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      一種用于嵌入式電容器的鉍鋅鈮薄膜的制備方法

      文檔序號(hào):6927827閱讀:386來(lái)源:國(guó)知局
      專(zhuān)利名稱(chēng):一種用于嵌入式電容器的鉍鋅鈮薄膜的制備方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明屬于無(wú)機(jī)材料領(lǐng)域,涉及一種無(wú)機(jī)材料中的介質(zhì)薄膜制備方法,尤其是一
      種用于嵌入式電容器的鉍鋅鈮薄膜的制備方法。
      背景技術(shù)
      隨著現(xiàn)代通信技術(shù),特別是移動(dòng)通信技術(shù)的發(fā)展,對(duì)器件的高速運(yùn)算和系統(tǒng)小型 化的要求日益迫切,所以對(duì)電子元件的要求也在不斷增長(zhǎng),我們應(yīng)該生產(chǎn)出更小尺寸的元 件讓它們保持原有的特性甚至超過(guò)原有的表現(xiàn),人們已經(jīng)嘗試把無(wú)源器件嵌入到印刷電路 板中,因?yàn)樵趥鹘y(tǒng)的電路中,電子元件分為有源和無(wú)源兩種,然而80 %的電子元件是無(wú)源的 (電阻、電容和電感),并且它們占據(jù)了整個(gè)印刷電路板50%的面積。另外隨著尺寸的減小, 信號(hào)線(xiàn)由于嵌入無(wú)源器件而變短并且減少了焊接點(diǎn),因此寄生噪聲可以降低從而使器件各 方面的性能提高,尤其是高頻工作的器件。因此在減小整個(gè)板子面積的同時(shí),需要增加電路 的集成密度,這就導(dǎo)致了電容器需要一種具有高介電常數(shù),低介電損耗,低漏電流密度的介 電材料。對(duì)于印刷電路板應(yīng)用的難點(diǎn)在于采用低于200°C的生產(chǎn)工藝,這樣就限制了需要較 高結(jié)晶溫度的高介電常數(shù)材料如鐵電體,當(dāng)這些鐵電薄膜被制備在室溫或接近室溫時(shí),他 們具有較低的介電常數(shù)和較高的介電損耗。傳統(tǒng)的順電態(tài)材料,如Si02( 3. 9) ,A1203 ( 9), Ta205( 25)等可以在低溫下制備,但介電常數(shù)太低,而不能滿(mǎn)足嵌入式電容器材料的 應(yīng)用。 焦綠石結(jié)構(gòu)的BiuZn^NbL^和Bi2Zn2/3Nb4/307材料是一種介電常數(shù)適中的介電 材料,具有良好的高頻溫度穩(wěn)定性和微波介電特性,具有非常低的介電損耗,近年來(lái)又發(fā)現(xiàn) Bi^ZnuNb^C^具有介電可調(diào)特性。相對(duì)適中的介電常數(shù),良好的微波特性和溫度穩(wěn)定性, 使得鉍鋅鈮在介質(zhì)材料中的應(yīng)用越來(lái)越廣泛,然而對(duì)于非晶態(tài)BZN薄膜的研究和報(bào)道卻很 少。 以下是申請(qǐng)人檢索到的與本發(fā)明相關(guān)的參考文獻(xiàn) 1、Wei Ren,Susan Trolier-McKinstry,Clive A. Randall,and Thomas R. Shrout : "Bismuth zinc niobate pyrochlore thin films for capacitive applications", J. Appl.Phys. ,89,767-774(2001); 2、 X. H. Zhang, W. Ren, P. Shi, etc. -"Structures and Properties of Doped BismuthZinc Niobate Cubic Pyrochlore Thin Films Prepared by Pulsed Laser D印osition".Ferroelectrics,381 :701-705(2009);. 3、 J. H. Park, W. S. Lee, N. J. Seong, and S. G. Yoona. :"Bismuth_zinc_niobate embeddedcapacitors grown at room temperature for printed circuit board applications", Appl.Phys. Lett. ,88 :192902(2006) ; 4、 J. K. Ahn, H. W. Kim, K. C. Ahn, S. G. Yoon, etc. -"Characteristics of Bismuth—BasedThin Films Deposited Directly on Polymer Substrates for Embedded CapacitorApplication", Integrated Ferroelectrics,95 :187—195(2007);
      5、 II_Doo Kim, M. H. Lim, K. T. Kang, and H. G. Kim :"Room temperature fabricatedZnO thin film transistor using high—K BiuZriL。NbL507 gate insulator pr印ared bysputtering,,. Appl. Phys丄ett. , 89 :022905 (2006); 6、 El Kamel, P. Gonon, F. Jomni :"Electrical properties of low temperature d印osited咖orphous barium titanate thin films as dielectrics for integrated capacitors". Thin SolidFilms,504 :201-204(2006); 7、 S丄ee, J. W丄ee, I丄ee, and T. K. Chung :"Dielectric Properties of PCB EmbeddedBismuth_Zinc_Niobium Films Prepared using RF Magnetron Sputtering,,. Mater. Res. Soc. S卿.Proc. 2007 ;969 :w01_07. 8、 J. Ryu, K. Y. Kim, J. J. Choi, etc. "'Dielectric Flexible Dielectric BilgZriL。Nb丄.507Thin Films on a Cu_Polyimide Foi 1 ,,. J. Am. Ceram. Soc. 92 : 524-527(2009) ; 9、 J. Ryu, K. Y. Kim, J. J. Choi, etc. :"Dielectric High Dielectric Properties ofB:^. sZnuNbuOy Thin Films Fabricated at Room Temperature" . J. Am. Ceram. Soc. 91 : 3399-3401(2008); 10、 J. H. Park, C. J. Xian, etc. "'Improvement of Leakage Current Characteristics byPlasma Treatment in Bi2Mg2/3Nb4/307 Dielectric Thin Films". Electrochemical andSolid-State Letters,10 (4) :G18_20 (2007).

