1.一種微小電子元件測試分光設(shè)備，包括機架（1）、設(shè)置在機架（1）上的上料模塊（2）、設(shè)置在上料模塊（2）后的轉(zhuǎn)盤模塊（3）、對轉(zhuǎn)盤模塊（3）上的電子元件進行測試的測試模塊（4），以及落料模塊（5），其特征在于，
轉(zhuǎn)盤模塊（3）包括數(shù)個側(cè)吸附式吸嘴（30），側(cè)吸附式吸嘴（30）包括吸嘴本體（302）和用于放置被檢測元件的吸嘴托板（303），所述吸嘴本體（302）設(shè)置在所述吸嘴托板（303）的上表面，且所述吸嘴托板（303）部分伸出于所述吸嘴本體（302）的前端，所述吸嘴本體（302）內(nèi)設(shè)有用于與氣源相接的氣體通道（321），所述氣體通道（321）的被測元件接觸端（3210）所在的平面與吸嘴托板（303）相垂直，所述吸嘴托板（303）的至少與被檢測元件接觸的部位是由透光材料制成的；
測試模塊（4）包括兩兩垂直的X軸驅(qū)動單元、Y軸驅(qū)動單元和Z軸驅(qū)動單元（41），以及設(shè)在Z軸驅(qū)動單元上的探針檢測組件（40），所述探針檢測組件（40）包括探針固定件（402）、數(shù)根探針（401），以及供探針固定件（402）移動的滑軌（403），數(shù)根所述探針（401）的下端面在同一水平面上且與待測試樣品上的銅箔點相吻合；所述Z軸驅(qū)動單元（41）工作時，帶動探針（401）沿滑軌（403）移動從而接觸或者遠離待測試樣品。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微小電子元件測試分光設(shè)備，其特征在于：在氣體通道的端口（3211）的一側(cè)設(shè)有用于限定被測元件的位置的擋塊（6）。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微小電子元件測試分光設(shè)備，其特征在于：所述吸嘴本體（302）通過第一螺釘（71）固定在所述吸嘴托板（303）上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的微小電子元件測試分光設(shè)備，其特征在于：所述吸嘴托板（303）包括底板（3031）、墊圈（3033）和用于與被檢測元件接觸的接觸板（3032），所述底板（3031）上設(shè)有與所述接觸板（3032）相吻合的容置部（310），所述接觸板（3032）通過所述墊圈（3033）設(shè)置在所述容置部（310）內(nèi)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的微小電子元件測試分光設(shè)備，其特征在于：所述接觸板（3032）是由透光材料制成的。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的微小電子元件測試分光設(shè)備，其特征在于：所述底板（3031）是由陶瓷材料制成的。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的微小電子元件測試分光設(shè)備，其特征在于：所述底板（3031）和接觸板（3032）上分別設(shè)有銷孔，所述接觸板（3032）通過插銷固定在所述底板（3031）的容置部（310）內(nèi)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的微小電子元件測試分光設(shè)備，其特征在于：所述Z軸驅(qū)動單元（41）包括伺服電機（411）和與伺服電機（411）的輸出軸連接的凸輪結(jié)構(gòu)（412），所述凸輪結(jié)構(gòu)（412）在伺服電機（411）的驅(qū)動下帶動探針（401）沿滑軌（403）移動。