長或收縮來吸收扭曲，進(jìn)而使半導(dǎo)體設(shè)備302的端子302a和檢查電路板303的電極303a彼此電連接。
檢查裝置301的半導(dǎo)體插口包括安置在第一探針腳315與檢查電路板303之間的導(dǎo)電片317。導(dǎo)電片317包括彈片317a，其由樹脂制成且其中含有一定數(shù)目的小導(dǎo)電球；第一電極317b，其形成在彈片317a的一個表面上且其會與各自的第一探針腳315接觸；和第二電極317c，其形成在彈片317a的另一表面上，且其會與檢查電路板303的各自的電極303a接觸。
然而，在常規(guī)的檢查裝置301的半導(dǎo)體插口中，因為每個探針由導(dǎo)向管312、第一和第二探針腳315和316、和彈簧組成，所以探針的結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜，從而導(dǎo)致較高的生產(chǎn)成本。另外，因為探針具有其中彈簧安置在第一與第二探針腳315與316之間的結(jié)構(gòu)，所以探針的長度不得小于3到5mm，且因此電氣通道變得較長，從而使電氣特征(包括探針的阻抗)劣化。另外，因為與半導(dǎo)體設(shè)備302的各自的端子302a接觸的第二探針腳316的頂端是尖的，所以會損壞端子302a。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是解決檢查裝置的常規(guī)插口中存在的上述問題，并提供包括連接端子的檢查裝置的可靠插口，每個連接端子是通過彎曲細(xì)長部件而形成的，從而可彈性變形，所述連接端子被固持在各自的端子接收孔中，所述端子接收孔延伸穿過板狀外殼，從而可在垂直方向上移動。檢查裝置的所述插口可吸收受檢查設(shè)備、所述外殼或檢查電路板的變形；具有能降低成本的簡單結(jié)構(gòu)；具有改進(jìn)插口電氣特征的減小的電氣通道長度；且不損壞受檢查設(shè)備的端子。
為了實現(xiàn)上述目的，檢查裝置的插口包括板狀外殼和連接到外殼的連接端子；外殼的第一主表面，其面向包括安置在表面上的端子的受檢查設(shè)備的表面；外殼的第二主表面，其面向包括安置在表面上的電極的檢查電路板的表面；連接端子電連接受檢查設(shè)備的端子和檢查電路板的電極。所述外殼包括端子接收孔，所述端子接收孔在外殼的厚度方向上延伸穿過所述外殼以用于接收連接端子。每個連接端子是可彈性變形的單片部件，其是通過彎曲細(xì)長部件而形成的，且被固持在對應(yīng)的端子接收孔中，從而可在外殼的厚度方向上移動。
每個端子接收孔優(yōu)選包括接收受檢查物體的端子的部分，其在外殼的第一主表面上形成以用于接收受檢查設(shè)備的對應(yīng)端子。
受檢查設(shè)備的端子優(yōu)選是焊球，且每個接收受檢查物體的端子的部分呈現(xiàn)錐形，所述錐形的直徑朝著遠(yuǎn)離外殼的第一主表面的方向而減小。
每個連接端子優(yōu)選整體呈S狀，且包括受檢查物體側(cè)的接觸部分，其位于外殼的第一主表面附近且與受檢查設(shè)備的相應(yīng)端子接觸；和檢查電路側(cè)的接觸部分，其與檢查電路板的相應(yīng)電極接觸。
每個端子接收孔優(yōu)選包括突出壁，其在垂直于外殼的厚度方向的方向上突出；每個連接端子包括突出部分，其在與突出壁的突出方向相對的方向上突出；且突出部分嚙合突出壁，進(jìn)而防止連接端子脫離端子接收孔。
根據(jù)本發(fā)明的檢查裝置的插口包括連接端子，每個連接端子是通過彎曲細(xì)長的部件而形成的，從而可彈性變形，所述連接端子被固持在各自的端子接收孔中，所述端子接收孔延伸穿過板狀外殼，從而可在垂直方向上移動。檢查裝置的插口可吸收受檢查設(shè)備、外殼或檢查電路板的變形；具有能降低成本的簡單結(jié)構(gòu)；具有改進(jìn)插口電氣特征的減小的電氣通道長度；且不損壞受檢查設(shè)備的端子，從而提高了檢查裝置的插口的可靠性。


圖1A到圖1C是根據(jù)本發(fā)明的實施例的檢查裝置的插口的透視圖，顯示插口的使用狀態(tài)。
圖2A到圖2B是根據(jù)實施例的檢查裝置的插口的部分橫截面圖，顯示其使用狀態(tài)。
圖3A到圖3D是根據(jù)實施例顯示檢查裝置的插口結(jié)構(gòu)的圖。
