專利名稱：檢測并行數(shù)據(jù)塊中標志的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)檢測技術(shù)，特別是涉及一種檢測并行數(shù)據(jù)塊中標志的方法及裝置。
背景技術(shù)：
在現(xiàn)代通信系統(tǒng)中，經(jīng)常會遇到在并行數(shù)據(jù)流中檢測標志位的情況，待檢測的標志位(比如串行序列)可以在一個并行數(shù)據(jù)塊中，也可以在兩個并行數(shù)據(jù)塊之間。假設并行數(shù)據(jù)塊的數(shù)據(jù)寬度為M位，且有n個并行數(shù)據(jù)塊，則所述并行數(shù)據(jù)流的構(gòu)成是前一塊數(shù)據(jù)塊Dn
的最低位和接下來的數(shù)據(jù)塊的最高位Dn-1[M]按照一定的格式相連，其一種格式如圖1所示，即標志、信息和標志相連，但并不限于這種格式，再如，信息、標志和信息相連等。在所述的格式中，信息的長度不是固定的，可以任意變化，而待檢測的標志位(比如串行序列)是固定不變的。其具體的并行數(shù)據(jù)流詳見圖2，在圖2中，所述并行數(shù)據(jù)塊的位寬為16比特，待檢測的標志位以串行序列為例來說明，且所述串行序列以01111110為例。
目前，常規(guī)檢測并行數(shù)據(jù)流中標志位的方法主要是將該并行數(shù)據(jù)流轉(zhuǎn)變成串行數(shù)據(jù)流，利用滑窗檢測的方式進行標志位的檢測。其具體的實現(xiàn)過程為(以圖2為例)首先將并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變?yōu)榇袛?shù)據(jù)流(如圖3所示)，然后定義一個8比特的滑窗，即待檢測序列為01111110，將串行數(shù)據(jù)流依次流入檢測窗，待進入窗內(nèi)的數(shù)據(jù)等于待檢測序列時，則可以將待檢測數(shù)據(jù)檢出。但是，利用這種檢測方法檢測并行數(shù)據(jù)流中的標志位，在每個時鐘周期滑窗移動1個bit對滑窗內(nèi)的數(shù)據(jù)進行檢測一次，這需要大量的時間才能檢測完1幀數(shù)據(jù)，效率很低。
因此，現(xiàn)有技術(shù)存在以下缺陷1)不能直接對并行數(shù)據(jù)流中的標志位進行檢測，需要將并行數(shù)據(jù)流轉(zhuǎn)換成串行數(shù)據(jù)流后才能檢測，這需要消耗一定邏輯資源來實現(xiàn)；2)串行檢測的效率比較低，檢測標志位的時間比較長。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明解決的技術(shù)問題是提供一種檢測并行數(shù)據(jù)塊中標志的方法及裝置，以解決目前技術(shù)中通過并行檢測不能直接檢測到所述并行數(shù)據(jù)流中標志的問題，同時也不能節(jié)省檢測時間的問題。
為解決上述問題，本發(fā)明提供一種檢測并行數(shù)據(jù)塊中標志的方法，所述方法包括步驟A、將并行數(shù)據(jù)流進行數(shù)據(jù)重組；B、對數(shù)據(jù)重組后的并行數(shù)據(jù)流進行并行檢測，得到該并行數(shù)據(jù)流中的標志。
所述數(shù)據(jù)重組的過程為21)將原并行數(shù)據(jù)流延遲一個時鐘周期；22)將延遲后的并行數(shù)據(jù)流與原并行數(shù)據(jù)流進行拼接。
所述拼接的方式為將延遲后并行數(shù)據(jù)流中的每一個并行數(shù)據(jù)塊的低位與當前在同一時間內(nèi)原并行數(shù)據(jù)流中的每一并行數(shù)據(jù)塊的高位進行拼接。
所述數(shù)據(jù)重組的過程為41)復制原并行數(shù)據(jù)流；42)將復制后的并行數(shù)據(jù)流與原并行數(shù)據(jù)流進行拼接。
