本實用新型實施例涉及掩膜板領(lǐng)域,尤其涉及一種掩膜板對位系統(tǒng)。
背景技術(shù):
在有機發(fā)光二極管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)技術(shù)中,真空蒸鍍用的掩膜板技術(shù)是一項至關(guān)重要的技術(shù),掩膜板的質(zhì)量直接影響著生產(chǎn)制造成本和產(chǎn)品質(zhì)量。OLED蒸鍍用的掩膜板中精密金屬掩模板(Fine Metal Mask,F(xiàn)MM)是最關(guān)鍵的掩膜板,F(xiàn)MM用于蒸鍍發(fā)光層材料,因此FMM質(zhì)量的好壞直接關(guān)系到屏幕的顯示效果。
目前,OLED蒸鍍用的掩膜板一般由多條子掩膜板張網(wǎng)而成。在對每條子掩膜板進行引張時,可能會由于張力不到位、子掩膜板自身重力影響或子掩膜板稍微傾斜等因素,導(dǎo)致部分蒸鍍圖案位置出現(xiàn)偏差,掩膜板自對位不準(zhǔn)確,造成對OLED進行蒸鍍時,掩膜板上的部分蒸鍍圖案無法與OLED上的待蒸鍍區(qū)域精準(zhǔn)對位,降低了產(chǎn)品良率,增加了生產(chǎn)制造成本。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本實用新型提供一種掩膜板對位系統(tǒng),以實現(xiàn)對掩膜板本身的高精度對位,提高產(chǎn)品良率,減小生產(chǎn)制造成本。
本實用新型實施例提供了一種掩膜板對位系統(tǒng),包括:
待對位掩膜板,所述待對位掩膜板包括分離的多張子掩膜板;
對位參考板,與所述待對位掩膜板相對設(shè)置,其中,所述對位參考板上包括根據(jù)待蒸鍍基板的待蒸鍍區(qū)域設(shè)定的多個第一對位標(biāo)記,所述子掩膜板包括與所述第一對位標(biāo)記對應(yīng)設(shè)置的第二對位標(biāo)記;
對位傳感器,用于監(jiān)測任一第二對位標(biāo)記與對應(yīng)的第一對位標(biāo)記的相對位置關(guān)系,并將相對位置關(guān)系數(shù)據(jù)反饋至控制設(shè)備;
控制設(shè)備,連接于所述對位傳感器,用于移動所述對位傳感器,根據(jù)所述相對位置關(guān)系數(shù)據(jù),調(diào)整所述任一第二對位標(biāo)記所在的子掩膜板的位置,以使待對位掩膜板的蒸鍍圖案與所述待蒸鍍區(qū)域?qū)?yīng)。
本實用新型實施例根據(jù)待蒸鍍基板的待蒸鍍區(qū)域在對位參考板上設(shè)定多個第一對位標(biāo)記,并在各子掩膜板上設(shè)置與第一對位標(biāo)記對應(yīng)的第二對位標(biāo)記;在對各子掩膜板進行引張時,通過對位傳感器實時監(jiān)測任一第二對位標(biāo)記與對應(yīng)的第一對位標(biāo)記的相對位置關(guān)系,控制設(shè)備根據(jù)相對位置關(guān)系調(diào)整子掩膜板的位置,直至各第二對位標(biāo)記與對應(yīng)的第一對位標(biāo)記相對,完成整張掩膜板(待對位掩膜板)本身的對位,以使待對位掩膜板的蒸鍍圖案與待蒸鍍基板的待蒸鍍區(qū)域完全對位。
附圖說明
圖1為本實用新型實施例提供的一種掩膜板對位系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本實用新型實施例提供的待對位掩膜板的平面結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為本實用新型實施例提供的另一種掩膜板對位系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4為本實用新型實施例提供的另一種待對位掩膜板的平面結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5為本實用新型實施例提供的另一種掩膜板對位系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖6為本實用新型實施例提供的另一種待對位掩膜板的平面結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖和實施例對本實用新型作進一步的詳細說明??梢岳斫獾氖?,此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本實用新型,而非對本實用新型的限定。另外還需要說明的是,為了便于描述,附圖中僅示出了與本實用新型相關(guān)的部分而非全部結(jié)構(gòu)。