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn),提供一種用于嵌入式電容器的鉍鋅 鈮薄膜的制備方法,該制備方法制得的薄膜為類(lèi)似焦綠石結(jié)構(gòu)的非晶鉍鋅鈮薄膜,其擁有 高介電常數(shù),低介電損耗,低的漏電流密度,適用于嵌入式電容器的使用,且與電路的封裝
      等工藝兼容。 本發(fā)明的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案來(lái)解決的 這種用于嵌入式電容器的鉍鋅鈮薄膜的制備方法,具體包括以下步驟
      1)配料、球磨 首先按照Bi^Zn^NbLA或Bi2Zn2/3Nb4/307的化學(xué)式,計(jì)算Bi203、Zn0和Nb205三種 原料之間的符合化學(xué)式的摩爾配比,按照摩爾配比將三種原料混合,并將混合物與鋯球、無(wú) 水乙醇按照質(zhì)量比例l : 2 : l放入球磨罐中球磨3 5h,烘干,料球分離后得到磨料;
      2)預(yù)燒 將磨料壓片,以75(TC預(yù)燒2小時(shí)獲得已初步形成焦綠石相的陶瓷粉料;
      3)成型 將預(yù)燒后的陶瓷粉料粉碎,然后將粉碎的陶瓷粉料與鋯球、無(wú)水乙醇按照質(zhì)量比
      例i : 2 : l放入球磨罐中球磨3 5h,烘干,將烘干后的陶瓷粉料在研缽中研細(xì),加入聚
      乙烯醇溶液作為粘結(jié)劑,造粒,粒徑為60 80目,將造粒得到的粉料自然風(fēng)干24小時(shí)后, 采用液壓實(shí)驗(yàn)機(jī),以150MPa/m2的壓力對(duì)粉料進(jìn)行壓片,保壓時(shí)間5 10分鐘;
      4)燒結(jié) 當(dāng)按照BiuZnL。NbL507化學(xué)式配料時(shí),在950 110(TC的溫度區(qū)間進(jìn)行燒結(jié)成瓷,
      4制得具有立方焦綠石結(jié)構(gòu)的鉍鋅鈮陶瓷靶材; 當(dāng)按照Bi2Zn2/3Nb4/307化學(xué)式配料時(shí),在920 IOO(TC的溫度區(qū)間進(jìn)行燒結(jié)成瓷,制得具有單斜焦綠石結(jié)構(gòu)的鉍鋅鈮陶瓷靶材;
      5)沉積薄膜 采用脈沖激光沉積技術(shù)將以上制得的鉍鋅鈮陶瓷靶材在鍍Pt基片或聚合物基底的覆銅板上原位沉積厚度為200 500nm的薄膜;
      6)熱處理 使用快速熱處理工藝對(duì)沉積的薄膜在100 20(TC下進(jìn)行后退火處理10 20分
      鐘,得到所述的具有類(lèi)似焦綠石結(jié)構(gòu)的非晶鉍鋅鈮薄膜。 上述步驟3)中所述聚乙烯醇溶液的質(zhì)量濃度為5%。 上述步驟3)中以60目和80目的篩子進(jìn)行造粒。 上述步驟3)中液壓實(shí)驗(yàn)機(jī)選用直徑為45mm的磨具。 上述步驟5)中鍍Pt基片是Pt/Ti/Si02/Si 。 上述步驟5)中,在沉積溫度為室溫或接近室溫的條件下,通過(guò)改變沉積時(shí)的氧壓進(jìn)行薄膜的沉積,氧壓選在1 30Pa范圍之內(nèi)。 本發(fā)明制備出適用于嵌入式電容器的鉍鋅鈮薄膜,經(jīng)X射線(xiàn)衍射(XRD)、原子力顯微鏡(AFM)、掃描電子顯微鏡(SEM)、表面輪廓儀、阻抗分析儀測(cè)試和分析,本發(fā)明與背景技術(shù)相比具有的有益效果是 1)、采用脈沖激光沉積工藝,在室溫下原位沉積,沉積氧壓為lPa或者4Pa時(shí),制備的BZN薄膜在15(TC快速熱處理后,呈現(xiàn)為非晶態(tài)的BZN材料,薄膜的表面非常光滑,具有較低的表面粗糙度。 2)、使用優(yōu)化的沉積壓強(qiáng),優(yōu)化的后處理溫度,得到高質(zhì)量的非晶態(tài)的薄膜材料,在最優(yōu)的條件下制備出的薄膜,兩種BZN薄膜材料的介電常數(shù)都為60,并且損耗在0. 6%左右。在0.3MV/cm時(shí),漏電流密度均為1X10—7A/cm2。充分滿(mǎn)足作為嵌入式電容器的介電材料的使用。 3)、兩種非晶態(tài)的BZN薄膜材料制備工藝簡(jiǎn)單,滿(mǎn)足電子元器件的快速發(fā)展的要求,具有良好的市場(chǎng)前景。


      圖1是本發(fā)明制備的不同燒結(jié)溫度的立方BZN薄膜的XRD曲線(xiàn);
