Dtx檢測方法、裝置及基站的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域，具體涉及一種DTX(Discontinuous Transmission,不連續(xù) 傳輸）傳檢測方法、裝置及基站。
【背景技術(shù)】
[0002] 3GPP TS 36.212協(xié)議中定義了上行控制信息11(：1可^在物理上行控制信 道PUCCH(Physical Uplink Control C化nnel，物理上行鏈路控制信道）上或者在 PUSCH(Physical Uplink Glared Channel,物理上行業(yè)務(wù)共享信道）上傳輸，傳輸模式包括 綁定模式和復(fù)用模式。例如，請參見圖1所示的化-SCHOJplink化ared化annel，上行共 享信道）和控制信息在PUSCH上傳輸資源映射圖。為了防止數(shù)據(jù)包的丟失，協(xié)議中定義了 HARQ(Hybrid Automatic Repeat Request,混合自動重傳）重傳機制，HARQ重傳的觸發(fā)指 令與指定的數(shù)據(jù)包存在一定的間隔，對于抑D((化equen巧Division Duplex,頻分雙工）來 說該值為固定值，而對于TDD (Time Division Duplex,時分雙工）來說，該值與上下行配置 有關(guān)，具體在3GPP TS 36. 213協(xié)議中作了定義。觸發(fā)指令指的是終端接收到一個數(shù)據(jù)包，所 作的響應(yīng)反饋信號，如果正確接收到該包，則終端在指定的子頓上發(fā)射確認信號，即ACK信 號，如果沒有正確接收數(shù)據(jù)包，終端同樣會在指定的子頓上反饋非確認信號，即NACK信號。 另外，終端也有可能沒有檢測到來自基站的反饋信號，在送種情況下，終端不能接收到相應(yīng) 的數(shù)據(jù)包，則終端會進行DTX (Discontinuous化ansmission)傳輸。也就是說，基站在對反 饋信號進行檢測的時候，檢測的結(jié)果可能是ACK，NACK或者DTX。
[0003] 由于下行DCI0值CI值ownlinkControlInformation,下行控制信息，其格式0,簡 稱DCI0)存在一定概率的丟失事件，因此需要通過一定的檢測方式來判斷此次PUSCH傳輸 是否有效，W決定MAC是否需要重發(fā)新的DCI0, W減少HARQ失敗次數(shù)。但在此判斷過程中， 會有較大的漏檢概率。因此，可W通過UCI DTX檢測來進一步提升PUSCH激活判斷的準(zhǔn)確 性。
[0004] DTX情況涉及發(fā)送特定肥的化值ownlink)資源分配許可的失敗。當(dāng)化資源分 配失敗時，從給定的ULOJplink)子頓遺漏與PDCCH/PDSCH相關(guān)的HARQ-ACK(從ACK/NACK 角度，送是DTX)，因為肥已出于無論什么原因遺漏了化分配，并且因此沒有理由發(fā)送 HARQ-ACK或者將其包括在化子頓中。然而，基站不能知道HARQ-ACK不存在，結(jié)果，不正確 地解釋來自肥的接收。其中DTX檢測過程中，存在著兩種誤差，第一種誤差稱為誤檢，也 就是把DTX錯誤的檢測為HARQ-ACK。第二種誤差類型稱為漏檢，就是把HARQ-ACK檢測為 DTX。無論哪種誤差概率，其性能目標(biāo)值要小于1%。因此，為了提高DTX檢測性能，降低檢 測誤差概率，出現(xiàn)了各種的檢測方法，主要包括恒定誤警率檢測方法和動態(tài)閥值檢測方法 兩大類。恒定誤警率檢測方法主要指的是在發(fā)DTX情況下，允許存在一定的錯誤檢測概率； 動態(tài)閥值檢測方法主要思想是使用反映在被估計的信號幅度瞬時傳輸信道狀態(tài)信息，調(diào)整 HARQ-ACK的發(fā)生功率，降低HARQ-ACK信號對其它信號的干擾。動態(tài)閥值檢測方法中的閥值 是信號幅度估計值與一個常量的乘積，而送個常量值與信道、終端移動速度、天線分集W及 功率偏移值有關(guān)。恒定誤警率檢測方法是目前采用的主要方法，常見的有利用噪聲功率和 信號功率的比值或者SINR與閥值比較進行DTX判決，但是該方法閥值波動性比較大且誤差 精度也相對比較低，尤其是在小TBSizeCTransport Block Size,傳輸塊大小）條件下。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明要解決的主要技術(shù)問題是，提供一種DTX檢測方法、裝置及基站，解決現(xiàn)有 DTX檢測精度低的問題。
