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      一種晶片甩干托盤的制作方法

      文檔序號:40374618發(fā)布日期:2024-12-20 11:56閱讀:20來源:國知局
      一種晶片甩干托盤的制作方法

      本技術(shù)涉及半導(dǎo)體襯底材料制造領(lǐng)域,特別是涉及一種晶片甩干托盤。


      背景技術(shù):

      1、磷化銦襯底在制造高頻高功率器件、光纖通信、無線傳輸、射電天文學(xué)等射頻器件領(lǐng)域存在應(yīng)用市場。使用磷化銦襯底制造的射頻器件已在衛(wèi)星、雷達等應(yīng)用場景中表現(xiàn)出優(yōu)異的性能。在雷達和通信系統(tǒng)的射頻前端、模擬/混合信號寬帶寬電路方面具有較強競爭力,適合高速數(shù)據(jù)處理、高精度寬帶寬a/d轉(zhuǎn)換等應(yīng)用。

      2、然而,磷化銦晶片在拋光工序前研磨甩干是一步費時費力的工序,現(xiàn)有技術(shù)中,磷化銦研磨后是采用人工使用氣槍下料,再用手將研磨好的磷化銦晶片從研磨機上取下,手動沖水并用氣槍吹干,效率低下,且員工手動處理容易受傷。


      技術(shù)實現(xiàn)思路

      1、本實用新型要解決的技術(shù)問題是:如何提升晶片的甩干效率,避免員工受傷。

      2、為了解決上述技術(shù)問題,本實用新型提供了一種晶片甩干托盤,包括:

      3、托盤本體,所述托盤本體的上表面沿所述托盤本體的邊緣設(shè)有凸緣,所述凸緣在所述托盤本體的上表面圍成一內(nèi)凹晶片放置區(qū)域,所述托盤本體與所述凸緣之間開設(shè)有多個排水孔,所述內(nèi)凹晶片放置區(qū)域內(nèi)對稱開設(shè)有弧槽;以及

      4、調(diào)節(jié)組件,所述調(diào)節(jié)組件設(shè)置于所述弧槽內(nèi),用于根據(jù)晶片的尺寸進行調(diào)節(jié)以實現(xiàn)對不同尺寸晶片的夾持固定。

      5、進一步優(yōu)選地,所述調(diào)節(jié)組件包括:

      6、調(diào)節(jié)件,所述調(diào)節(jié)件為彈性件且置于所述弧槽內(nèi);以及

      7、彈簧,所述彈簧設(shè)于所述弧槽內(nèi)的一端,且所述彈簧的一端與所述調(diào)節(jié)件相抵接。

      8、進一步優(yōu)選地,所述調(diào)節(jié)組件還包括設(shè)于所述弧槽內(nèi)的一端的限位柱,所述彈簧套接于所述限位柱上。

      9、進一步優(yōu)選地,所述弧槽的內(nèi)壁上沿所述弧槽的弧度方向設(shè)有多個卡塊,所述調(diào)節(jié)件遠離所述彈簧的一端與任一所述卡塊抵接。

      10、進一步優(yōu)選地,還包括擋板,所述擋板覆蓋于所述弧槽設(shè)有限位柱的一端。

      11、進一步優(yōu)選地,所述內(nèi)凹晶片放置區(qū)域為內(nèi)凹球形面區(qū)域。

      12、進一步優(yōu)選地,所述內(nèi)凹晶片放置區(qū)域為內(nèi)凹錐面區(qū)域,其錐度θ滿足:

