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      Cmos圖像傳感器像元合并讀出電路結(jié)構(gòu)及信號處理讀出方法

      文檔序號:9755074閱讀:1369來源:國知局
      Cmos圖像傳感器像元合并讀出電路結(jié)構(gòu)及信號處理讀出方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】:
      [0001] 本發(fā)明設(shè)及圖像傳感器領(lǐng)域,具體設(shè)及一種CMOS圖像傳感器像元合并讀出結(jié)構(gòu)及 信號處理讀出方法。
      【背景技術(shù)】:
      [0002] 目前,CMOS圖像傳感器的性能不斷提高,已廣泛應用于各類科學成像,如遙感、高 速攝影、光譜成像等。運類特殊應用的具體需求比較靈活,有時需要獲取高分辨率的細致圖 像,有時則必須保證高帖頻工作,對分辨率要求不高。為解決運一問題,W往的CCD圖像傳感 器開發(fā)了像元合并功能,可W將相鄰幾個像元的信號合而為一,作為一個像元讀出。運樣, 在需要高帖頻的場合,可W用該方法犧牲系統(tǒng)分辨率,有效減少讀出次數(shù),降低讀出時間, 從而提高帖頻。同時,N個像元合并讀出,理論上可W將信噪比提升V下倍,增加系統(tǒng)信噪比。
      [0003] 然而,運種像元合并的方法也有著顯著的缺點。首先,CCU的像元合并基于電荷包 的累加,運種工藝在目前發(fā)展迅速的CMOS探測器中無法使用;其次,運種方式的最大像元合 并個數(shù)受到CCD勢阱容量的限制,無法實現(xiàn)任意規(guī)模的像元合并。而當前CMOS圖像傳感器雖 然也出現(xiàn)了像元合并技術(shù),但要么是在探測器外部的數(shù)字域進行累加,無法降低探測器模 擬輸出口速率,信噪比提升也有限;要么是受疊加電容的限制,只能實現(xiàn)固定模式(如2X2, 4X4)像元合并。而在對靈活性需求非常迫切的科學應用領(lǐng)域(例如光譜成像中的譜段合 并,精細遙感中的普查應用等),非常需要能夠?qū)崿F(xiàn)任意規(guī)模像元合并的CMOS探測器內(nèi)部讀 出結(jié)構(gòu)。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004] 本發(fā)明提出了一種CMOS圖像傳感器像元合并讀出電路結(jié)構(gòu)及信號處理讀出方法。
      [0005] 本發(fā)明解決的技術(shù)問題是實現(xiàn)任意規(guī)模像元合并的CMOS探測器內(nèi)部讀出電路結(jié) 構(gòu),同時還提高了信噪比和帖頻。
      [0006] -種CMOS圖像傳感器像元合并讀出結(jié)構(gòu),如附圖1所示,包括列總線,列放大器,列 讀出復位開關(guān),列選通開關(guān),列合并電容,列合并控制開關(guān),列合并總線,列合并輸出開關(guān), 行合并電容,合并復位開關(guān),行合并控制開關(guān),行合并總線及輸出放大器。該CMOS圖像傳感 器像元合并讀出結(jié)構(gòu)的特征在于:
      [0007] 列總線連接到列讀出復位開關(guān)與列放大器并聯(lián)結(jié)構(gòu)的輸入端,列選通開關(guān)連接到 列讀出復位開關(guān)與列放大器并聯(lián)結(jié)構(gòu)的輸出端后,通過列選通開關(guān)連接到列合并電容上; 列合并總線跨接在各列的列合并電容上,每兩個跨接結(jié)點之間設(shè)有一個列合并控制開關(guān)用 于列合并操作;合并復位開關(guān)與行合并電容并聯(lián),其并聯(lián)結(jié)構(gòu)的輸入端連接在列合并控制 開關(guān)的輸出端,行合并總線跨接在各列的行合并電容上,每兩個跨接結(jié)點之間設(shè)有一個行 合并控制開關(guān)用于行合并操作,行合并控制開關(guān)的輸出端連接到輸出放大器的輸入端。
      [000引所述CMOS圖像傳感器像元合并讀出結(jié)構(gòu)工作時,由列總線依次選取待合并像元所 在行,通過列合并控制開關(guān)和行合并控制開關(guān)完成行列像元合并操作,最終經(jīng)輸出放大器 輸出像元合并后的信號。
      [0009] 如附圖2所示,對于一個M行,N列的CMOS探測器,進行pXq像元合并,最終輸出mXn 規(guī)模的圖像,滿足pXm=M,qXn = N,p〉l,q〉l,p<q,在探測器產(chǎn)生的信號進入列總線后,該 讀出電路結(jié)構(gòu)的合并方法步驟如下:
