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      鎖定檢測(cè)電路、方法及鎖相電路與流程

      文檔序號(hào):12750694閱讀:307來源:國(guó)知局
      鎖定檢測(cè)電路、方法及鎖相電路與流程
      本發(fā)明涉及通信
      技術(shù)領(lǐng)域
      ,特別涉及一種鎖定檢測(cè)電路、方法及鎖相電路。
      背景技術(shù)
      :鎖相環(huán)是一種在正常工作狀態(tài)(即鎖定狀態(tài))下,能夠使輸出的反饋信號(hào)與輸入的參考信號(hào)保持相同的頻率以及恒定的相位差的閉環(huán)控制電路,一般應(yīng)用于廣播、通信、頻率合成以及時(shí)鐘同步等
      技術(shù)領(lǐng)域
      。傳統(tǒng)的鎖相環(huán)一般由鑒頻鑒相器、電荷泵、環(huán)路濾波器、壓控振蕩器和分頻器組成。由于當(dāng)鎖相環(huán)處于非正常工作狀態(tài)(即失鎖狀態(tài))時(shí),容易導(dǎo)致應(yīng)用該鎖相環(huán)的系統(tǒng)出現(xiàn)故障,因此需要專門的鎖定檢測(cè)電路來確定鎖相環(huán)的工作狀態(tài),以便及時(shí)對(duì)處于失鎖狀態(tài)的鎖相環(huán)進(jìn)行檢測(cè)和維修。相關(guān)技術(shù)中的鎖定檢測(cè)電路所包含的器件較多,一般包括兩個(gè)分頻器、兩個(gè)計(jì)數(shù)器和一個(gè)比較器,該鎖定檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:為了相關(guān)技術(shù)中的問題,本發(fā)明提供了一種簡(jiǎn)化鎖定檢測(cè)電路結(jié)構(gòu)的鎖定檢測(cè)電路、方法及鎖相電路。所述技術(shù)方案如下:一方面,提供了一種鎖定檢測(cè)電路,該鎖定檢測(cè)電路分別與,鎖相環(huán)的參考信號(hào)輸入端和反饋信號(hào)輸入端,以及控制器相耦合,該鎖定檢測(cè)電路包括:相位比較電路以及與該相位比較電路相耦合的狀態(tài)檢測(cè)電路;該相位比較電路用于分別從該鎖相環(huán)的參考信號(hào)輸入端接收參考信號(hào),從該鎖相環(huán)的反饋信號(hào)輸入端接收反饋信號(hào),以及從該控制器接收工作模式信號(hào),其中,該工作模式信號(hào)指示了該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式,該工作模式包括第一工作模式和第二工作模式,在該第一工作模式下,該參考信號(hào)的相位滯后于該反饋信號(hào)的相位,在該第二工作模式下,該反饋信號(hào)的相位滯后于該參考信號(hào)的相位;該相位比較電路還用于根據(jù)該參考信號(hào)、該反饋信號(hào)以及該工作模式信號(hào),生成對(duì)比信號(hào),該對(duì)比信號(hào)指示了該鎖相環(huán)在實(shí)際工作狀態(tài)下的相位關(guān)系與在該理想鎖定狀態(tài)下的相位關(guān)系是否相同,其中,鎖相環(huán)在實(shí)際工作狀態(tài)下的相位關(guān)系即該參考信號(hào)和該反饋信號(hào)的相位關(guān)系;該狀態(tài)檢測(cè)電路用于獲取時(shí)鐘信號(hào)和該對(duì)比信號(hào),并根據(jù)該時(shí)鐘信號(hào)和該對(duì)比信號(hào),對(duì)該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè),該工作狀態(tài)包括鎖定狀態(tài)或失鎖狀態(tài)。本發(fā)明提供的鎖定檢測(cè)電路通過相位比較電路和狀態(tài)檢測(cè)電路即可實(shí)現(xiàn)對(duì)鎖相環(huán)的工作狀態(tài)的檢測(cè),該鎖定檢測(cè)電路中所包含的元件較少,電路結(jié)構(gòu)較為簡(jiǎn)單??蛇x的,該相位比較電路可以包括:數(shù)據(jù)觸發(fā)器(英文:Dataflip-flop;簡(jiǎn)稱:D觸發(fā)器)和邏輯門;該D觸發(fā)器的時(shí)鐘信號(hào)輸入端用于接收該參考信號(hào),該D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端用于接收該反饋信號(hào),該D觸發(fā)器的輸出端與該邏輯門的第一輸入端連接,該D觸發(fā)器用于以該參考信號(hào)為采樣時(shí)鐘信號(hào),對(duì)該反饋信號(hào)的電平進(jìn)行采樣得到采樣信號(hào);該邏輯門用于通過第一輸入端接收該采樣信號(hào),并通過第二輸入端接收該工作模式信號(hào),以及根據(jù)該采樣信號(hào)和該工作模式信號(hào)進(jìn)行邏輯運(yùn)算,生成該對(duì)比信號(hào)??蛇x的,該相位比較電路可以包括:D觸發(fā)器和邏輯門;該D觸發(fā)器的時(shí)鐘信號(hào)輸入端用于接收該反饋信號(hào),該D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端用于接收該參考信號(hào),該D觸發(fā)器的輸出端與該邏輯門的第一輸入端連接,該D觸發(fā)器用于以該反饋信號(hào)為采樣時(shí)鐘信號(hào),對(duì)該參考信號(hào)的電平進(jìn)行采樣得到的采樣信號(hào);該邏輯門用于通過第一輸入端接收該采樣信號(hào),并通過第二輸入端接收該工作模式信號(hào),該邏輯門用于根據(jù)該采樣信號(hào)和該工作模式信號(hào)進(jìn)行邏輯運(yùn)算,生成該對(duì)比信號(hào)??蛇x的,該邏輯運(yùn)算為異或運(yùn)算或同或運(yùn)算中的一種??蛇x的,該狀態(tài)檢測(cè)電路可以包括:計(jì)數(shù)器和比較器;該計(jì)數(shù)器的輸入端用于接收該對(duì)比信號(hào),該計(jì)數(shù)器的時(shí)鐘信號(hào)端用于接收該時(shí)鐘信號(hào),該計(jì)數(shù)器的輸出端與該比較器的輸入端連接,該計(jì)數(shù)器用于根據(jù)該時(shí)鐘信號(hào),在預(yù)設(shè)的計(jì)數(shù)周期內(nèi)對(duì)該對(duì)比信號(hào)中的預(yù)設(shè)電平進(jìn)行計(jì)數(shù)得到計(jì)數(shù)結(jié)果,并將計(jì)數(shù)結(jié)果發(fā)送至該比較器;該比較器用于將該計(jì)數(shù)結(jié)果與預(yù)設(shè)的計(jì)數(shù)閾值進(jìn)行比較,并根據(jù)比較結(jié)果,對(duì)該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)??