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      均溫板及其制造方法

      文檔序號:8137702閱讀:502來源:國知局
      專利名稱:均溫板及其制造方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及散熱,特別涉及一種有效地節(jié)省設(shè)置熱傳界面材料以及均溫板的底座 的成本的均溫板及其制造方法。
      背景技術(shù)
      近年來,隨著電子裝置的尺寸逐漸往輕薄短小的方向發(fā)展,電子裝置的散熱議題 亦逐漸受到重視。尤其是目前的消費性電子產(chǎn)品,例如數(shù)碼相機、手機及筆記本電腦等,由 于其具有的功能愈來愈多且復(fù)雜,并且其所包含的功率晶體管元件的數(shù)目也不斷增加,隨 著機體內(nèi)部的空間愈來愈小,再加上為了降低電子裝置所產(chǎn)生的噪音而限制風(fēng)扇的使用, 因而導(dǎo)致其熱管理的問題變得更加嚴(yán)重,亟待解決。一般而言,為了使得電子裝置內(nèi)的功率晶體管元件能夠于正常的操作溫度下運 作,以維持其正常的使用壽命,目前的電子裝置大多采用鋁鎂合金作為其機殼的材料,并經(jīng) 由熱傳界面材料(thermal interface material)及熱傳元件,例如導(dǎo)熱膏、導(dǎo)熱片、熱管 (heat pipe)、均溫板(vapor chamber)及回路式熱管(loop heat pipe)等,將電子裝置的 功率晶體管元件所散發(fā)出來的熱量傳遞到其金屬機殼上。由于金屬機殼的散熱面積較大, 故可有效地降低功率晶體管元件的溫度,用以達到散熱的效果。在眾多的散熱裝置中,又稱為平板式熱管(flat plate heat pipe)的均溫板由于 具有優(yōu)異的橫向及縱向熱傳導(dǎo)特性,故已廣泛地應(yīng)用于中央處理器、繪圖顯示處理器、高功 率晶體管、高功率發(fā)光二極管等電子裝置的散熱器,用以確保上述這些電子裝置能在正常 狀態(tài)下運行而不會由于過熱而故障。請參照圖IA及圖1B,圖IA及圖IB分別所示為傳統(tǒng)上將電子裝置的功率晶體管元 件通過均溫板貼合于其金屬機殼上的上視圖及剖面視圖。如圖IA及圖IB所示,電子裝置 1的功率晶體管元件10所散發(fā)出來的熱量通過導(dǎo)熱膏(或?qū)崞?tl傳導(dǎo)至均溫板12的 上蓋板121(加熱側(cè))。接著,均溫板12再利用其內(nèi)部的工作流體于液相與氣相之間的相變化,將上述熱 量大范圍地傳遞至均溫板12的底板122(冷卻側(cè))。然后,均溫板12的底板122再通過導(dǎo) 熱膏(或?qū)崞?t2將熱量傳導(dǎo)至電子裝置1的金屬機殼14上,利用金屬機殼14所具有 的較大的散熱面積進行散熱,以減少電子裝置中常出現(xiàn)的局部高溫現(xiàn)象。然而,上述傳統(tǒng)的電子裝置1中的散熱方式仍存在著許多缺點。舉例而言,電子裝 置1的功率晶體管元件10所散發(fā)出來的熱量需通過導(dǎo)熱膏(或?qū)崞?tl傳導(dǎo)至均溫板 12上,并且均溫板12亦需通過導(dǎo)熱膏(或?qū)崞?t2將熱量傳導(dǎo)至金屬機殼14上。由于 導(dǎo)熱膏(或?qū)崞?tl及t2的熱傳導(dǎo)系數(shù)(thermal conductivity)甚低而存在較大的熱 阻,此外,無論是在功率晶體管元件10與導(dǎo)熱膏(或?qū)崞?tl之間、導(dǎo)熱膏(或?qū)崞? tl與均溫板12之間、均溫板12與導(dǎo)熱膏(或?qū)崞?t2之間以及導(dǎo)熱膏(或?qū)崞?t2 與金屬機殼14之間,均會由于兩者間的接觸面不平整光滑,而產(chǎn)生相當(dāng)大的接觸熱阻,導(dǎo) 致電子裝置1的整體熱傳性能變差,故電子裝置1的功率晶體管元件10所產(chǎn)生的熱量并無法有效地加以排除,其操作溫度仍會偏高,因而使得電子裝置1的可靠度及使用壽命大幅 降低。

      發(fā)明內(nèi)容