圖4A到圖4D是與實施例相關(guān)的圖，且顯示接收連接端子的端子接收孔的結(jié)構(gòu)。
圖5A到圖5D是根據(jù)實施例的橫截面圖，且顯示將待檢查的設(shè)備經(jīng)由檢查裝置的插口安裝到檢查電路板的操作。
圖6A到圖6E是根據(jù)實施例的橫截面圖，且顯示將連接端子安裝到檢查裝置的插口的外殼的操作。
圖7是常規(guī)的檢查裝置的插口的橫截面圖。
具體實施例方式
接下來將參考圖式詳細(xì)描述本發(fā)明的實施例圖1A到圖1C是根據(jù)本發(fā)明的實施例的檢查裝置的插口的透視圖，顯示插口的使用狀態(tài)；且圖2A到圖2B是根據(jù)實施例的檢查裝置的插口的部分橫截面圖，顯示其使用狀態(tài)。詳細(xì)來說，圖1A顯示待檢查的設(shè)備(下文稱作“受檢查設(shè)備”)經(jīng)由檢查裝置的插口而連接到檢查電路板的狀態(tài)；圖1B顯示出于說明目的而分離受檢查設(shè)備和檢查裝置的插口的狀態(tài)；且圖1C是圖1B的部分放大圖。圖2B是顯示受檢查設(shè)備經(jīng)由檢查裝置的插口而連接到檢查電路板的狀態(tài)；且圖2A是圖2B的部分放大圖。
在圖1A到圖1C中，參考數(shù)字10表示根據(jù)本發(fā)明的實施例的檢查裝置的插口。檢查裝置的插口具有板狀外殼(基板)11，其整體是正方形或矩形狀。外殼11具有安裝孔12，來允許未圖示的安裝部件(例如螺栓)從中通過。外殼11安裝到檢查電路板50，使得外殼11的第一主表面面向包括其上安置端子的受檢查設(shè)備的表面，且使得外殼11的第二主表面面向包括其上安置電極的檢查電路板50的表面。檢查裝置的插口10用于檢查受檢查設(shè)備40的電氣特征。受檢查設(shè)備40(例如IC或LSI的半導(dǎo)體設(shè)備)可以是任何類型的電氣或電子設(shè)備，只要受檢查設(shè)備40具有在其一個表面上安置的端子。端子可以是具有任何形式的端子，包括焊球、平板電極襯墊、細(xì)長的板導(dǎo)線和針狀的電極針腳。在本實施例中，受檢查設(shè)備40是半導(dǎo)體設(shè)備，其包括其背面上的作為端子的多個烊球41。
檢查電路板50連接到未圖示的半導(dǎo)體檢查裝置，并安裝到(例如)檢查臺。外殼11可直接安裝到檢查電路板50，或可經(jīng)由例如安裝框架的安裝構(gòu)件安裝到其中。安裝孔12在需要時可省略。
在本實施例的描述中，用于表達(dá)方向的術(shù)語，例如向上、向下、左、右和后方是用來解釋結(jié)構(gòu)和檢查裝置的插口10的部分的動作。然而，這些術(shù)語代表檢查裝置的插口10在圖中所示的方位上使用的情況下的各自的方向，且當(dāng)檢查裝置的插口10的方位改變時，必須理解成代表相應(yīng)的不同方向。
外殼11是由例如合成樹脂的絕緣材料整體制成的，且包括多個端子接收孔20，所述孔20在厚度方向上，即從頂表面到相反表面延伸穿過外殼11，如圖2A和圖2B中所示。端子接收孔20接收連接端子30，所述連接端子是由例如金屬的導(dǎo)電材料制成的。所述端子接收孔20和連接端子30經(jīng)定位以對應(yīng)于受檢查設(shè)備40的各自的焊球(端子)41。在所說明的實施例中，焊球41類似于普通的半導(dǎo)體設(shè)備以約1mm的間距排列成柵格圖案，且端子接收孔20和連接端子30也以類似的間距經(jīng)排列以形成柵格圖案。
每個連接端子30是整體上呈S狀的單片部件，通過彎曲例如由例如金屬板的彈性材料制成的細(xì)長部件而以一體的方式使所述單片部件形成為可彈性變形的，因為連接端子30具有簡單的結(jié)構(gòu)，所以圖2A和圖2B中的端子30的垂直長度可以是所謂的彈簧針或彈簧探針的約三分之一長。當(dāng)受到檢查時，設(shè)備40經(jīng)由檢查裝置的插口10連接到檢查電路板50，如圖2A和圖2B中所示，連接端子30與受檢查設(shè)備40的焊球41和用作電極的并形成在檢查電路板50的頂面上的未圖示的電極襯墊相接觸，進(jìn)而電連接受檢查設(shè)備40的焊球41和形成在檢查電路板50的頂面上的電極襯墊。
接下來，將詳細(xì)描述端子接收孔20和連接端子30的結(jié)構(gòu)。
