太陽能電池漿料的性能測試方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種太陽能電池漿料的性能測試方法，其方法簡單、成本低。一種太陽能電池漿料的性能測試方法，包括如下步驟：S1、提供具有柵線圖形的印刷網(wǎng)版；S2、取漿料和硅片，通過所述印刷網(wǎng)版在所述硅片上印刷柵線并燒結(jié)；S3、將兩個(gè)探針壓在燒結(jié)后的硅片的柵線上，將兩個(gè)所述探針分別連接在恒壓電流源的正負(fù)極以施加測試電壓，測漿料的電阻。
【專利說明】太陽能電池漿料的性能測試方法
[0001]
技術(shù)領(lǐng)域
[0002]本發(fā)明涉及太陽能電池領(lǐng)域，特別涉及一種太陽能電池漿料的性能測試方法。
【背景技術(shù)】
[0003 ]太陽能電池的正銀漿料，會影響到金屬與半導(dǎo)體的接觸，從而影響電池片的效率。所以，漿料導(dǎo)電性、接觸性能等的測試評估數(shù)據(jù)對漿料的改進(jìn)及印刷燒結(jié)工藝的調(diào)節(jié)有很大的作用。目前，采用Core Scan測試儀測試漿料與硅的接觸電阻，它可以對電池片的串聯(lián)電阻進(jìn)行測試分析，而且可以間接地反應(yīng)出接觸電阻、薄層電阻、體電阻，從而定性地評估漿料的性能。
[0004]雖然CoreScan測試儀可以用來評估正銀漿料與半導(dǎo)體的接觸電阻，但是前提條件是必須做成電池片，并且此測試對電池是破壞性的，會造成成本的浪費(fèi)。另外，Core Scan測試儀設(shè)備本身比較昂貴，而且只能做定性分析。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]針對上述問題，本發(fā)明的目的是提供一種太陽能電池漿料的性能測試方法，其方法簡單、成本低。
[0006]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一種技術(shù)方案為:
一種太陽能電池漿料的性能測試方法，包括如下步驟:
51、提供具有柵線圖形的印刷網(wǎng)版；
52、取漿料和硅片，通過所述印刷網(wǎng)版在所述硅片上印刷柵線并燒結(jié)；
53、將兩個(gè)探針壓在燒結(jié)后的硅片的柵線上，將兩個(gè)所述探針分別連接在恒壓電流源的正負(fù)極以施加測試電壓，測漿料的電阻。
[0007]優(yōu)選地，步驟SI包括:
S11、在印刷網(wǎng)版上設(shè)置至少兩個(gè)相互平行且長度相等的第一柵線圖形。
[0008]更優(yōu)選地，步驟S2中，通過所述印刷網(wǎng)版在所述硅片上印刷形成至少兩個(gè)相互平行且長度相等的細(xì)柵線；
步驟S3包括:
531、將兩個(gè)所述探針分別壓在相鄰細(xì)柵線上，測得漿料在相鄰細(xì)柵線間的接觸電阻。
[0009]進(jìn)一步地，步驟Sll中，所述第一柵線圖形為多個(gè)，且各相鄰第一柵線圖形的間距呈等差數(shù)列；
步驟S2中，所述硅片上形成多個(gè)相互平行且長度相等的細(xì)柵線，且各相鄰細(xì)柵線的間距呈等差數(shù)列；
步驟S3還包括:
532、將兩個(gè)所述探針分別依次壓在各相鄰細(xì)柵線上，測得正銀漿料在各相鄰細(xì)柵線間的接觸電阻，獲得接觸電阻與細(xì)柵線間距的線性方程，得出漿料的接觸電阻率。
更優(yōu)選地，所述第一柵線圖形具有圓孔，所述細(xì)柵線上具有便于探針接觸的圓點(diǎn)區(qū)域。
[0010]更優(yōu)選地，第一柵線圖形為兩組，且分別位于所述印刷網(wǎng)版的左右兩側(cè)。
[0011]優(yōu)選地，步驟SI包括:
S12、在印刷網(wǎng)版上設(shè)置第二柵線圖形；
步驟S2中，通過所述印刷網(wǎng)版在所述硅片上印刷形成長柵線；
步驟S3包括:
S33、將兩個(gè)所述探針分別壓在長柵線的兩端上，測得長柵線的電阻，根據(jù)長柵線的截面積和長度，得出漿料的線電阻率。
[0012]更優(yōu)選地，所述第二柵線圖像的長度為140?150mm，寬度為180?220μπι。
[0013]更優(yōu)選地，所述第二柵線圖形為兩個(gè)且分別位于印刷網(wǎng)版的上下兩側(cè)。
[0014]本發(fā)明采用上述技術(shù)方案，相比現(xiàn)有技術(shù)具有如下優(yōu)點(diǎn):通過印刷網(wǎng)版在硅片上印刷柵線，通過分別將兩個(gè)探針壓在柵線上，通過正負(fù)極分別與兩個(gè)探針相連通的恒壓電流源施加測試電壓，測得漿料的相關(guān)電阻值，對漿料的性能進(jìn)行評估，測試方法簡單，測試設(shè)備易于搭建，成本較低。
