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      鎳金屬硅化物的制備方法

      文檔序號(hào):9812305閱讀:373來(lái)源:國(guó)知局
      鎳金屬硅化物的制備方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本發(fā)明設(shè)及半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,特別設(shè)及一種儀金屬娃化物的制備方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002] 隨著半導(dǎo)體器件集成度持續(xù)增大W及與運(yùn)些器件相關(guān)的臨界尺寸持續(xù)減小,人們 的興趣越來(lái)越集中于W低電阻材料制造半導(dǎo)體器件從而保持或降低信號(hào)延遲。娃化物 (SiIicide)和自對(duì)準(zhǔn)娃化物(self-aligned siIicide)材料及工藝已經(jīng)被廣泛地應(yīng)用到 CMOS集成電路制造中W降低源極/漏極區(qū)及柵極區(qū)的接觸電阻和串聯(lián)電阻。
      [0003] 早期的二娃化鐵(TiSi2)由于其窄線條效應(yīng)已經(jīng)不適用于0.1 Sum的技術(shù),被二娃 化鉆(CoSi2)取代。二娃化鉆形成相同厚度的娃化物需要消耗更多的多晶娃或娃襯底,已經(jīng) 不能滿足源漏淺結(jié)及超淺結(jié)的需求;并且二娃化鉆在低于45納米的多晶娃線條上表現(xiàn)出明 顯的窄線條效應(yīng);在45納米及W下的技術(shù)中,由于熱預(yù)算的考量,二娃化鉆的形成溫度(第 二次快速熱處理的工藝溫度范圍為600°C~800°C)也不能滿足器件需求。因此在45納米及 W下的技術(shù)中,迫切需要一種金屬娃化物來(lái)解決W上問(wèn)題。
      [0004] 與二娃化鐵和二娃化鉆相比,娃化儀(NiSi)具有W下的優(yōu)點(diǎn):(1)娃化工藝溫度 低,只需要350°C~750°C; (2)娃消耗量低,形成1納米娃化儀僅消耗0.83納米娃;(3)尚未發(fā) 現(xiàn)娃化儀方塊電阻隨線條減小而變大;(4)可W在較低的溫度下與錯(cuò)娃材料形成低阻值的 娃化物。因此,娃化儀被視為一種較為理想的金屬娃化物。
      [0005] 在現(xiàn)有技術(shù)中,娃化儀與二娃化鐵和二娃化鉆相似,也采用兩步快速熱處理(RTP) 的工藝:首先在較低的溫度下(220°C~300°C)和N2氛圍中進(jìn)行第一步退火,通過(guò)儀的擴(kuò)散, 生成主要W娃化二儀(Ni2Si)和娃化儀共存的娃化物;然后通過(guò)選擇性刻蝕去除側(cè)墻上未 反應(yīng)的儀或儀合金,在較高的溫度下(350°C~750°C)和N2氛圍中進(jìn)行第二步退火,在源漏 極和柵極生成娃化儀。
      [0006] 但是半導(dǎo)體器件的尺寸還在不斷縮小,娃化儀層的電阻對(duì)器件電學(xué)性能的影響也 越來(lái)越顯著,如何減小娃化儀層的電阻變得越來(lái)越重要。娃化儀的品質(zhì)受其厚度、形貌W及 管道品質(zhì)的影響,高品質(zhì)的娃化儀不僅有利于降低源極/漏極區(qū)及柵極區(qū)的接觸電阻和串 聯(lián)電阻,而且有利于提高器件的可靠性。因此,如何獲得高品質(zhì)的娃化儀是目前亟需解決的 問(wèn)題。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0007] 本發(fā)明的目的在于提供一種儀金屬娃化物的制備方法,W獲得形貌和均勻性良 好、低管道缺陷的儀金屬娃化物,從而提高儀金屬娃化物的品質(zhì)。
      [000引本發(fā)明的技術(shù)方案是一種儀金屬娃化物的制備方法,包括W下步驟:
      [0009] Sl:對(duì)暴露的娃襯底表面進(jìn)行預(yù)清洗,除去自然氧化物,在其上沉積儀或儀合金;
      [0010] S2:向工藝腔體中通入含有氨氣的氣體,去除工藝腔體中的氧氣,接著使用氮?dú)鈨?化工藝腔體中殘留的含有氨氣的氣體,然后在沉積儀或儀合金的娃襯底進(jìn)入工藝腔體之 后,通入含有氨氣的氣體進(jìn)行第一次退火,使儀或儀合金的至少一部分與娃反應(yīng),形成儀金 屬娃化物的混合物;
      [0011] S3:移除未反應(yīng)的儀或儀合金;
      [0012] S4:進(jìn)行第二次退火,使所述儀金屬娃化物的混合物轉(zhuǎn)化為儀金屬娃化物。
      [0013] 進(jìn)一步的,所述第一次退火的溫度為220°C~270°C,所述第一次退火的時(shí)間為30s ~150sd
      [0014] 進(jìn)一步的,所述第一次退火通入的氣體為氨氣。
      [0015] 進(jìn)一步的,所述第一次退火通入的氣體為氨氣與氮?dú)獾幕旌蠚怏w。
      [0016] 進(jìn)一步的,所述第二次退火采用閃光燈進(jìn)行退火。
      [0017] 進(jìn)一步的,所述第二次退火的溫度為800°C~900°C,所述第二次退火的時(shí)間為 0.003s~0.05sd
