專利名稱：直列式二極管晶粒測(cè)分設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種直列式二極管晶粒測(cè)分設(shè)備。
背景技術(shù)：
二極管整流產(chǎn)品根據(jù)二極管晶粒單向?qū)щ姷奶攸c(diǎn)，正向?qū)?、反向截止；用?lái)達(dá)到 整流的目的，二極管晶粒是二極管的核心器件，晶粒封裝后形成二極管產(chǎn)品。二極管晶粒測(cè) 分是指對(duì)二極管晶粒進(jìn)行電性測(cè)試篩選，將晶粒按電性要求分成不同的等級(jí)，用相對(duì)應(yīng)等 級(jí)的晶粒投產(chǎn)對(duì)應(yīng)產(chǎn)品，可得到較高的封裝成品率。晶粒測(cè)分可降低封裝成本，提升產(chǎn)品的 競(jìng)爭(zhēng)力?，F(xiàn)有晶粒測(cè)分設(shè)備見(jiàn)圖1，一般晶粒從漏斗1倒入圓震盤(pán)2內(nèi)，晶粒通過(guò)圓震 盤(pán)2震動(dòng)后移動(dòng)至直震盤(pán)3的位置，由直震盤(pán)3將晶粒移動(dòng)至晶粒測(cè)試位置4，通過(guò)測(cè)試電 腦5進(jìn)行晶粒測(cè)分，測(cè)分完晶粒按照測(cè)試分類(lèi)結(jié)果排入晶粒分級(jí)盒6內(nèi)，整個(gè)過(guò)程由機(jī)臺(tái)控 制盒7進(jìn)行控制。此種晶粒測(cè)分方式，因?yàn)榫Яｍ毻ㄟ^(guò)圓震盤(pán)2和直震盤(pán)3的軌道，晶粒測(cè) 試前的移動(dòng)時(shí)間較長(zhǎng)，生產(chǎn)效率較低；另外晶粒與圓震盤(pán)2和直震盤(pán)3的軌道金屬層摩擦， 易損傷晶粒外觀，進(jìn)而影響二極管晶粒品質(zhì)。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種能提升生產(chǎn)效率和提升晶粒測(cè)分品 質(zhì)的二極管晶粒測(cè)分設(shè)備。本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案一種直列式二極管晶粒測(cè)分設(shè)備，包括機(jī)身、測(cè)試電腦，機(jī)身上設(shè)置有工作臺(tái)面， 工作臺(tái)面上設(shè)置有列式晶粒吸盤(pán)，工作臺(tái)面上列式晶粒吸盤(pán)的后側(cè)設(shè)置有晶粒頂針，工作 臺(tái)面上晶粒頂針的后側(cè)設(shè)置有晶粒分級(jí)盒的落料槽，晶粒分級(jí)盒設(shè)置在工作臺(tái)面的下方， 機(jī)身上工作臺(tái)面的上方兩側(cè)設(shè)置有滑動(dòng)導(dǎo)軌，滑動(dòng)導(dǎo)軌上設(shè)置有可與其相對(duì)滑動(dòng)的移動(dòng)單 元，所述移動(dòng)單元的下端面上設(shè)置有晶粒吸嘴，移動(dòng)單元的上方為機(jī)臺(tái)控制盒，機(jī)臺(tái)控制盒 通過(guò)連線與移動(dòng)單元連接。所述機(jī)臺(tái)控制盒通過(guò)連線與移動(dòng)單元下端面的晶粒吸嘴連接。所述測(cè)試電腦設(shè)置在工作臺(tái)面的下方、晶粒分級(jí)盒的前端。所述工作臺(tái)面上晶粒頂針的后側(cè)晶粒分級(jí)盒的落料槽至少設(shè)置兩列。有益效果本實(shí)用新型直列式二極管晶粒測(cè)分設(shè)備，采用晶粒吸嘴從直列式晶 粒吸盤(pán)吸取晶粒，移動(dòng)至晶粒頂針處通過(guò)測(cè)試電腦進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試后晶粒按等級(jí)排入相關(guān) 晶粒分級(jí)盒；減少了晶粒的運(yùn)動(dòng)時(shí)間，節(jié)省了晶粒的測(cè)試時(shí)間，晶粒測(cè)分效率大幅提升，可 以從4000顆/小時(shí)提升至7500顆/小時(shí)；另外晶粒測(cè)分過(guò)程中，晶粒通過(guò)真空吸取，未與 震動(dòng)軌道的金屬層摩擦，減少了晶粒外觀損傷，提升了晶粒品質(zhì)。