所述拼接的方式為將復制并行數(shù)據(jù)流中的第n個并行數(shù)據(jù)塊的高位與當前在同一時間內(nèi)原并行數(shù)據(jù)流中的第n-1個并行數(shù)據(jù)塊的低位進行拼接，其中，n大于等于2。
所述并行檢測的過程為對每個重組后的并行數(shù)據(jù)塊以滑窗的位寬進行并行檢測。
所述重組后并行數(shù)據(jù)流的位寬是原并行數(shù)據(jù)位寬的二倍。
另外，本發(fā)明還提供一種檢測并行數(shù)據(jù)流中標志的裝置，所述裝置包括數(shù)據(jù)重組單元，用于將接收的并行數(shù)據(jù)流進行數(shù)據(jù)重組；數(shù)據(jù)檢測單元，與數(shù)據(jù)重組單元相連，用于將重組后的并行數(shù)據(jù)流進行并行檢測。
所述數(shù)據(jù)重組單元包括數(shù)據(jù)延遲子單元，用于將原并行數(shù)據(jù)流延遲一個時鐘周期發(fā)送；第一數(shù)據(jù)拼接子單元，與數(shù)據(jù)延遲子單元相連，用于將延遲后并行數(shù)據(jù)流中的每一個并行數(shù)據(jù)塊的低位與當前在同一時間內(nèi)原并行數(shù)據(jù)流中的每一并行數(shù)據(jù)塊的高位進行拼接；和/或數(shù)據(jù)復制子單元，用于復制同一時間內(nèi)的并行數(shù)據(jù)流，并發(fā)送復制后的并行數(shù)據(jù)流；第二數(shù)據(jù)拼接子單元，與數(shù)據(jù)復制子單元相連，用于將接收到的復制并行數(shù)據(jù)流中的第n個并行數(shù)據(jù)塊的高位與當前在同一時間內(nèi)原并行數(shù)據(jù)流中的第n-1個并行數(shù)據(jù)塊的低位進行拼接，其中，n大于等于2。
所述數(shù)據(jù)重組單元包括數(shù)據(jù)延遲子單元、第一數(shù)據(jù)拼接子單元、數(shù)據(jù)復制子單元和第二數(shù)據(jù)拼接子單元。
由上述可知，本發(fā)明先對并行數(shù)據(jù)流進行數(shù)據(jù)重組，其重組的方式可以通過將原始的并行數(shù)據(jù)流延遲一個時鐘周期，再將延遲后的并行數(shù)據(jù)流與延遲前的并行數(shù)據(jù)流進行拼接；也可以復制原始的并行數(shù)據(jù)流，再將復制并行數(shù)據(jù)流中的第n個并行數(shù)據(jù)塊的高位與當前在同一時間內(nèi)原并行數(shù)據(jù)流中的第n-1個并行數(shù)據(jù)塊的低位進行拼接，其中，n大于等于2。但并不限于這兩種數(shù)據(jù)重組方式，還可以是其它的方式，；然后對重組后的并行數(shù)據(jù)流進行并行檢測，且檢測的次數(shù)等于一個并行數(shù)據(jù)塊的位寬。因此，本發(fā)明所述方案不但能快速的檢測到所述并行數(shù)據(jù)流中的標志，還有效的節(jié)省了檢測時間，從而提高了檢測的效率。


圖1是現(xiàn)有技術(shù)中數(shù)據(jù)流的一種連接格式的示意圖；圖2是現(xiàn)有技術(shù)中待檢測標志在并行數(shù)據(jù)流中的示意圖；圖3是現(xiàn)有技術(shù)中將并行數(shù)據(jù)流轉(zhuǎn)化成串行數(shù)據(jù)流的示意圖；圖4是本發(fā)明所述檢測并行數(shù)據(jù)塊中標志的方法的流程圖；圖5是本發(fā)明所述方法中數(shù)據(jù)重組的一種實施例；圖6是本發(fā)明所述方法中數(shù)據(jù)重組的另一種實施例；圖7是本發(fā)明所述方法中并行檢測的一種實施例；圖8是本發(fā)明所述方法中并行檢測的另一種實施例；圖9是本發(fā)明所述檢測并行數(shù)據(jù)塊中標志的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式