      圖2是本發(fā)明制備的不同燒結(jié)溫度的單斜BZN薄膜的XRD曲線(xiàn);
      圖3是本發(fā)明制備的非晶態(tài)的立方BZN薄膜的XRD曲線(xiàn);
      圖4是本發(fā)明制備的非晶態(tài)的單斜BZN薄膜的XRD曲線(xiàn); 圖5是本發(fā)明制備的非晶態(tài)的單斜BZN薄膜的粗糙度和沉積速率的變化(在不同氧壓下制備); 圖6是15(TC快速熱處理,不同氧壓下制備的非晶態(tài)的立方BZN薄膜的介電性能;
      圖7是在4Pa氧壓下沉積,在不同退火溫度下熱處理的非晶態(tài)的單斜BZN薄膜的介電性能; 圖8是15(TC快速熱處理,在不同氧壓下制備的非晶態(tài)的立方BZN薄膜的漏電流特性; 圖9是在4Pa氧壓下沉積,在不同退火溫度下熱處理的非晶態(tài)的單斜BZN薄膜的 漏電流特性。
      具體實(shí)施例方式
      下面結(jié)合實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)描述
      實(shí)施例1 :
      1)配料、球磨 首先按照BiuZn^NbL^的化學(xué)式,計(jì)算Bi203、 Zn0和Nb205三種原料之間的符合 化學(xué)式的摩爾配比,按照摩爾配比將三種原料混合,并將混合物與鋯球、無(wú)水乙醇按照質(zhì)量 比例l : 2 : l放入球磨罐中球磨4h,烘干,料球分離后得到磨料;
      2)預(yù)燒 將磨料壓片,以75(TC預(yù)燒2小時(shí)獲得已初步形成焦綠石相的陶瓷粉料;
      3)成型 將預(yù)燒后的陶瓷粉料粉碎,然后將粉碎的陶瓷粉料與鋯球、無(wú)水乙醇按照質(zhì)量比
      例i : 2 : l放入球磨罐中球磨4h,烘干,將烘干后的陶瓷粉料在研缽中研細(xì),加入質(zhì)量濃
      度為5%的聚乙烯醇溶液作為粘結(jié)劑,造粒,使用60目和80目?jī)蓚€(gè)篩子,其中60目篩子在 上,80目篩子在下,取80目篩子上的粒徑為60 80目顆粒粉料,將造粒得到的粉料自然風(fēng) 干24小時(shí)后,采用液壓實(shí)驗(yàn)機(jī),選用直徑為45mm的模具,以150MPa/m2的壓力對(duì)粉料進(jìn)行 壓片,保壓時(shí)間5分鐘;
      4)燒結(jié) 當(dāng)按照BiuZnL。Nbu07化學(xué)式配料時(shí),在950 110(TC的溫度區(qū)間進(jìn)行燒結(jié)成瓷,
      制得具有立方焦綠石結(jié)構(gòu)的鉍鋅鈮陶瓷靶材;
      5)沉積薄膜
      (a)、樣品安裝 將立方焦綠石結(jié)構(gòu)的鉍鋅鈮陶瓷靶材和清潔的Pt/Ti/Si02/Si基片分別固定在沉 積腔中的靶托和樣品托上面,調(diào)整基片和靶材的距離為4. 5cm,用擋板將基片和靶材隔開(kāi), 旋緊閥門(mén),關(guān)閉真空室。
      (b)、系統(tǒng)抽真空 打開(kāi)電源,開(kāi)啟機(jī)械泵,旋開(kāi)旁抽閥,當(dāng)系統(tǒng)真空度達(dá)到0.01Pa左右時(shí),關(guān)閉旁抽 閥,打開(kāi)電磁閥,打開(kāi)分子泵冷卻水并啟動(dòng)分子泵,同時(shí)旋開(kāi)閘板閥,約15分鐘后,系統(tǒng)的 真空度可以達(dá)到8. 5X 10—5Pa。
      (c)、激光器預(yù)熱 在沉積開(kāi)始前15分鐘,打開(kāi)激光器的電源開(kāi)關(guān),進(jìn)行預(yù)熱。
      (d)、通入氧氣 依次開(kāi)啟氧壓真閥,流量計(jì),氧氣瓶總閥,然后調(diào)節(jié)流量計(jì),通入氧氣,直到系統(tǒng)的 真空度達(dá)到所需的壓強(qiáng)1Pa。同時(shí)關(guān)閉分子泵,當(dāng)氧壓穩(wěn)定后開(kāi)始脈沖沉積薄膜。
      (e)、薄膜的生長(zhǎng)過(guò)程 因?yàn)槭鞘覝爻练e,基片不需加熱,開(kāi)啟激光器,調(diào)節(jié)激光器和反射鏡使激光照射在靶面上,并調(diào)節(jié)聚光透鏡使激光照射在靶面上的光斑盡可能的小。激光器功率設(shè)置在 250mJ/pulse,沉積時(shí)間一般為60分鐘,使用頻率為3Hz,氧壓為1Pa ;移開(kāi)擋板,開(kāi)始沉積, 使薄膜的沉積厚度達(dá)到300nm。
