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      一種fpga內(nèi)嵌全數(shù)字低功耗時(shí)鐘產(chǎn)生電路的制作方法

      文檔序號(hào):7545161閱讀:277來源:國知局
      一種fpga內(nèi)嵌全數(shù)字低功耗時(shí)鐘產(chǎn)生電路的制作方法
      【專利摘要】一種FPGA內(nèi)嵌全數(shù)字低功耗時(shí)鐘產(chǎn)生電路,包括數(shù)字控制振蕩器和控制碼產(chǎn)生電路。通過對(duì)傳統(tǒng)全數(shù)字可調(diào)振蕩器電路的改進(jìn)設(shè)計(jì),將數(shù)字控制振蕩器中延時(shí)鏈的延時(shí)單元改為受控制的三態(tài)延時(shí)單元,并且在控制碼產(chǎn)生電路中加入使能控制碼產(chǎn)生電路,將延時(shí)鏈中未使用的三態(tài)延時(shí)單元關(guān)閉,完全消除了振蕩器電路的無效動(dòng)態(tài)功耗。采用此結(jié)構(gòu)的低功耗全數(shù)字可調(diào)震蕩器電路,高頻輸出工作狀態(tài)的功耗降低至原來的十分之一,并且延時(shí)鏈的工作頻率范圍越廣,改進(jìn)效果越明顯,使技術(shù)人員在設(shè)計(jì)時(shí)鐘產(chǎn)生電路時(shí)能夠同時(shí)兼顧大范圍的可調(diào)振蕩頻率指標(biāo)和較低的功耗指標(biāo)。
      【專利說明】—種FPGA內(nèi)嵌全數(shù)字低功耗時(shí)鐘產(chǎn)生電路
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種FPGA內(nèi)嵌全數(shù)字時(shí)鐘產(chǎn)生電路,特別是一種針對(duì)FPGA內(nèi)嵌應(yīng)用需求而優(yōu)化的全數(shù)字低功耗時(shí)鐘產(chǎn)生電路,屬于集成電路領(lǐng)域。
      【背景技術(shù)】
      [0002]圖1是一個(gè)傳統(tǒng)的全數(shù)字時(shí)鐘產(chǎn)生電路原理示意圖,它主要由延時(shí)鏈110、多路復(fù)用器120、控制譯碼電路130組成,延時(shí)鏈由多個(gè)基本的延時(shí)單元111構(gòu)成。延時(shí)鏈110產(chǎn)生不同的時(shí)鐘延時(shí)送至多路復(fù)用器120進(jìn)行選擇,多路復(fù)用器(120)在選擇控制信號(hào)(132)的控制下,將所選擇的延時(shí)后的時(shí)鐘作為輸出(121)送至延時(shí)鏈的輸入端,形成反饋振蕩器結(jié)構(gòu);在此過程中,具體的延時(shí)值受到復(fù)用控制譯碼產(chǎn)生電路(130)輸出的選擇控制信號(hào)(132)調(diào)整,復(fù)用控制譯碼產(chǎn)生電路(130)的輸入為外界送入的控制信號(hào)(131)。
      [0003]使用圖1中的傳統(tǒng)時(shí)鐘產(chǎn)生電路有一個(gè)明顯的缺點(diǎn),當(dāng)延時(shí)鏈處(110)于高頻工作狀態(tài)時(shí),所需產(chǎn)生的延時(shí)較小,只需要少量延時(shí)單元(例如110-1)接入反饋震蕩環(huán)路,其它延時(shí)單元(110-2到110-N)此時(shí)都為無效的電路,高頻時(shí)鐘在這些無效電路上也會(huì)產(chǎn)生快速的翻轉(zhuǎn),將產(chǎn)生非常大的動(dòng)態(tài)功耗,動(dòng)態(tài)功耗的增加隨著頻率上升呈現(xiàn)指數(shù)上升的趨勢,這大大限制了時(shí)鐘產(chǎn)生電路的工作頻率上限。