本發(fā)明的核心是先將原并行數(shù)據(jù)流進行數(shù)據(jù)重組，其中，所述數(shù)據(jù)重組的方式可以將原并行數(shù)據(jù)流延遲一個時鐘周期，并將延遲后的并行數(shù)據(jù)流與原并行數(shù)據(jù)流在同一時間內(nèi)進行拼接，組成新的并行數(shù)據(jù)流；或者是復制原并行數(shù)據(jù)流，再將復制并行數(shù)據(jù)流中的第n個并行數(shù)據(jù)塊的高位與當前在同一時間內(nèi)原并行數(shù)據(jù)流中的第n-1個并行數(shù)據(jù)塊的低位進行拼接，其中，n大于等于2，組成新的并行數(shù)據(jù)流；所述組成新的并行數(shù)據(jù)流的位寬是原并行數(shù)據(jù)流位寬的二倍；然后，再對數(shù)據(jù)重組后的新并行數(shù)據(jù)流進行并行檢測，從而檢測出該并行數(shù)據(jù)流中的標志。
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明做進一步的說明。
請參閱圖4，為本發(fā)明所述檢測并行數(shù)據(jù)流中標志的方法的流程圖。所述方法包括步驟步驟S11將并行數(shù)據(jù)流進行數(shù)據(jù)重組；步驟S12對數(shù)據(jù)重組后的并行數(shù)據(jù)流進行并行檢測，得到該并行數(shù)據(jù)流中的標志。
本發(fā)明在現(xiàn)有技術(shù)的基礎上，如果直接在原來并行數(shù)據(jù)流的數(shù)據(jù)格式下對每個并行數(shù)據(jù)塊進行并行檢測，即使用滑窗檢測機制來檢測。如果該標志或幀標志正好在一個并行數(shù)據(jù)塊的內(nèi)部，則通過這種方式可以檢測出該標志；但是如果標志正好分布在兩個相鄰的不同的并行數(shù)據(jù)塊中，則利用這種方式就檢測不到這個標志。因此，本發(fā)明不但考慮到并行數(shù)據(jù)流中的標志(以特定序列為例來說明，以下類同，不再重述)可能在一個并行數(shù)據(jù)塊的內(nèi)部，也有可能在兩個并行數(shù)據(jù)塊之間，為了能快速的檢測并行數(shù)據(jù)流中的標志(特定序列)，并節(jié)省檢測時間，本發(fā)明提出先將并行數(shù)據(jù)流進行數(shù)據(jù)重組，再對重組后的并行數(shù)據(jù)流進行并行檢測。
在步驟S11中，本發(fā)明提出先將并行數(shù)據(jù)流進行數(shù)據(jù)重組。其中一種數(shù)據(jù)重組的方式為先將原并行數(shù)據(jù)流延遲一個時鐘周期；然后再將延遲后的并行數(shù)據(jù)流與原并行數(shù)據(jù)流進行拼接。也就是將延遲后并行數(shù)據(jù)流中的每一個并行數(shù)據(jù)塊的低位與當前在同一時間內(nèi)原并行數(shù)據(jù)流中的每一并行數(shù)據(jù)塊的高位進行拼接。另一種數(shù)據(jù)重組的方式為先復制原并行數(shù)據(jù)流；再將復制后的并行數(shù)據(jù)流與原并行數(shù)據(jù)流進行拼接，其中所述拼接的方式為將復制并行數(shù)據(jù)流中的第n個并行數(shù)據(jù)塊的高位與當前在同一時間內(nèi)原并行數(shù)據(jù)流中的第n-1個并行數(shù)據(jù)塊的低位進行拼接，其中，n大于等于2，也就是說將復制并行數(shù)據(jù)流中的第二個并行數(shù)據(jù)塊的高位與當前在同一時間內(nèi)原并行數(shù)據(jù)流中的第一并行數(shù)據(jù)塊的低位進行拼接，以后的并行數(shù)據(jù)塊依次類推。
為了便于本領域技術(shù)人員的理解，下面分別對這兩種數(shù)據(jù)重組進行詳細的描述。