      因此,本發(fā)明提出一種均溫板及其制造方法,以解決上述問題。根據(jù)本發(fā)明的一具體實施例為一種均溫板。于此實施例中,均溫板應(yīng)用于電子裝 置。電子裝置包含金屬機殼。均溫板包含上蓋板、工作流體、防水層及毛細結(jié)構(gòu)層。上蓋板 設(shè)置于電子裝置的金屬機殼的內(nèi)壁上,以定義容置空間。工作流體填充于容置空間內(nèi)。防 水層形成于容置空間的內(nèi)壁上。毛細結(jié)構(gòu)層形成于防水層上。于實際應(yīng)用中,工作流體為水;毛細結(jié)構(gòu)層為粉末式多孔性毛細結(jié)構(gòu)層;防水層 及毛細結(jié)構(gòu)層為與水不發(fā)生反應(yīng)的材料。均溫板還包含電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層。電絕緣導(dǎo)熱陶 瓷層形成于防水層與容置空間的內(nèi)壁之間。電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層、防水層及毛細結(jié)構(gòu)層經(jīng)由 熔射噴覆成型法依序形成于金屬機殼的內(nèi)壁上。根據(jù)本發(fā)明的另一具體實施例為一種均溫板制造方法。于上述制造方法中,首先, 形成上蓋板于電子裝置的金屬機殼的內(nèi)壁上,以定義容置空間;然后,形成防水層于容置空 間的內(nèi)壁上;接著,形成毛細結(jié)構(gòu)層于防水層上;之后,于容置空間內(nèi)填充工作流體;最后, 密封容置空間。相較于先前技術(shù),本發(fā)明所提出的均溫板及其制造方法將均溫板與電子裝置的金 屬機殼整合為一體,并將電子裝置的金屬機殼當(dāng)作均溫板的底座,故可省去先前技術(shù)中均 溫板與金屬機殼之間所采用的熱傳導(dǎo)系數(shù)甚低的熱傳界面材料,除了能夠節(jié)省熱傳界面材 料及均溫板的底座的成本外,還可以達到降低熱阻以提升整體熱傳性能的功效。此外,本發(fā)明還可通過熔射噴覆技術(shù)在均溫板的內(nèi)壁依序形成電絕緣導(dǎo)熱陶瓷 層、防水層及粉末式多孔性毛細結(jié)構(gòu)層,使得均溫板能夠采用于常溫下具有較佳熱傳輸能 力的水作為其冷卻用的工作流體,用以大幅提升均溫板的散熱效果,還可通過電絕緣導(dǎo)熱 陶瓷層的形成,避免均溫板由于異質(zhì)材料標(biāo)準(zhǔn)電位差所引起的電化學(xué)腐蝕的現(xiàn)象。關(guān)于本發(fā)明的優(yōu)點與精神可以利用以下的發(fā)明詳述及附圖得到進一步的了解。


      圖IA及圖IB分別所示為傳統(tǒng)上將電子裝置的功率晶體管元件通過均溫板貼合于 其金屬機殼上的上視圖及剖面視圖。圖2所示為根據(jù)本發(fā)明的一具體實施例所提出的均溫板的剖面視圖。圖3A及圖:3B分別所示為圖2中的均溫板的上蓋板及電子裝置的金屬機殼的剖面 視圖。圖4A所示為圖2中的區(qū)域Rl的放大視圖。圖4B所示為圖2中的區(qū)域R2的放大視圖。圖5所示為根據(jù)本發(fā)明的另一具體實施例的均溫板制造方法的流程圖。
      具體實施例方式根據(jù)本發(fā)明的一具體實施例為一種均溫板。實際上,均溫板應(yīng)用于電子裝置,并與電子裝置的金屬機殼進行整合。其中,電子裝置可以是數(shù)碼相機、手機、筆記本電腦或臺式 電腦,但并不以此為限。至于金屬機殼的材料則可為鋁鎂合金、鋁合金、鎂合金、鋁、鋼或鐵 材料,但亦不以此為限。請參照圖2,圖2所示為本實施例所提出的均溫板的剖面視圖。如圖2所示,均溫 板2的上蓋板22設(shè)置于電子裝置的金屬機殼20的內(nèi)壁上,以定義容置空間。熔射噴覆層 24則形成于容置空間的內(nèi)壁上。更詳細地說,熔射噴覆層M形成于金屬機殼20上以及均 溫板2的上蓋板22的內(nèi)壁上,用以使得上述容置空間均被熔射噴覆層M所包覆,并且上述 容置空間內(nèi)填入水W作為均溫板22內(nèi)的工作流體。其中,上蓋板的材料為金屬材料,其可為 鋁鎂合金、鋁合金、鎂合金、鋁、鋼或鐵材料,且上蓋板的材料可與金屬機殼相同,亦可不同, 并不以此為限。此外,均溫板2亦可進一步包含支撐板220,如圖2所示的肋板,但不以此為限。支 撐板220的表面亦形成有熔射噴覆層M,支撐板220抵持于上蓋板22與金屬機殼20之間, 用以加強支撐整個均溫板2的結(jié)構(gòu)。至于支撐板220的數(shù)目及其設(shè)置于均溫板2的位置端 視實際需求而定,并無一定的限制。接著,請參照圖3A及圖3B,圖3A及圖分別所示為圖2中的均溫板2的上蓋板 22及電子裝置的金屬機殼20的剖面視圖。如圖3A所示,熔射噴覆層M形成于上蓋板22 的內(nèi)壁以及支撐板220的表面上,使得上蓋板22的內(nèi)壁以及支撐板220的表面上均被熔射
