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      晶圓的處理方法、制備半導體元件的方法及其應用與流程

      文檔序號:12369660閱讀:來源:國知局
      技術(shù)總結(jié)
      本發(fā)明公開了晶圓的處理方法、制備半導體元件的方法及其應用。根據(jù)本發(fā)明的實施例,晶圓的處理方法包括:(1)對晶圓的背面進行打磨;(2)對經(jīng)過打磨的晶圓背面進行噴砂。由此,采用晶圓的處理方法在消除晶圓背面研磨損傷的同時,可以在晶圓背面形成微觀的凸凹缺陷,從而提高晶圓背面上金屬層的粘附,進而提高功率器件的性能。根據(jù)本發(fā)明的實施例,制備半導體元件的方法包括:提供晶圓;在晶圓的背面形成砂層;在晶圓背面的砂層上沉積形成金屬層;采用封裝材料對形成金屬層的晶圓進行封裝,其中,在晶圓的背面形成砂層是采用上述晶圓的處理方法進行的。由此,采用制備半導體元件的方法可以制備得到性能穩(wěn)定的半導體元件。

      技術(shù)研發(fā)人員:白興軍;劉鵬飛;吳海平
      受保護的技術(shù)使用者:比亞迪股份有限公司
      文檔號碼:201510245236
      技術(shù)研發(fā)日:2015.05.14
      技術(shù)公布日:2017.01.04

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