請參考圖5，為本發(fā)明所述方法中數(shù)據(jù)重組的一實施例。在該圖5中包括并行數(shù)據(jù)流的隨路時鐘、原始并行數(shù)據(jù)流以及延遲一個時鐘周期后的并行數(shù)據(jù)流的示意圖。其具體的數(shù)據(jù)重組過成為為了避免數(shù)據(jù)漏檢測，需要將前后兩個數(shù)據(jù)進行拼接一下，其拼接過程為首先，將原始的并行數(shù)據(jù)流延時一個時鐘周期；然后，再利用延時后的并行數(shù)據(jù)流與延時前在同一時間內(nèi)的并行數(shù)據(jù)流進行拼接。如圖5所示，在該圖中，每個D均表示一個并行數(shù)據(jù)塊的采樣點，且并行數(shù)據(jù)塊的位寬為任意大于1的整數(shù)。假設該并行數(shù)據(jù)流中包括Dn、Dn+1、Dn+2、Dn+3、Dn+4、Dn+5和Dn+6個并行數(shù)據(jù)塊，則將該并行數(shù)據(jù)流延遲一個時鐘周期后在同一時間內(nèi)的并行數(shù)據(jù)流為Dn-1、Dn、Dn+1、Dn+2、Dn+3、Dn+4、Dn+5；然后將延遲后的并行數(shù)據(jù)流與原并行數(shù)據(jù)流進行并行拼接，即將Dn-1與Dn拼接，Dn與Dn+1拼接，......，Dn+5與Dn+6拼接，其中，所述拼接后并行數(shù)據(jù)流的數(shù)據(jù)位寬為原并行數(shù)據(jù)流的數(shù)據(jù)位寬的2倍。如果并行數(shù)據(jù)塊的位寬為[(K-1)，0]，則拼接后并行數(shù)據(jù)塊的數(shù)據(jù)位寬為[(2K-1)，0]。
還請參考圖6，為本發(fā)明所述方法中數(shù)據(jù)重組的另一實施例。在該圖中包括原始并行數(shù)據(jù)流和復制后的并行數(shù)據(jù)流。其具體的數(shù)據(jù)重組過成為先復制原并行數(shù)據(jù)流，比如可以通過數(shù)據(jù)復制子單元來復制；然后將復制后的并行數(shù)據(jù)流與復制前在同一時間內(nèi)的并行數(shù)據(jù)流進行并行拼接。如圖6所示，在該圖中，每個D均表示一個并行數(shù)據(jù)塊的采樣點，且并行數(shù)據(jù)塊的位寬為任意大于1的整數(shù)。假設該并行數(shù)據(jù)流中包括Dn、Dn+1、Dn+2、Dn+3、Dn+4、Dn+5和Dn+6個并行數(shù)據(jù)塊，則復制后的并行數(shù)據(jù)流中的數(shù)據(jù)塊記為D’n、D’n+1、D’n+2、D’n+3、D’n+4、D’n+5和D’n+6個并行數(shù)據(jù)塊(需要說明是所述復制后并行數(shù)據(jù)流的內(nèi)容與原并行數(shù)據(jù)流的內(nèi)容是相同的，為了與原并行數(shù)據(jù)流區(qū)別，才記為D’的)；然后將復制后的并行數(shù)據(jù)流與原并行數(shù)據(jù)流進行并行拼接，即Dn與D’n+1、Dn+1與D’n+2、Dn+2與D’n+3、Dn+3與D’n+4、Dn+4與D’n+5、Dn+5與D’n+6拼接，且Dn+6不與任何數(shù)據(jù)塊拼接。其中，所述拼接后并行數(shù)據(jù)流的數(shù)據(jù)位寬也為原并行數(shù)據(jù)流的數(shù)據(jù)位寬的2倍。如果并行數(shù)據(jù)塊的位寬為[(K-1)，0]，則拼接后并行數(shù)據(jù)塊的數(shù)據(jù)位寬為[(2K-1)，0]。