      噴覆層M所覆蓋住。如圖;3B所示,于電子裝置的金屬機殼20的內(nèi)壁上亦形成有熔射噴覆層24,并且熔 射噴覆層M形成于金屬機殼20的內(nèi)壁上的凹陷處,致使形成于金屬機殼20上的熔射噴覆 層M的表面能夠與旁邊的金屬機殼20的內(nèi)壁同高,但不以此為限。接下來,請參照圖4A,圖4A所示為圖2中的區(qū)域Rl的放大視圖。如圖4A所示,于 區(qū)域Rl中,形成于金屬機殼20的內(nèi)壁上的熔射噴覆層M包含有毛細結(jié)構(gòu)層Ml、防水層 242及電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層M3。其中,電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層M3、防水層242與毛細結(jié)構(gòu)層241 依序以熔射噴覆成型法形成于金屬機殼20的內(nèi)壁上,也就是說,首先是電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層 243形成于金屬機殼20的內(nèi)壁上;接著是防水層242形成于電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層243上;最 后才是毛細結(jié)構(gòu)層241形成于防水層242上。于實際應(yīng)用中,熔射噴覆成型法可以是電漿熔射噴覆、電弧熔射噴覆、火焰熔射噴 覆或高速火焰熔射噴覆等不同形式的熔射噴覆成型法,并且可以在高溫環(huán)境或低溫環(huán)境下 進行,而無一定的限制。值得注意的是,熔射噴覆成型法所采用的噴覆材料選擇與均溫板2內(nèi)的工作流體 化學(xué)性質(zhì)兼容且不發(fā)生反應(yīng)的金屬或陶瓷材料。于此實施例中,由于均溫板2采用水作為 工作流體,因此,熔射噴覆成型法即采用與水化學(xué)性質(zhì)兼容且不發(fā)生反應(yīng)的噴覆材料,例如 銅、黃銅、鎳或鈦等材料作為形成熔射噴覆層M的噴覆材料,但不以此為限。于金屬機殼20的內(nèi)壁上形成電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層M3的目的是為了避免因為異質(zhì) 材料的標(biāo)準(zhǔn)電位差所引起的電化學(xué)腐蝕現(xiàn)象,亦即伽凡尼腐蝕((Galvanic corrosion)現(xiàn) 象。于此實施例中,形成電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層243的噴覆材料先被熔融為液狀后,再利用高壓 氣體吹出成直徑10至500納米的陶瓷粉末顆粒M30并高速噴射堆疊于金屬機殼20的內(nèi) 壁上,形成厚度約10至50微米的電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層M3,但不以此為限。
      實際上,電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層243的材料可為氮化鋁、氧化鋁、氮化硅或氮化硼材料 或其它具有高導(dǎo)熱系數(shù)且電絕緣的材料。此外,電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層M3的孔隙率小于或等 于10%,并且形成電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層243的陶瓷粉末顆粒M30的尺寸約為10至500納米, 但并不以此為限。于此實施例中,形成防水層M2的噴覆材料先被熔融為液狀后,再利用高壓氣體 吹出成直徑5至200納米的防水層粉末顆粒M20并高速噴射堆疊于電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層243 上,形成厚度約10至50微米的防水層M2。類似地,形成毛細結(jié)構(gòu)層Ml的噴覆材料先被 熔融為液狀后,再利用高壓氣體吹出成直徑35至250微米的毛細結(jié)構(gòu)層粉末顆粒MlO并 高速噴射堆疊于防水層M2的表面上,形成厚度約0. 1至0. 8毫米的粉末式多孔性毛細結(jié) 構(gòu)層對1,但并不以此為限。由圖4A可知,形成于金屬機殼20的內(nèi)壁上的電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層M3的厚度與形 成于電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層243上的防水層242的厚度相當(dāng),均約為10至50微米的厚度,但并 不以此為限。