      [0010] 步驟(1)閉合所有列讀出復位開關(guān)、合并復位開關(guān),將列合并電容與行合并電容上 電壓復位,復位后將W上開關(guān)斷開;
      [OCm]步驟(2)將第1至q列的列總線連接到第1行像素,同時閉合第1至q列的列選通開 關(guān),此時第1行1至q列像素的信號儲存在對應的列合并電容上;
      [0012]步驟(3)閉合第1至q列的列合并控制開關(guān),此時第1至q列列合并電容上的信號相 通,且信號值都等同于該行1至q列像素的信號均值;
      [001引步驟(4)斷開語q列的列合并控制開關(guān),閉合第巧揃列合并輸出開關(guān),將列合并 電容上的信號轉(zhuǎn)移到該列的行合并電容上;
      [0014]步驟(5)斷開第1列的列合并輸出開關(guān);
      [001引步驟(6)重復步驟(1)至步驟(5),每次重復時,在步驟(2)中分別將第1至q列的列 總線連接到第2行、第3行......直至第P行像素,在步驟(4)中分別閉合第1列,第2列...... 直至第P列的列合并輸出開關(guān),步驟(1)至步驟(5)共計進行P次,步驟結(jié)束后第1至P列的行 合并電容上分別存儲了探測器第1至P行,每行q個像素的信號均值;
      [0016] 步驟(7)閉合第1至P-I列的行合并控制開關(guān),保持第P列行合并控制開關(guān)斷開,此 時第1至P列合并電容上的信號相通,且信號值都等同于pXq個像素的信號均值;
      [0017] 步驟(8)斷開所有行合并控制開關(guān),在第1至P列的輸出放大器中任選一列讀出,讀 出結(jié)果為P X q個像素的信號均值,該P X q個像元合并讀出完成;
      [0018] W上步驟完成單個合并模塊(規(guī)模pXq)的像元合并操作,全帖讀出時,同一合并 行中n個合并模塊的步驟(1)至步驟(7)同時完成,步驟(8)按第1至第n個合并模塊依次進 行,完成一個合并行后,再進行下一個合并行的操作,直至全帖數(shù)據(jù)讀出,獲取mXn規(guī)模的 圖像。
      [0019] 根據(jù)噪聲理論,假設(shè)參與合并的pXq個像素信號均值為S,噪聲均值為N(考慮主要 噪聲源為光子噪聲),則運pXq個像素的平均信噪比約為:^
      。而利用本發(fā)明中的 像元合并方法,P Xq個像素合并后,輸出信號仍為S,但經(jīng)過平均后,輸出噪聲約為
      新的信噪比滿足:S徽,=扣乂 qSN民 > 即信噪比提高了約倍。運 個結(jié)果與傳統(tǒng)CCD利用電荷包進行像元合并的方式結(jié)果一致。
      [0020] 像元合并后,完整一帖成像的輸出放大器讀出次數(shù)由MXN次減少到了 mXn次,帖 頻提升了 pXq倍。
      [0021] 將所有列合并控制開關(guān)和行合并控制開關(guān)保持斷開狀態(tài),可關(guān)閉像元合并功能, 圖像傳感器正常輸出M X姆見模的圖像。
      [0022] 本發(fā)明的優(yōu)點在于,在CMOS傳感器中實現(xiàn)了任意規(guī)模的像元合并功能,只須調(diào)整 工作時序就可W改變合并規(guī)模。同時,運種像元合并的電路結(jié)構(gòu)作為硬件集成在傳感器讀 出電路中,可避免后期數(shù)字域像元合并帶來的信噪比損失,并且緩解了探測器讀出放大器 的速率壓力,能夠大幅提高工作帖頻。本發(fā)明提出的讀出結(jié)構(gòu)還可增加相關(guān)雙采樣等功能, 進一步提升信噪比,應用于工作要求靈活的科學成像場合,比如成像光譜儀譜段合并,高分 辨率相機的高速模式等。
      【附圖說明】:
      [0023] 附圖1為本發(fā)明的讀出結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0024] 附圖2為像元合并示意圖。
      [0025] 附圖3為【具體實施方式】讀出結(jié)構(gòu)示意圖。
      【具體實施方式】:
      [0026] 根據(jù)
      【發(fā)明內(nèi)容】
      ,本實施例構(gòu)建了一套CMOS探測器像元合并讀出結(jié)構(gòu),圖像傳感器 像素規(guī)模為1024 X 256,進行2 X 2像元合
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