短距離傳輸萬(wàn)兆光模塊的綜合測(cè)試系統(tǒng)及應(yīng)用方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明設(shè)及一種在光模塊生產(chǎn)或測(cè)試情況下使用的調(diào)試系統(tǒng)。更具體地說(shuō)，本發(fā) 明設(shè)及一種用在光模塊生產(chǎn)或測(cè)試情況下的短距離傳輸萬(wàn)兆光模塊的綜合測(cè)試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002] 萬(wàn)兆光模塊中的萬(wàn)兆SR(短距離)光模塊，其指的是萬(wàn)兆850nm波長(zhǎng)全雙工光收發(fā) 模塊，是目前短距離(300mW內(nèi)）傳輸?shù)闹髁鞴饽K，其廣泛應(yīng)用于企業(yè)級(jí)的W太網(wǎng)網(wǎng)絡(luò)中。
[0003] 對(duì)于目前的萬(wàn)兆SR光模塊生產(chǎn)工藝來(lái)說(shuō)，主要包括光模塊的組裝及后期參數(shù)的測(cè) 試，而測(cè)試又分為發(fā)端調(diào)試、發(fā)端測(cè)試、收端調(diào)試、收端測(cè)試四個(gè)步驟，每個(gè)步驟都要采用獨(dú) 立的儀器W對(duì)相應(yīng)的指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試和控制，其主要指標(biāo)及所需儀器如下表所示：
[0005] 對(duì)于當(dāng)前主流的光模塊制造商，仍采用上述傳統(tǒng)的生產(chǎn)工藝來(lái)進(jìn)行光模塊的生 產(chǎn)，同時(shí)采用分四步的方法完成萬(wàn)兆SR產(chǎn)品的調(diào)測(cè)試，其發(fā)端測(cè)試、調(diào)試時(shí)各器件工位搭建 的連接示意圖如圖1所示，而收端測(cè)試、調(diào)試時(shí)各器件工位搭建的連接示意圖如圖2所示。但 是傳統(tǒng)生產(chǎn)工藝雖被業(yè)界廣泛采用，工藝流程也較完善，但具有如下劣勢(shì)：
[0006] 1、工藝流程較多，生產(chǎn)效率不夠理想；
[0007] 2、使用了成本高昂的"光示波器"，生產(chǎn)線搭建成本較高；
[000引3、多工位獨(dú)立，所需儀器數(shù)量成倍增加，且各工位引入的儀器誤差會(huì)產(chǎn)生累積；
[0009] 4、光示波器采集波形需要等待較長(zhǎng)時(shí)間，限制了生產(chǎn)的高效運(yùn)行。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0010] 本發(fā)明的一個(gè)目的是解決至少上述問(wèn)題和/或缺陷，并提供至少后面將說(shuō)明的優(yōu) 點(diǎn)。
[0011] 本發(fā)明還有一個(gè)目的是提供一種短距離傳輸萬(wàn)兆光模塊的綜合測(cè)試系統(tǒng)，其將傳 統(tǒng)的4個(gè)調(diào)測(cè)試步驟整合為1個(gè)，W待測(cè)模塊與標(biāo)準(zhǔn)模塊之間的實(shí)際通訊效果作為判斷依 據(jù)，取代低效的眼圖質(zhì)量測(cè)試，工藝流程顯著減少，生產(chǎn)效率得到大大提高，且避免了誤差 的累積;同時(shí)因其采用標(biāo)準(zhǔn)模塊配合調(diào)測(cè)試，保證生產(chǎn)模塊的產(chǎn)品性能參數(shù)良好。
[0012] 本發(fā)明還有一個(gè)目的是通過(guò)應(yīng)用綜合測(cè)試系統(tǒng)的方法，提高測(cè)試的效率，同時(shí)因 其采用算法來(lái)實(shí)現(xiàn)光功率、消光比的調(diào)試，不必使用成本高昂的光示波器，具有成本可控， 穩(wěn)定性好，效率提高的效果。
[0013] 為了實(shí)現(xiàn)根據(jù)本發(fā)明的運(yùn)些目的和其它優(yōu)點(diǎn)，提供了一種短距離傳輸萬(wàn)兆光模塊 的綜合測(cè)試系統(tǒng)，包括：