蛇x的,在該工作模式信號(hào)以高電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式,以及該工作模式信號(hào)以低電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式的情況下,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該參考信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過異或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為高電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該反饋信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過同或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為高電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該參考信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過同或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為低電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該反饋信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過異或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為低電平??蛇x的,在該工作模式信號(hào)以低電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式,以及該工作模式信號(hào)以高電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式的情況下,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該參考信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過異或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為低電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該反饋信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過同或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為低電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該參考信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過同或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為高電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該反饋信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過異或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為高電平??蛇x的,該比較器具體用于:將該計(jì)數(shù)結(jié)果與預(yù)設(shè)的計(jì)數(shù)閾值進(jìn)行比較,當(dāng)該計(jì)數(shù)結(jié)果大于該計(jì)數(shù)閾值時(shí),確定該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)為失鎖狀態(tài);當(dāng)該計(jì)數(shù)結(jié)果不大于該計(jì)數(shù)閾值時(shí),確定該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)為鎖定狀態(tài)??蛇x的,該狀態(tài)檢測(cè)電路獲取的該時(shí)鐘信號(hào)可以為該參考信號(hào);或者,該鎖定檢測(cè)電路還可以包括:時(shí)鐘發(fā)生器,則該狀態(tài)檢測(cè)電路還可以從該時(shí)鐘發(fā)生器獲取該時(shí)鐘信號(hào)。第二方面,提供一種鎖定檢測(cè)方法,應(yīng)用于鎖定檢測(cè)電路,該鎖定檢測(cè)電路包括:相位比較電路以及與該相位比較電路相耦合的狀態(tài)檢測(cè)電路,該鎖定檢測(cè)電路分別與,鎖相環(huán)的參考信號(hào)輸入端和反饋信號(hào)輸入端,以及控制器相耦合,該方法包括:分別從該鎖相環(huán)的參考信號(hào)輸入端接收參考信號(hào),從該鎖相環(huán)的反饋信號(hào)輸入端接收反饋信號(hào),以及從該控制器接收工作模式信號(hào),其中,該工作模式信號(hào)指示了該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式,該工作模式包括第一工作模式和第二工作模式,在該第一工作模式下,該參考信號(hào)的相位滯后于該反饋信號(hào)的相位,在該第二工作模式下,該反饋信號(hào)的相位滯后于該參考信號(hào)的相位;根據(jù)該參考信號(hào)、該反饋信號(hào)以及該工作模式信號(hào),生成對(duì)比信號(hào),該對(duì)比信號(hào)指示了該鎖相環(huán)在實(shí)際工作狀態(tài)下的相位關(guān)系與在該述理想鎖定狀態(tài)下的相位關(guān)系是否相同,其中,該鎖相環(huán)在實(shí)際工作狀態(tài)下的相位關(guān)系即該參考信號(hào)和該反饋信號(hào)的相位關(guān)系;獲取時(shí)鐘信號(hào)和對(duì)比信號(hào),并根據(jù)該時(shí)鐘信號(hào)和該對(duì)比信號(hào)對(duì)該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè),該工作狀態(tài)包括鎖定狀態(tài)或失鎖狀態(tài)。本發(fā)明提供的鎖定檢測(cè)方法可以從控制器接收工作模式信號(hào),并基于該工作模式信號(hào)對(duì)鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè),該檢測(cè)過程較為簡(jiǎn)單,檢測(cè)效率較高??