      (f)、關(guān)機(jī)過(guò)程 關(guān)閉氧氣閥,同時(shí)關(guān)閉整個(gè)沉積控制程序,關(guān)閉機(jī)械泵,關(guān)閉電源。激光器在充分
      冷卻后,關(guān)閉激光器的電源。 6)熱處理 采用快速熱處理工藝,設(shè)定爐子的目的溫度150°C ,熱處理時(shí)間為20分鐘。得到類(lèi) 似焦綠石結(jié)構(gòu)的非晶鉍鋅鈮薄膜的厚度大約是300nm,在10kHz下,介電常數(shù)為61,損耗為 0. 005,在0. 3MV/cm場(chǎng)強(qiáng)時(shí),漏電流密度不超過(guò)1 X 10—7A/cm2。
      實(shí)施例2 :
      1)配料、球磨 首先按照Bi2Zn2/3Nb4/307的化學(xué)式,計(jì)算Bi203、ZnO和Nb205三種原料之間的符合化 學(xué)式的摩爾配比,按照摩爾配比將三種原料混合,并將混合物與鋯球、無(wú)水乙醇按照質(zhì)量比 例l : 2 : l放入球磨罐中球磨3h,烘干,料球分離后得到磨料;
      2)預(yù)燒 將磨料壓片,以75(TC預(yù)燒2小時(shí)獲得已初步形成焦綠石相的陶瓷粉料;
      3)成型 將預(yù)燒后的陶瓷粉料粉碎,然后將粉碎的陶瓷粉料與鋯球、無(wú)水乙醇按照質(zhì)量比
      例i : 2 : l放入球磨罐中球磨5h,烘干,將烘干后的陶瓷粉料在研缽中研細(xì),加入聚乙烯
      醇溶液作為粘結(jié)劑,造粒,粒徑為60 80目,將造粒得到的粉料自然風(fēng)干24小時(shí)后,采用 液壓實(shí)驗(yàn)機(jī),以150MPa/m2的壓力對(duì)粉料進(jìn)行壓片,保壓時(shí)間7分鐘;
      4)燒結(jié) 當(dāng)按照Bi2Zn2/3Nb4/307化學(xué)式配料時(shí),在920 IOO(TC的溫度區(qū)間進(jìn)行燒結(jié)成瓷, 制得具有單斜焦綠石結(jié)構(gòu)的鉍鋅鈮陶瓷靶材;
      5)沉積薄膜
      (a)、樣品安裝 將具有單斜焦綠石結(jié)構(gòu)的鉍鋅鈮陶瓷靶材和清潔的Pt/Ti/Si02/Si基片分別固定
      在靶托和樣品托上面,調(diào)整基片和靶材的距離為4. 5cm,用擋板將基片和靶材隔開(kāi),旋緊閥
      門(mén),關(guān)閉真空室。 (b)、系統(tǒng)抽真空 打開(kāi)電源,開(kāi)啟機(jī)械泵,旋開(kāi)旁抽閥,當(dāng)系統(tǒng)真空度達(dá)到0.01Pa左右時(shí),關(guān)閉旁抽 閥,打開(kāi)電磁閥,打開(kāi)分子泵冷卻水并啟動(dòng)分子泵,同時(shí)旋開(kāi)閘板閥,約15分鐘后,系統(tǒng)的 真空度可以達(dá)到8. 5X 10—5Pa。
      (c)、激光器預(yù)熱 在沉積開(kāi)始前15分鐘,打開(kāi)激光器的電源開(kāi)關(guān),進(jìn)行預(yù)熱。
      (d)、通入氧氣 依次開(kāi)啟氧壓真閥,流量計(jì),氧氣瓶總閥,然后調(diào)節(jié)流量計(jì),通入氧氣,直到系統(tǒng)的 真空度達(dá)到所需的壓強(qiáng)4Pa。同時(shí)關(guān)閉分子泵,當(dāng)氧壓穩(wěn)定后開(kāi)始脈沖沉積薄膜。
      7
      (e)、薄膜的生長(zhǎng)過(guò)程 因?yàn)槭鞘覝爻练e,基片不需加熱,開(kāi)啟激光器,調(diào)節(jié)激光器和反射鏡使激光照射 在靶面上,并調(diào)節(jié)聚光透鏡使激光照射在靶面上的光斑盡可能的小。激光器功率設(shè)置在 250mJ/pulse,沉積時(shí)間一般為60分鐘,使用頻率為3Hz,氧壓為4Pa。移開(kāi)擋板,開(kāi)始沉積。 使薄膜的沉積厚度達(dá)到300nm。
      (f)、關(guān)機(jī)過(guò)程 關(guān)閉氧氣閥,同時(shí)關(guān)閉整個(gè)沉積控制程序,關(guān)閉機(jī)械泵,關(guān)閉電源。激光器在充分
