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      一種芯片封裝新結(jié)構(gòu)的制作方法

      文檔序號(hào):7160511閱讀:107來源:國(guó)知局
      專利名稱:一種芯片封裝新結(jié)構(gòu)的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種芯片封裝新結(jié)構(gòu),尤其涉及一種使用引腳架電性連接芯片與線路板的芯片封裝新結(jié)構(gòu),屬于芯片封裝技術(shù)領(lǐng)域。
      背景技術(shù)
      在集成電路的制作中,芯片是通過晶圓制作、形成集成電路以及切割晶圓等步驟而獲得。在晶圓的集成電路制作完成之后,由晶圓切割所形成的芯片可以向外電性連接到承載器上;其中,承載器可以是引腳架或是基板,而芯片可以采用打線結(jié)合或覆晶結(jié)合的方式電性連接至承載器。如果芯片和承載器是以打線結(jié)合的方式電性連接,則進(jìn)入到填入封膠的制作步驟以構(gòu)成芯片封裝體。芯片封裝技術(shù)就是將芯片包裹起來,以避免芯片與外界接觸,防止外界對(duì)芯片的損害的一種工藝技術(shù)??諝庵械碾s質(zhì)和不良?xì)怏w,乃至水蒸氣都會(huì)腐蝕芯片上的精密電路,進(jìn)而造成電學(xué)性能下降。不同的封裝技術(shù)在制造工序和工藝方面差異很大,封裝后對(duì)內(nèi)存芯片自身性能的發(fā)揮也起到至關(guān)重要的作用。隨著光電、微電制造工藝技術(shù)的飛速發(fā)展,電子產(chǎn)品始終在朝著更小、更輕、更便宜的方向發(fā)展,因此芯片元件的封裝形式也不斷得到改進(jìn)?,F(xiàn)行的芯片封裝新結(jié)構(gòu)中大多采用引腳架連接芯片和線路層,引腳架上內(nèi)引通過導(dǎo)線與芯片接點(diǎn)之間實(shí)現(xiàn)電性連接,成本低廉,易于實(shí)施,但內(nèi)引腳與芯片之間不存在實(shí)體上的接觸,使導(dǎo)線焊接及芯片封裝操作時(shí)穩(wěn)定性不高。

      發(fā)明內(nèi)容
      針對(duì)上述需求,本發(fā)明提供了一種芯片封裝新結(jié)構(gòu),其中,引腳架上的內(nèi)引腳結(jié)構(gòu)得到了改進(jìn),使得內(nèi)引腳與芯片在封裝過程中存在接觸,有效提高了芯片封裝操作時(shí)的穩(wěn)定性。本發(fā)明是一種芯片封裝新結(jié)構(gòu),該芯片封裝新結(jié)構(gòu)包括線路層、防焊層、芯片封裝體和引腳體,引腳體由內(nèi)引腳、外引腳和引腳架組成,其特征在于,所述的內(nèi)引腳插入芯片封裝體,并于與芯片封裝體內(nèi)的芯片接觸,同時(shí)內(nèi)引腳上設(shè)有焊點(diǎn),通過導(dǎo)線與芯片上的焊點(diǎn)相連,產(chǎn)生電性連接,所述的防焊層上設(shè)置開口,外引腳透過防焊層上的開口與線路層上裸露的接點(diǎn)相連。在本發(fā)明一較佳實(shí)施例中,所述的內(nèi)引腳端部為“L”型結(jié)構(gòu),與芯片之間產(chǎn)生兩個(gè)接觸面,使芯片在封裝時(shí)更為穩(wěn)定。在本發(fā)明一較佳實(shí)施例中,所述的外引腳與線路層上的接點(diǎn)采用焊接工藝進(jìn)行連接。在本發(fā)明一較佳實(shí)施例中,所述的焊接工藝包括熱壓焊接法、超聲波壓焊法和熱超聲焊接法。本發(fā)明揭示了一種芯片封裝新結(jié)構(gòu),該芯片封裝新結(jié)構(gòu)能有效提高芯片與線路層的電器連接性能,通過內(nèi)引腳結(jié)構(gòu)的改良,使芯片在接點(diǎn)焊接和封裝操作中更加穩(wěn)定,連接性能更加優(yōu)良,且本技術(shù)只需對(duì)現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行改進(jìn),改進(jìn)成本低,易于實(shí)施。