該設(shè)備結(jié)構(gòu)上與圓盤(pán)形測(cè) 分設(shè)備比較，設(shè)計(jì)上采用導(dǎo)軌加直列式吸嘴，設(shè)計(jì)合理緊湊，并采用點(diǎn)對(duì)點(diǎn)測(cè)試晶粒，測(cè)試 準(zhǔn)確性高，整機(jī)運(yùn)行順暢，生產(chǎn)效率大幅度提升，是二極管晶粒測(cè)試的新一代設(shè)備。[0011]
圖1是原有圓盤(pán)形測(cè)分設(shè)備示意圖；圖2是本實(shí)用新型設(shè)備示意圖。
具體實(shí)施方式
下面參照附圖，對(duì)本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
加以詳細(xì)描述。一種直列式二極管晶粒測(cè)分設(shè)備，包括機(jī)身18、測(cè)試電腦15，機(jī)身18上設(shè)置有工 作臺(tái)面17，工作臺(tái)面17上設(shè)置有列式晶粒吸盤(pán)8，工作臺(tái)面17上列式晶粒吸盤(pán)8的后側(cè) 設(shè)置有晶粒頂針13，工作臺(tái)面17上晶粒頂針13的后側(cè)設(shè)置有晶粒分級(jí)盒14的落料槽19， 晶粒分級(jí)盒14設(shè)置在工作臺(tái)面17的下方，機(jī)身18上工作臺(tái)面17的上方兩側(cè)設(shè)置有滑動(dòng) 導(dǎo)軌10，滑動(dòng)導(dǎo)軌10上設(shè)置有可與其相對(duì)滑動(dòng)的移動(dòng)單元11，所述移動(dòng)單元11的下端面 上設(shè)置有晶粒吸嘴9，移動(dòng)單元11的上方為機(jī)臺(tái)控制盒12，機(jī)臺(tái)控制盒12通過(guò)連線16與 移動(dòng)單元11連接。所述機(jī)臺(tái)控制盒12通過(guò)連線16與移動(dòng)單元11下端面的晶粒吸嘴9連接。所述測(cè)試電腦15設(shè)置在工作臺(tái)面17的下方、晶粒分級(jí)盒14的前端。所述工作臺(tái)面17上晶粒頂針13的后側(cè)晶粒分級(jí)盒14的落料槽19至少設(shè)置兩列。直列式二極管晶粒測(cè)分設(shè)備作業(yè)時(shí)，將裝有晶粒的列式晶粒吸盤(pán)8放入設(shè)備相應(yīng) 位置，開(kāi)啟作業(yè)開(kāi)關(guān)，機(jī)臺(tái)控制盒12通過(guò)連線16控制移動(dòng)單元11在滑動(dòng)導(dǎo)軌10上移動(dòng) 至列式晶粒吸盤(pán)8位置，移動(dòng)單元11下端面上的晶粒吸嘴9通過(guò)抽真空吸取一列晶粒(一 般50顆)，然后移動(dòng)單元11沿導(dǎo)軌10水平向后移動(dòng)到晶粒頂針13處，晶粒吸嘴9、晶粒、 晶粒頂針13呈上中下垂直位置接觸好后，測(cè)試電腦15開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試完成后移動(dòng)單 元11再沿導(dǎo)軌10向后水平移動(dòng)到晶粒分級(jí)盒14的落料槽19處，依次關(guān)閉真空將晶粒放 入落料槽19處，晶粒從落料槽19掉入晶粒分級(jí)盒14中，完成一列晶粒的測(cè)分作業(yè)。然后 移動(dòng)單元11沿導(dǎo)軌10向前水平移動(dòng)到列式晶粒吸盤(pán)8的下一列晶粒位置，抽真空吸取下 一列晶粒，再繼續(xù)上面之動(dòng)作，如此往復(fù)，直到列式晶粒吸盤(pán)8上的晶粒全部測(cè)分完成，再 換一塊列式晶粒吸盤(pán)作業(yè)。