圖3A到圖3D是顯示根據(jù)實施例的檢查裝置的插口的圖；且圖4A到圖4D是與實施例相關(guān)的圖，且顯示接收連接端子的端子接收孔的結(jié)構(gòu)。詳細(xì)來說，圖3A是俯視圖，圖3B是正視圖，圖3C是側(cè)視圖，而圖3D是仰視圖。圖4A是橫截面圖，圖4B是俯視圖，圖4C是仰視圖，而圖4D是不同于圖4A的另一橫截面圖。
如圖3A到圖3D中所示，端子接收孔20在外殼11的中央?yún)^(qū)域內(nèi)排列成柵格圖案。在所說明的實例中，其中排列有端子接收孔20的區(qū)域呈現(xiàn)矩形狀，但所述區(qū)域可呈現(xiàn)任何形狀。外殼11具有圍繞包括端子接收孔20的區(qū)域的空白區(qū)域，且用于將外殼11安裝到檢查電路板50的安裝框架或類似部件可附接到空白區(qū)域中的外殼11?？瞻讌^(qū)域可呈現(xiàn)任何形狀，且可具有任何尺寸。
圖4A到圖4D是某些端子接收孔20的放大圖，每個端子接收孔20接收連接端子30。圖4B和圖4D分別是外殼11的放大俯視圖和仰視圖，且顯示端子接收孔20位于整體呈正方形柵格圖案的節(jié)點處，每個端子接收孔20包括通孔部分21，所述通孔部分從外殼11的頂面到底面延伸穿過外殼11，受檢查物體端子接收部分22形成在外殼11的上表面的相鄰處，且輔助孔26形成在外殼11的下表面的相鄰處。
通孔部分21具有整體上呈矩形的橫截面，且其寬度大于連接端子30的寬度。朝著通孔部分21的中心軸線突出的突出壁23形成在通孔部分21的下端處；即在鄰近外殼11的下表面的通孔部分21的側(cè)壁上。
在本實施例中，每個受檢查物體端子接收部分22呈現(xiàn)直徑朝著下側(cè)減小的倒錐形，來接收受檢查設(shè)備40的焊球(端子)41，且連接到通孔部分21的上部分。受檢查物體端子接收部分22整體上位于突出壁23上方。在受檢查物體端子接收部分22的頂端處(即，在外殼11的上表面處)所測量的其直徑大于焊球41的最大直徑。
輔助孔26是盲凹槽，其具有整體上呈T狀的橫截面。輔助孔26的中心軸線和通孔部分21的中心軸線相離。連接端子30的下端尾部37插入輔助孔26中。
在所說明的實施例中，連接端子30由細(xì)長條通過沿著縱向方向進(jìn)行彎曲而形成，從而形成整體S狀。連接端子30包括傾斜延伸的受檢查物體側(cè)接觸部分31；上尾部33，其經(jīng)由上彎曲部分32連接到受檢查物體側(cè)接觸部分31，且其遠(yuǎn)端直接向下朝著具有弓形外表面的上彎曲部分32；主體部分34，其在垂直方向上延伸；突出部分35，其使受檢查物體側(cè)接觸部分31和主體部分34彼此連接，且其在與端子接收孔20的突出壁23的突出方向相對的方向上突出；檢查電路側(cè)接觸部分36，其連接到主體部分34的下端，且其在橫向方向上延伸；和下端尾部37，其連接到檢查電路側(cè)接觸部分36，且其頂端被導(dǎo)向上。
主體部分34、突出部分35、受檢查物體側(cè)接觸部分31、上彎曲部分32和上尾部33中每一者的寬度小于端子接收部分20的通孔部分21的寬度，且被接收在通孔部分21中。受檢查物體側(cè)接觸部分31和上彎曲部分32至少部分突出到受檢查物體端子接收部分22中。
下尾部37具有一寬部分，其寬于連接端子30的剩余部分且其插入并被接收在輔助孔26中。所述寬部分的相對端并沒有被輔助孔26的相對的內(nèi)壁夾住。因此，下尾部37被輔助孔26輕輕地固持住，從而可以垂直移動。
檢查電路側(cè)接觸部分36從端子接收孔20的下端暴露，并從外殼11的下表面略微突出。檢查電路側(cè)接觸部分36的上表面整體上與外殼11的下表面共面。
圖4A到圖4D顯示在將連接端子30放入外殼11的端子提收孔20中，且下尾部37以活動的方式插入輔助孔26中，使得連接端子30可在垂直方向上移動后的初始狀態(tài)。然而，實際上，在初始狀態(tài)中，連接端子30低于圖4A到圖4D中顯示的位置，且連接端子30的突出部分35與端子接收孔20的突出壁23接觸。然而，將在假設(shè)情況下描述本發(fā)明，即在初始狀態(tài)中，連接端子30的上端(即上彎曲部分32的上端表面)整體上與外殼11的上表面共面。
接下來，將描述經(jīng)由檢查裝置的插口10將受檢查設(shè)備40連接到檢查電路板50的操作。
