本發(fā)明涉及OLED封裝的技術(shù)領(lǐng)域,具體是涉及一種OLED保護(hù)膜的封裝結(jié)構(gòu)及其封裝方法。
背景技術(shù):
OLED(Organic Light-Emitting Diode,有機(jī)發(fā)光二極管)具有自發(fā)光、全固態(tài)、寬視角、響應(yīng)快等諸多優(yōu)點(diǎn),并且在平板顯示中有著巨大的應(yīng)用前景,OLED被認(rèn)為是繼LCD(Liquid Crystal Display,液晶顯示器)、PDP(Plasma Display Panel,等離子顯示板)之后的新一代平板顯示產(chǎn)品和技術(shù)。目前OLED在顯示和照明領(lǐng)域都已經(jīng)有了廣泛的應(yīng)用。
在現(xiàn)有技術(shù)中,OLED器件的薄膜封裝普遍使用的是一層無機(jī)層,一層有機(jī)層的疊層結(jié)構(gòu),其中無機(jī)層一般采用PECVD(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition--等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積法)、ALD(Atomic layer deposition--原子層沉積)、PLD(Plasma layer deposition–等離子層沉積)等技術(shù),在無機(jī)層成膜的過程中會(huì)使用Mask(掩膜板),如圖1所示,圖1是現(xiàn)有技術(shù)中OLED保護(hù)膜形成過程中掩膜板與玻璃基板配合結(jié)構(gòu)的剖視圖;受掩膜板1設(shè)計(jì)影響,掩膜板1覆蓋到玻璃基板4上后,會(huì)與玻璃基板4間形成間隙(GAP)3。
請(qǐng)一并參閱圖2,圖2是現(xiàn)有技術(shù)中OLED保護(hù)膜形成后的局部結(jié)構(gòu)示意圖;當(dāng)使用PECVD等方法對(duì)OLED器件2形成保護(hù)膜5時(shí),保護(hù)膜5就會(huì)向間隙3延伸,進(jìn)而會(huì)影響到對(duì)整個(gè)OLED板的切割位置以及會(huì)使OLED發(fā)光面邊緣黑框加寬,對(duì)窄邊框顯示設(shè)計(jì)不利。注:圖1中標(biāo)注10為掩膜板的鏤空區(qū)。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明實(shí)施例提供一種OLED保護(hù)膜的封裝結(jié)構(gòu)及其封裝方法,以解決現(xiàn)有技術(shù)中在對(duì)OLED形成保護(hù)膜時(shí),保護(hù)膜會(huì)向玻璃基板與掩膜板之間的間隙延伸的技術(shù)問題。
為解決上述問題,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種OLED保護(hù)膜的封裝結(jié)構(gòu),所述封裝結(jié)構(gòu)包括掩膜板以及設(shè)有OLED器件的玻璃基板;所述掩膜板上設(shè)有與所述OLED器件尺寸相對(duì)應(yīng)的鏤空區(qū),所述掩膜板上的非鏤空區(qū)與所述玻璃基板之間形成有空隙,所述玻璃基板在對(duì)應(yīng)所述空隙的位置處設(shè)有凹槽,所述掩膜板在相對(duì)所述玻璃基板的一側(cè)設(shè)有立柱,所述掩膜板與所述玻璃基板對(duì)位貼合時(shí),所述立柱插入所述凹槽內(nèi);OLED器件上形成保護(hù)膜時(shí),所述立柱用以對(duì)所述保護(hù)膜進(jìn)行阻擋。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例,所述掩膜板上的立柱通過在所述掩膜板沉積無機(jī)材料層,然后經(jīng)過曝光、顯影、刻蝕工藝形成。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例,所述掩膜板上的立柱的截面為梯形;所述玻璃基板上的凹槽形狀與所述立柱形狀相適應(yīng)。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例,所述玻璃基板上的凹槽沿所述OLED器件的環(huán)周設(shè)置,所述凹槽的深度為10um~20um。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例,所述立柱的高度小于所述OLED器件的厚度與所述玻璃基板上凹槽的深度之和,以使所述立柱插入所述凹槽配合時(shí),所述掩膜板貼緊所述OLED器件。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明還提供一種OLED保護(hù)膜的封裝方法,所述封裝方法包括步驟:
在設(shè)有OLED器件的玻璃基板上形成凹槽;
在設(shè)有鏤空區(qū)的掩膜板上形成立柱結(jié)構(gòu),所述鏤空區(qū)的尺寸與所述OLED器件的尺寸相對(duì)應(yīng);
將所述設(shè)有凹槽的玻璃基板與所述設(shè)有立柱結(jié)構(gòu)的掩膜板貼緊配合,所述立柱插入所述凹槽內(nèi),所述掩膜板貼緊所述OLED器件,所述掩膜板上的非鏤空區(qū)與所述玻璃基板之間形成有空隙;
通過所述鏤空區(qū)在OLED器件上形成保護(hù)膜;
其中,所述立柱用以對(duì)所述保護(hù)膜進(jìn)行阻擋。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例,所述掩膜板上的立柱通過在所述掩膜板沉積無機(jī)材料層,然后經(jīng)過曝光、顯影、刻蝕工藝形成。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例,所述掩膜板上的立柱的截面為梯形;所述玻璃基板上的凹槽形狀與所述立柱形狀相適應(yīng)。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例,所述玻璃基板上的凹槽沿所述OLED器件的環(huán)周設(shè)置,所述凹槽的深度為10um~20um。
根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例,所述立柱的高度小于所述OLED器件的厚度與所述玻璃基板上凹槽的深度之和,以使所述立柱插入所述凹槽配合時(shí),所述掩膜板貼緊所述OLED器件。
相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明提供的OLED保護(hù)膜的封裝結(jié)構(gòu)及其封裝方法,通過在玻璃基板和掩膜板上形成相互配合的凹槽以及立柱結(jié)構(gòu),立柱可以在OLED形成保護(hù)膜時(shí),阻擋保護(hù)膜向玻璃基板和掩膜板之間延伸,該OLED保護(hù)膜的封裝結(jié)構(gòu)可以使OLED發(fā)光面邊緣黑框變窄,有利于推動(dòng)窄邊框顯示技術(shù)的發(fā)展。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是現(xiàn)有技術(shù)中OLED保護(hù)膜形成過程中掩膜板與玻璃基板配合結(jié)構(gòu)的剖視圖;
圖2是現(xiàn)有技術(shù)中OLED保護(hù)膜形成后的局部結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是本發(fā)明OLED保護(hù)膜封裝結(jié)構(gòu)一優(yōu)選實(shí)施例中掩膜板與玻璃基板分開狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4是圖3實(shí)施例中掩膜板與玻璃基板貼緊配合狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5是OLED保護(hù)膜的封裝結(jié)構(gòu)形成保護(hù)膜的結(jié)構(gòu)示意圖;以及
圖6是本發(fā)明OLED保護(hù)膜的封裝方法一優(yōu)選實(shí)施例的流程示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。特別指出的是,以下實(shí)施例僅用于說明本發(fā)明,但不對(duì)本發(fā)明的范圍進(jìn)行限定。同樣的,以下實(shí)施例僅為本發(fā)明的部分實(shí)施例而非全部實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其它實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
請(qǐng)一并參閱圖3和圖4,圖3是本發(fā)明OLED保護(hù)膜封裝結(jié)構(gòu)一優(yōu)選實(shí)施例中掩膜板與玻璃基板分開狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖,圖4是圖3實(shí)施例中掩膜板與玻璃基板貼緊配合狀態(tài)的結(jié)構(gòu)示意圖。該封裝結(jié)構(gòu)包括掩膜板100以及玻璃基板200。