然而,形成電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層243的陶瓷粉末顆粒對30的尺寸則遠小于形成 防水層242的防水層粉末顆粒M20。至于防水層242的厚度則遠小于形成于防水層242上 的毛細結(jié)構(gòu)層241的厚度,并且形成防水層242的防水層粉末顆粒M20的尺寸遠小于形成 毛細結(jié)構(gòu)層241的毛細結(jié)構(gòu)層粉末顆粒MlO的尺寸。此外,由于毛細結(jié)構(gòu)層Ml的孔隙率約介于30%至70%之間,遠大于防水層242 小于或等于2%的孔隙率以及電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層M3小于或等于10%的孔隙率,故相較于 防水層242及電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層243而言,毛細結(jié)構(gòu)層241有較高的孔隙率而具有多孔性, 并且防水層242能夠有效避免水與防水層242下方的電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層243及金屬機殼20 的內(nèi)壁接觸而產(chǎn)生反應(yīng)。于實際應(yīng)用中,形成防水層242與毛細結(jié)構(gòu)層241的噴覆材料可以是同一材料 (例如均為銅),抑或是不同材料(例如分別為鎳及黃銅),并無一定的限制,但以同一材料 為較佳。至于電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層對3的材料則以氮化鋁為較佳,但并不以此為限。請參照圖4B,圖4B所示為圖2中的區(qū)域R2的放大視圖。如圖4B所示,于區(qū)域R2 中,形成于均溫板2的上蓋板22內(nèi)壁上的熔射噴覆層M包含有毛細結(jié)構(gòu)層Ml、防水層242 及電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層M3。其中,電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層M3、防水層242與毛細結(jié)構(gòu)層241依 序以熔射噴覆成型法形成于上蓋板22的內(nèi)壁上。至于熔射噴覆層M所包含的毛細結(jié)構(gòu)層 Ml、防水層242及電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層M3的詳細結(jié)構(gòu)及其形成方式,則如同前述實施例的 相關(guān)說明,于此不另行贅述。根據(jù)本發(fā)明的另一具體實施例為一種均溫板制造方法。于實際應(yīng)用中,上述制造 方法所制造的均溫板應(yīng)用于電子裝置,并與電子裝置的金屬機殼進行整合。其中,電子裝置 可以是數(shù)碼相機、手機、筆記本電腦或臺式電腦,但并不以此為限。至于金屬機殼的材料則 可為鋁鎂合金、鋁合金、鎂合金、鋁、鋼或鐵材料,但亦不以此為限。請參照圖5,圖5所示為上述均溫板制造方法的流程圖。如圖5所示,首先,執(zhí)行步 驟S10,以壓鑄成型法制作電子裝置的金屬機殼。接著,執(zhí)行步驟S11,以壓鑄成型法制作上 蓋板。然后,執(zhí)行步驟S 12,對與工作流體接觸的金屬機殼及上蓋板的表面進行噴砂粗糙化 及陽極處理。實際上,上述與工作流體接觸的表面包含上蓋板及金屬機殼的內(nèi)壁,也就是說,步驟S12是針對上蓋板及金屬機殼的內(nèi)壁進行噴砂粗糙化及陽極處理等程序。接下來,依序執(zhí)行步驟S13至步驟S15,以熔射噴覆成型法依序于上述這些表面上 形成電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層、防水層及銅質(zhì)多孔毛細結(jié)構(gòu)層。其中,步驟S13形成電絕緣導(dǎo)熱陶 瓷層于上蓋板及金屬機殼的內(nèi)壁上;步驟S14形成防水層于電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層上;步驟S15 形成銅質(zhì)多孔毛細結(jié)構(gòu)層于防水層上。于實際應(yīng)用中,熔射噴覆成型法可以是電漿熔射噴 覆、電弧熔射噴覆、火焰熔射噴覆或高速火焰熔射噴覆等不同形式的熔射噴覆成型法,并且 可以在高溫環(huán)境或低溫環(huán)境下進行,而無一定的限制。值得注意的是,熔射噴覆成型法所采用的噴覆材料選擇與均溫板內(nèi)的工作流體化 學(xué)性質(zhì)兼容且不發(fā)生反應(yīng)的金屬或陶瓷材料。