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      殼體組件和電氣設(shè)備的制作方法

      文檔序號(hào):39979352發(fā)布日期:2024-11-15 14:28閱讀:19來源:國知局
      殼體組件和電氣設(shè)備的制作方法

      本技術(shù)涉及電氣設(shè)備,尤其涉及一種殼體組件和電氣設(shè)備。


      背景技術(shù):

      1、在相關(guān)技術(shù)中,為避免外界的灰塵、雨水、蟲蟻等異物從散熱孔進(jìn)入電氣設(shè)備內(nèi)部,殼體組件設(shè)置有傳感器、電機(jī)、活動(dòng)件等部件,活動(dòng)件可以受傳感器和電機(jī)控制在電氣設(shè)備停機(jī)時(shí)遮蔽散熱孔而在電氣設(shè)備運(yùn)行時(shí)開放散熱孔。然而,這樣的殼體組件零部件較多,需要布設(shè)電路,結(jié)構(gòu)冗余,占用空間較大。


      技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

      1、本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N殼體組件和電氣設(shè)備。

      2、本申請(qǐng)實(shí)施方式的殼體組件包括殼體和記憶合金件。其中,殼體形成有散熱孔,記憶合金件設(shè)置在殼體上,記憶合金件在自身溫度小于預(yù)設(shè)溫度時(shí)遮蓋散熱孔,記憶合金件在自身溫度大于或等于預(yù)設(shè)溫度時(shí)相對(duì)于殼體活動(dòng)以打開散熱孔。

      3、本申請(qǐng)實(shí)施方式的殼體組件通過記憶合金件在溫度變化時(shí)產(chǎn)生變形或恢復(fù)變形,從而在電氣設(shè)備運(yùn)行溫度升高時(shí)開放散熱孔,而在電氣設(shè)備停止運(yùn)行溫度降低后遮蓋散熱孔,防止外界異物進(jìn)入。本申請(qǐng)實(shí)施方式的殼體組件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單,節(jié)約了安裝空間,并且可以省去電機(jī)驅(qū)動(dòng),節(jié)省了電氣設(shè)備的用電功耗,減少熱量積蓄。

      4、在一些實(shí)施方式中,殼體包括內(nèi)表面和外表面,記憶合金件設(shè)置在殼體的內(nèi)表面。

      5、如此,通過將記憶合金件設(shè)置在殼體的內(nèi)表面,減少外部風(fēng)雨塵土對(duì)記憶合金件的侵蝕,并可以進(jìn)一步節(jié)省空間。此外,記憶合金件設(shè)置在電氣設(shè)備內(nèi)部,從而記憶合金件在電氣設(shè)備運(yùn)行時(shí)可以及時(shí)吸熱,使得記憶合金件自身的溫度變化和形態(tài)變化與電氣設(shè)備的運(yùn)行、停機(jī)狀態(tài)同步性更好。

      6、在一些實(shí)施方式中,記憶合金件在自身溫度大于或等于預(yù)設(shè)溫度時(shí)自驅(qū)動(dòng)產(chǎn)生變形以打開散熱孔,或,記憶合金件在自身溫度小于預(yù)設(shè)溫度時(shí)自驅(qū)動(dòng)恢復(fù)變形以遮蓋散熱孔。

      7、如此,通過記憶合金件在不同的溫度下自驅(qū)動(dòng)變形或恢復(fù)變形,使得殼體組件可以在不需要電機(jī)或其他外部驅(qū)動(dòng)裝置的情況下遮蓋或打開散熱孔,從而簡(jiǎn)化結(jié)構(gòu),節(jié)省安裝空間和功耗。

      8、在一些實(shí)施方式中,散熱孔的數(shù)量為多個(gè),多個(gè)散熱孔并列設(shè)置。

      9、如此,通過多個(gè)散熱孔可以增大散熱面積,在保障散熱效果的同時(shí)單個(gè)散熱孔可以趨于小型化,降低異物進(jìn)入的風(fēng)險(xiǎn)。

      10、在一些實(shí)施方式中,記憶合金件的數(shù)量為多個(gè),多個(gè)記憶合金件沿散熱孔排列的方向依次設(shè)置,和/或,多個(gè)記憶合金件沿垂直于散熱孔排列的方向依次設(shè)置。

      11、如此,記憶合金件可以沿殼體的縱向或橫向依次設(shè)置,使得記憶合金件在低溫相形狀下可以充分遮擋散熱孔。

      12、在一些實(shí)施方式中,每個(gè)記憶合金件包括相互連接的兩片活頁,全部記憶合金件中的兩片活頁在自身溫度小于預(yù)設(shè)溫度時(shí)展開以共同遮蓋散熱孔,記憶合金件中的兩片活頁在自身溫度大于或等于預(yù)設(shè)溫度時(shí)折疊以共同打開散熱孔。

      13、如此,通過兩片活頁在低溫相狀態(tài)下展開,以及在高溫相狀態(tài)下折疊,使記憶合金件可以隨電氣設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)打開或遮蓋散熱孔。

      14、在一些實(shí)施方式中,活頁展開時(shí)緊貼殼體,活頁折疊時(shí)與殼體形成一定的夾角。

      15、如此,活頁展開時(shí)緊貼殼體,有效防止雨水、灰塵或蟲蟻等異物侵入殼體內(nèi),活頁折疊時(shí)與殼體形成夾角,可以充分利用散熱孔的空面積進(jìn)行散熱。