圖5A到圖5D是與實施例相關(guān)的橫截面圖，且顯示經(jīng)由檢查裝置的插口將待檢查的設(shè)備安裝到檢查電路板的操作。圖5A到圖5D顯示操作的進(jìn)程。
假設(shè)檢查裝置的插口10先前已安裝在檢查電路板50上。在圖5A到圖5D中，未顯示在檢查電路板50的上表面上形成的且連接到檢查電路板50的導(dǎo)電跡線的電極襯墊。因為電極襯墊經(jīng)安置以對應(yīng)于受檢查設(shè)備40的焊球(電極端子)41，所以電極襯墊對應(yīng)于端子接收孔20和檢查裝置的插口10的連接端子30。將在假設(shè)情況下描述將受檢查設(shè)備40連接到檢查電路板50的操作，即假設(shè)在檢查電路板50的上表面上提供電極襯墊以面向連接端子30的至少檢查電路側(cè)接觸部分36，且電極襯墊的上表面與檢查電路板50的上表面共面。
這里，將在假設(shè)情況下進(jìn)行描述，即假設(shè)在已將檢查裝置的插口10安裝到檢查電路板50(如圖5A中所示)后的初始狀態(tài)中，由于外殼11或檢查電路板50的變形而在連接端子30的檢查電路側(cè)接觸部分36的下表面與檢查電路板50的電極襯墊的上表面之間具有一個間隙，且檢查電路側(cè)接觸部分36不與檢查電路板50的電極襯墊接觸。在本實施例中，當(dāng)檢查裝置的插口10的外殼11和檢查電路板50沒有變形或扭曲，且外殼11的下表面平行于檢查電路板50的上表面時，檢查電路側(cè)接觸部分36和檢查電路板50的電極襯墊彼此接觸，且檢查電路側(cè)接觸部分36的下表面與電極襯墊的上表面之間在初始狀態(tài)中沒有間隙。然而，在這里，如上所述，將在假設(shè)情況下進(jìn)行描述，即假設(shè)在連接端子30的檢查電路側(cè)接觸部分36的下表面與檢查電路板50的電極襯墊的上表面之間具有間隙——即檢查電路側(cè)接觸部分36不與檢查電路板50的電極襯墊接觸——從而證明即使當(dāng)外殼11或檢查電路板50具有變形或扭曲時，檢查裝置的插口10可吸收變形或扭曲。
在本實施例中，在已將檢查裝置的插口10安裝到檢查電路板50后的初始狀態(tài)下，檢查電路側(cè)接觸部分36和檢查電路板50的電極襯墊沒有通過例如焊接的任何連接方法連接在一起。這個構(gòu)造使得檢查裝置的插口10能吸收上述變形或扭曲，并確保即使當(dāng)外殼11或檢查電路板50具有任何變形的部分時，檢查電路側(cè)接觸部分36與檢查電路板50的電極襯墊之間有接觸。
隨后，如圖5A中所示，受檢查設(shè)備40和承載檢查裝置的插口10的檢查電路板50彼此相對移動，使得受檢查設(shè)備40的下表面面向外殼11的上表面。在這個狀態(tài)下，受檢查設(shè)備40的下表面和外殼11的上表面彼此平行，且位于受檢查設(shè)備40的下表面上的焊球41和外殼11的端子接收部分22整體上對準(zhǔn)。
在圖5A中所示的狀態(tài)下，如上所述，由于外殼11或檢查電路板50的變形或扭曲而在外殼11的下表面與檢查電路板50的上表面之間形成較大的間隙。每個連接端子30通過下尾部37與輔助孔26的嚙合而安裝到外殼11上。因此，檢查電路側(cè)接觸部分36的上表面整體上與外殼11的下表面共面，且檢查電路側(cè)接觸部分36的下表面與檢查電路板50的相應(yīng)的電極襯墊分離。
其后，受檢查設(shè)備40和/或檢查電路板50彼此相對移動，如圖5B中所示，使得受檢查設(shè)備40的下表面上的焊球41進(jìn)入外殼11的受檢查物體端子接收部分22中。在這種情況下，每個受檢查物體端子接收部分22具有直徑朝著下側(cè)減小的倒錐形狀。因此，當(dāng)將焊球41插入各自的受檢查物體端子接收孔22中并與其嚙合時發(fā)生自身對準(zhǔn)。
詳細(xì)來說，即使當(dāng)將焊球41插入各自的受檢查物體端子接收部分22中，且焊球41的垂直中心軸線與受檢查物體端子接收部分22的垂直中心軸線偏離時，焊球41的垂直中心軸線會通過焊球41的半球形外表面與受檢查物體端子接收部分22的錐形壁表面之間的交互而自動與受檢查物體端子接收部分22的垂直中心軸線對準(zhǔn)。因此，即使當(dāng)受檢查設(shè)備40和檢查電路板50在水平或橫向方向上不完全對準(zhǔn)時，所有焊球41通過上述自對準(zhǔn)效果而適合各自的受檢查物體端子接收部分22，從而確保受檢查設(shè)備40經(jīng)由檢查裝置的插口10連接到檢查電路板50。