于此實施例中,由于均溫板系采用水作為工 作流體,因此,熔射噴覆成型法即采用與水化學(xué)性質(zhì)兼容且不發(fā)生反應(yīng)的噴覆材料,例如 銅、黃銅、鎳或鈦等材料作為形成電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層、防水層及銅質(zhì)多孔毛細結(jié)構(gòu)層的噴覆 材料,但不以此為限。于步驟S13中,形成電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層的噴覆材料先被熔融為液狀后,再利用高 壓氣體吹出成直徑10至500納米的粉末顆粒并高速噴射堆疊于上蓋板及金屬機殼的內(nèi)壁 上,以形成厚度約10至50微米的電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層,但不以此為限。實際上,電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層的材料可以選擇自由氮化鋁、氧化鋁、氮化硅及氮化硼 材料所組成的群組或其它具有高導(dǎo)熱系數(shù)且電絕緣的材料。此外,電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層的孔 隙率小于或等于10%,并且形成電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層的陶瓷粉末顆粒的尺寸約為10至500納 米,但并不以此為限。于步驟S14中,形成防水層的噴覆材料先被熔融為液狀后,再利用高壓氣體吹出 成直徑5至200納米的粉末顆粒并高速噴射堆疊于電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層上,以形成厚度約10 至50微米的防水層。類似地,于步驟S15中,形成毛細結(jié)構(gòu)層的噴覆材料先被熔融為液狀 后,再利用高壓氣體吹出成直徑35至250微米的粉末顆粒并高速噴射堆疊于防水層的表面 上,以形成厚度約0. 1至0. 8毫米的粉末式多孔性毛細結(jié)構(gòu)層,但并不以此為限。于此實施例中,電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層的厚度與形成于電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層上的防水層 的厚度相當(dāng),均約為10至50微米的厚度,但并不以此為限。然而,形成電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層 的陶瓷粉末顆粒的尺寸則遠小于形成防水層的粉末顆粒。至于防水層的厚度則遠小于形成 于防水層上的毛細結(jié)構(gòu)層的厚度,并且形成防水層的粉末顆粒的尺寸遠小于形成毛細結(jié)構(gòu) 層的粉末顆粒的尺寸。此外,由于毛細結(jié)構(gòu)層的孔隙率約介于30%至70%之間,遠大于防水層小于或等 于2%的孔隙率及電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層小于或等于10%的孔隙率,故相較于防水層及電絕緣 導(dǎo)熱陶瓷層而言,毛細結(jié)構(gòu)層有較高的孔隙率而具有多孔性,并且防水層能夠有效避免水 與防水層下方的電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層以及金屬機殼的內(nèi)壁接觸而產(chǎn)生反應(yīng)。于實際應(yīng)用中,形成防水層與毛細結(jié)構(gòu)層的噴覆材料可以是同一材料(例如均為 銅),抑或是不同材料(例如分別為鎳及黃銅),并無一定的限制,但以同一材料為較佳。至 于電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層的材料則以氮化鋁為較佳,但并不以此為限。之后,執(zhí)行步驟S16,將上蓋板設(shè)置于金屬機殼的內(nèi)壁上,以定義容置空間。接著, 執(zhí)行步驟S17,激光焊接密封上蓋板與金屬機殼。然后,執(zhí)行步驟S 18,充填工作流體至容 置空間內(nèi)。最后,執(zhí)行步驟S19及步驟S20,抽真空除氣密封均溫板,并對均溫板進行性能測試及尺寸檢驗。綜上所述,相較于先前技術(shù),根據(jù)本發(fā)明的均溫板及其制造方法將均溫板與電子 裝置的金屬機殼整合為一體,并將電子裝置的金屬機殼當(dāng)作均溫板的底座,故可省去先前 技術(shù)中均溫板與金屬機殼之間所采用的熱傳導(dǎo)系數(shù)甚低的熱傳界面材料,除了能夠節(jié)省熱 傳界面材料及均溫板的底座的成本外,還可以達到降低熱阻以提升整體熱傳性能的功效。