專利名稱：可縮放高速千兆位活動集束鏈路和測試器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本公開內(nèi)容一般地涉及網(wǎng)絡(luò)測試設(shè)備，更具體地涉及具有可縮放數(shù)目的10千兆位/秒(Gb/s)的通信測試鏈路的可縮放測試卡(scalable test card)。
背景技術(shù)：
在網(wǎng)絡(luò)化通信和網(wǎng)絡(luò)傳輸設(shè)備領(lǐng)域，行業(yè)標(biāo)準在發(fā)展以支持不斷增長的數(shù)據(jù)傳輸速率。例如，IEEE 802. 3系列的數(shù)據(jù)鏈路層標(biāo)準指定了用于以太網(wǎng)LAN和WAN的設(shè)備的要求；并且支持銅鏈路和光鏈路上超過10千兆比特每秒(G)(例如，40G和100G)的速度。此夕卜，IEEE 802. 3ba標(biāo)準基于并行的銅鏈路和光鏈路指定了 40/100G接口。網(wǎng)絡(luò)設(shè)備需要相互結(jié)合和連接以支持這些較高的數(shù)據(jù)傳輸速率。已知接口技術(shù)可以用于調(diào)適包括諸如C-可插拔接口(CFP)標(biāo)準和四通道小型可插拔接口(QSFP)標(biāo)準的網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的連通性，以適應(yīng)網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的連接。CFP標(biāo)準在每個并行傳輸?shù)姆较蛏习?0個IOG的信道或通道，例如，與XFI或串行器-解串器(SerDes)成幀器接口(SFI)的通道類似的通道。因此，CFP收發(fā)器可以支持多個IOG通道達到100G，例如I個100G以太網(wǎng)(GE)或0TU4信號，2個40GE或2個0TU3信號等。當(dāng)被通過CFP收發(fā)器在光鏈路上傳輸時，多個信號容易受到光色散，例如顏色、模態(tài)和偏振模色散(PMD)的影響。當(dāng)在接收端被轉(zhuǎn)換為多個電信號時，該色散可以部分地被電子色散補償(EDC)抵消。當(dāng)被通過CFP收發(fā)器在銅鏈路上傳輸時，多個信號容易受到衰減、串音和噪聲干擾。銅鏈路上信號的劣化在許多方面與光信號所經(jīng)歷的相類似。


圖1是使用了多個可縮放信號處理測試卡的測試系統(tǒng)的框圖的示例。

圖2是更詳細地列舉了圖1所示測試系統(tǒng)的一部分的框圖的示例。圖3是回傳模式下可縮放信號處理測試卡的框圖的示例。圖4是用可縮放數(shù)目的信號處理模塊列舉了可縮放信號處理測試卡縮放特征的框圖的示例，其中每個信號處理模塊具有可縮放數(shù)目的信號處理信道。圖5是可縮放信號處理測試卡的單一信號處理信道及其相關(guān)連接環(huán)境的框圖的示例。圖6是列舉了可縮放信號處理測試卡控制部的多個組件的框圖的示例。圖7a、7b、7c和7d是描繪了可縮放信號處理測試卡操作的高層次流程圖的示例。圖8是可用于配置可縮放信號處理測試卡以及查看測試結(jié)果的圖形用戶界面(GUI)的示例。
具體實施例方式MM本文提供了用于在可縮放信號處理測試設(shè)備的信號處理模塊處處理信號的看縮放信號處理測試設(shè)備和相關(guān)的信號處理技術(shù)。一組或多組源電信號被根據(jù)第一預(yù)定數(shù)目的可配置信號處理參數(shù)處理，以生成一組或多組測試電信號，這一組或多組測試電信號模擬了由光模塊根據(jù)用于光傳輸?shù)母咚俟鈱W(xué)標(biāo)準從所接收的光信號產(chǎn)生的電信號。一組或多組源電信號沒有被轉(zhuǎn)換為光信號或者從光信號轉(zhuǎn)換來。主機設(shè)備是被配置為以正常情況下將由光模塊根據(jù)高速光學(xué)標(biāo)準產(chǎn)生的格式接收一組或多組測試電信號的設(shè)備。在已經(jīng)被從主機設(shè)備通過預(yù)定數(shù)目的接收鏈路回傳之后，一組或多組測試電信號被從主機設(shè)備接收，該主機設(shè)備被配置為以適合于被光模塊根據(jù)高速光學(xué)標(biāo)準進行處理的格式輸出一組或多組測試電信號。從主機設(shè)備接收的一組或多組測試電信號被根據(jù)第二預(yù)定數(shù)目的可配置信號處理參數(shù)分析，從而確定主機設(shè)備是否輸出了遵從高速光學(xué)標(biāo)準的一組或多組測試電信號。該分析可以通過從一組或多組測試電信號生成一個或多個診斷參數(shù)來執(zhí)行。一個或多個診斷參數(shù)可以包括比特錯誤率、分組錯誤率或抖動測量、信號眼圖或標(biāo)準信號眼圖的測量結(jié)果O示例件實施例首先參考圖1。圖1示出了被配置為測試網(wǎng)絡(luò)接口卡的端口的測試系統(tǒng)100。系統(tǒng)100包括主機系統(tǒng)110、2個40+G網(wǎng)絡(luò)接口主機卡120(1)和120 (2)、2個可縮放信號處理測試卡130(1)和130(2)以及測試線纜140，測試線纜例如帶有多個集束在一起的雙軸(TffINAX)線纜。如本文所使用的，“40+G”指40G或更高的數(shù)據(jù)速率。主機系統(tǒng)110具有用戶界面(UI) 150，例如嵌入式互聯(lián)網(wǎng)操作系統(tǒng)(IOS)?？煽s放信號處理測試卡130(1)具有可選用戶接口 160，例如可被耦合至通用計算機(如個人計算機(PC)或筆記本電腦)的通用串行總線(USB)或以太網(wǎng)接口。PC也可以通過串行端口或通過遠程會話連接到主機系統(tǒng)110，從而使得測試工程師能配置主機系統(tǒng)110、主機卡120(1)和可縮放信號處理測試卡130(1)。主機系統(tǒng)110例如是網(wǎng)絡(luò)交換機，并且在本文中也指主機設(shè)備或簡單地指主機。主機卡120(1)和120(2)可以例如是用于網(wǎng)絡(luò)交換機的可配置網(wǎng)絡(luò)接口線路卡，并且在本文中也指線路卡，而可縮放信號處理測試卡130(1)和130(2)在本文中可以指測試卡或測試設(shè)備。可縮放信號處理測試卡130 (I)和130(2)中的每個被配置為使用諸如C附加單元接口(CAUI)或XAUI (其中CAUI中的“C”代表100而XAUI中的“X”代表10)的接口標(biāo)準插入到或可插入到主機卡120(1)和120(2)中的相應(yīng)一個。如下文所述的，主機卡和測試卡根據(jù)可插入通信標(biāo)準(如CFP、CXP或QSFP標(biāo)準)交換數(shù)據(jù)。相應(yīng)的，測試卡可以是CFP模塊，或者替代地，它們可以是同定收發(fā)器(FT)模塊。因此，用于測試卡130(1)和130(2)的可插入連接器類似于CFP、CXP或QSFP (光纖或銅線)模塊的形狀因數(shù)，從而適應(yīng)它們的現(xiàn)有機械設(shè)計。2個測試卡130(1)和130(2)以及TWINAX測試線纜140的組合可以被稱為測試“集束”。每個集束由2個通過TWINAX線纜連接的CFP、CXP或者QSFP機械箱體或殼體構(gòu)成。在機械箱體內(nèi)部，提供了多個EDC組件(支持8-llGb/s每信道或者更高的數(shù)據(jù)速率)用于信道凈化、應(yīng)力產(chǎn)生、 預(yù)加重、均衡以及流量的生成和檢測。在兩個殼體之間流動的信號被調(diào)節(jié)，從而使得TWINAX線纜適于傳輸。
互聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用、協(xié)作工具、視頻流和視頻會議以及高性能計算(HPC)應(yīng)用以增長中的速度激增。這些應(yīng)用造成了對速率和帶寬越來越大的需求。在目前的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境中，IOG鏈路與采用40G的系統(tǒng)在同步光纖網(wǎng)絡(luò)(SONET)和同步數(shù)字系列(SDH)網(wǎng)絡(luò)上正常部署以供傳輸。市場中有向具有更高的數(shù)據(jù)率的以太網(wǎng)的過渡。例如，40GEU00GE和120Gb/s的系統(tǒng)都有越來越多的部署。向40GE、100GE和120Gb/s的過渡要求新的設(shè)計，以符合IEEE802. 3ba標(biāo)準或者國際電信聯(lián)盟(ITU)-T標(biāo)準。通過利用可插拔方案或FT，40GE/100GE/120G架構(gòu)不斷被建立在現(xiàn)有系統(tǒng)的模塊化構(gòu)架上?？刹灏蔚幕騀T的40GE/100GE/120G客戶端可以是以光纖或銅為基礎(chǔ)的，即，他們可以是光收發(fā)模塊或有線(傳統(tǒng)銅)收發(fā)模塊。CFP、CXP、QSFP或者FT模塊(光纖或銅)的電接口幾乎是相同的。電接口是lOGb/s串行信道的聚合體，例如，12個串行信道被用于120G、10個串行信道用于100G或者4個串行信道用于40G。如上文所述，主機和收發(fā)模塊之間的所述高速串行電接口例如是CAn標(biāo)準的。在串行信道和電跡線之間遭受串音的高速串行電接口需要被設(shè)計為相同的長度以避免信道延遲。信號預(yù)加強和均衡信號處理在為市場所采納的更高數(shù)據(jù)速率上成比例地變得更加復(fù)雜。參考圖2，其示出了測試系統(tǒng)100的一部分的框圖，并闡明了線路卡120(1)和測試卡130(1)的多個相關(guān)內(nèi)部組件。線路卡120(1)還包括媒體訪問控制(MAC)/物理編碼子層(PCS)模塊200和基于I2C的輸入/輸出(I/O)模塊210。測試卡130(1)有信號凈化器、應(yīng)力發(fā)生器和信號處理(SSS)模塊220 ;帶有I2C主/從控制器240的控制-報警-監(jiān)視模塊230 ;以及被配置為耦合至可選用戶接口 160的Π端口 250。在本文中，控制-報警-監(jiān)視模塊230可以被稱為控制模塊230 ;I2C主/從控制器240可以被稱為I2C控制器240。在此示例中，MAC/PCS模塊200有10個被標(biāo)記為Txl-TxlO的IOG發(fā)送(TX)鏈路以及10個被標(biāo)記為Rxl-Rxio的接收(RX)鏈路。SSS模塊220有在每個方向形成10個“芯片到芯片(chip-to-chip) ”通道的相應(yīng)TX和RX鏈路。本文為離開主機卡方向的信號使用帶箭頭的虛線，為進入主機卡方向的信號使用帶箭頭的實線。發(fā)送和接收鏈路被配置為使用串行傳輸，比如使用示出的XFI和SFI通道。例如，XFI是被作為XFP多源協(xié)議的一部分定義的、10千兆位每秒的芯片到芯片電接口規(guī)格。XFI應(yīng)用的示例是10GEU0G光纖信道、SONET 0C-x、SDH STM_x、10G 0TN0TU-2以及并行光鏈路。每個XFI通道可以在兩個方向中的任意一個上傳送IOG數(shù)據(jù)，為了便于說明，IOG通道是單向的。在一個示例中，有4個XFI通道；在另一個示例中，有10、12或16個XFI通道。替代地，XFI通道中的每一個可以傳送25G的數(shù)據(jù)，以適應(yīng)IEEE考慮中的未來(例如，對所有100GBASE應(yīng)用的)標(biāo)準。IEEE 802. 3ba標(biāo)準描述了傳輸100GE的一組10個芯片到芯片接口通道，或者傳輸40GE的一組4個芯片到芯片 接口通道；其分別被稱為CAUI以及XLAUI。這些CAUI和XLAUI通道分別地在許多方面與XFI通道類似。一組線性地連接至物理介質(zhì)的10個通道或者一組線性地連接至物理介質(zhì)的4個通道分別被IEEE 802. 3ba標(biāo)準描述為CPPI和XLPPI。這些CPPI和XLPPI通道分別地在許多方面與SFI通道類似。SSS模塊220也有10個在測試線纜140上發(fā)送從主機線路卡120 (I)中的MAC/PCS模塊200所接收的信號的IOG發(fā)送輸出；以及10個接收來自測試線纜140的信號以發(fā)送到主機線路卡120 (I)中的MAC/PCS模塊200的接收輸入。SSS模塊220被配置為對通過模塊220的兩個方向上的信號執(zhí)行各種形式的信號處理，例如EDC、噪聲或應(yīng)力注入等；其將在下文中聯(lián)系圖5被描述。在控制模塊230和I2C I/O模塊210之間提供了接口連接或總線連接，以允許I2C控制器240與線路卡120 (I)進行通信。例如，可以為總線連接提供一個管理數(shù)據(jù)輸入/輸出(MDIO)的總線結(jié)構(gòu)。MDIO是為以太網(wǎng)定義的總線結(jié)構(gòu)，例如由IEEE 802. 3定義。它是由2個I2C引腳或2個線連接、MDIO引腳以及數(shù)據(jù)管理時鐘(MDC)引腳實現(xiàn)的。MDIO接口用于光學(xué)參數(shù)的監(jiān)測和功能控制。MDIO總線是用于帶外(out of band)通信的通信標(biāo)準的一個示例；但也有其他對主機卡和測試卡通信有益的、現(xiàn)在已知或之后開發(fā)的技術(shù)。示例性的多個單向MDIO參數(shù)或交換過的I/O參數(shù)被在I2C I/O模塊210中示出了。緊接著的段落描述了這些MDIO參數(shù)。REFCLK指被發(fā)送到控制模塊230的主機卡時鐘。ALARM指從控制模塊230到I2CI/0模塊210的用于報警、控制盒監(jiān)視功能的信令(這些功能是控制模塊230對于主機卡120 (I)具有的)。