隨后，受檢查設(shè)備40和/或檢查電路板50進(jìn)一步彼此相對移動，如圖5C中所示，使得受檢查設(shè)備40的下表面上的焊球41更深地進(jìn)入各自的外殼11的受檢查物體端子接收部分22中。因此，每個焊球41與受檢查物體側(cè)接觸部分31和/或連接端子30的彎曲部分32相接觸，進(jìn)而向連接端子30提供向下的力。在這種情況下，連接端子30通過將下尾部37插入輔助孔26中而安裝到外殼11上，且下尾部37的寬部分被接收并以活動的方式固持在輔助孔26中。因此，通過焊球41施加的向下的力，下尾部37相對于輔助孔26而向下移動。這導(dǎo)致全部連接端子30向下移動，且如圖5C中所示，檢查電路側(cè)接觸部分36的下表面與檢查電路板50的電極襯墊的上表面相接觸。
如上所述，上尾部37被以活動的方式固持在各自的輔助孔26中，從而可在垂直方向上移動，使得連接端子30可相對于外殼11而移動。因此，即使當(dāng)由于外殼11或檢查電路板50的變形或扭曲而在連接端子30的檢查電路側(cè)接觸部分36的下表面與檢查電路板50的電極襯墊的上表面之間形成間隙時，檢查電路側(cè)接觸部分36的下表面與檢查電路板50的電極襯墊的上表面可相接觸，并當(dāng)受檢查設(shè)備40相對于檢查電路板50而移動以將焊球41移入受檢查物體端子接收部分22中，進(jìn)而向下移動連接端子30時而彼此電連接。也就是說，即使當(dāng)外殼11或檢查電路板50具有變形或扭曲時，檢查裝置的插口10可吸收變形或扭曲，從而確保連接端子30的檢查電路側(cè)接觸部分36與檢查電路板50的電極襯墊相接觸。
另外，接觸端子30的受檢查物體側(cè)接觸部分31傾斜延伸(即被傾斜)，且每個上彎曲部分32具有弓形外表面。也就是說，連接端子30沒有被導(dǎo)向上的尖銳部分。因此，當(dāng)焊球41與連接端子30接觸時，不會損壞焊球41。
隨后，受檢查設(shè)備40和/或檢查電路板50進(jìn)一步彼此相對移動，如圖5D中所示，使得在受檢查設(shè)備40的下表面上形成的焊球41更深地進(jìn)入各自的外殼11的受檢查物體端子接收部分22中。已與連接端子30的受檢查物體側(cè)接觸部分31接觸的每個焊球41向連接端子30施加更大的向下的力。在這種情況下，檢查電路側(cè)接觸部分36的下表面已與檢查電路板50的對應(yīng)電極襯墊的上表面相接觸，且因此連接端子30不向下移動。因為連接端子30是由彈性材料制成的，所以連接端子30的主體部分34和/或其他部分可彈性變形并吸收向下的力。焊球41沿著傾斜延伸的受檢查物體側(cè)接觸部分31的傾斜表面移動，同時摩擦傾斜表面。因此，獲得擦拭效果。也就是說，可通過擦拭來移除粘附到焊球41的表面或受檢查物體側(cè)接觸部分31的傾斜表面并阻礙電氣連接的物質(zhì)(例如，外來物)。這確保焊球41與受檢查物體側(cè)接觸部分31之間的電氣連接。
另外，因為連接端子30可彈性變形，且受檢查物體側(cè)接觸部分31與焊球41相接觸，所以可吸收受檢查物體側(cè)接觸部分31與焊球41之間的相對位置上的誤差。也就是說，即使當(dāng)在受檢查物體側(cè)接觸部分31與焊球41之間的相對位置上出現(xiàn)誤差時，也可維持受檢查物體側(cè)接觸部分31與焊球41之間的接觸。因此，即使當(dāng)受檢查設(shè)備40或外殼11具有變形或扭曲，且受檢查設(shè)備40的下表面和外殼11的上表面不彼此平行時，連接端子30的受檢查物體側(cè)接觸部分31和焊球41會沒有故障地相互接觸。也就是說，即使當(dāng)受檢查設(shè)備40或外殼11具有變形或扭曲，檢查裝置的插口10可吸收變形或扭曲，從而確保連接端子30的受檢查物體側(cè)接觸部分31和受檢查設(shè)備40的焊球41的可靠接觸。
另外，因為通過各自的焊球41向每個連接端子30施加較大的向下的力，所以檢查電路側(cè)接觸部分36的下表面被更強勁地壓到檢查電路板50的對應(yīng)電極襯墊的上表面。這確保連接端子30的檢查電路側(cè)接觸部分36與檢查電路板50的電極襯墊之間的可靠接觸。