此外,本發(fā)明還可通過熔射噴覆技術(shù)在均溫板的內(nèi)壁依序形成電絕緣導(dǎo)熱陶瓷 層、防水層及粉末式多孔性毛細結(jié)構(gòu)層,使得均溫板能夠采用于常溫下具有較佳熱傳輸能 力的水作為其冷卻用的工作流體,用以大幅提升整合均溫板的金屬機殼的散熱效果,還可 利用電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層避免因異質(zhì)材料標(biāo)準(zhǔn)電位差引起電化學(xué)腐蝕的現(xiàn)象。利用以上較佳具體實施例的詳述,希望能更清楚描述本發(fā)明的特征與精神,并非 以上述所揭露的較佳具體實施例對本發(fā)明的保護范圍加以限制。相反,其目的是希望能涵 蓋各種改變及具相等性的安排于本發(fā)明所附權(quán)利要求書所限定的范圍內(nèi)。
      權(quán)利要求
      1.一種均溫板,應(yīng)用于電子裝置,上述電子裝置包含金屬機殼,其特征是,上述均溫板 包含上蓋板,設(shè)置于上述電子裝置的上述金屬機殼的內(nèi)壁上,以定義容置空間;工作流體,填充于上述容置空間內(nèi);防水層,形成于上述容置空間的內(nèi)壁上;以及毛細結(jié)構(gòu)層,形成于上述防水層上。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的均溫板,其特征是,上述均溫板還包含電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層,形成于上述防水層與上述容置空間的內(nèi)壁之間。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的均溫板,其特征是,上述電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層、上述防水層及上 述毛細結(jié)構(gòu)層經(jīng)由熔射噴覆成型法依序形成于上述金屬機殼的內(nèi)壁上。
      4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的均溫板,其特征是,上述電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層的材料為氮化鋁、 氧化鋁、氮化硅或氮化硼材料。
      5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的均溫板,其特征是,上述電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層的孔隙率小于或 等于10%。
      6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的均溫板,其特征是,上述金屬機殼的材料為鋁鎂合金、鋁合 金、鎂合金、鋁、鋼或鐵材料。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的均溫板,其特征是,上述上蓋板的材料為金屬材料,上述金屬 材料未鋁鎂合金、鋁合金、鎂合金、鋁、鋼或鐵材料。
      8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的均溫板,其特征是,上述工作流體為水。
      9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的均溫板,其特征是,上述防水層及上述毛細結(jié)構(gòu)層為與水不 發(fā)生反應(yīng)的材料,其材料為銅、黃銅、鎳或鈦材料。
      10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的均溫板,其特征是,上述毛細結(jié)構(gòu)層為粉末式多孔性毛細結(jié) 構(gòu)層。
      11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的均溫板,其特征是,上述毛細結(jié)構(gòu)層的厚度大于上述防水層 的厚度。
      12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的均溫板,其特征是,上述防水層的孔隙率小于或等于2%。