【附圖說明】
[0015]附圖1為本發(fā)明的印刷有細(xì)柵線的硅片的部分表面示意圖；
附圖2為接觸電阻和間距的關(guān)系圖；
附圖3為本發(fā)明的性能測試方法中所采用的測試平臺。
【具體實(shí)施方式】
[0016]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的較佳實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)闡述，以使本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域的技術(shù)人員理解。
[0017]一種太陽能電池漿料的性能測試方法，本實(shí)施例中具體為一種太陽能電池正銀漿料的性能測試方法，它依次包括如下步驟:
51、提供具有柵線圖形的印刷網(wǎng)版；
52、取漿料和硅片，通過所述印刷網(wǎng)版在所述硅片上印刷柵線并燒結(jié)；
53、將兩個(gè)探針壓在燒結(jié)后的硅片的柵線上，將兩個(gè)所述探針分別連接在恒壓電流源的正負(fù)極以施加測試電壓，測漿料的電阻。
[0018]步驟SI用于制作印刷網(wǎng)版，它進(jìn)一步包括:
511、在印刷網(wǎng)版上設(shè)置多個(gè)相互平行且長度相等的第一柵線圖形；
512、在印刷網(wǎng)版上設(shè)置第二柵線圖形。
[0019]第一柵線圖形為兩組，且分別位于印刷網(wǎng)板的左右兩側(cè)。每組第一柵線圖像均包括多個(gè)上述的相互平行且長度相等的第一柵線圖形，且各相鄰第一柵線圖形的間距呈等差數(shù)列，即，CU與dH的差值為一個(gè)常數(shù)，其中CU表示第i+Ι個(gè)第一柵線圖形和第i個(gè)第一柵線圖形的間距，dH表示第i個(gè)第一柵線圖形和第1-Ι個(gè)第一柵線圖形的間距，i為大于2的自然數(shù)。各第一柵線圖形的同一位置處還具有圓孔。第二柵線圖形為兩個(gè)，且分別位于印刷網(wǎng)版的上下兩側(cè)，兩組第一柵線圖形位于兩個(gè)第二柵線圖形之間。第一柵線圖形較短，第二柵線圖形則較長，第二柵線圖像的長度為140?150_，寬度為180?220μπι。
[0020]步驟S2中，通過步驟SI提供的印刷網(wǎng)版在鍍膜后的硅片表面鍍正銀漿料并燒結(jié)，在硅片表面形成兩組細(xì)柵線和兩個(gè)長柵線。每組細(xì)柵線分別包括包括相互平行且長度相等的細(xì)柵線，每組的各相鄰細(xì)柵線的間距呈等差數(shù)列，如附圖1所示。各細(xì)柵線的同一位置處都具有一個(gè)圓點(diǎn)區(qū)域，便于和探針更好地接觸。
[0021]步驟S3中，將步驟S2燒結(jié)后的硅片置于測試平臺上，施加測試電壓，分別測接觸電阻和線電阻率。參見附圖3所示，測試平臺包括絕緣底座1、在絕緣底座I的兩側(cè)設(shè)置有對應(yīng)分布的引導(dǎo)裝置，引導(dǎo)裝置上設(shè)有探針7，探針7連接有恒壓電流源2。引導(dǎo)裝置包括滑軌3，滑軌3上設(shè)置有滑塊4，探針7安裝在滑塊4上，滑軌3兩端設(shè)置有接線柱5，實(shí)際使用時(shí)，接線插頭連接連接接線柱5，實(shí)現(xiàn)探針7分別與恒壓電流源2正負(fù)極的導(dǎo)通，讓恒壓電流源2施加測試電壓，進(jìn)行檢測。
[0022]具體地，步驟S3進(jìn)一步包括:
531、將兩個(gè)探針分別壓在其中兩個(gè)相鄰細(xì)柵線的圓點(diǎn)區(qū)域上，測的正銀漿料在該相鄰細(xì)柵線間的接觸電阻；
532、移動探針使得探針分別依次壓在各相鄰細(xì)柵線的圓點(diǎn)區(qū)域上，測得正銀漿料在各相鄰細(xì)柵線間的接觸電阻，根據(jù)傳輸模型法的原理，作圖可得到如附圖2所示的直線，即接觸電阻與細(xì)柵線間距的線性方程，通過直線的斜率和截距就可以計(jì)算出正銀漿料的接觸電阻率，得出漿料的接觸電阻率；
533、將兩個(gè)探針分別壓在長柵線的兩端上，測得長柵線的電阻，根據(jù)長柵線的截面積和長度，得出漿料的線電阻率。
[0023]本發(fā)明應(yīng)用TLM的原理，設(shè)計(jì)出符合測量要求的印刷網(wǎng)版，搭建簡易可行的測試平臺，通過簡單地測試和計(jì)算就可得出漿料與硅的接觸電阻、接觸電阻率和漿料的線電阻率，從而可以定性并且定量地來評估和比較不同漿料的性能，并且為漿料的工藝調(diào)節(jié)以及印刷燒結(jié)的工藝調(diào)節(jié)提供一些依據(jù)。