TX0N/0FF指用于指示就接收來自測試卡130(1)信號的就緒程度而言、主機卡120(1)的狀態(tài)的信令方案 。當(dāng)TX0N/0FF生效時，SSS模塊220向主機卡120 (I)的輸出被關(guān)閉。當(dāng)TX0N/0FF失效時，SSS模塊220的傳輸鏈路被按照預(yù)定義的TX開啟流程開啟。M0D_RESET指低態(tài)有效邏輯信號。當(dāng)M0D_RESET生效時，測試卡130 (I)進入復(fù)位狀態(tài)；相反地當(dāng)它失效時，測試卡130(1)脫離復(fù)位狀態(tài)。ADDRESS代表用于定位所有包含在主機卡120 (I)內(nèi)的端口的多個MDIO物理端口地址。物理端口地址線由主機卡120(1)驅(qū)動以將SSS模塊220的物理端口地址設(shè)置為匹配在MDIO框架中指定的地址。M0D_DET指從控制模塊230至主機卡120(1)的模塊檢測輸出信號。當(dāng)測試卡130(1)被插入主機卡120(1)中時，M0D_DET使“低電平(low) ”或接地條件生效；并且當(dāng)測試卡130(1)物理上不存在于主機卡120(1)中時，使“高電平(High)”生效；即當(dāng)沒有被測試卡130(1)的出現(xiàn)拉低至接地時，它是高電平的。RX_L0S指信號指示器信號的接收器損失。當(dāng)生效時，它指示SSS模塊220所接收到的光功率低于特定于應(yīng)用的預(yù)期光功率報警閾值。本文描述的技術(shù)消除了對實際的光信號的需要，其將在下文中被解釋。CONTROLS指允許主機卡120(1)通過硬件引腳編程某些控制功能的多個控制信號。STATUS向主機卡120(1)提供有關(guān)測試卡130(1)的狀態(tài)信息。INTERRUPT向主機卡120(1)提供測試卡130(1)之間的中斷。I2C I/O分組可以被用來交換其他信息，例如測試數(shù)據(jù)、測試結(jié)果或者測試配置信
肩、OI2C控制器240可配置作為I2C從發(fā)備，或者作為I2C主設(shè)備。主設(shè)備是在當(dāng)前時間作為總線控制器的設(shè)備。I2C主設(shè)備控制時鐘，并產(chǎn)生START和STOP信號。多個從設(shè)備監(jiān)聽總線并對它們發(fā)送的控制和數(shù)據(jù)動作。主設(shè)備可以向從設(shè)備發(fā)送數(shù)據(jù)，或者自從設(shè)備接收數(shù)據(jù)。從設(shè)備之間不相互傳送數(shù)據(jù)。在本示例中，當(dāng)可選Π 160被連接到Π端口 250時，I2C控制器240可以被配置作為I2C主設(shè)備，或者被配置為檢測UI 160的存在并且使用接管機制成為主設(shè)備。當(dāng)Π 160不存在，則I2C控制器240被配置為作為I2C從設(shè)備。目前，在鏈路側(cè)40+G(即至主機卡120(1)和來自主機卡120(1))的測試環(huán)境中，對于媒體測試目的只有光收發(fā)模塊是可用的。并且也沒有可用的測試方案，其允許為制造和主機卡檢驗縮放IOG鏈路的數(shù)目或者保證主機的功能。光測試方案往往是昂貴的，并且提出了對現(xiàn)有附加PMD和偏振相關(guān)損耗(TOL)光纖信號處理的要求。另外，信號調(diào)節(jié)和處理由主機卡操作，以克服印刷線電路損害和外部介質(zhì)損害，從而降低可插拔光模塊的成本。本文所描述的技術(shù)通過提供網(wǎng)絡(luò)元件和銅測試模塊(該銅測試模塊使用信號處理技術(shù)來模仿或者建模光傳輸模塊)之間的銅線傳輸和光纖傳輸來使得主機通信適于光學(xué)環(huán)境，從而消除了光學(xué)測試環(huán)境的必要。換言之，光學(xué)測試環(huán)境是使用電子元件和電信號模擬的。因此，一組或多組測試電信號是由一組或多組源電信號(這些電信號未被轉(zhuǎn)換為光信號或者從光信號轉(zhuǎn)換來)生成的。即，一組或多組測試電信號模擬了將被通過光鏈路發(fā)送或接收的多個光信號。在另一示例中，SSS模塊220的10個TX輸出可以被路由回多個RX輸入，而不是通過測試線纜140發(fā)送和接收信號。圖3示出了這種“環(huán)回(loopback)”模式。因此，測試卡220可以在2種模式下運行。在第一模式中，2個測試卡130(1)和130(2)串聯(lián)運行并且依賴經(jīng)由測試線纜140的通信。在第二模式中，測試卡被置于環(huán)回模式下，并且在沒有測試線纜和第二測試卡的情況下運行。兩種模式下的運行幾乎是相同的，其將在下文中結(jié)合圖5-8被進一步描述。參考圖4，列舉了可縮放信號處理測試卡(例如測試卡130(1))的縮放特性的框圖；該圖以及下文的描述同樣適用于測試卡130(2)。測試卡130(1)具有多個SSS模塊220 (I)-220 (n)。SSS模塊220 (I)-220 (η)中的每一個具有可縮放數(shù)目的信號處理信道。在本示例中，示出的SSS模塊220(1)帶有多個被配置為從主機卡接收信號、并且將信號通過測試線纜傳輸或者通過測試卡內(nèi)回傳傳輸?shù)腟SS接收信道410 (I) -410 (m)。SSS模塊220 (I)也有相應(yīng)數(shù)目被配置為向主機卡發(fā)送所接收信號的SSS發(fā)送信道420 (I) -420 (m)，并且接收來源于測試線纜或來源于 來自測試卡中SSS接收信道410 (1)-410 (m)的環(huán)回的信號。因此，測試卡130(1)可以被在很寬的數(shù)據(jù)速率變化范圍內(nèi)縮放。例如，為了支持40G數(shù)據(jù)速率，測試卡可以與一具有4個IOG RX和TXSSS信道或者單個40G RX和TX SSS信道的SSS模塊一同部署；或者測試卡可以與4個SSS模塊一同部署，其中每個SSS模塊具有單一 IOG RX和TX SSS信道。為了支持100G數(shù)據(jù)速率，測試卡可以具有單一帶有10個IOG RX和TX SSS信道的SSS模塊；例如類似圖2示出的配置，或者單一 SSS模塊可以使用4個25G SSS信道。10個IOG信道(10X IOG = 100G)測試卡可以禁用2個信道以支持2個40G的應(yīng)用，或者禁用6個信道以支持單一 40G的應(yīng)用。16個IOG信道IOG (16 X IOG =160G)測試卡可以禁用2個信道以支持I個100G和I個40G的應(yīng)用，禁用4個信道以支持I個120G的應(yīng)用，或者禁用6個信道以支持單一 100G的應(yīng)用。因此，測試卡可以被縮放以適應(yīng)IEEE考慮中的未來數(shù)據(jù)傳輸標(biāo)準、以及也可能被考慮的多個未來機械可插拔參數(shù)設(shè)計。參考圖5，SSS模塊220被與單一 IOG SSS信道(例如SSS信道410(1))的相關(guān)組件一同示出。