在步驟S12中，本發(fā)明對數(shù)據(jù)重組后的并行數(shù)據(jù)流進行并行檢測。設并行數(shù)據(jù)流的位寬大于等于待檢測標志(比如特殊序列)的寬度，如果設待檢測特定序列寬度為a，并行數(shù)據(jù)位寬為K，則拼接后的數(shù)據(jù)位寬為2K，從圖5中可以看出，實際上在拼接后的并行數(shù)據(jù)流中每個樣點的數(shù)據(jù)都會出現(xiàn)兩次；但是，在如圖6所示拼接后的并行數(shù)據(jù)流中除樣點D’n外，其余節(jié)點都出現(xiàn)兩次。為了避免數(shù)據(jù)被重復檢測，降低檢測時間，提高檢測效率，在每個拼接后的2K位寬的并行數(shù)據(jù)流中，只需要檢測(K+a-1)位即可，因為(K+a-1)位后的數(shù)據(jù)已經(jīng)檢測。其具體的檢測算法為對每個重組后的并行數(shù)據(jù)塊以滑窗的位寬進行并行檢測，得到該并行數(shù)據(jù)流中的標志，且檢測的次數(shù)等于一個并行數(shù)據(jù)塊的位寬。也就是說，對每一個拼接后的并行數(shù)據(jù)塊，同時檢測等于滑窗寬度的位數(shù)，即依次檢測[(2K-1)，(2K-a)]位，[(2K-2)，(2K-a-1)]位，......，[K，(K-a)]位，將檢測到K+1次時，只要其中有一個等于待檢測的特定序列，即可將特定的序列檢出，由此可見。這種檢測方式只需要一個時鐘節(jié)拍即可檢測出該并行數(shù)據(jù)中是否含有特定序列。
下面以不同的應用實施例來說明本發(fā)明并行檢測的過程，具體請參見圖7和圖8。
請參考圖7，設并行數(shù)據(jù)塊的位寬為K＝16；待檢測特定序列的寬度為a＝8，則待檢測序列為01111110為例來說明。具體的并行檢測過程為如圖7所示，包括原始并行數(shù)據(jù)流以Dn、Dn+1、Dn+2、Dn+3和Dn+4為例，延時一個時鐘周期后的并行數(shù)據(jù)流為Dn-1、Dn、Dn+1、Dn+2和Dn+3，以及拼接后的并行數(shù)據(jù)流為{Dn-1～Dn}、{Dn～Dn+1}、{Dn+1～Dn+2}、{Dn+2～Dn+3}、{Dn+3～Dn+4}。對于每一個拼接后的32bit位寬的并行數(shù)據(jù)流，每次只需要同時檢測{31～24}、{30～23}、......、{16～9}?？梢钥闯霎敎y到{Dn+1，Dn+2}時，在判斷到{19～12}時即可發(fā)現(xiàn)該序列等于特定的序列01111110。
再請參考圖8，假設并行數(shù)據(jù)流的為寬位K＝16，待檢測特定序列的寬度為a＝8，則待檢測序列為01111110為例來說明。具體的并行檢測過程為如圖8所示，該圖中包括原始的并行數(shù)據(jù)流以D0、D1、D2和D3為例，復制后的并行數(shù)據(jù)流為D’0、D’1、D’2和D’3，且復制后的并行數(shù)據(jù)塊的內(nèi)容與復制前的相同，以及拼接后的并行數(shù)據(jù)流為{D0～D’1}、{D1～D’2}、{D2～D’3}。對于每一個拼接后的32bit位寬的并行數(shù)據(jù)中，后一個數(shù)據(jù)的高16位和前一個數(shù)據(jù)的低16位是重復的，所以為了節(jié)約檢測的時間避免重復檢測，每次滑窗不用把32位全部檢測完，具體的檢測過程是對每個拼接后的32位數(shù)據(jù)并行檢測，并且在檢測的時候?qū)γ總€重組后的數(shù)據(jù)同時檢測所有的8位組合，也就是將0～7位，1～8位，2～9位等分別組合起來，一直組合到15～22位，同時檢測這些組合，這樣1個時鐘周期就可以檢測完所有的數(shù)據(jù)。
從這種并行檢測方法中可以看出，使用現(xiàn)有的檢測方法來檢測10個16位的并行數(shù)據(jù)需要152個時鐘周期，而使用本發(fā)明的所述的并行檢測的方法進行檢測只要16個時鐘周期。也就是原來的方法需要K*N-a(其中，K為并行數(shù)據(jù)塊的位寬，N為由多少個并行數(shù)據(jù)塊，a為滑窗的寬度)個時鐘周期，本發(fā)明只需要1個時鐘周期就可以了。
因此，本發(fā)明所述方案不但可以快速的檢測出并行數(shù)據(jù)塊中的標志，還可以節(jié)省檢測時間，提高檢測的效率。