具體而言,該玻璃基板200上設(shè)有OLED器件210,掩膜板100上設(shè)有與OLED器件210尺寸相對(duì)應(yīng)的鏤空區(qū)110,掩膜板100上的非鏤空區(qū)120與玻璃基板200之間形成有空隙300,玻璃基板200在對(duì)應(yīng)空隙300的位置處設(shè)有凹槽220,掩膜板100在相對(duì)玻璃基板200的一側(cè)設(shè)有立柱130,掩膜板100與玻璃基板200對(duì)位貼合時(shí),立柱130插入凹槽220內(nèi)。
請(qǐng)進(jìn)一步參閱圖5,圖5是OLED保護(hù)膜的封裝結(jié)構(gòu)形成保護(hù)膜的結(jié)構(gòu)示意圖。OLED器件210上形成保護(hù)膜400時(shí),掩膜板100上的立柱130用以對(duì)保護(hù)膜400進(jìn)行阻擋,進(jìn)而限制保護(hù)膜400向空隙300內(nèi)過度延伸,保護(hù)膜400只能夠延伸到立柱130位置處(圖中立柱130的右側(cè)),這樣的話,很大程度上限制了保護(hù)膜400的延伸長度及延伸位置。
優(yōu)選地,該掩膜板100上的立柱130是通過在掩膜板100沉積無機(jī)材料層,然后經(jīng)過曝光、顯影、刻蝕工藝形成。關(guān)于形成立柱130結(jié)構(gòu)過程中的曝光、顯影、刻蝕等工藝在本領(lǐng)域技術(shù)人員的理解范圍內(nèi),此處不再詳述。其中,無機(jī)材料可以為SiN、或者SiO、SiON等。此處亦不再一一列舉。
在本實(shí)施例中,掩膜板100上的立柱130的截面為梯形;玻璃基板200上的凹槽220形狀與立柱130形狀相適應(yīng)。當(dāng)然在其他實(shí)施例中,掩膜板100上立柱130的截面形狀也可以為其他形狀。
進(jìn)一步優(yōu)選地,玻璃基板200上的凹槽220可以沿OLED器件210的環(huán)周設(shè)置,凹槽的深度為10um~20um。玻璃基板上確定OLED器件210的位置大小等信息后,利用蝕刻技術(shù)在各OLED器件210四周的玻璃基板上面制作深度為10um~20um的倒梯形凹槽220。
進(jìn)一步地,為了使立柱130插入凹槽220配合時(shí),掩膜板100貼緊OLED器件210,設(shè)計(jì)為立柱130的高度H小于OLED器件210的厚度T與玻璃基板200上凹槽220的深度D之和。
在本實(shí)施例中可以采用PECVD(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition--等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積法)技術(shù)形成保護(hù)膜400,該保護(hù)膜400優(yōu)先采用無機(jī)材料組成,譬如SiN、或者SiO、SiON等。
PECVD是借助微波或射頻等使含有薄膜組成原子的氣體電離,在局部形成等離子體,而等離子體化學(xué)活性很強(qiáng),很容易發(fā)生反應(yīng),在基片上沉積出所期望的薄膜。為了使化學(xué)反應(yīng)能在較低的溫度下進(jìn)行,利用了等離子體的活性來促進(jìn)反應(yīng),因而這種CVD稱為等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(PECVD)。PECVD具有的優(yōu)點(diǎn)為:基本溫度低;沉積速率快;成膜質(zhì)量好,針孔較少,不易龜裂等。
相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明提供的OLED保護(hù)膜的封裝結(jié)構(gòu),通過在玻璃基板和掩膜板上形成相互配合的凹槽以及立柱結(jié)構(gòu),立柱可以在OLED形成保護(hù)膜時(shí),阻擋保護(hù)膜向玻璃基板和掩膜板之間延伸,該OLED保護(hù)膜的封裝結(jié)構(gòu)可以使OLED發(fā)光面邊緣黑框變窄,有利于推動(dòng)窄邊框顯示技術(shù)的發(fā)展。
進(jìn)一步地,本發(fā)明實(shí)施例還提供OLED保護(hù)膜的封裝方法,請(qǐng)參閱圖6,圖6是本發(fā)明OLED保護(hù)膜的封裝方法一優(yōu)選實(shí)施例的流程示意圖,該封裝方法包括但不限以下步驟。