IOG SSS信道410 (I)被配置為從主機接收IOG信號500并向主機發(fā)送IOG信號信號510、以及從TWINAX線纜接收IOG信號520并向TWINAX線纜傳輸IOG信號530。SSS信道410 (I)具有EDC單元或模塊540、多功能模塊550、噪聲生成模塊560、可變放大器570 (I)和570 (2)、可變延遲和可變放大器580以及信號混合器590。一個SSS信道410 (I)中的多個模塊可以被多個分立硬件組件、或者一個或多個集成電路設(shè)備實現(xiàn)。當(dāng)被接收后，信號500被傳送至EDC模塊540。EDC模塊540在信號500上執(zhí)行任何必要的EDC，例如信號均衡，并且將信號500傳送至多功能模塊550。多功能模塊550被配置為執(zhí)行比特錯誤率測試(BERT)和分組錯誤率測試(PERT)，并且基于信號500產(chǎn)生虛擬的“眼圖(eye)”。多功能模塊550還可以被配置為產(chǎn)生眼圖的幅度和時間測量，例如眼幅度、眼交叉幅度(eye crossing amplitude)、眼垂直開口、眼交叉時間、眼延遲、抖動等等。多功能模塊550還可以被配置為執(zhí)行EDC功能以及回傳信號500至主機線卡(如果被這樣配置)。多功能模塊550也被配置為生成測試信號，以代替接收IOG信號520或回傳信號500至主機。由多功能模塊550處理之后，信號500被通過TWINAX作為信號530發(fā)送到另一發(fā)備，例如，另一測試卡。當(dāng)被接收后，信號520被傳送至EDC模塊540。多功能模塊550執(zhí)行被配置為減輕任何由信號通路中所有設(shè)備引起的損害(例如TWINAX、連接器、電路板等的損害)的EDC操作。多功能模塊550可以執(zhí)行EDC操作以銳化調(diào)制信號的虛擬眼圖樣。多功能模塊550從噪聲模塊560接收相位調(diào)制(PM)抖動，并且將PM抖動應(yīng)用于信號530以劣化該信號。接著信號530被傳送至由來自噪聲模塊560的幅度調(diào)制(AM)信號所調(diào)制的放大器570 (I)，以將幅度抖動引入到信號530上從而進一步劣化該信號。

信號530被傳送至用多個傳統(tǒng)或已知應(yīng)力信號(例如對稱標(biāo)記應(yīng)力特性、前標(biāo)記(precursor)應(yīng)力特性、后標(biāo)記(post-cursor)應(yīng)力特性或傳統(tǒng)應(yīng)力特性)進一步調(diào)節(jié)和劣化信號的EDC模塊540。信號530被在EDC模塊540輸出處分割。信號530的一部分流過可變放大器570(2)以調(diào)整該部分信號的幅度。信號530的另一部分進入可變延遲和可變放大器580以創(chuàng)建信號的延時副本。由放大器570 (2)和580施加在信號中每部分的放大水平不需要相同。信號的兩部分由混頻器590加合在一起，并且被作為IOG信號510發(fā)送至主機。SSS信道410 (I)的不同組件(例如模塊和放大器)的功能可由可選的Π 160配置。在一個示例中，控制模塊240被配置為通過HTML或XML經(jīng)由UI端口 250與位于用戶界面160上的瀏覽器通信，或者通過其他通信方式與UI 160上運行的傳統(tǒng)UI應(yīng)用通信。然后控制模塊240基于從用戶界面160接收的命令，為SSS信道410 (I)上的不同模塊和放大器配置參數(shù)。測試卡130(1)中的其他SSS模塊可以以同樣的方式配置。在另一示例中，測試卡130(1)可以在沒有Π 160的情況下運行，并且被主機系統(tǒng)經(jīng)由I2C總線通過主機系統(tǒng)的IOS配置。參考圖6，示出了可縮放測試卡示例(例如測試卡130(1))的邏輯框圖，測試卡被配置為測試和保證主機卡的運作能力。圖6示出的多個部件被按照功能在邏輯上分組，該多個部件包括數(shù)據(jù)處理器610、接口 620和存儲器630。駐留在存儲器630中的是用于流量檢測的軟件和應(yīng)力生成處理邏輯700，例如，它可以由測試卡130(1)執(zhí)行。為了簡明的說明，多個部件被作為邏輯分組示出，其涉及各種可以被考慮的實體或電路設(shè)計。例如，數(shù)據(jù)處理器610的多個操作可以代表測試卡130的分布式處理能力；測試卡130的一些處理是由控制報警監(jiān)測模塊240 (圖5)的處理能力執(zhí)行的，而另一些處理可以由EDC模塊540或多功能模塊550執(zhí)行。處理邏輯700已經(jīng)在上文中聯(lián)系圖1-5被一般性地描述了，其細節(jié)將被聯(lián)系圖7進一步描述。數(shù)據(jù)處理器610例如是微處理器、微控制器、片上系統(tǒng)(SOC)或者其他同定的或可編程的邏輯。存儲器630可以是儲存用于本文所述技術(shù)的數(shù)據(jù)和指令的非易失性存儲器(NVM)、隨機存取存儲器(RAM)或其他有形(非臨時性)存儲介質(zhì)中的任何形式。存儲器630可以被分離出處理器610，是處理器610的一部分，或者被分散在測試卡130 (I)的不同組件中。用于執(zhí)行的處理邏輯700的指令可以被儲存在存儲器630中供處理器600執(zhí)行，于是當(dāng)被處理器執(zhí)行時，它使得處理器執(zhí)行本文聯(lián)系圖7所描述的操作。接口 620使得貫穿圖1示出測試系統(tǒng)的通信成為可能；例如，接口 620可以提供至主機系統(tǒng)的單獨以太網(wǎng)網(wǎng)絡(luò)連接，該連接與I2C連接以及SSS模塊的IOG鏈路是分離的。處理器610的功能可以由編碼了指令的處理器或計算機可讀有形(非臨時性)介質(zhì)實現(xiàn)，或者由編碼在一個或多個有形介質(zhì)中的邏輯(例如，諸如用集成電路(ASIC)、數(shù)字信號處理器(DSP)的指令、由處理器執(zhí)行的軟件等的嵌入邏輯)實現(xiàn)；其中存儲器630儲存用于本文所述多個計算或功能的數(shù)據(jù)(和/或存儲被執(zhí)行以進行本文所述多個計算或功能的軟件或處理器指令)。在一個示例中，EDC模塊和多功能模塊的操作可以由單一的ASIC實現(xiàn)；而控制報警監(jiān)測模塊的操作可以由微控制器或DSP實現(xiàn)，或者該操作可以在多個處理組件間共享。因此，處理邏輯700的操作可以用同定邏輯或可編程邏輯(例如，由處理器或現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)執(zhí)行的軟件或計算機指令)實現(xiàn)。存儲器630也可以儲存用于檢查測試模塊本身性能的多個內(nèi)部測試監(jiān)視特征、模塊被插入主機卡的次數(shù)，并且將內(nèi)部測量的參數(shù)與之前儲存的參數(shù)進行比較。例如，多個測試卡的輸出可能需要定期地被校準，并且用于不同信號處理特征的多個補償參數(shù)被儲存在NVM中。