[0024]與現(xiàn)有技術(shù)中CoreScan測試方法相比，本方法用于測試漿料與半導(dǎo)體的接觸電阻率及線電阻率，方法簡單，測試平臺易于搭建，成本較低;測試用的硅片樣品制作簡單，只需印刷一道，而且圖形簡單，容易印刷;印刷網(wǎng)版的清洗及擦拭較容易，便于更換漿料，可方便地用于比較不同漿料的性能;對印刷要求不高;不僅可以定性還可以定量。
[0025]上述實(shí)施例只為說明本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思及特點(diǎn)，是一種優(yōu)選的實(shí)施例，其目的在于讓熟悉此項(xiàng)技術(shù)的人士能夠了解本發(fā)明的內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，并不能以此限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。凡根據(jù)本發(fā)明的精神實(shí)質(zhì)所作的等效變化或修飾，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種太陽能電池漿料的性能測試方法，其特征在于，包括如下步驟: 51、提供具有柵線圖形的印刷網(wǎng)版； 52、取漿料和硅片，通過所述印刷網(wǎng)版在所述硅片上印刷柵線并燒結(jié)； 53、將兩個(gè)探針壓在燒結(jié)后的硅片的柵線上，將兩個(gè)所述探針分別連接在恒壓電流源的正負(fù)極以施加測試電壓，測漿料的電阻。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的性能測試方法，其特征在于，步驟SI包括: 511、在印刷網(wǎng)版上設(shè)置至少兩個(gè)相互平行且長度相等的第一柵線圖形。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的性能測試方法，其特征在于， 步驟S2中，通過所述印刷網(wǎng)版在所述硅片上印刷形成至少兩個(gè)相互平行且長度相等的細(xì)柵線； 步驟S3包括: 531、將兩個(gè)所述探針分別壓在相鄰細(xì)柵線上，測得漿料在相鄰細(xì)柵線間的接觸電阻。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的性能測試方法，其特征在于， 步驟Sll中，所述第一柵線圖形為多個(gè)，且各相鄰第一柵線圖形的間距呈等差數(shù)列； 步驟S2中，所述硅片上形成多個(gè)相互平行且長度相等的細(xì)柵線，且各相鄰細(xì)柵線的間距呈等差數(shù)列； 步驟S3還包括: 532、將兩個(gè)所述探針分別依次壓在各相鄰細(xì)柵線上，測得正銀漿料在各相鄰細(xì)柵線間的接觸電阻，獲得接觸電阻與細(xì)柵線間距的線性方程，得出漿料的接觸電阻率。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的性能測試方法，其特征在于:所述第一柵線圖形具有圓孔，所述細(xì)柵線上具有便于探針接觸的圓點(diǎn)區(qū)域。6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的性能測試方法，其特征在于:第一柵線圖形為兩組，且分別位于所述印刷網(wǎng)版的左右兩側(cè)。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的性能測試方法，其特征在于， 步驟SI包括: 512、在印刷網(wǎng)版上設(shè)置第二柵線圖形； 步驟S2中，通過所述印刷網(wǎng)版在所述硅片上印刷形成長柵線； 步驟S3包括: 533、將兩個(gè)所述探針分別壓在長柵線的兩端上，測得長柵線的電阻，根據(jù)長柵線的截面積和長度，得出漿料的線電阻率。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的性能測試方法，其特征在于:所述第二柵線圖像的長度為140?150mm，寬度為 180?220μηι。9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的性能測試方法，其特征在于:所述第二柵線圖形為兩個(gè)且分別位于印刷網(wǎng)版的上下兩側(cè)。
【文檔編號】H01L21/66GK105845595SQ201610181804
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2016年3月28日
【發(fā)明人】魏青竹, 汪燕玲, 陸俊宇, 連維飛, 倪志春
【申請人】中利騰暉光伏科技有限公司