蛇x的,根據(jù)該參考信號(hào)、該反饋信號(hào)以及該工作模式信號(hào),生成對(duì)比信號(hào)的具體過程可以包括:將該參考信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào),對(duì)該反饋信號(hào)的電平進(jìn)行采樣,得到采樣信號(hào);根據(jù)該采樣信號(hào)和該工作模式信號(hào)進(jìn)行邏輯運(yùn)算,生成該對(duì)比信號(hào)。可選的,根據(jù)該參考信號(hào)、該反饋信號(hào)以及該工作模式信號(hào),生成對(duì)比信號(hào)得具體過程還可以包括:將該反饋信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào),對(duì)該參考信號(hào)的電平進(jìn)行采樣,得到采樣信號(hào);根據(jù)該采樣信號(hào)和該工作模式信號(hào)進(jìn)行邏輯運(yùn)算,生成該對(duì)比信號(hào)??蛇x的,該邏輯運(yùn)算可以為異或運(yùn)算或同或運(yùn)算中的一種??蛇x的,根據(jù)根據(jù)時(shí)鐘信號(hào)和對(duì)比信號(hào)對(duì)鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)的過程具體可以包括:根據(jù)該時(shí)鐘信號(hào),在預(yù)設(shè)的計(jì)數(shù)周期內(nèi)對(duì)該對(duì)比信號(hào)的預(yù)設(shè)電平進(jìn)行計(jì)數(shù)得到計(jì)數(shù)結(jié)果;將該計(jì)數(shù)結(jié)果與預(yù)設(shè)的計(jì)數(shù)閾值進(jìn)行比較,并根據(jù)比較結(jié)果,對(duì)該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)。可選的,在該工作模式信號(hào)以高電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式,以及該工作模式信號(hào)以低電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式的情況下,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該參考信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過異或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為高電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該反饋信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過同或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為高電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該參考信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過同或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為低電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該反饋信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過異或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為低電平。可選的,在該工作模式信號(hào)以低電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式,以及該工作模式信號(hào)以高電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式的情況下,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該參考信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過異或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為低電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該反饋信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過同或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為低電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該參考信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過同或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為高電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該反饋信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過異或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為高電平??蛇x的,該將該計(jì)數(shù)結(jié)果與預(yù)設(shè)的計(jì)數(shù)閾值進(jìn)行比較,并根據(jù)比較結(jié)果,對(duì)該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè),包括:將該計(jì)數(shù)結(jié)果與預(yù)設(shè)的計(jì)數(shù)閾值進(jìn)行比較,當(dāng)該計(jì)數(shù)結(jié)果大于該計(jì)數(shù)閾值時(shí),確定該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)為失鎖狀態(tài);當(dāng)該計(jì)數(shù)結(jié)果不大于該計(jì)數(shù)閾值時(shí),確定該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)為鎖定狀態(tài)??蛇x的,該時(shí)鐘信號(hào)可以為該參考信號(hào);或者,該時(shí)鐘信號(hào)可以為時(shí)鐘發(fā)生器生成的信號(hào)。