      [0004]因而有必要提出一種針對(duì)低功耗性能而優(yōu)化的時(shí)鐘產(chǎn)生電路結(jié)構(gòu),以便在功耗可控的情況下獲得寬范圍的上下限工作頻率。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005]本發(fā)明技術(shù)解決的問題是:克服現(xiàn)有技術(shù)的不足之處,提供了一種全數(shù)字的低功耗時(shí)鐘產(chǎn)生電路結(jié)構(gòu),解決了傳統(tǒng)時(shí)鐘產(chǎn)生電路在高頻工作情況下,動(dòng)態(tài)功耗過大而限制最高工作頻率上限的問題。
      [0006]本發(fā)明的技術(shù)解決方案是:
      [0007]一種FPGA內(nèi)嵌全數(shù)字低功耗時(shí)鐘產(chǎn)生電路,包括:數(shù)字控制振蕩器和控制碼產(chǎn)生電路;數(shù)字控制振蕩器包括多路復(fù)用器、與非門和延時(shí)鏈;控制碼產(chǎn)生電路包括使能控制碼產(chǎn)生電路和復(fù)用控制譯碼產(chǎn)生電路;
      [0008]復(fù)用控制譯碼產(chǎn)生電路接收外部輸入的控制信號(hào),生成選擇控制信號(hào)和移位控制信號(hào),選擇控制信號(hào)送入多路復(fù)用器的選擇端,移位控制信號(hào)送入使能控制碼產(chǎn)生電路的選擇端;使能控制碼產(chǎn)生電路在所述移位控制信號(hào)的控制下,移位產(chǎn)生使能控制碼,送入延時(shí)鏈的使能端,關(guān)閉無效的延時(shí)單元;
      [0009]延時(shí)鏈由多個(gè)基本的三態(tài)延時(shí)單元首尾相連組成;延時(shí)鏈的輸入端與與非門的輸出端相連,延時(shí)鏈的輸出端與多路復(fù)用器的輸入端相連;
      [0010]多路復(fù)用器接收來自延時(shí)鏈的各相位時(shí)鐘,同時(shí)接收復(fù)用控制譯碼產(chǎn)生電路的選擇控制信號(hào),將選定的延遲時(shí)鐘從時(shí)鐘輸出端輸出,作為所述時(shí)鐘產(chǎn)生電路的輸出,同時(shí),所述選定的延遲時(shí)鐘還反饋到與非門的一個(gè)輸入端,與非門的另一個(gè)輸入端接受外部輸入的復(fù)位信號(hào);
      [0011]所述使能控制碼產(chǎn)生電路包括多個(gè)串聯(lián)連接的移位寄存器單元,在移位控制信號(hào)的控制下移動(dòng)I和O序列,生成數(shù)字使能控制碼。
      [0012]所述移位寄存器單元包括二選一復(fù)用器MUX、存儲(chǔ)單元SRAM、第一傳輸控制管、第二傳輸控制管和反向器;
      [0013]二選一復(fù)用器MUX的兩個(gè)輸入端分別連接前一個(gè)移位寄存器單兀的輸出和后一個(gè)移位寄存器單元的輸出,二選一復(fù)用器MUX的輸出送入存儲(chǔ)單元SRAM中,存儲(chǔ)單元SRAM的輸出通過第一傳輸控制管送入反向器進(jìn)行反向處理,之后再通過第二傳輸控制管輸出至前一個(gè)移位寄存器單兀中二選一復(fù)用器MUX的輸入和后一個(gè)移位寄存器單兀中二選一復(fù)用器MUX的輸入;反向器的輸出端引出作為所述延時(shí)鏈中對(duì)應(yīng)延時(shí)單元使能端的輸入。
      [0014]所述第一傳輸控制管和第二傳輸控制管采用NMOS晶體管或者PMOS晶體管。
      [0015]所述延時(shí)鏈包括串聯(lián)在一起的多個(gè)三態(tài)延時(shí)單元,所述三態(tài)延時(shí)單元包括反向器、等效電容和與非門,夕卜部輸入的時(shí)鐘信號(hào)經(jīng)過反向器反向后送入與非門的一個(gè)輸入端,同時(shí),反向器的輸出端還通過等效電容接地,與非門的另一個(gè)輸入端接收使能控制碼產(chǎn)生電路輸出的使能控制碼。
      [0016]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的有益效果是:
      [0017](I)本發(fā)明的全數(shù)字低功耗時(shí)鐘產(chǎn)生電路,能大幅降低時(shí)鐘產(chǎn)生電路的振蕩器在高頻工作情況下的動(dòng)態(tài)功耗,相對(duì)于傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的時(shí)鐘產(chǎn)生電路,高頻動(dòng)態(tài)功耗可低至十分之一;
      [0018](2)本發(fā)明所述的時(shí)鐘產(chǎn)生電路可以配以鑒相器、分頻器和算法控制電路構(gòu)成低功耗全數(shù)字鎖相環(huán),采用本發(fā)明所述的時(shí)鐘產(chǎn)生電路結(jié)構(gòu)11111111111111的全數(shù)字鎖相環(huán),不需要過多考慮高頻情況下的動(dòng)態(tài)功耗,也不需要為其配備大電流能力的電源網(wǎng)絡(luò),為芯片設(shè)計(jì)節(jié)省了面積。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0019]圖1是傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的時(shí)鐘產(chǎn)生電路示意圖;
      [0020]圖2是本發(fā)明全數(shù)字低功耗時(shí)鐘產(chǎn)生電路示意圖;
      [0021]圖3是帶有控制端的延時(shí)單元結(jié)構(gòu)圖;
      [0022]圖4是使能控制碼產(chǎn)生電路模塊結(jié)構(gòu)圖;
      [0023]圖5是移位寄存器單元的詳細(xì)結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0024]圖6為移位寄存器單元的工作時(shí)序示意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0025]本發(fā)明是一種FPGA內(nèi)嵌的數(shù)字低功耗時(shí)鐘產(chǎn)生電路,包括:數(shù)字控制振蕩器200和控制碼產(chǎn)生電路300。具體來講,數(shù)字控制振蕩器200由多路復(fù)用器220、與非門240和延時(shí)鏈210組成;控制碼產(chǎn)生電路300包括使能控制碼產(chǎn)生電路340和復(fù)用控制譯碼產(chǎn)生電路330。在圖2中可見這些電路模塊之間的關(guān)系:
      [0026]復(fù)用控制譯碼產(chǎn)生電路接收外部輸入的控制信號(hào),生成選擇控制信號(hào)和移位控制信號(hào),選擇控制信號(hào)送入多路復(fù)用器的選擇端,移位控制信號(hào)送入使能控制碼產(chǎn)生電路的選擇端;使能控制碼產(chǎn)生電路在所述移位控制信號(hào)的控制下,移位產(chǎn)生使能控制碼,送入延時(shí)鏈的使能端,關(guān)閉無效的延時(shí)單元;
      [0027]延時(shí)鏈由多個(gè)基本的三態(tài)延時(shí)單元首尾相連組成;延時(shí)鏈的輸入端與與非門的輸出端相連,延時(shí)鏈的輸出端與多路復(fù)用器的輸入端相連;
      [0028]多路復(fù)用器接收來自延時(shí)鏈的各相位時(shí)鐘,同時(shí)接收復(fù)用控制譯碼產(chǎn)生電路的選擇控制信號(hào),將選定的延遲時(shí)鐘從時(shí)鐘輸出端輸出,作為所述時(shí)鐘產(chǎn)生電路的輸出,同時(shí),所述選定的延遲時(shí)鐘還反饋到與非門的一個(gè)輸入端,與非門的另一個(gè)輸入端接受外部輸入的復(fù)位信號(hào)。
      [0029]移位寄存器單兀包括二選一復(fù)用器MUX、存儲(chǔ)單兀SRAM、第一傳輸控制管、第二傳輸控制管和反向器;