接下來，將描述將連接端子30連接到外殼11的端子接收孔20的操作。
圖6A到圖6E是與實施例相關(guān)的橫截面圖，且顯示將連接端子安裝到檢查裝置的插口的外殼的操作。詳細(xì)來說，圖6A的截面A-1和A-2分別顯示安裝前的連接端子的正視圖和側(cè)視圖，且圖6B到圖6E顯示安裝操作的進(jìn)程。
連接端子30是由例如金屬的導(dǎo)電材料的板通過加工處理(例如壓印和成形)制成的，使得連接端子30與板狀載體部分38形成一體，且使得連接端子30連接到載體部分38的頂端，如圖6A中所示。在這種情況下，連接端子30的下尾部37連接到載體部分38的頂端，且主體部分34和下尾部37平行于載體部分38。
如圖6B中所示，與載體部分38連接的連接端子30位于外殼11下方。連接端子30經(jīng)定位以使得下尾部37與輔助孔26對準(zhǔn)，且使得下尾部37的垂直中心軸線與輔助孔26的垂直中心軸線相一致。
隨后，載體部分38朝著外殼11相對移動，如圖6C中所示，使得受檢查物體側(cè)接觸部分31、上彎曲部分32和下尾部33從其下端進(jìn)入通孔部分21中，且使得下尾部37的頂端進(jìn)入輔助孔26中。在這種情況下，因為突出部分35與下尾部37之間的距離小于輔助孔26朝著通孔部分21的那側(cè)的側(cè)壁與突出壁23的遠(yuǎn)端之間的距離，所以突出部分35與突出壁23相接觸，藉此，主體部分34和/或連接端子30的其他部分可彈性變形，且突出部分35與下尾部37之間的空間擴大。因為突出部分35的下表面是傾斜的且連接到受檢查物體側(cè)接觸部分31的傾斜表面，所以突出部分35與下尾部37之間的空間順利地擴大。
隨后，載體部分38進(jìn)一步朝著外殼11相對移動，使得尾部37被接收在輔助孔26中，且使得檢查電路側(cè)接觸部分36的上表面與外殼11的下表面接觸，如圖6D中所示。在這種情況下，下尾部37與輔助孔26相嚙合，且主體部分34、突出部分35、受檢查物體側(cè)接觸部分31、上彎曲部分32和下尾部33被接收在通孔部分21中。換句話說，連接端子30容納在外殼11的端子接收孔20內(nèi)。其后，載體部分38被彎成圖6D中的虛線所示，藉此，下尾部37與載體部分38的頂端之間的連接部分會斷開，從而分離載體部分35和連接端子30。因此，完成連接端子30到端子接收孔20的安裝。如上所述，連接端子30可通過朝著外殼11相對移動載體部分38，同時固持載體部分38并接著彎曲載體部分38的簡單操作而安裝到外殼11。因此，可通過使用機器自動執(zhí)行將連接端子30安裝到外殼11的操作。
在某些情況下，當(dāng)例如顫動或振動的外力施加到安裝有連接端子30的外殼11上時，連接端子30會向下移動，因為每個連接端子30的下尾部37以活動的方式被固持在輔助孔26中，從而可在垂直方向上移動，且因此連接端子30是可浮動的。然而，即使在這種情況下，連接端子30不會脫離端子接收部分20，因為如上所述，突出部分35與下尾部37之間的距離小于輔助孔26朝著通孔部分21的那側(cè)的內(nèi)側(cè)壁與突出壁23的遠(yuǎn)端之間的距離，且突出部分35嚙合突出壁23，如圖6E中所示。因此，即使當(dāng)沒有小心搬運檢查裝置的插口10時，連接端子30不會脫離外殼11。這個特點有助于檢查裝置的插口10的搬運。另外當(dāng)操作員向連接端子30中的一者手動施加一個足夠可通過主體部分34和/或連接端子30的其他部分的彈性變形而增加突出部分35與下尾部37之間的距離的力時，也可從端子接收孔20中移除連接端子30。因此可容易移除已損壞或已變臟的任何連接端子30。因為可選擇性地逐個替換連接端子30中的任何一者，所以可提高檢查裝置的插口10的產(chǎn)品產(chǎn)量。
在本實施例中，每個檢查裝置的插口10的連接端子30是通過彎曲細(xì)長部件而形成的，且因此可彈性變形。連接端子30被固持在延伸穿過外殼11的端子接收孔20中，從而可以在垂直方向上移動，即在可浮動的狀態(tài)下。因此，即使當(dāng)受檢查設(shè)備40、外殼11或檢查電路板50具有變形或扭曲，也可吸收所述變形或扭曲。