第三方面,提供了一種鎖相電路,該鎖相電路包括:鎖相環(huán)、控制器以及如第一方面所述的鎖定檢測(cè)電路,該鎖定檢測(cè)電路分別與,鎖相環(huán)的參考信號(hào)輸入端和反饋信號(hào)輸入端,以及控制器相耦合;該鎖相環(huán)用于通過該參考信號(hào)輸入端向該鎖定檢測(cè)電路發(fā)送參考信號(hào),并通過該反饋信號(hào)輸入端向該鎖定檢測(cè)電路發(fā)送反饋信號(hào);該控制器用于向該鎖定檢測(cè)電路發(fā)送工作模式信號(hào),該工作模式信號(hào)指示了該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式,該工作模式包括第一工作模式和第二工作模式,在第一工作模式下,該參考信號(hào)的相位滯后于該反饋信號(hào)的相位,在該第二工作模式下,該反饋信號(hào)的相位滯后于該參考信號(hào)的相位。綜上所述,本發(fā)明提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是:本發(fā)明提供了一種鎖定檢測(cè)電路、方法及鎖相電路,該鎖定檢測(cè)電路包括相位比較電路和狀態(tài)檢測(cè)電路,其中相位比較電路可以根據(jù)工作模式信號(hào),生成用于指示參考信號(hào)與該反饋信號(hào)之間的相位關(guān)系的對(duì)比信號(hào),狀態(tài)檢測(cè)電路可以根據(jù)參考信號(hào)和該對(duì)比信號(hào),生成狀態(tài)檢測(cè)信號(hào)。相比于相關(guān)技術(shù)中的鎖定檢測(cè)電路,本發(fā)明提供的鎖定檢測(cè)電路中僅包含一個(gè)觸發(fā)器、一個(gè)邏輯門、一個(gè)計(jì)數(shù)器和一個(gè)比較器,該鎖定檢測(cè)電路所包含的元件較少,電路結(jié)構(gòu)較為簡(jiǎn)單。附圖說明為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1A是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種鎖相環(huán)的結(jié)構(gòu)示意圖;圖1B是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種鎖相環(huán)的局部結(jié)構(gòu)示意圖;圖1C是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種鎖相環(huán)的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種鎖定檢測(cè)電路的應(yīng)用場(chǎng)景示意圖;圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種鎖定檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)示意圖;圖4A是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種鎖定檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)示意圖;圖4B是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種參考信號(hào)與反饋信號(hào)的時(shí)序關(guān)系示意圖;圖4C是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種參考信號(hào)與反饋信號(hào)的時(shí)序關(guān)系示意圖;圖5是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種鎖定檢測(cè)方法的流程圖。具體實(shí)施方式為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施方式作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。圖1A是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種鎖相環(huán)的結(jié)構(gòu)示意圖,如圖1A所示,該鎖相環(huán)可以包括晶振緩沖器101、鑒頻鑒相器102、電荷泵103、低通濾波器104、壓控振動(dòng)器105和分頻器106。其中,該晶振緩沖器101用于對(duì)晶振輸入端輸入的晶振信號(hào)進(jìn)行緩沖后生成參考信號(hào),并將該參考信號(hào)輸出至鑒頻鑒相器102,該鑒頻鑒相器102用于檢測(cè)該參考信號(hào)和反饋信號(hào)的相位差,并根據(jù)該相位差向電荷泵103輸出脈沖控制信號(hào),該電荷泵103用于根據(jù)該脈沖控制信號(hào)產(chǎn)生充電電流或放電電流,低通濾波器104用于根據(jù)該充電電流或者放電電流向壓控振蕩器105輸出控制電壓,壓控振蕩器105可以根據(jù)該控制電壓生成振蕩電壓,以便分頻器106對(duì)該振蕩電壓進(jìn)行分頻后生成反饋信號(hào),并輸入至該鑒頻鑒相器102。從圖1A中可以看出,該鎖相環(huán)中的鑒頻鑒相器、電荷泵、低通濾波器、壓控振蕩器和分頻器可以形成一個(gè)反饋系統(tǒng),該反饋系統(tǒng)能夠調(diào)整反饋信號(hào)的頻率和相位,使得該反饋信號(hào)的頻率和相位“鎖定”到該參考信號(hào)的頻率和相位上。也即是,當(dāng)該鎖相環(huán)處于鎖定狀態(tài)時(shí),該參考信號(hào)與該反饋信號(hào)的頻率和相位均相同,或者兩者的頻率相同,相位差恒定。圖1B是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種鎖相環(huán)的局部結(jié)構(gòu)示意圖,如圖1B所示,為了避免鎖相環(huán)中電荷泵103的非線性對(duì)鎖相環(huán)的工作狀態(tài)造成影響,一般還可以在電荷泵103的輸出端增加補(bǔ)償電流(IOffset)31來改善該電荷泵103的非線性,該增加補(bǔ)償電流的鎖相環(huán)也稱為OffsetCP鎖相環(huán)。該OffsetCP鎖相環(huán)處于鎖定狀態(tài)時(shí),參考信號(hào)和反饋信號(hào)之間具有一定的相位差。圖1C是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種鎖相環(huán)的結(jié)構(gòu)示意圖,如圖1C所示,該鎖相環(huán)包括晶振緩沖器21、鑒相器22、低通濾波器23、壓控振蕩器24以及分頻器25,該鎖相環(huán)中未設(shè)置電荷泵,該類型的鎖相環(huán)也稱為Type-I鎖相環(huán),當(dāng)該Type-I鎖相環(huán)處于鎖定狀態(tài)時(shí),參考信號(hào)和反饋信號(hào)之間也具有固定的相位差。