      [0030]二選一復(fù)用器MUX的兩個(gè)輸入端分別連接前一個(gè)移位寄存器單兀的輸出和后一個(gè)移位寄存器單元的輸出,二選一復(fù)用器MUX的輸出送入存儲(chǔ)單元SRAM中,存儲(chǔ)單元SRAM的輸出通過第一傳輸控制管送入反向器進(jìn)行反向處理,之后再通過第二傳輸控制管輸出至前一個(gè)移位寄存器單兀中二選一復(fù)用器MUX的輸入和后一個(gè)移位寄存器單兀中二選一復(fù)用器MUX的輸入;反向器的輸出端引出作為所述延時(shí)鏈中對(duì)應(yīng)延時(shí)單元使能端的輸入。
      [0031]延時(shí)鏈包括串聯(lián)在一起的多個(gè)三態(tài)延時(shí)單元,所述三態(tài)延時(shí)單元包括反向器、等效電容和與非門,夕卜部輸入的時(shí)鐘信號(hào)經(jīng)過反向器反向后送入與非門的一個(gè)輸入端,同時(shí),反向器的輸出端還通過等效電容接地,與非門的另一個(gè)輸入端接收使能控制碼產(chǎn)生電路輸出的使能控制碼。
      [0032]延時(shí)鏈200在復(fù)位端211失效之后對(duì)時(shí)鐘進(jìn)行延時(shí),N個(gè)延時(shí)單元可以產(chǎn)生N個(gè)不同的延時(shí),在選擇控制信號(hào)232的控制下,通過多路復(fù)用器220選出一個(gè)合適的延時(shí)時(shí)鐘送至?xí)r鐘輸出端221,同時(shí)也反饋到延時(shí)鏈210作為時(shí)鐘輸入,這樣形成一個(gè)閉環(huán)震蕩的結(jié)構(gòu),即數(shù)字控制振蕩器200,它可以通過改變控制碼調(diào)整不同的延時(shí)值以產(chǎn)生不同頻率的震蕩時(shí)鐘。
      [0033]本發(fā)明中對(duì)電路架構(gòu)進(jìn)行的改進(jìn)包括,采用可關(guān)閉的延時(shí)單元和使能控制碼進(jìn)行動(dòng)態(tài)調(diào)整,在產(chǎn)生高頻時(shí)鐘時(shí)阻斷了絕大多數(shù)處于非工作狀態(tài)延時(shí)單元的時(shí)鐘翻轉(zhuǎn),以達(dá)到降低動(dòng)態(tài)功耗的目的,以一條500級(jí)的延時(shí)鏈為例,當(dāng)產(chǎn)生的時(shí)鐘處于延時(shí)鏈工作頻率范圍的上限時(shí),所用到的延時(shí)單元不超過25個(gè),其它475個(gè)延時(shí)單元都在高頻時(shí)鐘的驅(qū)動(dòng)下進(jìn)行無效的動(dòng)作,產(chǎn)生超過90%的動(dòng)態(tài)功耗。
      [0034]為了實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的電路架構(gòu)改進(jìn),首先對(duì)傳統(tǒng)的延時(shí)單元進(jìn)行了改進(jìn),加入了使能控制端,如圖3所示。本發(fā)明帶有使能控制端的延時(shí)單元500主要包括反向器、等效電容和與非門,統(tǒng)稱之為延時(shí)器件510,除了具有時(shí)鐘輸入511和時(shí)鐘延時(shí)輸出512之外,還有使能控制端513,當(dāng)使能控制端513輸入高電平時(shí),延時(shí)單元500處于激活狀態(tài),時(shí)鐘延時(shí)輸出端512跟隨時(shí)鐘輸入511進(jìn)行延時(shí)輸出,當(dāng)使能控制端513輸入低電平時(shí),延時(shí)單元關(guān)閉,時(shí)鐘延時(shí)輸出512恒為高電平,節(jié)省后續(xù)級(jí)聯(lián)的延時(shí)單元?jiǎng)討B(tài)功耗。