      冷卻后,關(guān)閉激光器的電源。 6)熱處理 采用快速熱處理工藝,設(shè)定爐子的目的溫度15(TC,熱處理時(shí)間為20分鐘。
      得到單斜方BZN薄膜的厚度大約是300nm,在10kHz下,介電常數(shù)為62,損耗為 0. 006,在0. 5MV/cm場(chǎng)強(qiáng)時(shí),漏電流密度不超過(guò)1X10—6A/cm2。
      實(shí)施例3
      1)配料、球磨 首先按照BiuZn^NbL^的化學(xué)式,計(jì)算Bi203、 ZnO和Nb205三種原料之間的符合 化學(xué)式的摩爾配比,按照摩爾配比將三種原料混合,并將混合物與鋯球、無(wú)水乙醇按照質(zhì)量 比例l : 2 : l放入球磨罐中球磨5h,烘干,料球分離后得到磨料;
      2)預(yù)燒 將磨料壓片,以75(TC預(yù)燒2小時(shí)獲得已初步形成焦綠石相的陶瓷粉料;
      3)成型 將預(yù)燒后的陶瓷粉料粉碎,然后將粉碎的陶瓷粉料與鋯球、無(wú)水乙醇按照質(zhì)量比
      例i : 2 : l放入球磨罐中球磨3h,烘干,將烘干后的陶瓷粉料在研缽中研細(xì),加入質(zhì)量濃
      度為5%的聚乙烯醇溶液作為粘結(jié)劑,造粒,使用60目和80目?jī)蓚€(gè)篩子,其中60目篩子在 上,80目篩子在下,取80目篩子上的粒徑為60 80目顆粒粉料,將造粒得到的粉料自然風(fēng) 干24小時(shí)后,采用液壓實(shí)驗(yàn)機(jī),選用直徑為45mm的模具,以150MPa/m2的壓力對(duì)粉料進(jìn)行 壓片,保壓時(shí)間5分鐘;
      4)燒結(jié) 在950 IIO(TC的溫度區(qū)間進(jìn)行燒結(jié)成瓷,其中燒結(jié)過(guò)程均按照傳統(tǒng)燒結(jié)工藝,
      制得具有立方焦綠石結(jié)構(gòu)的鉍鋅鈮陶瓷靶材;
      5)沉積薄膜
      (a)、樣品安裝 將立方焦綠石結(jié)構(gòu)的鉍鋅鈮陶瓷靶材和清潔的聚合物基底的覆銅板分別固定在 沉積腔中的靶托和樣品托上面,調(diào)整覆銅板和靶材的距離為4. 5cm,用擋板將覆銅板和靶材 隔開(kāi),旋緊閥門(mén),關(guān)閉真空室。
      (b)、系統(tǒng)抽真空 打開(kāi)電源,開(kāi)啟機(jī)械泵,旋開(kāi)旁抽閥,當(dāng)系統(tǒng)真空度達(dá)到0.01Pa左右時(shí),關(guān)閉旁抽 閥,打開(kāi)電磁閥,打開(kāi)分子泵冷卻水并啟動(dòng)分子泵,同時(shí)旋開(kāi)閘板閥,約15分鐘后,系統(tǒng)的 真空度可以達(dá)到8. 5X 10—5Pa。
      (c)、激光器預(yù)熱
      在沉積開(kāi)始前15分鐘,打開(kāi)激光器的電源開(kāi)關(guān),進(jìn)行預(yù)熱。
      (d)、通入氧氣 依次開(kāi)啟氧壓真閥,流量計(jì),氧氣瓶總閥,然后調(diào)節(jié)流量計(jì),通入氧氣,直到系統(tǒng)的 真空度達(dá)到所需的壓強(qiáng)1Pa。同時(shí)關(guān)閉分子泵,當(dāng)氧壓穩(wěn)定后開(kāi)始脈沖沉積薄膜。
      (e)、薄膜的生長(zhǎng)過(guò)程 因?yàn)槭鞘覝爻练e,基片不需加熱,開(kāi)啟激光器,調(diào)節(jié)激光器和反射鏡使激光照射 在靶面上,并調(diào)節(jié)聚光透鏡使激光照射在靶面上的光斑盡可能的小。激光器功率設(shè)置在 250mJ/pulse,沉積時(shí)間一般為50分鐘,使用頻率為3Hz,氧壓為4Pa ;移開(kāi)擋板,開(kāi)始沉積, 使薄膜的沉積厚度達(dá)到200nm。
      (f)、關(guān)機(jī)過(guò)程 關(guān)閉氧氣閥,同時(shí)關(guān)閉整個(gè)沉積控制程序,關(guān)閉機(jī)械泵,關(guān)閉電源。激光器在充分
      冷卻后,關(guān)閉激光器的電源。 6)熱處理 采用快速熱處理工藝,設(shè)定爐子的目的溫度IO(TC ,熱處理時(shí)間為15分鐘。得到類(lèi) 似焦綠石結(jié)構(gòu)的非晶鉍鋅鈮薄膜的厚度大約是200nm。
      實(shí)施例4