對(duì)于上述處于鎖定狀態(tài)時(shí),參考信號(hào)與反饋信號(hào)之間具有固定相位差的鎖相環(huán),可以包括兩種工作模式:第一工作模式下,參考信號(hào)的相位滯后于反饋信號(hào)的相位,在第二工作模式下,反饋信號(hào)的相位滯后于參考信號(hào)的相位。圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種鎖定檢測(cè)電路的應(yīng)用場(chǎng)景示意圖,參考圖2,該鎖定檢測(cè)電路00可以分別與鎖相環(huán)10的參考信號(hào)輸入端a和反饋信號(hào)輸入端b,以及控制器20相耦合。圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種鎖定檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)示意圖,如圖3所示,該鎖定檢測(cè)電路可以包括:相位比較電路01以及與該相位比較電路相耦合的狀態(tài)檢測(cè)電路02。該相位比較電路01用于分別從該鎖相環(huán)10的參考信號(hào)輸入端a接收參考信號(hào),從該鎖相環(huán)10的反饋信號(hào)輸入端b接收反饋信號(hào),以及從該控制器20接收工作模式信號(hào),其中,該工作模式信號(hào)指示了該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式,該工作模式包括第一工作模式和第二工作模式,在該第一工作模式下,該參考信號(hào)的相位滯后于該反饋信號(hào)的相位,在該第二工作模式下,該反饋信號(hào)的相位滯后于該參考信號(hào)的相位。該相位比較電路01還用于根據(jù)該參考信號(hào)、該反饋信號(hào)以及該工作模式信號(hào),生成對(duì)比信號(hào),該對(duì)比信號(hào)指示了該鎖相環(huán)在實(shí)際工作狀態(tài)下的相位關(guān)系與在該述理想鎖定狀態(tài)下的相位關(guān)系是否相同,其中,該鎖相環(huán)在實(shí)際工作狀態(tài)下的相位關(guān)系即該參考信號(hào)和該反饋信號(hào)的相位關(guān)系。該狀態(tài)檢測(cè)電路02用于獲取時(shí)鐘信號(hào)和該對(duì)比信號(hào),并根據(jù)該時(shí)鐘信號(hào)和該對(duì)比信號(hào),對(duì)該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè),該工作狀態(tài)包括鎖定狀態(tài)或失鎖狀態(tài)。其中,該鎖相環(huán)10的工作模式可以是由該控制器20進(jìn)行控制的,示例的,對(duì)于圖1B所示的OffsetCP鎖相環(huán),可以通過控制Offset電流的方向來控制該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式,具體的,當(dāng)控制該Offset電流的方向?yàn)閺碾姾杀?03流至低通濾波器104時(shí),該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式;當(dāng)控制該Offset電流的方向?yàn)閺牡屯V波器流至電荷泵時(shí)(即圖1B所示的流向),該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式。對(duì)于不同類型的鎖相環(huán),控制器對(duì)其工作模式的控制方法也不同,本發(fā)明實(shí)施例對(duì)此不做限定。圖4A是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種鎖定檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)示意圖,如圖4A所示,在本發(fā)明一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中,該相位比較電路01可以包括:D觸發(fā)器011和邏輯門012。一方面,該D觸發(fā)器011的時(shí)鐘信號(hào)輸入端CK用于接收該參考信號(hào),該D觸發(fā)器的數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端D用于接收該反饋信號(hào),該D觸發(fā)器的輸出端Q與該邏輯門012的第一輸入端連接,該D觸發(fā)器011用于以該參考信號(hào)為采樣時(shí)鐘信號(hào),對(duì)該反饋信號(hào)的電平進(jìn)行采樣得到采樣信號(hào)。另一方面,該D觸發(fā)器011的時(shí)鐘信號(hào)輸入端CK還可以接收該反饋信號(hào),則該D觸發(fā)器011的數(shù)據(jù)信號(hào)輸入端D接收該參考信號(hào),該D觸發(fā)器011的輸出端與該邏輯門的第一輸入端連接,此時(shí),該D觸發(fā)器能夠以該反饋信號(hào)為采樣時(shí)鐘信號(hào),對(duì)該參考信號(hào)的電平進(jìn)行采樣得到采樣信號(hào)。參考圖4A,該邏輯門012用于通過該第一輸入端接收該D觸發(fā)器輸出的采樣信號(hào),并通過該邏輯門的第二輸入端接收該工作模式信號(hào),以及根據(jù)該采樣信號(hào)和該工作模式信號(hào)進(jìn)行邏輯運(yùn)算,生成對(duì)比信號(hào)。具體的,該邏輯門可以為異或門,則此時(shí)該異或門可以對(duì)該采樣信號(hào)和該工作模式信號(hào)進(jìn)行異或運(yùn)算后生成該對(duì)比信號(hào);或者,該邏輯門還可以為同或門,該同或門可以對(duì)該采樣信號(hào)和該工作模式信號(hào)進(jìn)行同或運(yùn)算后生成該對(duì)比信號(hào)。需要說明的是,在實(shí)際應(yīng)用中,該相位比較電路01中還可以設(shè)置有多個(gè)邏輯門012,例如與門、或門或者與非門等,該多個(gè)邏輯門能夠?qū)崿F(xiàn)異或門或者同或門的邏輯效果,本發(fā)明實(shí)施例對(duì)該相位比較電路中邏輯門的個(gè)數(shù)和類型不做具體限定。進(jìn)一步的,參考圖4A,在本發(fā)明一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中,該狀態(tài)檢測(cè)電路02可以包括:計(jì)數(shù)器021和比較器022。