[0006] 為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種DTX檢測方法，包括：
[0007] 接收上行終端發(fā)送的反饋信號；
[0008] 提取該反饋信號中用于進行DTX檢測的信息比特；
[0009] 將提取的信息比特進行分極性處理；
[0010] 根據(jù)不同極性的信息比特得到DTX檢測值；
[0011] 將所述DTX檢測值與預(yù)設(shè)的DTX檢測闊值進行比較，根據(jù)比較結(jié)果確定所述上行 終端是否處于DTX狀態(tài)。
[001引在本發(fā)明的一種實施例中，當(dāng)所述反饋信號中包含的HARQ-ACK信息比特為小于 等于2比特時，所述用于進行DTX檢測的信息比特包括：所述反饋信號中HARQ-ACK信息比 特的原始比特、校驗比特，或所述反饋信號中HARQ-ACK信息比特的原始比特、校驗比特和 占位比特；當(dāng)所述反饋信號中包含的HARQ-ACK信息比特為大于2比特時，所述用于進行 DTX檢測的信息比特包括編碼比特。
[0013] 在本發(fā)明的一種實施例中，所述用于進行DTX檢測的信息比特包括原始比特和校 驗比特時，或包括編碼比特時，所述DTX檢測值包括根據(jù)所述原始比特和校驗比特不同極 性的信息比特得到的第一 DTX檢測值，所述DTX檢測闊值包括第一 DTX檢測闊值；
[0014] 所述用于進行DTX檢測的信息比特包括原始比特、校驗比特和占位比特時，所述 DTX檢測值包括根據(jù)所述原始比特和校驗比特不同極性的信息比特得到的第一 DTX檢測 值，W及根據(jù)所述占位比特不同極性的信息比特得到的第二檢測值，所述DTX檢測闊值包 括第一 DTX檢測闊值和第二DTX檢測闊值；
[0015] 所述用于進行DTX檢測的信息比特包括編碼比特時，所述DTX檢測值包括根據(jù)所 述編碼比特不同極性的信息比特得到的第Η DTX檢測值，所述DTX檢測闊值包括第Η DTX 檢測闊值。
[0016] 在本發(fā)明的一種實施例中，所述用于進行DTX檢測的信息比特包括原始比特和校 驗比特時，將所述DTX檢測值與所述DTX檢測闊值進行比較，根據(jù)比較結(jié)果確定所述上行終 端是否處于DTX狀態(tài)包括；將所述第一 DTX檢測值與所述第一 DTX檢測闊值進行比較，如小 于所述第一 DTX檢測闊值，判定所述上行終端處于DTX狀態(tài)；
[0017] 所述用于進行DTX檢測的信息比特包括原始比特、校驗比特和占位比特時，將所 述DTX檢測值與所述DTX檢測闊值進行比較，根據(jù)比較結(jié)果確定所述上行終端是否處于DTX 狀態(tài)包括；將所述第二DTX檢測值與所述第二DTX檢測闊值進行比較，如小于所述第二DTX 檢測闊值，將所述第一 DTX檢測值與所述第一 DTX檢測闊值進行比較，如小于所述第一 DTX 檢測闊值，判定所述上行終端處于DTX狀態(tài)；
[0018] 所述用于進行DTX檢測的信息比特包括編碼比特時，將所述DTX檢測值與所述DTX 檢測闊值進行比較，根據(jù)比較結(jié)果確定所述上行終端是否處于DTX狀態(tài)包括：將所述第Η DTX檢測值與所述第Η DTX檢測闊值進行比較，如小于所述第Η DTX檢測闊值，判定所述上 行終端處于DTX狀態(tài)。
[0019] 在本發(fā)明的一種實施例中，所述第一 DTX檢測值為；所述原始比特和校驗比特的 正極性信息比特的能量和與負極性信息比特的能量和的比值，或為所述原始比特和校驗比 特的正極性信息比特的總幅值絕對值與負極性信息比特的總幅值絕對值的比值，或為所述 原始比特和校驗比特的正極性信息比特包含的總比特個數(shù)與負極性信息比特包含的總比 特個數(shù)的比值；對應(yīng)的，所述第一 DTX檢測闊值為第一 DTX能量檢測闊值、第一 DTX幅值檢 測闊值或第一 DTX權(quán)重檢測闊值；
[0020] 所述第二DTX檢測值為；所述占位比特的正極性信息比特的能量和與負極性信息 比特的能量和的比值，或為所述占位比特的正極性信息比特的總幅值絕對值與負極性信息 比特的總幅值絕對值的比值，或為所述占位比特的正極性信息比特包含的總比特個數(shù)與負 極性信息比特包含的總比特個數(shù)的比值；對應(yīng)的，所述第二DTX檢測闊值為第二DTX能量檢 測闊值、第二DTX幅值檢測闊值或第二DTX權(quán)重檢測闊值；