權(quán)利要求1.一種直列式二極管晶粒測(cè)分設(shè)備，包括機(jī)身(18)、測(cè)試電腦(15)，機(jī)身(18)上設(shè)置 有工作臺(tái)面(17)，其特征在于所述工作臺(tái)面(17)上設(shè)置有列式晶粒吸盤(pán)(8)，工作臺(tái)面 (17)上列式晶粒吸盤(pán)(8)的后側(cè)設(shè)置有晶粒頂針(13)，工作臺(tái)面(17)上晶粒頂針(13)的后 側(cè)設(shè)置有晶粒分級(jí)盒(14)的落料槽(19)，晶粒分級(jí)盒(14)設(shè)置在工作臺(tái)面(17)的下方，機(jī) 身(18)上工作臺(tái)面(17)的上方兩側(cè)設(shè)置有滑動(dòng)導(dǎo)軌(10)，所述滑動(dòng)導(dǎo)軌(10)上設(shè)置有可 與其相對(duì)滑動(dòng)的移動(dòng)單元(11)，所述移動(dòng)單元(11)的下端面上設(shè)置有晶粒吸嘴(9)，所述 移動(dòng)單元(11)的上方為機(jī)臺(tái)控制盒(12)，機(jī)臺(tái)控制盒(12)通過(guò)連線(16)與移動(dòng)單元(11) 連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的直列式二極管晶粒測(cè)分設(shè)備，其特征在于所述機(jī)臺(tái)控制盒 (12)通過(guò)連線(16)與移動(dòng)單元(11)下端面的晶粒吸嘴(9)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的直列式二極管晶粒測(cè)分設(shè)備，其特征在于所述測(cè)試電腦 (15)設(shè)置在工作臺(tái)面(17)的下方、晶粒分級(jí)盒(14)的前端。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的直列式二極管晶粒測(cè)分設(shè)備，其特征在于所述工作臺(tái)面 (17)上晶粒頂針(13)的后側(cè)晶粒分級(jí)盒(14)的落料槽(19)至少設(shè)置兩列。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種直列式二極管晶粒測(cè)分設(shè)備，包括機(jī)身、測(cè)試電腦，機(jī)身上設(shè)置有工作臺(tái)面，工作臺(tái)面上設(shè)置有列式晶粒吸盤(pán),工作臺(tái)面上列式晶粒吸盤(pán)的后側(cè)設(shè)置有晶粒頂針，工作臺(tái)面上晶粒頂針的后側(cè)設(shè)置有晶粒分級(jí)盒的落料槽，晶粒分級(jí)盒設(shè)置在工作臺(tái)面的下方，機(jī)身上工作臺(tái)面的上方兩側(cè)設(shè)置有滑動(dòng)導(dǎo)軌，滑動(dòng)導(dǎo)軌上設(shè)置有可與其相對(duì)滑動(dòng)的移動(dòng)單元，所述移動(dòng)單元的下端面上設(shè)置有晶粒吸嘴，移動(dòng)單元的上方為機(jī)臺(tái)控制盒，機(jī)臺(tái)控制盒通過(guò)連線與移動(dòng)單元連接。采用晶粒吸嘴從直列式晶粒吸盤(pán)吸取晶粒，移動(dòng)至晶粒頂針處通過(guò)測(cè)試電腦進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試后晶粒按等級(jí)排入相關(guān)晶粒分級(jí)盒；減少了晶粒的運(yùn)動(dòng)時(shí)間，節(jié)省了晶粒的測(cè)試時(shí)間，晶粒測(cè)分效率大幅提升，晶粒通過(guò)真空吸取，未與震動(dòng)軌道的金屬層摩擦，減少了晶粒外觀損傷，提升了晶粒品質(zhì)。
文檔編號(hào)H01L21/66GK201853683SQ201020551318
公開(kāi)日2011年6月1日 申請(qǐng)日期2010年10月5日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月5日
發(fā)明者林加斌, 許資彬 申請(qǐng)人:強(qiáng)茂電子(無(wú)錫)有限公司