該計(jì)數(shù)器021的輸入端用于接收該對(duì)比信號(hào),該計(jì)數(shù)器021的時(shí)鐘信號(hào)端CK用于接收時(shí)鐘信號(hào),該計(jì)數(shù)器021的輸出端與該比較器022的輸入端連接,該計(jì)數(shù)器021用于根據(jù)該時(shí)鐘信號(hào),在預(yù)設(shè)的計(jì)數(shù)周期內(nèi)對(duì)該對(duì)比信號(hào)中的預(yù)設(shè)電平進(jìn)行計(jì)數(shù)得到計(jì)數(shù)結(jié)果,并將該計(jì)數(shù)結(jié)果發(fā)送至該比較器022。其中,參考圖4A,該鎖定檢測(cè)電路還可以包括:時(shí)鐘發(fā)生器03,該計(jì)數(shù)器021所接收的時(shí)鐘信號(hào)可以是由該時(shí)鐘發(fā)生器03產(chǎn)生的數(shù)字時(shí)鐘信號(hào),該時(shí)鐘信號(hào)的頻率可以為根據(jù)實(shí)際情況預(yù)先設(shè)置的;或者也可以直接將該鎖相環(huán)中的參考信號(hào)輸入端與該計(jì)數(shù)器021的時(shí)鐘信號(hào)端相耦合,也即是,將該鎖相環(huán)中的參考信號(hào)作為該計(jì)數(shù)器021的時(shí)鐘信號(hào)。此外,該計(jì)數(shù)器021中預(yù)設(shè)的計(jì)數(shù)周期可以根據(jù)鎖定檢測(cè)電路的實(shí)際情況靈活設(shè)置,一般計(jì)數(shù)周期越長(zhǎng),該鎖定檢測(cè)電路的檢測(cè)精度越高。該比較器022用于將該計(jì)數(shù)器021發(fā)送的計(jì)數(shù)結(jié)果與預(yù)設(shè)的計(jì)數(shù)閾值進(jìn)行比較,并根據(jù)比較結(jié)果生成該狀態(tài)檢測(cè)信號(hào)。具體的,當(dāng)該計(jì)數(shù)結(jié)果大于該計(jì)數(shù)閾值時(shí),確定該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)為失鎖狀態(tài);當(dāng)該計(jì)數(shù)結(jié)果不大于該計(jì)數(shù)閾值時(shí),確定該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)為鎖定狀態(tài)。需要說明的是,在實(shí)際應(yīng)用中,該計(jì)數(shù)器021中可以設(shè)置有用于接收計(jì)數(shù)周期的輸入端,該比較器022中也可以設(shè)置有用于接收計(jì)數(shù)閾值和計(jì)數(shù)周期的輸入端,該比較器022可以將在該計(jì)數(shù)周期內(nèi)接收到的計(jì)數(shù)結(jié)果與預(yù)設(shè)的計(jì)數(shù)閾值進(jìn)行比較。在本發(fā)明一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中,假設(shè)該鎖相環(huán)處于第一工作模式(即參考信號(hào)的相位滯后于反饋信號(hào)的相位)時(shí),控制器輸出的工作模式信號(hào)為高電平,該鎖相環(huán)處于第二工作模式(即反饋信號(hào)的相位滯后于參考信號(hào)的相位)時(shí),該工作模式信號(hào)為低電平,參考圖4A,以該D觸發(fā)器011的時(shí)鐘信號(hào)端CK接收參考信號(hào),數(shù)據(jù)信號(hào)端D接收反饋信號(hào),該邏輯門012為異或門為例,對(duì)該鎖定檢測(cè)電路的工作原理進(jìn)行詳細(xì)說明。由于該D觸發(fā)器011的時(shí)鐘信號(hào)端CK接收參考信號(hào),因此該D觸發(fā)器011能夠以該參考信號(hào)為采樣時(shí)鐘信號(hào),對(duì)數(shù)據(jù)信號(hào)端D輸入的反饋信號(hào)進(jìn)行采樣,也即是,在該參考信號(hào)的上升沿,向該邏輯門012的第一輸入端輸出該反饋信號(hào)的電平。圖4B和圖4C是本發(fā)明實(shí)施例提供的鎖相環(huán)在不同工作模式下參考信號(hào)與反饋信號(hào)的時(shí)序關(guān)系圖。其中圖4B是鎖相環(huán)在第一工作模式(即參考信號(hào)的相位滯后于反饋信號(hào)的相位)下,參考信號(hào)和反饋信號(hào)的時(shí)序圖,假設(shè)該參考信號(hào)和反饋信號(hào)在高電平時(shí)有效,則從圖4B可以看出,當(dāng)參考信號(hào)的相位滯后于反饋信號(hào)的相位時(shí),若該參考信號(hào)與反饋信號(hào)之間的相位關(guān)系穩(wěn)定(即當(dāng)鎖相環(huán)處于鎖定狀態(tài)時(shí)),D觸發(fā)器011在參考信號(hào)的上升沿對(duì)反饋信號(hào)進(jìn)行采樣時(shí),得到的采樣信號(hào)為高電平(即圖4B中A點(diǎn)的電平),此時(shí)該D觸發(fā)器輸出1;若該參考信號(hào)與反饋信號(hào)之間的相位關(guān)系不穩(wěn)定(即當(dāng)鎖相環(huán)處于失鎖狀態(tài)時(shí)),該D觸發(fā)器011輸出的該反饋信號(hào)的采樣信號(hào)則可能為1,也可能還包含0。圖4C是鎖相環(huán)在第二工作模式(即反饋信號(hào)的相位滯后于參考信號(hào)的相位)下,參考信號(hào)和反饋信號(hào)的時(shí)序圖,從圖4C可以看出,當(dāng)反饋信號(hào)的相位滯后于參考信號(hào)的相位時(shí),若該參考信號(hào)與反饋信號(hào)之間的相位關(guān)系穩(wěn)定,D觸發(fā)器011在參考信號(hào)的上升沿對(duì)反饋信號(hào)進(jìn)行采樣時(shí),采樣得到的信號(hào)為低電平(即圖4C中B點(diǎn)的電平),即該D觸發(fā)器輸出0;若該參考信號(hào)與反饋信號(hào)之間的相位關(guān)系不穩(wěn)定,該D觸發(fā)器輸出的該反饋信號(hào)的采樣信號(hào)則可能為0,也可能還包含1。異或門的工作原理如表1所示,即兩個(gè)輸入端輸入的電平相異時(shí),輸出為1,兩個(gè)輸入端輸入的電平相同時(shí),輸出為0。表1第一輸入端第二輸入端輸出端000011101110因此,當(dāng)鎖相環(huán)處于第一工作模式時(shí),若該參考信號(hào)和反饋信號(hào)之間的相位關(guān)系穩(wěn)定,則該D觸發(fā)器011向異或門012的第一輸入端輸出的信號(hào)應(yīng)為1,由于此時(shí)該異或門012第二輸入端輸入的工作模式信號(hào)為1,則異或門012輸出端輸出的對(duì)比信號(hào)應(yīng)全為0;若該參考信號(hào)和反饋信號(hào)之間的相位關(guān)系不穩(wěn)定,則該D觸發(fā)器011向異或門012的第一輸入端輸出的信號(hào)也不穩(wěn)定,即此時(shí)該D觸發(fā)器011向邏輯門012的第一輸入端輸出的信號(hào)可能為1也可能為0,因此此時(shí)該異或門012輸出的對(duì)比信號(hào)為1或者0。