另外，本發(fā)明還提供一種檢測并行數(shù)據(jù)流中標志的裝置，詳見圖9。所述裝置包括數(shù)據(jù)重組單元11和數(shù)據(jù)檢測單元12，其中所述數(shù)據(jù)重組單元11，用于將接收的并行數(shù)據(jù)流進行數(shù)據(jù)重組，重組后的數(shù)據(jù)位寬是原并行數(shù)據(jù)位寬的二倍；所述數(shù)據(jù)檢測單元12，與數(shù)據(jù)重組單元11相連，用于將重組后的并行數(shù)據(jù)流進行并行檢測。
其中，所述數(shù)據(jù)重組單元11包括數(shù)據(jù)延遲子單元111和第一數(shù)據(jù)拼接子單元112。所述數(shù)據(jù)延遲子單元111，用于將原并行數(shù)據(jù)流延遲一個時鐘周期發(fā)送；所述第一數(shù)據(jù)拼接子單元112，與所述數(shù)據(jù)延遲子單元111相連，用于將延遲后并行數(shù)據(jù)流中的每一個并行數(shù)據(jù)塊的低位與當前在同一時間內(nèi)原并行數(shù)據(jù)流中的每一并行數(shù)據(jù)塊的高位進行拼接。
所述數(shù)據(jù)重組單元11也可以包括數(shù)據(jù)復制子單元113和第二數(shù)據(jù)拼接子單元114(如圖中虛線所示)。所述數(shù)據(jù)復制子單元113，用于復制同一時間內(nèi)的并行數(shù)據(jù)流，并發(fā)送復制后的并行數(shù)據(jù)流；所述第二數(shù)據(jù)拼接子單元114，與數(shù)據(jù)復制子單元113相連，用于將接收到的復制并行數(shù)據(jù)流中的第n個并行數(shù)據(jù)塊的高位與當前在同一時間內(nèi)原并行數(shù)據(jù)流中的第n-1個并行數(shù)據(jù)塊的低位進行拼接，其中，n大于等于2。
所述數(shù)據(jù)重組單元11還可以同時包括數(shù)據(jù)延遲子單元111、第一數(shù)據(jù)拼接子單元112、數(shù)據(jù)復制子單元113和第二數(shù)據(jù)拼接子單元114。
所述裝置各個單元的具體實現(xiàn)與上述方法的具體實現(xiàn)過程相同，詳見上述，在此不再贅述。
以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應當指出，對于本技術(shù)領域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發(fā)明的保護范圍。
權(quán)利要求
1.一種檢測并行數(shù)據(jù)塊中標志的方法，其特征在于，包括A、將并行數(shù)據(jù)流進行數(shù)據(jù)重組；B、對數(shù)據(jù)重組后的并行數(shù)據(jù)流進行并行檢測，得到該并行數(shù)據(jù)流中的標志。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述檢測并行數(shù)據(jù)流中標志的方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)重組的過程為21)將原并行數(shù)據(jù)流延遲一個時鐘周期；22)將延遲后的并行數(shù)據(jù)流與原并行數(shù)據(jù)流進行拼接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述檢測并行數(shù)據(jù)流中標志的方法，其特征在于，所述拼接的方式為將延遲后并行數(shù)據(jù)流中的每一個并行數(shù)據(jù)塊的低位與當前在同一時間內(nèi)原并行數(shù)據(jù)流中的每一并行數(shù)據(jù)塊的高位進行拼接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述檢測并行數(shù)據(jù)流中標志的方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)重組的過程為41)復制原并行數(shù)據(jù)流；42)將復制后的并行數(shù)據(jù)流與原并行數(shù)據(jù)流進行拼接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述檢測并行數(shù)據(jù)流中標志的方法，其特征在于，所述拼接的方式為將復制并行數(shù)據(jù)流中的第n個并行數(shù)據(jù)塊的高位與當前在同一時間內(nèi)原并行數(shù)據(jù)流中的第n-1個并行數(shù)據(jù)塊的低位進行拼接，其中，n大于等于2。