      16、在一些實(shí)施方式中,活頁與散熱孔一一對(duì)應(yīng),活頁在自身溫度小于預(yù)設(shè)溫度時(shí)展開以遮蓋對(duì)應(yīng)的散熱孔。

      17、如此,活頁與散熱孔一一對(duì)應(yīng),保障在記憶合金件的溫度小于預(yù)設(shè)溫度時(shí)活頁可以完全遮蓋散熱孔。

      18、在一些實(shí)施方式中,殼體組件還包括與殼體連接的固定件,固定件用于固定記憶合金件。

      19、如此,通過固定件將記憶合金件固定在殼體上預(yù)設(shè)的位置,使得記憶合金件在自身形態(tài)變化后可以完整地遮蓋或打開散熱孔。

      20、在一些實(shí)施方式中,記憶合金件包括安裝部,安裝部插入固定件中。

      21、如此,通過安裝部插入固定件中將記憶合金件安裝固定,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單且穩(wěn)定。

      22、本申請(qǐng)實(shí)施方式的電氣設(shè)備包括上述任一實(shí)施方式的殼體組件。

      23、本申請(qǐng)的附加方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出,部分將從下面的描述中變得明顯,或通過本申請(qǐng)的實(shí)踐了解到。



      技術(shù)特征:

      1.一種殼體組件,其特征在于,所述殼體組件包括:

      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的殼體組件,其特征在于,所述殼體包括內(nèi)表面和外表面,所述記憶合金件設(shè)置在所述殼體的內(nèi)表面。

      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的殼體組件,其特征在于,所述記憶合金件在自身溫度大于或等于所述預(yù)設(shè)溫度時(shí)自驅(qū)動(dòng)產(chǎn)生變形以打開所述散熱孔,或,所述記憶合金件在自身溫度小于預(yù)設(shè)溫度時(shí)自驅(qū)動(dòng)恢復(fù)變形以遮蓋所述散熱孔。

      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的殼體組件,其特征在于,所述散熱孔的數(shù)量為多個(gè),多個(gè)所述散熱孔并列設(shè)置。

      5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的殼體組件,其特征在于,所述記憶合金件的數(shù)量為多個(gè),多個(gè)所述記憶合金件沿所述散熱孔排列的方向依次設(shè)置,和/或,多個(gè)所述記憶合金件沿垂直于所述散熱孔排列的方向依次設(shè)置。

      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的殼體組件,其特征在于,每個(gè)所述記憶合金件包括相互連接的兩片活頁,全部所述記憶合金件中的兩片所述活頁在自身溫度小于所述預(yù)設(shè)溫度時(shí)展開以共同遮蓋所述散熱孔,所述記憶合金件中的兩片所述活頁在自身溫度大于或等于所述預(yù)設(shè)溫度時(shí)折疊以共同打開所述散熱孔。

      7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的殼體組件,其特征在于,所述活頁展開時(shí)緊貼所述殼體,所述活頁折疊時(shí)與所述殼體形成一定的夾角。

      8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的殼體組件,其特征在于,所述活頁與所述散熱孔一一對(duì)應(yīng),所述活頁在自身溫度小于所述預(yù)設(shè)溫度時(shí)展開以遮蓋對(duì)應(yīng)的所述散熱孔。

      9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的殼體組件,其特征在于,所述殼體組件還包括與所述殼體連接的固定件,所述固定件用于固定所述記憶合金件。

      10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的殼體組件,其特征在于,所述記憶合金件包括安裝部,所述安裝部插入所述固定件中。

      11.一種電氣設(shè)備,其特征在于,包括權(quán)利要求1-10任一項(xiàng)所述的殼體組件。


      技術(shù)總結(jié)
      本技術(shù)公開了一種殼體組件和電氣設(shè)備。本申請(qǐng)實(shí)施方式的殼體組件包括殼體和記憶合金件。其中,殼體形成有散熱孔,記憶合金件設(shè)置在殼體上,記憶合金件在自身溫度小于預(yù)設(shè)溫度時(shí)遮蓋散熱孔,記憶合金件在自身溫度大于或等于預(yù)設(shè)溫度時(shí)相對(duì)于殼體活動(dòng)以打開散熱孔。本申請(qǐng)實(shí)施方式的殼體組件通過記憶合金件在溫度變化時(shí)產(chǎn)生變形或恢復(fù)變形,從而在電氣設(shè)備運(yùn)行溫度升高時(shí)開放散熱孔,而在電氣設(shè)備停止運(yùn)行溫度降低后遮蓋散熱孔,防止外界異物進(jìn)入。本申請(qǐng)實(shí)施方式的殼體組件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單,節(jié)約了安裝空間,并且可以省去電機(jī)驅(qū)動(dòng),節(jié)省了電氣設(shè)備的用電功耗,減少熱量積蓄。

      技術(shù)研發(fā)人員:陳漢東,孫中偉,周錦兵,譚東雄,朱奇君
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:深圳市華寶新能源股份有限公司
      技術(shù)研發(fā)日:20240222
      技術(shù)公布日:2024/11/14
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