      [0035]為了實(shí)現(xiàn)對(duì)本發(fā)明數(shù)字控制振蕩器200的控制,在傳統(tǒng)設(shè)計(jì)的基礎(chǔ)上改進(jìn)了控制碼產(chǎn)生電路300,復(fù)用控制譯碼產(chǎn)生電路330仍然用來產(chǎn)生對(duì)多路復(fù)用器220的選擇控制信號(hào)232,在此基礎(chǔ)上另外設(shè)計(jì)了使能控制碼產(chǎn)生電路340,在移位控制信號(hào)333的控制下,產(chǎn)生N比特的使能控制碼動(dòng)態(tài)關(guān)閉無效的延時(shí)單元。[0036]使能控制碼產(chǎn)生電路340被用來產(chǎn)生一個(gè)N比特的I或O組成的序列,電路結(jié)構(gòu)相當(dāng)于左右移位寄存器鏈,如果將使能控制碼中I和O的分界點(diǎn)定義為調(diào)節(jié)點(diǎn),那么在調(diào)節(jié)點(diǎn)左側(cè)(含調(diào)節(jié)點(diǎn))使能控制碼全為1,在調(diào)節(jié)點(diǎn)右側(cè)全為0,根據(jù)移位控制信號(hào)333的控制來動(dòng)態(tài)調(diào)整調(diào)節(jié)點(diǎn)的位置。移位控制信號(hào)333包括加減信號(hào)341、移位控制信號(hào)I和移位控制信號(hào)2,在3個(gè)信號(hào)的共同控制下,將I和O組成的序列進(jìn)行適當(dāng)左右移位,移位過程中左側(cè)由I補(bǔ)齊,右側(cè)由O補(bǔ)齊。例如,在起始時(shí)刻N(yùn)比特的控制信號(hào)可能為11111111111……110000,經(jīng)過多次的動(dòng)態(tài)調(diào)整之后變?yōu)?1100000000……000000,在這一過程中,控制信號(hào)中“O”對(duì)應(yīng)的延時(shí)單元將被關(guān)閉,達(dá)到降低動(dòng)態(tài)功耗的目的。
      [0037]本發(fā)明中的使能控制碼產(chǎn)生電路340由N個(gè)移位寄存器單元340-1、340_2至340-N組成,如圖4所示。
      [0038]圖5是移位寄存器單元的詳細(xì)結(jié)構(gòu)示意圖,包括二選一復(fù)用器MUX345、存儲(chǔ)單元SRAM346、傳輸控制管I (第一傳輸控制管347)、傳輸控制管2 (第二傳輸控制管349)和反向器348,傳輸控制管I和傳輸控制管2采用PMOS管或者NMOS管。二選一復(fù)用器MUX345可在加減信號(hào)(341)的控制下接收來自前一單元的輸出603或后一單元的輸出604,作為移位輸入,同時(shí)也可將存儲(chǔ)單元SRAM346內(nèi)的值送至前一單元的mux的一個(gè)輸入端601或后一單元的mux的另一個(gè)輸入端602。
      [0039]圖6是移位寄存器單元的工作時(shí)序示意圖,在進(jìn)行移位操作時(shí),每個(gè)時(shí)鐘周期的上升沿,移位控制信號(hào)I首先降為低電平,關(guān)閉傳輸控制管1,將存儲(chǔ)單元SRAM內(nèi)的值依靠晶體管電容暫時(shí)存在動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)節(jié)點(diǎn)A (650)內(nèi),緊接著移位控制信號(hào)2升為高電平,開啟傳輸控制管2,將本單元存儲(chǔ)的值寫入下一單元(具體送入前一單元還是后一單元,要受加減信號(hào)341來控制),再依次關(guān)閉傳輸控制管2,開啟傳輸控制管1,將使能控制碼344-m端的輸出值更新,完成一次數(shù)據(jù)移位。
      【權(quán)利要求】