6.根據(jù)權(quán)利要求1、2或4所述檢測并行數(shù)據(jù)流中標志的方法，其特征在于，所述并行檢測的過程為對每個重組后的并行數(shù)據(jù)塊以滑窗的位寬進行并行檢測。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項所述檢測并行數(shù)據(jù)流中標志的方法，其特征在于，所述重組后并行數(shù)據(jù)流的位寬是原并行數(shù)據(jù)位寬的二倍。
8.一種檢測并行數(shù)據(jù)流中標志的裝置，其特征在于，包括數(shù)據(jù)重組單元，用于將接收的并行數(shù)據(jù)流進行數(shù)據(jù)重組；數(shù)據(jù)檢測單元，與數(shù)據(jù)重組單元相連，用于將重組后的并行數(shù)據(jù)流進行并行檢測。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述檢測并行數(shù)據(jù)流中標志的裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)重組單元包括數(shù)據(jù)延遲子單元，用于將原并行數(shù)據(jù)流延遲一個時鐘周期發(fā)送；第一數(shù)據(jù)拼接子單元，與數(shù)據(jù)延遲子單元相連，用于將接收到延遲后并行數(shù)據(jù)流中的每一個并行數(shù)據(jù)塊的低位與當前在同一時間內(nèi)原并行數(shù)據(jù)流中的每一并行數(shù)據(jù)塊的高位進行拼接；和/或，數(shù)據(jù)復制子單元，用于復制同一時間內(nèi)的并行數(shù)據(jù)流，并發(fā)送復制后的并行數(shù)據(jù)流；第二數(shù)據(jù)拼接子單元，與數(shù)據(jù)復制子單元相連，用于將接收到的復制并行數(shù)據(jù)流中的第n個并行數(shù)據(jù)塊的高位與當前在同一時間內(nèi)原并行數(shù)據(jù)流中的第n-1個并行數(shù)據(jù)塊的低位進行拼接，其中，n大于等于2。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種檢測并行數(shù)據(jù)塊中標志的方法及裝置，所述方法包括步驟A.將并行數(shù)據(jù)流進行數(shù)據(jù)重組；B.對數(shù)據(jù)重組后的并行數(shù)據(jù)流進行并行檢測，得到該并行數(shù)據(jù)流中的標志。所述裝置包括數(shù)據(jù)重組單元，用于將接收的并行數(shù)據(jù)流進行數(shù)據(jù)重組，重組后的數(shù)據(jù)位寬是原并行數(shù)據(jù)位寬的二倍；數(shù)據(jù)檢測單元，與數(shù)據(jù)重組單元相連，用于將重組后的并行數(shù)據(jù)流進行并行檢測。本發(fā)明以解決目前技術(shù)中通過并行檢測不能直接檢測到該并行數(shù)據(jù)流中標志的問題，以及不能有效的節(jié)省檢測時間的問題。
文檔編號H04L29/00GK1859349SQ20061000831
公開日2006年11月8日 申請日期2006年2月17日 優(yōu)先權(quán)日2006年2月17日
發(fā)明者孟慶鋒 申請人:華為技術(shù)有限公司