[0014] 第一評(píng)估板，其上設(shè)置有待測(cè)萬(wàn)兆光模塊，所述待測(cè)萬(wàn)兆光模塊的接收端與一誤 碼儀連接，輸出端通過(guò)一光分路器分別連接至光功率計(jì)和第二評(píng)估板，且所述光分路器與 第二評(píng)估板之間還設(shè)置有一第一光衰減器，W構(gòu)成待測(cè)光模塊發(fā)端的測(cè)試模塊；
[0015] 其中，所述第二評(píng)估板上設(shè)置有一標(biāo)準(zhǔn)萬(wàn)兆光模塊，W通過(guò)一第二光衰減器連接 至第一評(píng)估板，進(jìn)而通過(guò)所述第一評(píng)估板與誤碼儀連接，構(gòu)成成待測(cè)光模塊收端的測(cè)試模 塊。
[0016] 優(yōu)選的是，其中，所述第一評(píng)估板及第二評(píng)估板上分別設(shè)置有PC控制板。
[0017] 本發(fā)明的目的還可W進(jìn)一步地由一種應(yīng)用綜合測(cè)試系統(tǒng)的方法實(shí)現(xiàn)，包括：
[0018] 測(cè)試準(zhǔn)備:將所述待測(cè)萬(wàn)兆光模塊插入第一評(píng)估板中，所述第一評(píng)估板中的PC控 制板基于待測(cè)萬(wàn)兆模塊的預(yù)定光功率進(jìn)行相應(yīng)計(jì)算，W將得到相應(yīng)的技術(shù)參數(shù)寫入到待測(cè) 萬(wàn)兆模塊中；
[0019] 發(fā)端測(cè)試:所述誤碼儀發(fā)送一電信號(hào)至待測(cè)萬(wàn)兆光模塊，所述待測(cè)萬(wàn)兆光模炔基 于其內(nèi)的技術(shù)參數(shù)產(chǎn)生相應(yīng)的第一光信號(hào)，W通過(guò)待測(cè)萬(wàn)兆光模塊與標(biāo)準(zhǔn)萬(wàn)兆光模塊之間 的通信效果W及光功率計(jì)上的讀數(shù)，進(jìn)而判斷待測(cè)萬(wàn)兆光模塊的發(fā)端性能；
[0020] 收端測(cè)試:所述標(biāo)準(zhǔn)萬(wàn)兆光模塊發(fā)送一第二光信號(hào)至待測(cè)萬(wàn)兆光模塊，W通過(guò)所 述待測(cè)萬(wàn)兆光模塊進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換后輸出至誤碼儀，進(jìn)而判斷測(cè)萬(wàn)兆光模塊的收端性能。
[0021] 優(yōu)選的是，其中，在準(zhǔn)備階段，還包括對(duì)測(cè)試系統(tǒng)中各器件進(jìn)行的測(cè)試、點(diǎn)檢并記 錄相關(guān)的參數(shù)。
[0022] 優(yōu)選的是，其中，所述測(cè)試包括對(duì)各鏈接光路的插損參數(shù)測(cè)試，所述點(diǎn)檢包括對(duì)各 儀器與標(biāo)準(zhǔn)儀器測(cè)試時(shí)得到的差異參數(shù)，所述參數(shù)包括插損參數(shù)、差異參數(shù)、及標(biāo)準(zhǔn)萬(wàn)兆光 模塊的性能參數(shù)。
[0023] 優(yōu)選的是，其中，所述技術(shù)參數(shù)包括:激光器工作時(shí)的偏置電流Ibias;
[0024] 光模塊在傳輸T'信號(hào)和"0"信號(hào)時(shí)所產(chǎn)生的交流電流Imod;
[0025] 光模塊的信號(hào)丟失闊值Los。
[0026] 優(yōu)選的是，其中，所述偏置電流Ibias基于W下公式獲得：
[0027] AOP =沈 *Ibias
[00%]其中，SE為激光器發(fā)光效率所對(duì)應(yīng)的一常量，Ibias為偏置電流，AOP為預(yù)定光功 率。
[0029] 優(yōu)選的是，其中，所述交流電流Imod基于W下公式獲得：
[0030] 邸=10*log((扣 ias+1/巧 Imod)/( Ibias- l/2*Imod))
[0031] 其中，ER為光模塊的消光比，Ibias為基于預(yù)定光功率計(jì)算得出的偏置電流。
[0032] 優(yōu)選的是，其中，在所述發(fā)端測(cè)試中，所述光分路器基于從待測(cè)光模塊處接收到的 光信號(hào)，一路通過(guò)光纖傳遞給光功率計(jì)，W讀取一最終光功率值W確定待測(cè)萬(wàn)兆光模塊發(fā) 光功率是否正常；