這些補償參數(shù)可以作為臨時保密檢查被對應(yīng)內(nèi)部測試特征監(jiān)測，或者為內(nèi)部自測試特征被監(jiān)測。補償參數(shù)可以在一段時間內(nèi)隨著測試卡老化被更新，例如，每六個月或一年校準一次，或者在特定次數(shù)的卡插入之后校準一次。參考圖7a_7d并繼續(xù)參考圖1和2，將描述流量檢測和應(yīng)力生成處理邏輯700。在710中，在可縮放信號處理測試設(shè)備(例如測試卡130(1))的信號處理模塊(例如SSS模塊220)處，一組或多組源電信號被根據(jù)第一預(yù)定數(shù)目的可配置信號處理參數(shù)進行處理，以從所接收的符合光傳輸?shù)母咚俟鈱W(xué)標(biāo)準的光信號生成一組或多組測試電信號，所生成的測試電信號模擬由光模塊產(chǎn)生的電信號。如上所述，這一組或多組源電信號沒有被轉(zhuǎn)換為光信號或者從光信號轉(zhuǎn)換來。源信號可以是來自主機發(fā)備以通過測試卡回傳到主機設(shè)備的，通過TWINAX 140來自另一外部設(shè)備的(例如，來自另一測試卡)，或者可以由SSS模塊220內(nèi)部生成。測試信號被設(shè)計為測試主機和主機卡(例如，主機系統(tǒng)110和主機卡120(1))的運行狀態(tài)。一般來說，單獨一組信號可以與SSS信道的每個TX或RX部分相關(guān)聯(lián)。源信號可以被調(diào)節(jié)，并被通過TWINAX線纜140傳輸至另一測試模塊(例如測試卡130(2))。源信號可以被用一增益放大，該增益在電信號被通 過線纜(例如TWINAX線纜140)發(fā)送至另一設(shè)備(例如，另一測試卡)時計入了源電信號的衰減，從而模擬通過光纖從源電信號導(dǎo)出的光信號的光傳輸。在720中，一組或多組測試電信號被通過預(yù)定數(shù)目的發(fā)送鏈路發(fā)送至主機設(shè)備，該主機設(shè)備被配置為以在正常情況下將被光模塊遵照高速光學(xué)標(biāo)準產(chǎn)生的格式接收一組或多組測試電信號。如上所述，40+G系統(tǒng)已被設(shè)計用于光傳輸。如果主機卡可以被配置用于測試模式，則主機卡可以被從測試卡發(fā)送對于主機卡已知的某些比特序列。然后主機卡可以報告或者記錄任何接收錯誤。任何接收到的測試信號可以由主機卡回傳到測試卡。在730中，在已經(jīng)被從主機設(shè)備通過預(yù)定數(shù)目的接收鏈路回傳之后，一組或多組測試電信號被測試卡從主機設(shè)備接收，該主機設(shè)備被配置為以適于被光模塊遵照高速光學(xué)標(biāo)準處理的格式輸出一組或多組測試電信號。因此，測試卡具有被設(shè)計以測試主機的、作為測試信號被向主機發(fā)送的多個原始源信號；以及一組新的經(jīng)主機處理的測試信號。從主機接收的測試信號和源信號可以被比較以評估主機信號處理。在740中，一組或多組從主機設(shè)備接收的測試電信號被根據(jù)第二預(yù)定數(shù)目的可配置信號處理參數(shù)進行分析，從而確定主機設(shè)備是否按照高速光學(xué)標(biāo)準輸出了一組或多組測試電信號。該分析可以通過從一組或多組測試電信號生成一個或多個診斷參數(shù)來執(zhí)行。處理邏輯700在圖7a、7b、7c和/或7d中繼續(xù)。
參考圖7b、7c和7d，流量檢測和應(yīng)力生成處理邏輯700繼續(xù)一些所示的選項或分支。在圖7b中，在750中示出了第一選項，其中740處的分析可以通過像前述那樣，生成一個或多個可以包括BERT、PERT的診斷參數(shù)、生成信號眼圖和/或計算標(biāo)準信號眼圖測量結(jié)果來執(zhí)行。在圖7c中，在760中示出了第二選項，其中740處的分析可以通過采樣一組或多組從主機設(shè)備接收的測試電信號、通過接口端口向分析應(yīng)用發(fā)送多個樣本以及由分析應(yīng)用從樣本中生成一個或多個診斷參數(shù)來執(zhí)行。在圖7d中，在770中示出了第三選項，其中一組或多組測試電信號被通過電通路從另一設(shè)備接收。由電通路引入的、不符合高速光學(xué)標(biāo)準的特性例如利用上述信號處理技術(shù)被去除。在780中，向一組或多組源電信號添加可配置信號劣化特性，這是例如通過添加一個或多個幅度調(diào)制抖動、相位調(diào)制抖動、信號延遲、標(biāo)準對稱標(biāo)記應(yīng)力特性、前標(biāo)記應(yīng)力特性、后標(biāo)記應(yīng)力特性以及自定義應(yīng)力特性來實現(xiàn)的。用于信號劣化特性的參數(shù)可以被選擇作為在710中描述的第一預(yù)定數(shù)目的可配置信號處理參數(shù)。在另一示例中，可配置的信號劣化特性被經(jīng)由用戶界面選擇，并且與信號劣化特性相關(guān)聯(lián)的信息被顯示在用戶界面上。下文將聯(lián)系圖8描述這些選項。在進一步的示例中，一組或多組從主機設(shè)備接收的測試電信號可以被記錄，并且一個或多個診斷參數(shù)可以被從所記錄的信號生成。替代地，多個信號樣本可以被記錄。所記錄的信號或樣本可以被用作與之后多個測試相比較的基礎(chǔ)、用來生成多個診斷參數(shù)、或者被從外部應(yīng)用或設(shè)備發(fā)送或取回。總之，當(dāng)2個測試卡如圖1所示地串連操作時，由主機卡120(1)生成的多個信號將進入測試卡130(1)。信號被記錄，BER被計算。信號被采樣以生成眼圖。然后數(shù)據(jù)經(jīng)由通向在PC上運行的分立軟件應(yīng)用的USB端口轉(zhuǎn)化為多個外部眼參數(shù)，例如帶有一定數(shù)目沖擊計算的眼圖波罩(eye mask)、上升時間、下降時間、寬度水平、過沖、下沖、邊緣抖動、眼交叉或者其他上述參數(shù)?？蛇x地，可以使用I2C MDIO接口，并且診斷軟件可以被合并入IOS或主機和/或線路卡上的診斷軟件。當(dāng)信號的所記錄部分在測試卡130(1)中被處理時，信號被通過TWINAX線纜從測試卡130 (I)發(fā)送到測試卡130 (2)。在測試卡130 (2)的SSS模塊，信號被使用測試卡130 (2)的多個EDC功能“凈化(clean) ”以消除任何(例如，被TWINAX或連接器引入)信號損害。在凈化操作之后，帶有多個附加標(biāo)準應(yīng)力(或任何自定義應(yīng)力條件)的新信號被生成，并被發(fā)送至耦合到測試卡130(2)的主機。如上所述，測試卡需要進行校準以包括標(biāo)記應(yīng)力校準。應(yīng)力校準在正常耦合至多個主機卡的測試卡的輸出處被測量；即該點被定義在當(dāng)測試卡130 (2)被插入主機線路卡時測試符合板(test compliance board)的超小型-A(SMA)連接器的末端處。