      1)配料、球磨 首先按照BiuZn^NbL^的化學(xué)式,計(jì)算Bi203、 ZnO和Nb205三種原料之間的符合 化學(xué)式的摩爾配比,按照摩爾配比將三種原料混合,并將混合物與鋯球、無(wú)水乙醇按照質(zhì)量 比例l : 2 : l放入球磨罐中球磨5h,烘干,料球分離后得到磨料;
      2)預(yù)燒 將磨料壓片,以75(TC預(yù)燒2小時(shí)獲得已初步形成焦綠石相的陶瓷粉料;
      3)成型 將預(yù)燒后的陶瓷粉料粉碎,然后將粉碎的陶瓷粉料與鋯球、無(wú)水乙醇按照質(zhì)量比
      例i : 2 : l放入球磨罐中球磨3h,烘干,將烘干后的陶瓷粉料在研缽中研細(xì),加入質(zhì)量濃
      度為5%的聚乙烯醇溶液作為粘結(jié)劑,造粒,使用60目和80目?jī)蓚€(gè)篩子,其中60目篩子在 上,80目篩子在下,取80目篩子上的粒徑為60 80目顆粒粉料,將造粒得到的粉料自然風(fēng) 干24小時(shí)后,采用液壓實(shí)驗(yàn)機(jī),選用直徑為45mm的模具,以150MPa/m2的壓力對(duì)粉料進(jìn)行 壓片,保壓時(shí)間10分鐘;
      4)燒結(jié) 在950 IIO(TC的溫度區(qū)間進(jìn)行燒結(jié)成瓷,其中燒結(jié)過(guò)程均按照傳統(tǒng)燒結(jié)工藝,
      制得具有立方焦綠石結(jié)構(gòu)的鉍鋅鈮陶瓷靶材;
      5)沉積薄膜
      (a)、樣品安裝 將立方焦綠石結(jié)構(gòu)的鉍鋅鈮陶瓷靶材和清潔的聚合物基底的覆銅板分別固定在 沉積腔中的靶托和樣品托上面,調(diào)整覆銅板和靶材的距離為4. 5cm,用擋板將覆銅板和靶材 隔開(kāi),旋緊閥門(mén),關(guān)閉真空室。
      (b)、系統(tǒng)抽真空 打開(kāi)電源,開(kāi)啟機(jī)械泵,旋開(kāi)旁抽閥,當(dāng)系統(tǒng)真空度達(dá)到0.01Pa左右時(shí),關(guān)閉旁抽
      9閥,打開(kāi)電磁閥,打開(kāi)分子泵冷卻水并啟動(dòng)分子泵,同時(shí)旋開(kāi)閘板閥,約15分鐘后,系統(tǒng)的 真空度可以達(dá)到8. 5X 10—5Pa。
      (c)、激光器預(yù)熱 在沉積開(kāi)始前15分鐘,打開(kāi)激光器的電源開(kāi)關(guān),進(jìn)行預(yù)熱。
      (d)、通入氧氣 依次開(kāi)啟氧壓真閥,流量計(jì),氧氣瓶總閥,然后調(diào)節(jié)流量計(jì),通入氧氣,直到系統(tǒng)的 真空度達(dá)到所需的壓強(qiáng)1Pa。同時(shí)關(guān)閉分子泵,當(dāng)氧壓穩(wěn)定后開(kāi)始脈沖沉積薄膜。
      (e)、薄膜的生長(zhǎng)過(guò)程 因?yàn)槭鞘覝爻练e,基片不需加熱,開(kāi)啟激光器,調(diào)節(jié)激光器和反射鏡使激光照射 在靶面上,并調(diào)節(jié)聚光透鏡使激光照射在靶面上的光斑盡可能的小。激光器功率設(shè)置在 250mJ/pulse,沉積時(shí)間一般為80分鐘,使用頻率為3Hz,氧壓為30Pa ;移開(kāi)擋板,開(kāi)始沉積, 使薄膜的沉積厚度達(dá)到500nm。
      (f)、關(guān)機(jī)過(guò)程 關(guān)閉氧氣閥,同時(shí)關(guān)閉整個(gè)沉積控制程序,關(guān)閉機(jī)械泵,關(guān)閉電源。激光器在充分
      冷卻后,關(guān)閉激光器的電源。 6)熱處理 采用快速熱處理工藝,設(shè)定爐子的目的溫度20(TC,熱處理時(shí)間為IO分鐘。得到類(lèi) 似焦綠石結(jié)構(gòu)的非晶鉍鋅鈮薄膜的厚度大約是500nm。
      由附圖可以直觀的看出對(duì)本發(fā)明的制備效果 從圖1中可以看到,在950 IIO(TC的溫度區(qū)間燒結(jié)的BiuZn^NbL^陶瓷靶材 具有純的立方焦綠石結(jié)構(gòu),并且沒(méi)有其他的雜相出現(xiàn)。圖中的縱坐標(biāo)為相對(duì)衍射強(qiáng)度,橫坐 標(biāo)為2 e角。 從圖2中可以看到,在75(TC預(yù)燒,已初步形成單斜焦綠石相;在920 960°C的 溫度區(qū)間燒結(jié)的Bi2Zn2/3Nb4/307陶瓷靶材具有純的單斜焦綠石結(jié)構(gòu),并且沒(méi)有其他的雜相出