[0033] 另一路通過(guò)第一光衰減器連接至第二評(píng)估板上的標(biāo)準(zhǔn)萬(wàn)兆光模塊，并通過(guò)調(diào)整第 一光衰減器的衰減大小，W使輸出至標(biāo)準(zhǔn)萬(wàn)兆模塊的光功率值接近標(biāo)準(zhǔn)萬(wàn)兆光模塊的靈敏 度值，W通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)萬(wàn)兆光模塊能否收到光信號(hào)進(jìn)而判斷待測(cè)萬(wàn)兆光模塊的消光比是否在預(yù) 定范圍內(nèi)。
[0034] 優(yōu)選的是，其中，在所述收端測(cè)試中，所述標(biāo)準(zhǔn)萬(wàn)兆光模塊在PC控制板的控制下發(fā) 出第二光信號(hào)至待測(cè)萬(wàn)兆光模塊，并通過(guò)調(diào)整第二光衰減器的衰減大小，通過(guò)誤碼儀測(cè)試 待測(cè)萬(wàn)兆光模塊的過(guò)載，靈敏度，信號(hào)丟失闊值。
[0035] 本發(fā)明至少包括W下有益效果：其一，本發(fā)明的綜合測(cè)試系統(tǒng)，其將傳統(tǒng)的4個(gè)調(diào) 測(cè)試步驟整合為1個(gè)綜合測(cè)試系統(tǒng)，工藝流程顯著減少，大幅度提高生產(chǎn)效率，且同時(shí)避免 了多個(gè)工位的相互獨(dú)立，帶來(lái)的測(cè)試誤差。
[0036] 其二，本發(fā)明的綜合測(cè)試系統(tǒng)，其引進(jìn)了標(biāo)準(zhǔn)模塊進(jìn)行配合調(diào)測(cè)試，保證生產(chǎn)模塊 的產(chǎn)品性能參數(shù)良好，并W待測(cè)模塊與標(biāo)準(zhǔn)模塊之間的實(shí)際通訊效果作為判斷依據(jù)，取代 低效的眼圖質(zhì)量測(cè)試，大大提高了效率。
[0037] 其=，本發(fā)明應(yīng)用綜合測(cè)試系統(tǒng)的方法中，其采用算法優(yōu)化的生產(chǎn)工藝，采用算法 來(lái)實(shí)現(xiàn)光功率、消光比的調(diào)試，而不必使用成本高昂的光示波器，具有成本可控，穩(wěn)定性好， 效率提高的效果。
[0038] 本發(fā)明的其它優(yōu)點(diǎn)、目標(biāo)和特征將部分通過(guò)下面的說(shuō)明體現(xiàn)，部分還將通過(guò)對(duì)本 發(fā)明的研究和實(shí)踐而為本領(lǐng)域的技術(shù)人員所理解。
【附圖說(shuō)明】
[0039] 圖1為傳統(tǒng)的萬(wàn)兆光模塊發(fā)端調(diào)試、測(cè)試時(shí)工位搭建的連接示意圖；
[0040] 圖2為傳統(tǒng)的萬(wàn)兆光模塊收端調(diào)試、測(cè)試時(shí)工位搭建的連接示意圖；
[0041] 圖3為本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中短距離傳輸萬(wàn)兆光模塊的綜合測(cè)試系統(tǒng)中各器件的 連接示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0042] 下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明，W令本領(lǐng)域技術(shù)人員參照說(shuō)明書文 字能夠據(jù)W實(shí)施。
[0043] 應(yīng)當(dāng)理解，本文所使用的諸如"具有"、"包含"W及"包括"術(shù)語(yǔ)并不配出一個(gè)或多 個(gè)其它元件或其組合的存在或添加。
[0044] 圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的一種短距離傳輸萬(wàn)兆光模塊的綜合測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)形式， 包括：
[0045] 第一評(píng)估板I，其上設(shè)置有待測(cè)萬(wàn)兆光模塊2,所述待測(cè)萬(wàn)兆光模塊的接收端與一 誤碼儀3連接，輸出端