SM測試點在測試標(biāo)準中被很好地定義。在相反的方向上，由主機卡120 (2)產(chǎn)生的多個信號進入測試卡130 (2)。信號被記錄，BER被計算。信號被采樣以生成眼圖。如上所述的，數(shù)據(jù)可以被經(jīng)由USB端口傳送到運行在PC上的獨立軟件應(yīng)用以提取如上所述的眼參數(shù)。當(dāng)信號的所記錄部分在測試卡130(2)中被處理時，信號被通過TWINAX線纜從測試卡130(2)發(fā)送到測試卡130 (I)。測試卡130(1)的SSS模塊使用測試卡130(1)的EDC功能凈化信號，以消除任何信號損害。在凈化操作之后，帶有附加應(yīng)力的新信號被生成并被發(fā)送至主機卡120(2)。測試卡130(1)的校準與測試卡130(2)的校準是相同的。一旦被校準，集束可以被多次取出或插入，并且校準可以被多次檢查和調(diào)整。由于測試線纜的長度是已知的，獲取壓力源的抽頭系數(shù)或發(fā)置幾乎與準靜態(tài)條件下的相同；即像TWINAX線纜內(nèi)產(chǎn)生的眼。現(xiàn)在來看圖8，示出了可以被用于配置可縮放信號處理測試卡以及查看測試結(jié)果的⑶I示例。⑶I具有時鐘選擇單選按鈕框810、樣式發(fā)生器框820、TX時鐘和數(shù)據(jù)幅度以及邊緣速率選擇部830、被測時鐘和數(shù)據(jù)參數(shù)部840、噪聲和數(shù)據(jù)參數(shù)選擇部850、標(biāo)記響應(yīng)窗口 860以及眼圖部870。時鐘選擇框810允許用戶在數(shù)據(jù)傳輸和處理過程中選擇使用的測試卡時鐘?？?10允許選擇本地電路板的時鐘，例如測試卡本身上的時鐘。從主機卡發(fā)送的參考時鐘可以被選擇。參考時鐘可以被分割或倍增， 以得到用于數(shù)據(jù)傳輸?shù)目捎脮r鐘。替代地，時鐘信號可以被從自主機卡發(fā)送至測試卡的數(shù)據(jù)中恢復(fù)。樣式發(fā)生器框820允許用戶選擇由測試卡使用的樣式生成或環(huán)回模式(通常當(dāng)卡處于單機模式下、并且沒有與另外的測試卡或設(shè)備串行操作時)。樣式發(fā)生器框820示出了測試樣式(例如231-1和223-1)的選擇以及其他測試樣式。不同的測試樣式可以通過選擇“自定義樣式(custom pattern) ”按鈕被生成。TX時鐘和數(shù)據(jù)幅度以及邊緣速率選擇部830具有多個滑動條，其允許用戶選擇TX時鐘幅度或電壓、TX數(shù)據(jù)幅度、以及用于高和低的比特過渡的上升和下降速率。用戶選定的時鐘和數(shù)據(jù)參數(shù)的測量結(jié)果被示出在測量時鐘和數(shù)據(jù)參數(shù)部840中。噪聲和數(shù)據(jù)參數(shù)選擇部850允許用戶選擇多個信號劣化參數(shù)。標(biāo)準長距離多模(LRM)標(biāo)記單選按鈕、“自定義標(biāo)記”按鈕、以及“設(shè)置噪聲和延遲參數(shù)”按鈕的組合允許用戶配置上述所有的信號衰減參數(shù)(例如上文聯(lián)系圖5描述的多個信號衰減參數(shù))。針對任何所選標(biāo)記的標(biāo)記沖擊響應(yīng)(如果有的話)被示出在標(biāo)記響應(yīng)窗口 860中。從主機卡電信號產(chǎn)生的虛擬眼圖如眼圖部870所示。眼圖部870允許用戶查看眼圖測量結(jié)果，例如，通過“點擊(clicking)”和“查看眼圖測量結(jié)果(view eyemeasurements) ”按鈕查看幅度和時間測量結(jié)果。當(dāng)GUI上的任何按鈕被點擊時，可以為選定的功能提供彈出式窗口?？梢岳斫獾氖牵魏螛?biāo)準的“窗口(windows)”類功能(例如標(biāo)簽或菜單)可以被作為⑶I應(yīng)用的一部分實現(xiàn)。任何上述功能，也可以通過主機IOS命令行界面(CLI)實現(xiàn)。本文為可縮放信號處理測試設(shè)備的信號處理模塊處的信號處理，提供了可縮放信號處理測試設(shè)備和相關(guān)信號處理技術(shù)。多個源電信號被處理以生成多個測試電信號，多個由光模塊從所接受的多個光信號根據(jù)光傳輸?shù)母咚俟鈱W(xué)標(biāo)準產(chǎn)生多個模擬光信號。多個測試電信號被通過發(fā)送鏈路發(fā)送至被配置為接收通常由光模塊遵照高速光學(xué)標(biāo)準產(chǎn)生格式的測試電信號的主機設(shè)備。在已經(jīng)被從主機設(shè)備通過預(yù)定數(shù)目的接收鏈路回傳之后，一組或多組測試電信號被從主機設(shè)備接收，該主機設(shè)備被配置為輸出一組或多組格式適于被光模塊遵照高速光學(xué)標(biāo)準處理的測試電信號。從主機設(shè)備接收的電測試信號被分析，從而確定主機設(shè)備是否遵照高速光學(xué)標(biāo)準輸出一組或多組測試電信號。因此，測試卡可以測試主機RX、處理以及TX，從而驗證主機操作。總之，集束鏈路和測試器系統(tǒng)被描述以在40G或更高數(shù)據(jù)速率下檢測多個接口。雙測試卡集束也可以作為多個主機卡之間的數(shù)據(jù)鏈路，例如CFP、CXP、QSP可插拔或同定收發(fā)器的標(biāo)準形狀因數(shù)。測試集束還允許流入和流出信號在兩個中任一方向上的數(shù)據(jù)捕獲和延遲、生成帶有頻率或幅度噪聲的多個波形的能力，并且包括用于測試卡配置的分立端，以及向板外(off-card)應(yīng)用發(fā)送捕獲的數(shù)據(jù)以允許后處理或離線的波形生成和分析。本文所描述的測試系統(tǒng)比使用光學(xué)可插拔的光測試方案便宜多個數(shù)目級。測試系統(tǒng)體積小、攜帶方便、可縮放以測試多個主機卡端，并且相較一次只能測試一個端、且沒有任何連接至主機手段的傳統(tǒng)“機架與匯編(rack and stack) ”測試方案提供了明顯優(yōu)勢。使用本文所述的系統(tǒng)，兩個端可以被同時測試，并且用于全系統(tǒng)的設(shè)計 驗證。TWINAX和信號放大系統(tǒng)支持更大的互連跨度，例如20米，其遠遠大于傳統(tǒng)的互連跨度(例如CXI跨度只有7米)。當(dāng)被主機IOS支持時，測試集束也可以幫助調(diào)試或修復(fù)鏈路。上述描述僅僅是作為示例的。
權(quán)利要求