      現(xiàn)。圖中的縱坐標(biāo)為相對(duì)衍射強(qiáng)度,橫坐標(biāo)為2e角。 從圖3中可以觀察到,不管是改變沉積時(shí)的氧壓還是后期熱處理溫度,制備的 BiuZnL。Nbu07薄膜并沒(méi)有出現(xiàn)焦綠石相的特征峰,這表明制備的薄膜是非晶態(tài)的。圖中的 縱坐標(biāo)為相對(duì)衍射強(qiáng)度,橫坐標(biāo)為2e角。 從圖4中可以觀察到,使用單斜的8122!12/3吣4/307陶瓷靶材,在4Pa氧壓下,原位沉 積制備的薄膜,在快速熱處理爐中改變溫度,對(duì)薄膜進(jìn)行熱處理,并沒(méi)有出現(xiàn)焦綠石相的特 征峰,這表明制備的薄膜是非晶態(tài)的。在圖4的插圖中,也可以觀察到,通過(guò)改變氧壓沉積 的薄膜,在15(TC下,對(duì)薄膜進(jìn)行后期熱處理,結(jié)果也表明制備的薄膜是非晶態(tài)的。圖中的縱
      坐標(biāo)為相對(duì)衍射強(qiáng)度,橫坐標(biāo)為2e角。 圖5是本發(fā)明制備的非晶態(tài)的單斜BZN薄膜的粗糙度和沉積速率隨沉積時(shí)氧壓的 變化。左邊縱坐標(biāo)為表面粗糙度(RMS),右邊縱坐標(biāo)為沉積速率,橫坐標(biāo)為沉積時(shí)的氧壓。 從圖中,能夠發(fā)現(xiàn),表面粗糙度隨著氧壓的增加而增加,沉積速率也表現(xiàn)出相同的趨勢(shì)。
      圖6是15(TC快速熱處理,不同氧壓下制備的非晶態(tài)的立方BZN薄膜的介電性能, 測(cè)試頻率為10kHz ;從圖中可以看出,介電常數(shù)隨氧壓的增加逐漸減小,而介電損耗隨氧壓 的增加而逐漸增加。在較低氧壓下制備的非晶態(tài)的立方BZN薄膜展示著優(yōu)異的介電性能。在lPa下制備的立方BZN薄膜,10kHz時(shí),介電常數(shù)和損耗分別達(dá)到61, 0. 005。左邊縱坐標(biāo) 為介電常數(shù),右邊縱坐標(biāo)為介電損耗,橫坐標(biāo)為沉積時(shí)的氧壓。 圖7是在4Pa氧壓下沉積,在不同退火溫度下熱處理的非晶態(tài)的單斜BZN薄膜的 介電性能,測(cè)試頻率為10kHz ;;從圖中我們可以發(fā)現(xiàn),單斜BZN薄膜的介電常數(shù)隨熱處理 溫度的升高而升高,在150°C時(shí),達(dá)到最大值,而后降低。在150°C時(shí),介電常數(shù)達(dá)到60,損耗 在0. 006。左邊縱坐標(biāo)為介電常數(shù),右邊縱坐標(biāo)為介電損耗,橫坐標(biāo)為熱處理溫度。
      圖8是15(TC快速熱處理,在不同氧壓下制備的非晶態(tài)的立方BZN薄膜的漏電流 特性;從圖中我們可以觀察到,在1Pa下制備的立方BZN薄膜展示著優(yōu)異的漏電流特性,在 300kV/cm時(shí),漏電流密度不高于1 X 10—7A/cm2。左右邊縱坐標(biāo)均為漏電流密度,橫坐標(biāo)為應(yīng) 用的電場(chǎng)強(qiáng)度。 圖9是在4Pa氧壓下沉積,在不同退火溫度下熱處理的非晶態(tài)的單斜BZN薄膜的 漏電流特性。從圖中我們可以觀察到,在15(TC熱處理得到的單斜BZN薄膜展示著優(yōu)異的漏 電流特性,在500kV/cm場(chǎng)強(qiáng)時(shí),漏電流密度不超過(guò)1X10—6A/cm2。而且展示出優(yōu)秀的耐擊穿 特性。左右邊縱坐標(biāo)均為漏電流密度,橫坐標(biāo)為應(yīng)用的電場(chǎng)強(qiáng)度。
      1權(quán)利要求
