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      一種高密度系統(tǒng)集成計(jì)算機(jī)模塊抗輻照封裝結(jié)構(gòu)的制作方法

      文檔序號(hào):7153666閱讀:706來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:一種高密度系統(tǒng)集成計(jì)算機(jī)模塊抗輻照封裝結(jié)構(gòu)的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型屬于微電子組裝封裝工藝領(lǐng)域,具體涉及一種采用抗輻照屏蔽材料與外殼進(jìn)行一體化組裝的抗輻照封裝結(jié)構(gòu)。
      技術(shù)背景在半導(dǎo)體制造過(guò)程中采用SOI工藝加固和抗輻照設(shè)計(jì)加固等方法,研制抗輻射加固器件。80年代初,國(guó)外研究人員開始重視CMOS器件的抗輻射封裝加固技術(shù)研究,進(jìn)行了抗輻射封裝加固技術(shù)試驗(yàn),證明封裝加固技術(shù)對(duì)于屏蔽中子和Y射線較困難,但對(duì)于屏蔽空間環(huán)境的高能電子和質(zhì)子相對(duì)有效。尤其對(duì)Van Alien輻射帶的電子和質(zhì)子來(lái)說(shuō),屏蔽效果顯著?;诨旌霞杉夹g(shù)的系統(tǒng)集成模塊由于技術(shù)較為新穎,在空間電子系統(tǒng)的應(yīng)用 方面還沒(méi)有采用相關(guān)防護(hù)措施。隨著空間技術(shù)的迅猛發(fā)展,抗輻射封裝加固技術(shù)研究也逐漸得到重視??馆椛浞庋b加固技術(shù)的核心是將芯片與空間輻射環(huán)境進(jìn)行適當(dāng)?shù)钠帘魏臀锢砀綦x,是一種擴(kuò)展半導(dǎo)體器件使用壽命的直接而有效的途徑。試驗(yàn)證明,抗輻射封裝加固技術(shù)對(duì)于屏蔽空間環(huán)境的高能電子和質(zhì)子比較有效,尤其對(duì)于Van Alien輻射帶的電子和質(zhì)子來(lái)說(shuō),屏蔽效果顯著。本實(shí)用新型是提高空間電子系統(tǒng)中使用的系統(tǒng)集成計(jì)算機(jī)模塊的抗輻射封裝加固能力,解決其空間工程化應(yīng)用的問(wèn)題。通常,鎢的線膨脹系數(shù)為4. 5 X IO-6/ V’小于可伐材料的線膨脹系數(shù)6. 5 X 10_6/°C,為了提高鎢的線膨脹系數(shù),需要進(jìn)行鎢滲銅處理。采用粉末冶金沖壓工藝,選擇純度大于99%的鶴粉,鶴粉粉末直徑為2 5微米。制造鶴金屬多孔材料,然后做滲銅處理,通過(guò)調(diào)整鎢銅的比例,使最終形成的鎢銅材料與可伐材料形成良好的線膨脹系數(shù)匹配
      實(shí)用新型內(nèi)容
      本實(shí)用新型的目的在于提出一種新型的種高密度系統(tǒng)集成計(jì)算機(jī)模塊抗輻照封裝結(jié)構(gòu),包括可伐框架和蓋板,所述可伐框架為鎢銅底板與可伐框焊接在一起的復(fù)合可伐框;所述蓋板是可伐蓋板與鎢銅蓋板熔封焊接在一起的復(fù)合蓋板。所述復(fù)合可伐蓋板為四周低中間高的臺(tái)階形狀。所述鎢銅蓋板鍍有鎳層后可伐蓋板焊接在一起。本實(shí)用新型的有益效果是采用多層材料復(fù)合的上蓋板和底板,將鎢銅、可伐材料設(shè)計(jì)到MCM(多芯片組件)模塊的封裝結(jié)構(gòu)中,采用真空釬焊工藝,在真空釬焊爐中,進(jìn)行鎢銅板與可伐框架和蓋板的疊層釬焊,組成高Z值(原子序數(shù)高)材料和低Z值(原子序數(shù)低)材料的疊層組合結(jié)構(gòu),形成IC芯片與空間輻射環(huán)境的屏蔽和物理隔離,從而有效地屏蔽輻射。

      圖I是一體化可伐框架外形圖。圖2是鎢銅蓋板外形圖。[0010]圖3是可伐蓋板外形圖。圖4鶴銅底板外形圖。圖5可伐框外形圖。圖中I.散熱片,2.螺紋孔,3.插座槽。