此外，連接端子30是通過彎曲細(xì)長部件而形成的。也就是說，連接端子30不是包括組裝在一起的多個組件的探針(例如彈簧針、彈簧探針，或任何常規(guī)探針)，所述組件包括彈簧或?qū)蚬堋＿B接端子30具有簡單的結(jié)構(gòu)和減小的垂直長度。這個結(jié)構(gòu)降低生產(chǎn)成本，且縮短的電氣通道改進(jìn)例如阻抗的電氣特征。另外，因為檢查裝置的插口10具有這樣一種簡單結(jié)構(gòu)即，可通過將連接端子30插入到外殼11的各自的端子接收孔20中來生產(chǎn)。這個特點可降低組裝檢查裝置的插口10所需的成本。另外，因為端子接收孔20和連接端子30是簡單的結(jié)構(gòu)，所以連接端子30可以減小的間隔來安置，從而增加連接端子30的密度。
即使當(dāng)將檢查裝置的插口10安裝到檢查電路板50時，不需要連接方法(例如焊接)來建立連接端子30的檢查電路側(cè)接觸部分36與檢查電路板50的電襯墊之間的連接。另外，檢查裝置的插口10具有由外殼11組成的單層結(jié)構(gòu)。因此，檢查裝置的插口10可易于安裝到檢查電路板50上或從檢查電路板50中移除即，可容易地替換檢查裝置的插口10。
每個連接端子30的受檢查物體側(cè)接觸部分31傾斜延伸，且上彎曲部分32具有弓形的外表面。因此，當(dāng)受檢查設(shè)備40的烊球41接觸各自的連接端子30時不會被損壞。因為每個焊球41沿著受檢查物體側(cè)接觸部分31的傾斜表面移動，同時摩擦傾斜表面，所以會產(chǎn)生擦拭效果，其確保焊球41與受檢查物體側(cè)接觸部分31之間的可靠連接。當(dāng)使焊球41進(jìn)入并適合各自的受檢查物體端子接收部分22時，會發(fā)生自身對準(zhǔn)。因此，即使當(dāng)受檢查設(shè)備40和檢查電路板50不會完全對準(zhǔn)時，受檢查設(shè)備40可經(jīng)由檢查裝置的插口10無故障地連接到檢查電路板50。
因為連接端子30可被選擇性地逐個替換，所以可提高檢查裝置的插口10的生產(chǎn)產(chǎn)量。連接端子30可通過將載體部分38朝著外殼11相對移動，同時固持住載體部分38并接著彎曲載體部分38的簡單操作而安裝到外殼11。因此，可通過使用機器自動地執(zhí)行將連接端子30附接到外殼11的操作。檢查裝置的插口10可容易應(yīng)付外殼11的外形和連接端子30的數(shù)目和配置上的改變。
本發(fā)明并不限于上述實施例。依照本發(fā)明的精神，本發(fā)明的很多修改和變化都是可以的，且這些不應(yīng)被排除在本發(fā)明的范疇之外。
權(quán)利要求
1.一種連接檢查電路板(50)和受檢查設(shè)備(40)的檢查裝置的插口(10)，其特征在于其包括(a)板狀外殼(11)，包括與其上安置有所述受檢查設(shè)備(40)的端子的表面相對的第一表面，和與其上安置有所述受檢查電路板(50)的電極的表面相對的第二表面，所述外殼(11)具有在其厚度方向上延伸穿過所述外殼(11)的端子接收孔(20)；和(b)連接端子(30)，其附接到所述外殼(11)以用于電傳導(dǎo)所述受檢查設(shè)備(40)的所述端子和所述檢查電路板(50)的所述電極，所述連接端子(30)包括可彈性變形的單片部件，其為彎曲的細(xì)長部件且被固持在所述外殼(11)的所述端子接收孔(20)中，從而可在所述外殼(11)的厚度方向上移動。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢查裝置的插口(10)，其特征在于其中所述端子接收孔(20)包括受檢查物體端子接收部分(22)，其形成在所述外殼(1)的所述第一主表面上以用于接收所述受檢查設(shè)備(40)的相應(yīng)端子。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢查裝置的插口(10)，其特征在于其中所述受檢查設(shè)備(40)的所述端子是焊球(41)，且所述受檢查物體端子接收部分(22)呈現(xiàn)錐形，所述錐形的直徑朝著遠(yuǎn)離所述外殼(11)的所述第一主表面的方向而減小。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的檢查裝置的插口(10)，其特征在于其中所述受檢查設(shè)備(40)包括在其后面上提供的多個焊球。