1.一種方法，包括 在可縮放信號處理測試設(shè)備的信號處理模塊處，根據(jù)第一預(yù)定數(shù)目的可配置信號處理參數(shù)處理一組或多組源電信號，以生成一組或多組測試電信號，所述一組或多組測試電信號模擬了由光模塊根據(jù)用于光傳輸?shù)母咚俟鈱W(xué)標(biāo)準從所接收的光信號產(chǎn)生的電信號；以及 通過預(yù)定數(shù)目的發(fā)送鏈路向主機設(shè)備發(fā)送所述一組或多組測試電信號，所述主機發(fā)備被配置為以正常情況下將被光模塊根據(jù)所述高速光學(xué)標(biāo)準產(chǎn)生的格式接收所述一組或多組測試電信號。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，進一步包括 在所述一組或多組測試電信號已經(jīng)被從所述主機設(shè)備通過預(yù)定數(shù)目的接收鏈路回傳之后，從所述主機設(shè)備接收所述一組或多組測試電信號，所述主機設(shè)備被配置為以適合于被光模塊根據(jù)所述高速光學(xué)標(biāo)準處理的格式輸出所述一組或多組測試電信號。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，進一步包括根據(jù)第二預(yù)定數(shù)目的可配置信號處理參數(shù)分析從所述主機設(shè)備接收的所述一組或多組測試電信號，從而確定所述主機設(shè)備是否輸出了遵從所述高速光學(xué)標(biāo)準的所述一組或多組測試電信號。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其中分析步驟包括分析從所述主機發(fā)備接收的所述一組或多組測試電信號，以及從所述一組或多組測試電信號生成一個或多個診斷參數(shù)。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，其中生成步驟包括生成比特錯誤率、分組錯誤率、信號眼圖或標(biāo)準信號眼圖的測量結(jié)果中的一個或多個。
6.如權(quán)利要求3所述的方法，進一步包括 采樣從所述主機設(shè)備接收的所述一組或多組測試電信號； 通過接口端口向分析應(yīng)用發(fā)送多個樣本；以及 由所述分析應(yīng)用從所述多個樣本生成所述一個或多個診斷參數(shù)。
7.如權(quán)利要求3所述的方法，進一步包括記錄從所述主機設(shè)備接收的所述一組或多組測試電信號，其中分析步驟包括從所記錄的信號生成一個或多個診斷參數(shù)。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，進一步包括通過電通路從另一設(shè)備接收所述一組或多組測試電信號，并且其中處理步驟包括去除由所述電通路引入的、不符合高速光學(xué)標(biāo)準的特性。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，進一步包括從所述主機設(shè)備接收所述一組或多組源電信號。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，進一步包括根據(jù)可配置的比特樣式生成所述一組或多組源電信號。
11.如權(quán)利要求1所述的方法，其中處理步驟包括向所述一組或多組源電信號添加可配置信號劣化特性，以生成所述一組或多組測試電信號。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，其中添加步驟包括添加幅調(diào)制抖動、相位調(diào)制抖動、信號延遲、標(biāo)準對稱標(biāo)記應(yīng)力特性、標(biāo)準前標(biāo)記應(yīng)力特性、標(biāo)準后標(biāo)記應(yīng)力特性以及傳統(tǒng)應(yīng)力特性中的一個或多個。
13.如權(quán)利要求11所述的方法，進一步包括 通過用戶界面選擇所述可配置信號劣化特性；以及 在所述用戶界面上顯示與所述可配置信號劣化特性相關(guān)聯(lián)的信息。
14.如權(quán)利要求1所述的方法，進一步包括用一增益放大所述一組或多組源電信號，所述增益被配置為當(dāng)所述一組或多組源電信號被通過電纜發(fā)送到另一設(shè)備時計入了所述一組或多組源電信號的衰減，以便模擬從所述一組或多組源電信號導(dǎo)出的光信號通過光纜的光傳輸。
15.如權(quán)利要求1所述的方法，其中執(zhí)行信號處理的步驟包括配置所述可縮放信號處理測試設(shè)備的一個或多個測試參數(shù)，包括時鐘源、時鐘信號參數(shù)以及數(shù)據(jù)信號參數(shù)。
16.一種裝置,包括 第一連接器，其被配置為根據(jù)第一形狀因數(shù)可插拔標(biāo)準耦合至主機設(shè)備； 第二連接器，其被配置為耦合至電纜； 信號處理模塊，其被配置為 根據(jù)第一預(yù)定數(shù)目的可配置信號處理參數(shù)處理一組或多組源電信號，以生成一組或多組測試電信號，所述一組或多組測試電信號模擬了由光模塊根據(jù)用于光傳輸?shù)母咚俟鈱W(xué)標(biāo)準從所接收的光信號產(chǎn)生的電信號；以及 通過所述第一連接器中預(yù)定數(shù)目的發(fā)送鏈路向主機設(shè)備發(fā)送所述一組或多組測試電信號，所述主機設(shè)備被配置為以正常情況下將被光模塊根據(jù)所述高速光學(xué)標(biāo)準產(chǎn)生的格式接收所述一組或多組測試電信號。
17.如權(quán)利要求16所述的裝置，其中所述信號處理模塊被進一步配置為 在所述一組或多組測試電信號已經(jīng)被從所述主機設(shè)備通過所述第一連接器中預(yù)定數(shù)目的接收鏈路回傳之后，從所述主機設(shè)備接收所述一組或多組測試電信號，所述主機設(shè)備被配置為以適合于被光模塊根據(jù)所述高速光學(xué)標(biāo)準處理的格式輸出所述一組或多組測試電信號；以及 根據(jù)第二預(yù)定數(shù)目的可配置信號處理參數(shù)分析從所述主機設(shè)備接收的所述一組或多組測試電信號，從而確定所述主機設(shè)備是否輸出了遵從所述高速光學(xué)標(biāo)準的所述一組或多組測試電信號。
18.如權(quán)利要求17所述的裝置，其中所述信號處理模塊被配置為分析從所述主機設(shè)備接收的所述一組或多組測試電信號，以生成一個或多個診斷參數(shù)，所述一個或多個診斷參數(shù)包括比特錯誤率、分組錯誤率、信號眼圖或標(biāo)準信號眼圖的測量結(jié)果中的一個或多個。
19.如權(quán)利要求16所述的裝置，其中所述信號處理模塊被進一步配置為經(jīng)由所述第二連接器通過電纜接收所述一組或多組源電信號；其中所述信號處理模塊被配置為通過去除由所述電纜引入的、不符合所述高速光學(xué)標(biāo)準的特性來處理所述一組或多組源電信號。
20.如權(quán)利要求16所述的裝置，其中所述信號處理模塊被配置為通過向所述一組或多組源電信號添加可配置信號劣化特性來生成所述一組或多組測試電信號。