      具體實(shí)施方式
      以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型做詳細(xì)描述。 實(shí)際設(shè)計(jì)的一體化可伐框架外形如下圖I所示,模塊尺寸為73_X53mm。可伐蓋板與配套的鎢銅蓋板設(shè)計(jì)圖及尺寸見圖2,3,可伐蓋板為四周低中間高的臺(tái)階形狀,按照MCM模塊上側(cè)可伐框的外形尺寸,設(shè)計(jì)為52. 9mmX72. 9mm,中間厚度0. 4mm,四周封焊環(huán)厚度為0. 15mm,要求平面度為0. 05mm,表面鍍鎳2 u m。鶴銅蓋板外形尺寸設(shè)計(jì)為68. 7mmX48. 7mm,厚度0. 5mm,要求平面度為0. 05mm,表
      面鍍鎳2 u m,應(yīng)用熔封工藝直接與可伐蓋板焊接在一起,形成復(fù)合蓋板??煞タ蚺c配套的鎢銅底板設(shè)計(jì)圖見圖4,5,鎢銅底板厚度為0.5mm,表面鍍鎳2 U m,鎢銅底板通過(guò)釬焊工藝焊接在可伐框的背面,形成復(fù)合可伐框。模塊組裝調(diào)試完成后采用平行縫焊工藝將復(fù)合上蓋板(鎢銅蓋板與可伐蓋板焊接在一起稱為復(fù)合上蓋板)焊接在復(fù)合可伐框(鎢銅底板與可伐框焊接在一起稱為復(fù)合可伐框)上。
      權(quán)利要求1.一種高密度系統(tǒng)集成計(jì)算機(jī)模塊抗輻照封裝結(jié)構(gòu),其特征在于包括可伐框架和蓋板,蓋板蓋在可伐框架上;所述可伐框架為鎢銅底板與可伐框焊接在一起的復(fù)合可伐框;所述蓋板是可伐蓋板與鎢銅蓋板熔封焊接在一起的復(fù)合蓋板。
      2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的封裝結(jié)構(gòu),其特征在于所述復(fù)合可伐蓋板為四周低中間高的臺(tái)階形狀。
      3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的封裝結(jié)構(gòu),其特征在于所述鎢銅蓋板鍍有鎳層后與可伐蓋板焊接在一起。
      4.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的封裝結(jié)構(gòu),其特征在于所述鎢銅底板鍍有鎳層后與可伐框焊接在一起。
      專利摘要一種高密度系統(tǒng)集成計(jì)算機(jī)模塊抗輻照封裝結(jié)構(gòu),包括可伐框架和蓋板,所述可伐框架為鎢銅底板與可伐框焊接在一起的復(fù)合可伐框;所述蓋板是可伐蓋板與鎢銅蓋板熔封焊接在一起的復(fù)合蓋板。所述復(fù)合可伐蓋板為四周低中間高的臺(tái)階形狀。所述鎢銅蓋板鍍有鎳層后可伐蓋板焊接在一起。采用多層材料復(fù)合的上蓋板和底板,將鎢銅、可伐材料設(shè)計(jì)到MCM(多芯片組件)模塊的封裝結(jié)構(gòu)中,采用真空釬焊工藝,在真空釬焊爐中,進(jìn)行鎢銅板與可伐框架和蓋板的疊層釬焊,組成高Z值(原子序數(shù)高)材料和低Z值(原子序數(shù)低)材料的疊層組合結(jié)構(gòu),形成IC芯片與空間輻射環(huán)境的屏蔽和物理隔離,從而有效地屏蔽輻射。
      文檔編號(hào)H01L23/552GK202495444SQ20122006856
      公開日2012年10月17日 申請(qǐng)日期2012年2月28日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月28日
      發(fā)明者劉暉, 曹輝, 樊衛(wèi)鋒, 王衛(wèi)江 申請(qǐng)人:中國(guó)航天科技集團(tuán)公司第九研究院第七七一研究所
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