圖1為本實用新型實施例提供的一種掩膜板對位系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示,該掩膜板對位系統(tǒng)包括待對位掩膜板1、對位參考板2、對位傳感器3和控制設(shè)備4。
其中,待對位掩膜板1包括分離的多張子掩膜板11;
對位參考板2與待對位掩膜板1相對設(shè)置,其中,對位參考板2上包括根據(jù)待蒸鍍基板的待蒸鍍區(qū)域設(shè)定的多個第一對位標(biāo)記211,子掩膜板11包括與第一對位標(biāo)記211對應(yīng)設(shè)置的第二對位標(biāo)記111;
對位傳感器3用于監(jiān)測任一第二對位標(biāo)記111與對應(yīng)的第一對位標(biāo)記211的相對位置關(guān)系,并將相對位置關(guān)系數(shù)據(jù)反饋至控制設(shè)備4;
控制設(shè)備4連接于對位傳感器,用于移動所述對位傳感器,根據(jù)相對位置關(guān)系數(shù)據(jù),調(diào)整任一第二對位標(biāo)記111所在的子掩膜板11的位置,以使待對位掩膜板1的蒸鍍圖案與待蒸鍍區(qū)域?qū)?yīng)。
示例性的,本實施例的掩膜板對位系統(tǒng)適用于對OLED蒸鍍用的掩膜板本身進行對位??蛇x的,上述對位參考板2可以為對位參考掩膜板,該對位參考掩膜板可以是制備液晶顯示面板時使用的掩膜板,且掩膜板的開口圖案的位置與本實用新型待蒸鍍基板的待蒸鍍區(qū)域的位置相同;另外,上述對位參考板2也可以為對位參考基板,該對位參考基板可以為本實用新型OLED陣列基板前段制程中的玻璃基板,該玻璃基板上具有待蒸鍍區(qū)域和多個第一對位標(biāo)記211。需要說明的是,上述對位參考板2可通過夾具夾持固定。
本實施例中,每張子掩膜板11對應(yīng)待蒸鍍區(qū)域或?qū)ξ粎⒖及?中的一片區(qū)域,各子掩膜板11上標(biāo)有與對位參考板2對應(yīng)區(qū)域中的第一對位標(biāo)記211相對應(yīng)的第二對位標(biāo)記111,在子掩膜板11與對位參考板2完全對位時,各第一對位標(biāo)記211與對應(yīng)的第二對位標(biāo)記111在子掩膜板11上的正投影重合。
可選的,上述對位傳感器3包括光學(xué)鏡頭,用于采集待對位掩膜板1和對位參考板2的對位圖像,該光學(xué)鏡頭可以為CCD攝像頭。對位傳感器3實時采集對位圖像并將對位圖像數(shù)據(jù)反饋給控制設(shè)備4,控制設(shè)備4可控制對位傳感器3精密移動,并根據(jù)對位圖像數(shù)據(jù),調(diào)整任一第二對位標(biāo)記111所在的子掩膜板的位置,以此逐一調(diào)整各子掩膜板11的位置,直至所有子掩膜板11上的所有第二對位標(biāo)記111與對應(yīng)的第一對位標(biāo)記211相對應(yīng),完成待對位掩膜板1本身的對位。
如圖1所示,本實施例的掩膜板對位系統(tǒng)還包括支撐體5,用于支撐待對位掩膜板1。結(jié)合圖1和圖2,該支撐體5上設(shè)置有沿第一方向延伸沿第二方向排布的多個定位柱51,用于拉伸子掩膜板11,其中,第一方向與第二方向垂直;子掩膜板11沿第一方向延伸沿第二方向設(shè)置于定位柱51上。其中,定位柱51受到張力拉伸變形,設(shè)置在定位柱51上的子掩膜板11隨著定位柱51的拉伸而拉伸,以此,通過拉伸定位柱51可對子掩膜板11的位置進行微調(diào)。另外,定位柱51可位于相鄰子掩膜板11之間的區(qū)域,以避免遮擋蒸鍍圖案。
圖3為本實用新型實施例提供的另一種掩膜板對位系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖?;趫D1對應(yīng)的實施例,本實施例的支撐體5上還設(shè)置有沿第二方向延伸沿第一方向排布的多個支撐柱52。