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢查裝置的插口(10)，其特征在于其中所述連接端子(30)整體呈S狀，并包括受檢查物體側(cè)接觸部分(31)，其位于所述外殼(11)的所述第一主表面附近，并與所述受檢查設(shè)備(40)的相應(yīng)端子接觸；和檢查電路側(cè)接觸部分(36)，其位于所述外殼(11)的所述第二主表面上，并與所述檢查電路板(50)的相應(yīng)電極接觸。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢查裝置的插口(10)，其特征在于其中所述連接端子(30)是由可彈性變形的部件制成的。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢查裝置的插口(10)，其特征在于其中所述可彈性變形的部件是由通過彎曲細(xì)長部件而形成的單片部件構(gòu)成的。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢查裝置的插口(10)，其特征在于其中所述端子接收孔(20)包括突出壁(23)，其在與所述外殼(11)的厚度方向垂直的方向上突出；所述連接端子(30)包括突出部分(35)，其在與所述突出壁(23)的突出方向相對的方向上突出；且所述突出部分(35)嚙合所述突出壁(23)，進(jìn)而防止所述連接端子(30)脫離所述端子接收孔(20)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢查裝置的插口(10)，其特征在于其中所述外殼11包括多個端子接收孔(20)，多個端子接收孔(20)中的每一者包括在垂直于所述外殼(11)的厚度方向上突出的突出壁(23)。
10.一種用于檢察受檢查設(shè)備(40)的檢查裝置，其特征在于其包括電路板(50)，其連接到所述檢查裝置；和所述檢查裝置的插口(10)，其安裝在所述電路板上，且其上安裝所述受檢查設(shè)備(40)，所述插口包括(a)板狀外殼(11)，包括與其上安置有所述受檢查設(shè)備(40)的端子的表面相對的第一表面，和與其上安置有所述受檢查電路板(50)的電極的表面相對的第二表面，所述外殼(11)具有在其厚度方向上延伸穿過所述外殼(11)的端子接收孔(20)；和(b)連接端子(30)，其附接到所述外殼(11)以用于電傳導(dǎo)所述受檢查設(shè)備(40)的所述端子和所述檢查電路板(50)的所述電極，所述連接端子(30)包括可彈性變形的單片部件，其為彎曲的細(xì)長部件且被固持在所述外殼(11)的所述端子接收孔(20)中，從而可在所述外殼(11)的厚度方向上移動。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的檢查裝置，其特征在于其中所述插口(10)直接安裝在所述電路板(50)上，且所述插口(10)的所述外殼(11)包括安裝孔。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的檢查裝置，其特征在于其中所述插口(10)經(jīng)由安裝框架安裝在所述電路板(50)上，且所述插口(10)的所述外殼(11)沒有安裝孔。
全文摘要
本發(fā)明揭示一種用于連接檢查電路板與受檢查設(shè)備的檢查裝置的插口，其包括板狀外殼，其包括與其上安置有所述受檢查設(shè)備的端子的表面相對的第一表面，和與其上安置有所述檢查電路板的電極的表面相對的第二表面，所述外殼具有在其厚度方向上延伸穿過外殼的端子接收孔；和連接端子，其附接到所述外殼以用于電傳導(dǎo)所述受檢查設(shè)備的所述端子和所述檢查電路板的所述電極，所述連接端子包括可彈性變形的單片部件，其為彎曲的細(xì)長部件，且被固持在所述外殼中的所述端子接收孔中，從而可在所述外殼的厚度方向上移動。
文檔編號H01L21/66GK1908678SQ20061010134
公開日2007年2月7日 申請日期2006年7月6日 優(yōu)先權(quán)日2005年7月6日
發(fā)明者小島裕, 濱博之, 高木慎太郎, 﨑山伸 申請人:日本莫萊克斯株式會社, 愛德萬測試株式會社