21.如權(quán)利要求16所述的裝置，其中所述信號處理模塊被進一步配置為用一增益放大所述一組或多組源電信號，所述增益被配置為當(dāng)所述一組或多組源電信號被通過電纜發(fā)送到另一設(shè)備時計入了所述一組或多組源電信號的衰減，以便模擬從所述一組或多組源電信號導(dǎo)出的光信號通過光纜的光傳輸。
22.如權(quán)利要求16所述的裝置，其進一步包括 接口端口 ；以及 控制器，其被配置為記錄從所述主機發(fā)備接收的所述一組或多組測試電信號； 采樣從所述主機發(fā)備接收的所述一組或多組測試電信號；以及 通過接口端口向分析應(yīng)用或者通過所述第一連接器向所述主機設(shè)備發(fā)送多個樣本。
23.—種系統(tǒng),包括 第一測試卡、第二測試卡以及被配置為連接所述第一測試卡和所述第二測試卡之間的電纜； 所述第一測試卡，包括 第一連接器，其被配置為根據(jù)第一形狀因數(shù)可插拔標(biāo)準耦合至主機設(shè)備； 第二連接器，其被配置為耦合至所述電纜； 信號處理模塊，其被配置為 根據(jù)第一預(yù)定數(shù)目的可配置信號處理參數(shù)處理一組或多組源電信號，以生成一組或多組測試電信號，所述一組或多組測試電信號模擬了由光模塊根據(jù)用于光傳輸?shù)母咚俟鈱W(xué)標(biāo)準從所接收的光信號產(chǎn)生的電信號；以及 通過所述第一連接器中預(yù)定數(shù)目的發(fā)送鏈路向第一主機設(shè)備發(fā)送所述一組或多組測試電信號，所述第一主機設(shè)備被配置為以正常情況下將被光模塊根據(jù)所述高速光學(xué)標(biāo)準產(chǎn)生的格式接收所述一組或多組測試電信號； 所述第二測試卡，包括 第一連接器，其被配置為根據(jù)第一形狀因數(shù)可插拔標(biāo)準耦合至主機設(shè)備； 第二連接器，其被配置為耦合至所述電纜； 信號處理模塊，其被配置為 根據(jù)第一預(yù)定數(shù)目的可配置信號處理參數(shù)處理一組或多組源電信號，以生成一組或多組測試電信號，所述一組或多組測試電信號模擬了由光模塊根據(jù)用于光傳輸?shù)母咚俟鈱W(xué)標(biāo)準從所接收的光信號產(chǎn)生的電信號；以及 通過所述第一連接器中預(yù)定數(shù)目的發(fā)送鏈路向第二主機設(shè)備發(fā)送所述一組或多組測試電信號，所述第二主機設(shè)備被配置為以正常情況下將被光模塊根據(jù)所述高速光學(xué)標(biāo)準產(chǎn)生的格式接收所述一組或多組測試電信號。
24.一種編碼有指令的處理器可讀介質(zhì)，所述指令在被處理器執(zhí)行時使得所述處理器執(zhí)行以下操作 根據(jù)第一預(yù)定數(shù)目的可配置信號處理參數(shù)處理一組或多組源電信號，以生成一組或多組測試電信號，所述一組或多組測試電信號模擬了由光模塊根據(jù)用于光傳輸?shù)母咚俟鈱W(xué)標(biāo)準從所接收的光信號產(chǎn)生的電信號；以及 通過預(yù)定數(shù)目的發(fā)送鏈路向主機設(shè)備發(fā)送所述一組或多組測試電信號，所述主機設(shè)備被配置為以正常情況下將被光模塊根據(jù)所述高速光學(xué)標(biāo)準產(chǎn)生的格式接收所述一組或多組測試電信號。
25.如權(quán)利要求24所述的處理器可讀介質(zhì)，進一步包括在被處理器執(zhí)行時使得所述處理器執(zhí)行以下操作的指令 在所述一組或多組測試電信號已經(jīng)被從所述主機設(shè)備通過預(yù)定數(shù)目的接收鏈路回傳之后，從所述主機設(shè)備接收所述一組或多組測試電信號，所述主機設(shè)備被配置為以適合于被光模塊根據(jù)所述高速光學(xué)標(biāo)準處理的格式輸出所述一組或多組測試電信號；以及根據(jù)第二預(yù)定數(shù)目的可配置信號處理參數(shù)分析從所述主機設(shè)備接收的所述一組或多組測試電信號，從而確定所述主機設(shè)備是否輸出了遵從所述高速光學(xué)標(biāo)準的所述一組或多組測試電信號。
26.如權(quán)利要求25所述的處理器可讀介質(zhì)，其中使得所述處理器執(zhí)行分析的指令包括執(zhí)行以下操作的指令分析從所述主機設(shè)備接收的所述一組或多組測試電信號，以生成一個或多個診斷參數(shù)，所述一個或多個診斷參數(shù)包括比特錯誤率、分組錯誤率、信號眼圖或標(biāo)準信號眼圖的測量結(jié)果中的一個或多個。
27.如權(quán)利要求24所述的處理器可讀介質(zhì)，進一步包括在被處理器執(zhí)行時使得所述處理器執(zhí)行以下操作的指令通過電通路經(jīng)由所述第二連接器接收所述一組或多組測試電信號，并且其中處理步驟包括通過去除由所述電通路引入的、不符合所述高速光學(xué)標(biāo)準的特性來處理所述一組或多組源電信號。
28.如權(quán)利要求24所述的處理器可讀介質(zhì)，其中使得所述處理器生成一組或多組測試電信號的指令包括執(zhí)行以下操作的指令通過向所述一組或多組源電信號添加可配置信號劣化特性來生成所述一組或多組測試電信號。
29.如權(quán)利要求24所述的處理器可讀介質(zhì)，進一步包括在被處理器執(zhí)行時使得所述處理器執(zhí)行以下操作的指令用一增益放大所述一組或多組源電信號，所述增益被配置為當(dāng)所述一組或多組源電信號被通過電纜發(fā)送到另一設(shè)備時計入了所述一組或多組源電信號的衰減，以便模擬從所述一組或多組源電信號導(dǎo)出的光信號通過光纜的光傳輸。
全文摘要
本發(fā)明為可縮放信號處理測試設(shè)備的信號處理模塊處的信號處理，提供了可縮放信號處理測試設(shè)備和相關(guān)信號處理技術(shù)。多個源電信號被處理以生成多個測試電信號，多個由光模塊從所接受的多個光信號根據(jù)光傳輸?shù)母咚俟鈱W(xué)標(biāo)準產(chǎn)生多個模擬光信號。多個測試電信號被通過發(fā)送鏈路發(fā)送至被配置為接收通常由光模塊遵照高速光學(xué)標(biāo)準產(chǎn)生格式的測試電信號的主機設(shè)備。在已經(jīng)被從主機設(shè)備通過預(yù)定數(shù)目的接收鏈路回傳之后，一組或多組測試電信號被從主機設(shè)備接收，該主機設(shè)備被配置為輸出一組或多組格式適于被光模塊遵照高速光學(xué)標(biāo)準處理的測試電信號。從主機設(shè)備接收的電測試信號被分析，從而確定主機設(shè)備是否遵照高速光學(xué)標(biāo)準輸出一組或多組測試電信號。
文檔編號H04B10/07GK103069753SQ201080068765
公開日2013年4月24日 申請日期2010年11月3日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月26日
發(fā)明者布里斯·D·阿奇爾, 休·巴若斯 申請人:思科技術(shù)公司