      13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的均溫板,其特征是,上述毛細結(jié)構(gòu)層的孔隙率介于30%至 70%之間。
      14.一種均溫板制造方法,其特征是,包含下列步驟于電子裝置的金屬機殼的內(nèi)壁上形成上蓋板,以定義容置空間;于上述容置空間的內(nèi)壁上形成防水層;于上述防水層上形成毛細結(jié)構(gòu)層;于上述容置空間內(nèi)填充工作流體;以及密封上述容置空間。
      15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的均溫板制造方法,其特征是,上述均溫板制造方法還包含 下列步驟于上述防水層與上述容置空間的內(nèi)壁之間形成電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層。
      16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的均溫板制造方法,其特征是,上述的于上述防水層與上述 容置空間的內(nèi)壁之間形成上述電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層的步驟經(jīng)由熔射噴覆成型法來完成。
      17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的均溫板制造方法,其特征是,上述電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層的材料為氮化鋁、氧化鋁、氮化硅或氮化硼材料。
      18.根據(jù)權(quán)利要求15所述的均溫板制造方法,其特征是,上述電絕緣導(dǎo)熱陶瓷層的孔 隙率小于或等于10%。
      19.根據(jù)權(quán)利要求14所述的均溫板制造方法,其特征是,上述的于上述容置空間的內(nèi) 壁上形成上述防水層與上述的于上述防水層上形成上述毛細結(jié)構(gòu)層的步驟均經(jīng)由熔射噴 覆成型法來完成。
      20.根據(jù)權(quán)利要求14所述的均溫板制造方法,其特征是,上述金屬機殼的材料為鋁鎂 合金、鋁合金、鎂合金、鋁、鋼或鐵材料。
      21.根據(jù)權(quán)利要求14所述的均溫板制造方法,其特征是,上述上蓋板的材料為金屬材 料,上述金屬材料為鋁鎂合金、鋁合金、鎂合金、鋁、鋼或鐵材料。
      22.根據(jù)權(quán)利要求14所述的均溫板制造方法,其特征是,上述工作流體為水。
      23.根據(jù)權(quán)利要求22所述的均溫板制造方法,其特征是,上述防水層及上述毛細結(jié)構(gòu) 層為與水不發(fā)生反應(yīng)的材料,其材料為銅、黃銅、鎳或鈦材料。
      24.根據(jù)權(quán)利要求14所述的均溫板制造方法,其特征是,上述毛細結(jié)構(gòu)層為粉末式多 孔性毛細結(jié)構(gòu)層。
      25.根據(jù)權(quán)利要求14所述的均溫板制造方法,其特征是,上述毛細結(jié)構(gòu)層的厚度大于 上述防水層的厚度。
      26.根據(jù)權(quán)利要求14所述的均溫板制造方法,其特征是,上述防水層的孔隙率小于或等于2%。
      27.根據(jù)權(quán)利要求14所述的均溫板制造方法,其特征是,上述毛細結(jié)構(gòu)層的孔隙率介 于30%至70%之間。
      全文摘要
      本發(fā)明揭露一種均溫板及其制造方法。均溫板應(yīng)用于電子裝置。電子裝置包含金屬機殼。均溫板包含上蓋板、工作流體、防水層及毛細結(jié)構(gòu)層。上蓋板設(shè)置于金屬機殼的內(nèi)壁上,以定義容置空間。工作流體填充于容置空間內(nèi)。防水層形成于容置空間的內(nèi)壁上。毛細結(jié)構(gòu)層形成于防水層上。
      文檔編號H05K7/20GK102131368SQ201010004648
      公開日2011年7月20日 申請日期2010年1月20日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月20日
      發(fā)明者劉睿凱, 鐘兆才 申請人:和碩聯(lián)合科技股份有限公司
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