當(dāng)鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式,即反饋信號(hào)的相位滯后于參考信號(hào)的相位時(shí),若該參考信號(hào)和反饋信號(hào)之間的相位關(guān)系穩(wěn)定,該D觸發(fā)器011向異或門012的第一輸入端輸出的信號(hào)應(yīng)為0,由于此時(shí)該異或門012第二輸入端輸入的工作模式信號(hào)為0,則異或門012輸出端輸出的對(duì)比信號(hào)也應(yīng)該為0;若該參考信號(hào)和反饋信號(hào)之間的相位關(guān)系不穩(wěn)定,則該異或門012輸出的對(duì)比信號(hào)為1或者0。根據(jù)上述分析可知,在工作模式信號(hào)以高電平指示鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式,以及工作模式信號(hào)以低電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式,該D觸發(fā)器的時(shí)鐘信號(hào)端CK接收參考信號(hào),且該邏輯門012為異或門的情況下,當(dāng)該鎖相環(huán)為鎖定狀態(tài)時(shí),該異或門012輸出的對(duì)比信號(hào)應(yīng)當(dāng)全為0,當(dāng)該鎖相環(huán)為失鎖狀態(tài)時(shí),該異或門012輸出的對(duì)比信號(hào)可以為1或者0。因此,計(jì)數(shù)器021在接收到該對(duì)比信號(hào)后,所統(tǒng)計(jì)的該對(duì)比信號(hào)中的預(yù)設(shè)電平可以為高電平,也即是,該計(jì)數(shù)器021可以以該參考信號(hào)為時(shí)鐘信號(hào),在預(yù)設(shè)的計(jì)數(shù)周期內(nèi),對(duì)該對(duì)比信號(hào)的高電平進(jìn)行計(jì)數(shù),示例的,假設(shè)計(jì)數(shù)周期為1s,該參考信號(hào)的周期為0.1s,則在該計(jì)數(shù)周期內(nèi),該計(jì)數(shù)器021可以采樣得到10個(gè)電平信號(hào),并對(duì)該10個(gè)電平信號(hào)中的高電平進(jìn)行計(jì)數(shù),若在該計(jì)數(shù)周期1s內(nèi),計(jì)數(shù)器021統(tǒng)計(jì)得到該10個(gè)電平信號(hào)中包括5個(gè)高電平,則該計(jì)數(shù)器021可以將計(jì)數(shù)結(jié)果5發(fā)送至比較器022。若該比較器022中預(yù)設(shè)的計(jì)數(shù)閾值為3,則當(dāng)比較器022接收到計(jì)數(shù)結(jié)果5時(shí),可以確定該計(jì)數(shù)結(jié)果5大于計(jì)數(shù)閾值3,進(jìn)而可以確定該鎖相環(huán)中參考信號(hào)與反饋信號(hào)之間的相位關(guān)系不穩(wěn)定,并確定該鎖相環(huán)為失鎖狀態(tài)。在本發(fā)明實(shí)施例中,由于當(dāng)鎖相環(huán)處于第一工作模式時(shí),該工作模式信號(hào)可以為低電平,相應(yīng)的,當(dāng)鎖相環(huán)處于為第二工作模式時(shí),該工作模式信號(hào)為高電平,且該D觸發(fā)器中時(shí)鐘信號(hào)端所接入的可以為參考信號(hào)也可以為反饋信號(hào),該邏輯門對(duì)采樣信號(hào)和工作模式信號(hào)所進(jìn)行的邏輯運(yùn)算可以為異或運(yùn)算也可以為同或運(yùn)算。因此,該計(jì)數(shù)器所統(tǒng)計(jì)的預(yù)設(shè)電平可以根據(jù)該工作模式信號(hào)在不同工作模式下的電平高低、D觸發(fā)器中時(shí)鐘信號(hào)端接入的信號(hào)類型,以及該邏輯門的類型(即邏輯運(yùn)算的類型)進(jìn)行設(shè)置。具體如表2所示,一方面,在該工作模式信號(hào)以高電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式,以及該工作模式信號(hào)以低電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式的情況下,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該參考信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過異或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為高電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該反饋信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過同或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為高電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該參考信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過同或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為低電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該反饋信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過異或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為低電平。