      [0018] 進(jìn)一步的,所述儀金屬娃化物的混合物包括娃化二儀與娃化儀,所述儀金屬娃化 物為娃化儀。
      [0019] 進(jìn)一步的,所述預(yù)清洗除去自然氧化物的步驟通過(guò)利用氣等離子體瓣射移除娃襯 底表面層來(lái)完成。
      [0020] 進(jìn)一步的,所述儀或儀合金通過(guò)物理氣相沉積法沉積在清洗后的娃襯底表面上。
      [0021] 進(jìn)一步的,儀合金是由儀與包括鶴、粗、錯(cuò)、鐵、給、銷、鈕、饑、妮、鉆的集合中的一 種或多種金屬形成的合金。
      [0022] 與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明提供的儀金屬娃化物的制備方法,具有W下有益效果:
      [0023] 1、本發(fā)明通過(guò)在第一次退火中通入含有氨氣的氣體,能消除反應(yīng)氛圍中微量的氧 氣,防止儀或儀合金W及儀金屬娃化物被氧化,可W降低儀金屬娃化物的缺陷,形成形貌和 均勻性良好的儀金屬娃化物;并且氨氣能夠修復(fù)和減少儀金屬娃化物和娃襯底界面處的缺 陷,從而改善界面態(tài);
      [0024] 2、第二次退火采用閃光燈進(jìn)行退火,可W降低儀在娃中的擴(kuò)散,W得到低管道缺 陷的儀金屬娃化物,從而提高儀金屬娃化物的品質(zhì),降低了源極/漏極區(qū)及柵極區(qū)的接觸電 阻和串聯(lián)電阻,而且提高了器件的可靠性。
      【附圖說(shuō)明】
      [0025] 圖1為本發(fā)明一實(shí)施例中儀金屬娃化物的制備方法的流程圖。
      [0026] 圖2~6為本發(fā)明一實(shí)施例中儀金屬娃化物的制備方法的各步驟結(jié)構(gòu)示意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0027] 為使本發(fā)明的內(nèi)容更加清楚易懂,W下結(jié)合說(shuō)明書(shū)附圖,對(duì)本發(fā)明的內(nèi)容做進(jìn)一 步說(shuō)明。當(dāng)然本發(fā)明并不局限于該具體實(shí)施例,本領(lǐng)域的技術(shù)人員所熟知的一般替換也涵 蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
      [0028] 其次,本發(fā)明利用示意圖進(jìn)行了詳細(xì)的表述,在詳述本發(fā)明實(shí)例時(shí),為了便于說(shuō) 明,示意圖不依照一般比例局部放大,不應(yīng)對(duì)此作為本發(fā)明的限定。
      [0029] 本發(fā)明的核屯、思想是:在第一次退火中通入含有氨氣的氣體,消除反應(yīng)氛圍中微 量的氧氣,防止儀或儀合金W及儀金屬娃化物被氧化,可W降低儀金屬娃化物的缺陷,形成 形貌和均勻性良好的儀金屬娃化物;并且氨氣能夠修復(fù)和減少儀金屬娃化物和娃襯底界面 處的缺陷,從而改善界面態(tài)。
      [0030]圖1為本發(fā)明一實(shí)施例中儀金屬娃化物的制備方法的流程圖,如圖1所示,本發(fā)明 提出一種儀金屬娃化物的制備方法,包括W下步驟:
      [0031 ]步驟Sl:對(duì)暴露的娃襯底表面進(jìn)行預(yù)清洗,除去自然氧化物,在其上沉積儀或儀合 金;
      [0032] 步驟S2:向工藝腔體中通入含有氨氣的氣體,去除工藝腔體中的氧氣,接著使用氮 氣凈化工藝腔體中殘留的含有氨氣氣體,然后在沉積儀或儀合金的娃襯底進(jìn)入工藝腔體之 后,通入含有氨氣的氣體進(jìn)行第一次退火,使儀或儀合金的至少一部分與娃反應(yīng),形成儀金 屬娃化物的混合物;
      [0033] 步驟S3:移除未反應(yīng)的儀或儀合金;
      [0034] 步驟S4:進(jìn)行第二次退火,使所述儀金屬娃化物的混合物轉(zhuǎn)化為儀金屬娃化物。
      [0035] 圖2~6為本發(fā)明一實(shí)施例中儀金屬娃化物的制備方法的各步驟結(jié)構(gòu)示意圖,請(qǐng)參 考圖1所示,并結(jié)合圖2~圖6,詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明提出的儀金屬娃化物的制備方法:
      [0036] 在步驟Sl中,對(duì)暴露的娃襯底10的表面進(jìn)行預(yù)清洗,除去自然氧化物,并在清洗后 的娃襯底10的表面上沉積儀20或者儀合金20,如圖3所示。
      [0037] 所述娃襯底10為單晶娃襯底、多晶娃襯底、絕緣體上娃襯底其中的一種。其中,當(dāng) 儀金屬娃化物層形成于源/漏區(qū)表面時(shí),所述娃襯底10為單晶娃襯底、絕緣體上娃襯底其中 的一種,當(dāng)儀金屬娃化物層形成于柵極結(jié)構(gòu)表面時(shí),所述娃襯底10為多晶娃襯底。
      [003引預(yù)清洗通過(guò)利用氣等離子體瓣射來(lái)移除娃襯底表面來(lái)完成,通??蒞移除 20A~IOOA厚度的娃表面層來(lái)獲得清潔的娃表面,也可W采用本領(lǐng)域技術(shù)人員已知的
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