      13、1°≤θ≤10°。

      14、進一步優(yōu)選地,所述托盤本體為圓盤結(jié)構(gòu),多個所述排水孔繞所述托盤本體的周向間隔布置。

      15、進一步優(yōu)選地,所述托盤本體與所述凸緣為一體成型結(jié)構(gòu)。

      16、進一步優(yōu)選地,所述凸緣上開設(shè)有機械手進入槽位。

      17、本實用新型提供的一種晶片甩干托盤與現(xiàn)有技術(shù)相比,其有益效果在于:本實用新型通過在托盤本體的上表面沿托盤本體的邊緣設(shè)有凸緣,使得凸緣能夠在托盤本體的上表面圍成一內(nèi)凹晶片放置區(qū)域,將待甩干晶片放置在內(nèi)凹晶片放置區(qū)域內(nèi),并通過調(diào)節(jié)組件固定待甩干晶片,當驅(qū)動機構(gòu)帶動該晶片甩干托盤轉(zhuǎn)動后,由于晶片放置區(qū)域為內(nèi)凹結(jié)構(gòu),因此,晶片的底部與托盤本體并不直接接觸,從而有利于水分在離心力的作用下從排水孔甩出。該晶片甩干托盤結(jié)構(gòu)簡單,穩(wěn)定性好,同時利用離心力對晶片上的水分進行甩干,甩干效率高,且無需手動操作,能有效避免員工受傷,從而達到降低成本的目的。



      技術(shù)特征:

      1.一種晶片甩干托盤,其特征在于,包括:

      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶片甩干托盤,其特征在于,所述調(diào)節(jié)組件包括:

      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種晶片甩干托盤,其特征在于,所述調(diào)節(jié)組件還包括設(shè)于所述弧槽內(nèi)的一端的限位柱,所述彈簧套接于所述限位柱上。

      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種晶片甩干托盤,其特征在于,所述弧槽的內(nèi)壁上沿所述弧槽的弧度方向設(shè)有多個卡塊,所述調(diào)節(jié)件遠離所述彈簧的一端與任一所述卡塊抵接。

      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種晶片甩干托盤,其特征在于,還包括擋板,所述擋板覆蓋于所述弧槽設(shè)有限位柱的一端。

      6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶片甩干托盤,其特征在于,所述內(nèi)凹晶片放置區(qū)域為內(nèi)凹球形面區(qū)域。

      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶片甩干托盤,其特征在于,所述內(nèi)凹晶片放置區(qū)域為內(nèi)凹錐面區(qū)域,其錐度θ滿足:

      8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶片甩干托盤,其特征在于,所述托盤本體為圓盤結(jié)構(gòu),多個所述排水孔繞所述托盤本體的周向間隔布置。

      9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶片甩干托盤,其特征在于,所述托盤本體與所述凸緣為一體成型結(jié)構(gòu)。

      10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶片甩干托盤,其特征在于,所述凸緣上開設(shè)有機械手進入槽位。


      技術(shù)總結(jié)
      本技術(shù)涉及半導(dǎo)體襯底材料制造領(lǐng)域,具體公開了一種晶片甩干托盤,包括托盤本體以及調(diào)節(jié)組件,其中,所述托盤本體的上表面沿所述托盤本體的邊緣設(shè)有凸緣,所述凸緣在所述托盤本體的上表面圍成一內(nèi)凹晶片放置區(qū)域,所述托盤本體與所述凸緣之間開設(shè)有多個排水孔,所述內(nèi)凹晶片放置區(qū)域內(nèi)對稱開設(shè)有弧槽;所述調(diào)節(jié)組件設(shè)置于所述弧槽內(nèi),用于根據(jù)晶片的尺寸進行調(diào)節(jié)以實現(xiàn)對不同尺寸晶片的夾持固定。該晶片甩干托盤結(jié)構(gòu)簡單,穩(wěn)定性好,同時利用離心力對晶片上的水分進行甩干,甩干效率高,且無需手動操作,能有效避免員工受傷,從而達到降低成本的目的。

      技術(shù)研發(fā)人員:鄭金龍,唐勇,黃藝毅,周鐵軍,馬金峰
      受保護的技術(shù)使用者:廣東先導(dǎo)微電子科技有限公司
      技術(shù)研發(fā)日:20231228
      技術(shù)公布日:2024/12/19
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