[0021] 所述第Η DTX檢測值為；所述編碼比特的正極性信息比特的能量和與負極性信息 比特的能量和的比值，或為所述編碼比特的正極性信息比特的總幅值絕對值與負極性信息 比特的總幅值絕對值的比值，或為所述編碼比特的正極性信息比特包含的總比特個數(shù)與負 極性信息比特包含的總比特個數(shù)的比值；對應(yīng)的，所述第Η DTX檢測闊值為第Η DTX能量檢 測闊值、第Η DTX幅值檢測闊值或第Η DTX權(quán)重檢測闊值。
[002引在本發(fā)明的一種實施例中，當(dāng)所述反饋信號中包含的HARQ-ACK信息比特為1比特 時，所述原始比特為off比特，所述校驗比特為y比特，所述占位比特為X比特；當(dāng)所述反饋 信號中包含的HARQ-ACK信息比特為2比特時，所述原始比特為0嚴,所述校驗比特 為ofS off = (ofK+巧仰-)mod2，所述占位比特為X比特。
[0023] 在本發(fā)明的一種實施例中，在提取該反饋信號中用于進行DTX檢測的信息比特之 前，還包括；
[0024] 判斷當(dāng)前是否滿足采用極性判斷方法檢測DTX的條件；所述條件為判斷信噪比是 否大于信噪比闊值M，和/或傳輸塊大小是否小于傳輸塊大小闊值N。
[002引為了解決上述問題，本發(fā)明還提供了一種DTX檢測裝置，包括信號接收模塊、比特 提取模塊、分極處理模塊、計算模塊W及判斷模塊；
[0026] 所述信號接收模塊用于接收上行終端發(fā)送的反饋信號；
[0027] 所述比特提取模塊用于提取所述反饋信號中用于進行DTX檢測的信息比特；
[0028] 所述分極處理模塊用于將提取的信息比特進行分極性處理；
[0029] 所述計算模塊用于根據(jù)不同極性的信息比特得到DTX檢測值；
[0030] 所述判斷模塊用于將所述DTX檢測值與預(yù)設(shè)的DTX檢測闊值進行比較，根據(jù)比較 結(jié)果確定所述上行終端是否處于DTX狀態(tài)。
[0031] 在本發(fā)明的一種實施例中，所述比特提取模塊包括原始比特提取子模塊、校驗比 特提取子模塊；或包括原始比特提取子模塊、校驗比特提取子模塊和占位比特提取子模 塊；或包括編碼比特提取子模塊；
[0032] 所述原始比特提取子模塊用于當(dāng)所述反饋信號中包含的HARQ-ACK信息比特為小 于等于2比特時，提取所述反饋信號中HARQ-ACK信息比特的原始比特；
[003引所述校驗比特提取子模塊用于當(dāng)所述反饋信號中包含的HARQ-ACK信息比特為小 于等于2比特時，提取所述反饋信號中HARQ-ACK信息比特的校驗比特；
[0034] 所述占位比特提取子模塊用于當(dāng)所述反饋信號中包含的HARQ-ACK信息比特為小 于等于2比特時，提取所述反饋信號中HARQ-ACK信息比特的占位比特；
[003引所述編碼比特提取子模塊用于當(dāng)所述反饋信號中包含的HARQ-ACK信息比特為大 于2比特時，提取所述反饋信號中HARQ-ACK信息比特的編碼比特。
[0036] 在本發(fā)明的一種實施例中，所述比特提取模塊包括原始比特提取子模塊、校驗比 特提取子模塊時，所述計算模塊包括第一檢測值計算子模塊；所述比特提取模塊包括原始 比特提取子模塊、校驗比特提取子模塊和占位比特提取子模塊時，所述計算模塊包括第一 檢測值計算子模塊和第二檢測值計算子模塊；所述比特提取模塊包括編碼比特提取子模塊 時，所述計算模塊包括第Η檢測值計算子模塊；
[0037] 所述第一檢測值計算子模塊用于根據(jù)所述原始比特和校驗比特不同極性的信息 比特得到的第一 DTX檢測值，所述DTX檢測闊值包括第一 DTX檢測闊值；
[0038] 所述第二檢測值計算子模塊用于根據(jù)所述占位比特不同極性的信息比特得到的 第二檢測值，所述DTX檢測闊值還包括第二DTX檢測闊值；
[0039] 所述第Η檢測值計算子模塊用于根據(jù)所述編碼比特不同極性的信息比特得到的 第Η DTX檢測值，所述DTX檢測闊值包括第Η DTX檢測闊值。
[0040] 在本發(fā)明的一種實施例中，所述比特提取模塊包括原始比特提取子模塊、校驗比 特提取子模塊時，所述判斷模塊包括第一判斷子模塊，用于將所述第