步驟S610,在設(shè)有OLED器件的玻璃基板上形成凹槽。
在步驟步驟S610中,玻璃基板上的凹槽可以沿OLED器件的環(huán)周設(shè)置,凹槽的深度為優(yōu)選為10um~20um。玻璃基板上確定OLED器件的位置大小等信息后,利用蝕刻技術(shù)在各OLED器件四周的玻璃基板上面制作深度為10um~20um的倒梯形凹槽。
步驟S620,在設(shè)有鏤空區(qū)的掩膜板上形成立柱結(jié)構(gòu)。
在該步驟中,鏤空區(qū)的尺寸與OLED器件的尺寸相對(duì)應(yīng)。掩膜板上的立柱的截面為梯形;玻璃基板上的凹槽形狀與立柱形狀相適應(yīng),也為梯形。當(dāng)然在其他實(shí)施例中,掩膜板上立柱的截面形狀也可以為其他形狀,只要其與凹槽形狀相適應(yīng)配合即可。
該掩膜板上的立柱是通過在掩膜板沉積無機(jī)材料層,然后經(jīng)過曝光、顯影、刻蝕工藝形成。關(guān)于形成立柱結(jié)構(gòu)過程中的曝光、顯影、刻蝕等工藝在本領(lǐng)域技術(shù)人員的理解范圍內(nèi),此處不再詳述。其中,無機(jī)材料可以為SiN、或者SiO、SiON等。此處亦不再一一列舉。
需要說明的是,本實(shí)施例中步驟S610與步驟S620的順序可以對(duì)調(diào),即在玻璃基板上形成凹槽與在掩膜板上形成立柱結(jié)構(gòu)的步驟不分先后,哪一步驟在先均可。
步驟S630,將設(shè)有凹槽的玻璃基板與設(shè)有立柱結(jié)構(gòu)的掩膜板貼緊配合;此時(shí),立柱插入凹槽內(nèi),掩膜板貼緊OLED器件,掩膜板上的非鏤空區(qū)與玻璃基板之間形成有空隙。
進(jìn)一步地,為了使立柱插入凹槽配合時(shí),掩膜板貼緊OLED器件,設(shè)計(jì)為立柱的高度H小于OLED器件的厚度T與玻璃基板上凹槽的深度D之和。詳見圖3。
步驟S640,通過鏤空區(qū)在OLED器件上形成保護(hù)膜。
在步驟S640中,立柱用以對(duì)保護(hù)膜進(jìn)行阻擋。具體請(qǐng)參閱圖5,圖5是OLED保護(hù)膜的封裝結(jié)構(gòu)在形成保護(hù)膜的結(jié)構(gòu)示意圖。OLED器件上形成保護(hù)膜時(shí),立柱限制了保護(hù)膜向空隙內(nèi)過度延伸,保護(hù)膜只能夠延伸到立柱位置處(圖中立柱的右側(cè)),這樣的話,很大程度上限制了保護(hù)膜的延伸長度及延伸位置。
在該步驟中可以采用PECVD(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition--等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積法)技術(shù)形成保護(hù)膜,該保護(hù)膜優(yōu)先采用無機(jī)材料組成,譬如SiN、或者SiO、SiON等。
PECVD是借助微波或射頻等使含有薄膜組成原子的氣體電離,在局部形成等離子體,而等離子體化學(xué)活性很強(qiáng),很容易發(fā)生反應(yīng),在基片上沉積出所期望的薄膜。為了使化學(xué)反應(yīng)能在較低的溫度下進(jìn)行,利用了等離子體的活性來促進(jìn)反應(yīng),因而這種CVD稱為等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(PECVD)。PECVD具有的優(yōu)點(diǎn)為:基本溫度低;沉積速率快;成膜質(zhì)量好,針孔較少,不易龜裂等。
相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明提供的OLED保護(hù)膜的封裝方法,通過在玻璃基板和掩膜板上形成相互配合的凹槽以及立柱結(jié)構(gòu),立柱可以在OLED形成保護(hù)膜時(shí),阻擋保護(hù)膜向玻璃基板和掩膜板之間延伸,該OLED保護(hù)膜的封裝結(jié)構(gòu)可以使OLED發(fā)光面邊緣黑框變窄,有利于推動(dòng)窄邊框顯示技術(shù)的發(fā)展。
以上所述僅為本發(fā)明的部分實(shí)施例,并非因此限制本發(fā)明的保護(hù)范圍,凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效裝置或等效流程變換,或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域,均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。