另一方面,在該工作模式信號(hào)以低電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第一工作模式,以及該工作模式信號(hào)以高電平指示該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式為第二工作模式的情況下,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該參考信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過異或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為低電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該反饋信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過同或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為低電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該參考信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過同或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為高電平;或者,當(dāng)該采樣信號(hào)是由該D觸發(fā)器以該反饋信號(hào)作為采樣時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行采樣得到,且該對(duì)比信號(hào)是由該邏輯門通過異或運(yùn)算生成時(shí),該預(yù)設(shè)電平為高電平。表2需要說明的是,本發(fā)明上述實(shí)施例均是以參考信號(hào)和反饋信號(hào)的有效電平為高電平為例進(jìn)行說明的,在實(shí)際應(yīng)用中,該參考信號(hào)和反饋信號(hào)的有效電平也可以為低電平,則上述表2所示的預(yù)設(shè)電平的高低也相應(yīng)的需要進(jìn)行調(diào)整。還需要說明的是,在實(shí)際應(yīng)用中,參考信號(hào)和反饋信號(hào)之間具有固定相位差的鎖相環(huán),均可以采用本發(fā)明實(shí)施例提供的鎖定檢測(cè)電路對(duì)鎖相環(huán)中的工作狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè),本發(fā)明實(shí)施例該鎖定檢測(cè)電路的應(yīng)用場(chǎng)景不做限定。此外,上述所有可選的實(shí)現(xiàn)方式,可以任意結(jié)合形成本發(fā)明的可選實(shí)施例。綜上所述,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種鎖定檢測(cè)電路,該鎖定檢測(cè)電路包括相位比較電路和狀態(tài)檢測(cè)電路,其中相位比較電路可以根據(jù)工作模式信號(hào),生成用于指示參考信號(hào)與該反饋信號(hào)之間的相位關(guān)系的對(duì)比信號(hào),狀態(tài)檢測(cè)電路可以根據(jù)參考信號(hào)和該對(duì)比信號(hào),對(duì)該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)。本發(fā)明實(shí)施例提供的鎖定檢測(cè)電路由D觸發(fā)器、邏輯門、一個(gè)計(jì)數(shù)器和一個(gè)比較器組成,該鎖定檢測(cè)電路所包含的元件較少,電路結(jié)構(gòu)較為簡(jiǎn)單。圖5是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種鎖定檢測(cè)方法的流程圖,該方法可以應(yīng)用于如圖3或圖4A所示的鎖定檢測(cè)電路中,從圖3或圖4A中可以看出,該鎖定檢測(cè)電路包括:相位比較電路01以及與該相位比較電路相耦合的狀態(tài)檢測(cè)電路02,該鎖定檢測(cè)電路可以分別與,鎖相環(huán)的參考信號(hào)輸入端和反饋信號(hào)輸入端,以及控制器相耦合,如圖5所示,該方法可以包括:步驟501、分別從鎖相環(huán)的參考信號(hào)輸入端接收參考信號(hào),從鎖相環(huán)的反饋信號(hào)輸入端接收反饋信號(hào),以及從控制器接收工作模式信號(hào)。其中,該工作模式信號(hào)指示了該鎖相環(huán)在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式,該工作模式包括第一工作模式和第二工作模式,在該第一工作模式下,該參考信號(hào)的相位滯后于該反饋信號(hào)的相位,在該第二工作模式下,該反饋信號(hào)的相位滯后于該參考信號(hào)的相位。步驟502、根據(jù)該參考信號(hào)、該反饋信號(hào)以及該工作模式信號(hào),生成對(duì)比信號(hào)。該對(duì)比信號(hào)指示了該鎖相環(huán)在實(shí)際工作狀態(tài)下的相位關(guān)系與在該述理想鎖定狀態(tài)下的相位關(guān)系是否相同,其中,該鎖相環(huán)在實(shí)際工作狀態(tài)下的相位關(guān)系即該參考信號(hào)和該反饋信號(hào)的相位關(guān)系。步驟503、獲取時(shí)鐘信號(hào)和該對(duì)比信號(hào),并根據(jù)該時(shí)鐘信號(hào)和該對(duì)比信號(hào)對(duì)該鎖相環(huán)的工作狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè),該工作狀態(tài)包括鎖定狀態(tài)或失鎖狀態(tài)。步驟501和步驟502所示的方法可以由上述鎖定檢測(cè)電路中的相位比較電路01來實(shí)現(xiàn),步驟503所示的方法可以由該鎖定檢測(cè)電路中的狀態(tài)檢測(cè)電路02來實(shí)現(xiàn)。上述步驟501至步驟503所示的鎖定檢測(cè)方法的具體實(shí)現(xiàn)過程可以參考前述針對(duì)鎖定檢測(cè)電路工作原理的描述,本發(fā)明實(shí)施例不再贅述。本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種鎖相電路,參考圖2,該鎖相電路可以包括:鎖相環(huán)10、控制器20以及如第一方面所述的鎖定檢測(cè)電路00,該鎖定檢測(cè)電路00分別與,鎖相環(huán)10的參考信號(hào)輸入端a和反饋信號(hào)輸入端b,以及控制器20相耦合。該鎖相環(huán)10用于通過該參考信號(hào)輸入端a向該鎖定檢測(cè)電路發(fā)送參考信號(hào),并通過該反饋信號(hào)輸入端b向該鎖定檢測(cè)電路發(fā)送反饋信號(hào)。該控制器20用于控制該鎖相環(huán)10的工作模式,并向該鎖定檢測(cè)電路00發(fā)送工作模式信號(hào),該工作模式信號(hào)指示了該鎖相環(huán)10在理想鎖定狀態(tài)下的工作模式,該工作模式包括第一工作模式和第二工作模式,在第一工作模式下,該參考信號(hào)的相位滯后于該反饋信號(hào)的相位,在該第二工作模式下,該反饋信號(hào)的相位滯后于該參考信號(hào)的相位。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。當(dāng)前第1頁(yè)1 2 3 
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