      下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
      對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明 圖1是本發(fā)明實(shí)施例芯片封裝新結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖2是本發(fā)明實(shí)施例芯片封裝新結(jié)構(gòu)內(nèi)引腳的結(jié)構(gòu)示意附圖中各部件的標(biāo)記如下1、線路層,2、防焊層,3、芯片封裝體,4、引腳體,5、內(nèi)引腳,6、外引腳,7、引腳架,8、芯片,9-10、焊點(diǎn),11、導(dǎo)線,12、接點(diǎn)。
      具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的較佳實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)闡述,以使本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解,從而對(duì)本發(fā)明的保護(hù)范圍做出更為清楚明確的界定。圖1是本發(fā)明實(shí)施例芯片封裝新結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2是本發(fā)明實(shí)施例芯片封裝新結(jié)構(gòu)內(nèi)引腳的結(jié)構(gòu)示意圖;該芯片封裝新結(jié)構(gòu)包括線路層1、防焊層2、芯片封裝體3和引腳體4,引腳體4由內(nèi)引腳5、外引腳6和引腳架7組成,其特征在于,所述的內(nèi)引腳5插入芯片封裝體3,并于與芯片封裝體3內(nèi)的芯片8接觸,同時(shí)內(nèi)引腳5上設(shè)有焊點(diǎn)9,通過導(dǎo)線11與芯片上的焊點(diǎn)10相連,產(chǎn)生電性連接,所述的防焊層2上設(shè)置開口,外引腳6透過防焊層2上的開口與線路層1上裸露的接點(diǎn)12相連。本發(fā)明中提及的芯片封裝新結(jié)構(gòu)的內(nèi)引腳5端部為“L”型結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)使內(nèi)引腳 5與芯片8之間產(chǎn)生兩個(gè)接觸面,分別與芯片8的底部和側(cè)部接觸,使芯片8在進(jìn)行封裝操作時(shí)更加的穩(wěn)定,同時(shí),有效的提高了導(dǎo)線焊接的精度;外引腳6與線路層1上的接點(diǎn)12采用適當(dāng)?shù)暮附庸に囘M(jìn)行連接,該焊接工藝包括熱壓焊接法、超聲波壓焊法和熱超聲焊接法。本發(fā)明揭示了一種芯片封裝新結(jié)構(gòu),其特點(diǎn)是該芯片封裝新結(jié)構(gòu)能有效提高芯片與線路層的電器連接性能,通過內(nèi)引腳結(jié)構(gòu)的改良,使芯片在接點(diǎn)焊接和封裝操作中更加穩(wěn)定,連接性能更加優(yōu)良,且本技術(shù)只需對(duì)現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行改進(jìn),改進(jìn)成本低,易于實(shí)施。以上所述,僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式
      ,但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此,任何熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明所揭露的技術(shù)范圍內(nèi),可不經(jīng)過創(chuàng)造性勞動(dòng)想到的變化或替換,都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此,本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求書所限定的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
      權(quán)利要求
      1.一種芯片封裝新結(jié)構(gòu),該芯片封裝新結(jié)構(gòu)包括線路層、防焊層、芯片封裝體和引腳體,引腳體由內(nèi)引腳、外引腳和引腳架組成,其特征在于,所述的內(nèi)引腳插入芯片封裝體,并于與芯片封裝體內(nèi)的芯片接觸,同時(shí)內(nèi)引腳上設(shè)有焊點(diǎn),通過導(dǎo)線與芯片上的焊點(diǎn)相連,產(chǎn)生電性連接,所述的防焊層上設(shè)置開口,外引腳透過防焊層上的開口與線路層上裸露的接點(diǎn)相連。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片封裝新結(jié)構(gòu),其特征在于,所述的內(nèi)引腳端部為“L”型結(jié)構(gòu),與芯片之間產(chǎn)生兩個(gè)接觸面,使芯片在封裝時(shí)更為穩(wěn)定。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片封裝新結(jié)構(gòu),其特征在于,所述的外引腳與線路層上的接點(diǎn)采用焊接工藝進(jìn)行連接。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的芯片封裝新結(jié)構(gòu),其特征在于,所述的焊接工藝包括熱壓焊接法、超聲波壓焊法和熱超聲焊接法。
      全文摘要
      本發(fā)明公開了一種芯片封裝新結(jié)構(gòu),該芯片封裝新結(jié)構(gòu)包括線路層、防焊層、芯片封裝體和引腳體,引腳體由內(nèi)引腳、外引腳和引腳架組成,其特征在于,所述的內(nèi)引腳插入芯片封裝體,并于與芯片封裝體內(nèi)的芯片接觸,同時(shí)內(nèi)引腳上設(shè)有焊點(diǎn),通過導(dǎo)線與芯片上的焊點(diǎn)相連,產(chǎn)生電性連接,所述的防焊層上設(shè)置開口,外引腳透過防焊層上的開口與線路層上裸露的接點(diǎn)相連。本發(fā)明揭示了一種芯片封裝新結(jié)構(gòu),該芯片封裝新結(jié)構(gòu)能有效提高芯片與線路層的電器連接性能,通過內(nèi)引腳結(jié)構(gòu)的改良,使芯片在接點(diǎn)焊接和封裝操作中更加穩(wěn)定,連接性能更加優(yōu)良,且本技術(shù)只需對(duì)現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行改進(jìn),改進(jìn)成本低,易于實(shí)施。
      文檔編號(hào)H01L23/495GK102364678SQ20111029185
      公開日2012年2月29日 申請(qǐng)日期2011年9月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月30日
      發(fā)明者徐子旸 申請(qǐng)人:常熟市廣大電器有限公司
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