      一種用于嵌入式電容器的鉍鋅鈮薄膜的制備方法,其特征在于,包括以下步驟1)配料、球磨首先按照Bi1.5Zn1.0Nb1.5O7或Bi2Zn2/3Nb4/3O7的化學(xué)式,計(jì)算Bi2O3、ZnO和Nb2O5三種原料之間的符合化學(xué)式的摩爾配比,按照摩爾配比將三種原料混合,并將混合物與鋯球、無(wú)水乙醇按照質(zhì)量比例1∶2∶1放入球磨罐中球磨3~5h,烘干,料球分離后得到磨料;2)預(yù)燒將磨料壓片,以750℃預(yù)燒2小時(shí)獲得已初步形成焦綠石相的陶瓷粉料;3)成型將預(yù)燒后的陶瓷粉料粉碎,然后將粉碎的陶瓷粉料與鋯球、無(wú)水乙醇按照質(zhì)量比例1∶2∶1放入球磨罐中球磨3~5h,烘干,將烘干后的陶瓷粉料在研缽中研細(xì),加入聚乙烯醇溶液作為粘結(jié)劑,造粒,粒徑為60~80目,將造粒得到的粉料自然風(fēng)干24小時(shí)后,采用液壓實(shí)驗(yàn)機(jī),以150MPa/m2的壓力對(duì)粉料進(jìn)行壓片,保壓時(shí)間5~10分鐘;4)燒結(jié)當(dāng)按照Bi1.5Zn1.0Nb1.5O7化學(xué)式配料時(shí),在950~1100℃的溫度區(qū)間進(jìn)行燒結(jié)成瓷,制得具有立方焦綠石結(jié)構(gòu)的鉍鋅鈮陶瓷靶材;當(dāng)按照Bi2Zn2/3Nb4/3O7化學(xué)式配料時(shí),在920~1000℃的溫度區(qū)間進(jìn)行燒結(jié)成瓷,制得具有單斜焦綠石結(jié)構(gòu)的鉍鋅鈮陶瓷靶材;5)沉積薄膜采用脈沖激光沉積技術(shù)將以上制得的鉍鋅鈮陶瓷靶材在鍍Pt基片或聚合物基底的覆銅板上原位沉積厚度為200~500nm的薄膜;6)熱處理使用快速熱處理工藝對(duì)沉積的薄膜在100~200℃下進(jìn)行后退火處理10~20分鐘,得到所述的具有類(lèi)似焦綠石結(jié)構(gòu)的非晶鉍鋅鈮薄膜。
      2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于嵌入式電容器的鉍鋅鈮薄膜的制備方法,其特征在于,所述步驟3)中所述聚乙烯醇溶液的質(zhì)量濃度為5%。
      3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于嵌入式電容器的鉍鋅鈮薄膜的制備方法,其特征在于,所述步驟3)中以60目和80目的篩子進(jìn)行造粒。
      4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于嵌入式電容器的鉍鋅鈮薄膜的制備方法,其特征在于,所述步驟3)中液壓實(shí)驗(yàn)機(jī)選用直徑為45mm的磨具。
      5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于嵌入式電容器的鉍鋅鈮薄膜的制備方法,其特征在于,所述步驟5)中鍍Pt基片是Pt/Ti/SiO乂Si。
      6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于嵌入式電容器的鉍鋅鈮薄膜的制備方法,其特征在于,所述步驟5)中,在沉積溫度為室溫或接近室溫的條件下,通過(guò)改變沉積時(shí)的氧壓進(jìn)行薄膜的沉積,氧壓選在1 30Pa范圍之內(nèi)。
      全文摘要
      本發(fā)明公開(kāi)了一種用于嵌入式電容器的鉍鋅鈮薄膜的制備方法,按照步驟依次包括配料、球磨、預(yù)燒、成型、燒結(jié)、沉積薄膜和熱處理,本發(fā)明的沉積薄膜是采用脈沖激光沉積技術(shù)將以上制得的鉍鋅鈮陶瓷靶材在鍍Pt基片或聚合物基底的覆銅板上原位沉積厚度為200~500nm的薄膜。這種采用脈沖激光沉積工藝,在室溫下原位沉積的方法制得的薄膜呈現(xiàn)為非晶態(tài)的BZN材料,薄膜的表面非常光滑,具有較低的表面粗糙度。本發(fā)明制得的BZN薄膜材料的介電常數(shù)為60,并且損耗在0.6%左右。在0.3MV/cm時(shí),漏電流密度均為1×10-7A/cm2。充分滿(mǎn)足作為嵌入式電容器的介電材料的使用。這非晶態(tài)的BZN薄膜材料制備工藝簡(jiǎn)單,滿(mǎn)足電子元器件的快速發(fā)展的要求,具有良好的市場(chǎng)前景。
      文檔編號(hào)H01G4/12GK101693988SQ200910024398
      公開(kāi)日2010年4月14日 申請(qǐng)日期2009年10月20日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月20日
      發(fā)明者任巍, 史鵬, 吳小清, 姚熹, 張效華, 王昭, 陳曉峰 申請(qǐng)人:西安交通大學(xué);
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