      1.一種FPGA內(nèi)嵌全數(shù)字低功耗時(shí)鐘產(chǎn)生電路,其特征在于包括:數(shù)字控制振蕩器和控制碼產(chǎn)生電路;數(shù)字控制振蕩器包括多路復(fù)用器、與非門和延時(shí)鏈;控制碼產(chǎn)生電路包括使能控制碼產(chǎn)生電路和復(fù)用控制譯碼產(chǎn)生電路; 復(fù)用控制譯碼產(chǎn)生電路接收外部輸入的控制信號(hào),生成選擇控制信號(hào)和移位控制信號(hào),選擇控制信號(hào)送入多路復(fù)用器的選擇端,移位控制信號(hào)送入使能控制碼產(chǎn)生電路的選擇端;使能控制碼產(chǎn)生電路在所述移位控制信號(hào)的控制下,移位產(chǎn)生使能控制碼,送入延時(shí)鏈的使能端,關(guān)閉無效的延時(shí)單元; 延時(shí)鏈由多個(gè)基本的三態(tài)延時(shí)單元首尾相連組成;延時(shí)鏈的輸入端與與非門的輸出端相連,延時(shí)鏈的輸出端與多路復(fù)用器的輸入端相連; 多路復(fù)用器接收來自延時(shí)鏈的各相位時(shí)鐘,同時(shí)接收復(fù)用控制譯碼產(chǎn)生電路的選擇控制信號(hào),將選定的延遲時(shí)鐘從時(shí)鐘輸出端輸出,作為所述時(shí)鐘產(chǎn)生電路的輸出,同時(shí),所述選定的延遲時(shí)鐘還反饋到與非門的一個(gè)輸入端,與非門的另一個(gè)輸入端接受外部輸入的復(fù)位信號(hào)。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種FPGA內(nèi)嵌全數(shù)字低功耗時(shí)鐘產(chǎn)生電路,其特征在于:所述使能控制碼產(chǎn)生電路包括多個(gè)串聯(lián)連接的移位寄存器單元,在移位控制信號(hào)的控制下移動(dòng)I和O序列,生成數(shù)字使能控制碼。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種FPGA內(nèi)嵌全數(shù)字低功耗時(shí)鐘產(chǎn)生電路,其特征在于:所述移位寄存器單兀包括二選一復(fù)用器MUX、存儲(chǔ)單兀SRAM、第一傳輸控制管、第二傳輸控制管和反向器; 二選一復(fù)用器MUX的兩個(gè)輸入端分別連接前一個(gè)移位寄存器單兀的輸出和后一個(gè)移位寄存器單元的輸出,二選一復(fù)用器MUX的輸出送入存儲(chǔ)單元SRAM中,存儲(chǔ)單元SRAM的輸出通過第一傳輸控制管送入反向器進(jìn)行反向處理,之后再通過第二傳輸控制管輸出至前一個(gè)移位寄存器單兀中二選一復(fù)用器MUX的輸入和后一個(gè)移位寄存器單兀中二選一復(fù)用器MUX的輸入;反向器的輸出端引出作為所述延時(shí)鏈中對(duì)應(yīng)延時(shí)單元使能端的輸入。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種FPGA內(nèi)嵌全數(shù)字低功耗時(shí)鐘產(chǎn)生電路,其特征在于:所述第一傳輸控制管和第二傳輸控制管采用NMOS晶體管或者PMOS晶體管。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種FPGA內(nèi)嵌全數(shù)字低功耗時(shí)鐘產(chǎn)生電路,其特征在于:所述延時(shí)鏈包括串聯(lián)在一起的多個(gè)三態(tài)延時(shí)單元,所述三態(tài)延時(shí)單元包括反向器、等效電容和與非門,夕卜部輸入的時(shí)鐘信號(hào)經(jīng)過反向器反向后送入與非門的一個(gè)輸入端,同時(shí),反向器的輸出端還通過等效電容接地,與非門的另一個(gè)輸入端接收使能控制碼產(chǎn)生電路輸出的使能控制碼。
      【文檔編號(hào)】H03K3/02GK103916102SQ201410086316
      【公開日】2014年7月9日 申請(qǐng)日期:2014年3月10日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月10日
      【發(fā)明者】張彥龍, 陳雷, 李學(xué)武, 文治平, 趙元富, 孫華波, 張帆, 尚祖賓, 王浩弛, 林彥君 申請(qǐng)人:北京時(shí)代民芯科技有限公司, 北京微電子技術(shù)研究所
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