參考圖3和圖4,可選的,支撐柱52支撐于子掩膜板11的中部區(qū)域。由于子掩膜板11的長邊相對短邊較長,且厚度很薄,子掩膜板11受自身重力作用,其中部區(qū)域容易發(fā)生凹陷,導(dǎo)致子掩膜板11上蒸鍍圖案的位置出現(xiàn)偏差。因此,在子掩膜板11的中部區(qū)域設(shè)置支撐柱52,可防止子掩膜板11的中部區(qū)域發(fā)生凹陷,進一步提高了對待對位掩膜板本身進行對位的精確度。
圖5為本實用新型實施例提供的另一種掩膜板對位系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。基于圖3對應(yīng)的實施例,本實施例的子掩膜板11還包括多個可熔融定位點112,可熔融定位點112的垂直投影位于51定位柱和支撐柱52上;且掩膜板對位系統(tǒng)還包括熔融設(shè)備6,熔融設(shè)備6連接于控制設(shè)備4,用于在多張子掩膜板11完成對位后,熔融可熔融定位點112,以將子掩膜板11固定于支撐體5上。
參考圖5和圖6,可選的,熔融設(shè)備6為激光器,上述支撐體5、支撐架52和可熔融定位點112可以為金屬材料,通過激光熔融將各子掩膜板11焊接在支撐體5上,完成整張待對位掩膜板的制作。本實施例中,控制設(shè)備4可控制熔融設(shè)備移動到設(shè)定可熔融定位點112,由此可進一步檢測子掩膜板11是否對位準(zhǔn)確,在確定對位準(zhǔn)確后,通過熔融可熔融定位點112將子掩膜板11焊接在支撐體5上,以固定子掩膜板11,防止在后續(xù)工藝中子掩膜板11移動。
具體的,上述實施例中的待蒸鍍區(qū)域包括多個子像素單元,待對位掩膜板用于蒸鍍子像素單元中的發(fā)光層材料,本實用新型中的待對位掩膜板為精密金屬掩膜板。上述第一對位標(biāo)記可以包括待蒸鍍區(qū)域的邊緣位置標(biāo)記和任一子像素單元的位置標(biāo)記。示例性的,待蒸鍍區(qū)域的邊緣位置標(biāo)記可以為十字形標(biāo)記,任一子像素單元的位置標(biāo)記可以為子像素單元對應(yīng)位置處的符號標(biāo)記,也可以為子像素單元對應(yīng)的蒸鍍圖案。
可選的,本實用新型中的控制設(shè)備可包括控制主機和張網(wǎng)機,控制主機通過線路分別連接于對位傳感器和張網(wǎng)機;
張網(wǎng)機可包括移動機構(gòu)和張網(wǎng)機構(gòu),移動機構(gòu)連接對位傳感器,用于移動對位傳感器,張網(wǎng)機的張網(wǎng)機構(gòu)連接定位柱的兩端,用于拉伸定位柱;
控制主機用于根據(jù)相對位置關(guān)系數(shù)據(jù),向張網(wǎng)機發(fā)送位置調(diào)整指令;
張網(wǎng)機用于根據(jù)位置調(diào)整指令,調(diào)整任一第二對位標(biāo)記所在的子掩膜板的位置。
本實用新型實施例根據(jù)待蒸鍍基板的待蒸鍍區(qū)域在對位參考板上設(shè)定多個第一對位標(biāo)記,并在各子掩膜板上設(shè)置與第一對位標(biāo)記對應(yīng)的第二對位標(biāo)記;在對各子掩膜板進行引張時,通過對位傳感器實時監(jiān)測任一第二對位標(biāo)記與對應(yīng)的第一對位標(biāo)記的相對位置關(guān)系,控制設(shè)備根據(jù)相對位置關(guān)系調(diào)整子掩膜板的位置,直至各第二對位標(biāo)記與對應(yīng)的第一對位標(biāo)記相對,完成整張掩膜板本身的對位,以使待對位掩膜板的蒸鍍圖案與待蒸鍍基板的待蒸鍍區(qū)域完全對位。
注意,上述僅為本實用新型的較佳實施例及所運用技術(shù)原理。本領(lǐng)域技術(shù)人員會理解,本實用新型不限于這里所述的特定實施例,對本領(lǐng)域技術(shù)人員來說能夠進行各種明顯的變化、重新調(diào)整和替代而不會脫離本實用新型的保護范圍。因此,雖然通過以上實施例對本實用新型進行了較為詳細的說明,但是本實用新型不僅僅限于以上實施例,在不脫離本實用新型構(gòu)思的情況下,還可以包括更多其他等效實施例,而本實用新型的范圍由所附的權(quán)利要求范圍決定。