本發(fā)明涉及醫(yī)療檢測(cè)領(lǐng)域，特別是涉及一種數(shù)字圖像探測(cè)裝置及平板探測(cè)器無(wú)線外觸發(fā)方法。

背景技術(shù)：

X光探測(cè)器經(jīng)歷了百年的發(fā)展，由傳統(tǒng)的膠片式逐漸發(fā)展至當(dāng)今的數(shù)字式，這其中又經(jīng)歷了CR探測(cè)器、CCD X光探測(cè)器、CCD拼接式X光探測(cè)器以及目前最為主流的X光平板探測(cè)器。X光平板探測(cè)器可以捕獲X光，將被測(cè)物體的X光影像轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字圖像以便于查看、分析、存儲(chǔ)以及傳播，其被廣泛應(yīng)用于醫(yī)療、生物、材料和工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域。

X光平板探測(cè)器可分為直接成像式和間接成像式兩種，直接成像式探測(cè)器直接將X光轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)，而間接成像式探測(cè)器結(jié)構(gòu)由閃爍材料或熒光材料層、具有光電二極管作用的非晶硅層以及TFT陣列構(gòu)成，先采用一層閃爍體或熒光材料將X光變?yōu)榭梢?jiàn)光，再由可見(jiàn)光探測(cè)器將其轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)。在獲取電信號(hào)后，探測(cè)器通過(guò)濾波、放大以及模數(shù)轉(zhuǎn)換后，將數(shù)據(jù)按照一定的格式傳送給計(jì)算機(jī)進(jìn)行顯示和存儲(chǔ)。

X平板探測(cè)器常用的曝光方式為內(nèi)觸發(fā)，通過(guò)閃爍材料把X射線轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光，可見(jiàn)光照射光電傳感器輸出電流，配合相關(guān)電路最后輸出電平信號(hào)，探測(cè)器根據(jù)這個(gè)電平信號(hào)來(lái)控制曝光。但是光電傳感器內(nèi)觸發(fā)靈敏度高，容易存在誤觸發(fā)、不觸發(fā)的情況，且平板清空指令發(fā)出的時(shí)間不靈活，容易引發(fā)上圖時(shí)間長(zhǎng)等問(wèn)題；同時(shí)內(nèi)觸發(fā)方式引起的漏電流影響了成像的質(zhì)量。

因此，如何解決X平板探測(cè)器內(nèi)觸發(fā)造成的誤觸發(fā)、不觸發(fā)、平板清空指令發(fā)出時(shí)間不靈活、上圖時(shí)間長(zhǎng)等問(wèn)題，提高成像質(zhì)量已成本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本發(fā)明的目的在于提供一種數(shù)字圖像探測(cè)裝置及平板探測(cè)器無(wú)線外觸發(fā)方法，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中X平板探測(cè)器內(nèi)觸發(fā)造成的誤觸發(fā)、不觸發(fā)、平板清空指令發(fā)出時(shí)間不靈活、上圖時(shí)間長(zhǎng)、漏電流干擾降低圖像質(zhì)量等問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本發(fā)明提供一種數(shù)字圖形探測(cè)裝置，所述數(shù)字圖形探測(cè)裝置至少包括：

高壓發(fā)生器、X射線發(fā)生器、平板探測(cè)器以及DR界面平臺(tái)；

所述高壓發(fā)生器用于產(chǎn)生高壓；

所述X射線發(fā)生器連接于所述高壓發(fā)生器，在所述高壓發(fā)生器產(chǎn)生的高壓作用下產(chǎn)生X射線；

所述平板探測(cè)器接收被測(cè)物體的X光影像，并將帶有圖像信息的X射線轉(zhuǎn)換為電信號(hào)；

所述DR界面平臺(tái)接收所述平板探測(cè)器的信號(hào)，并將獲取的信號(hào)轉(zhuǎn)換為圖像信息；

其中，所述高壓發(fā)生器包括第一無(wú)線信號(hào)模塊，所述平板探測(cè)器包括第二無(wú)線信號(hào)模塊，所述第一無(wú)線信號(hào)模塊將所述高壓發(fā)生器的工作狀態(tài)發(fā)送至所述第二無(wú)線信號(hào)模塊，當(dāng)所述高壓發(fā)生器開(kāi)始啟動(dòng)時(shí)，所述平板探測(cè)器進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)；當(dāng)所述高壓發(fā)生器工作結(jié)束時(shí)，所述平板探測(cè)器進(jìn)入采集狀態(tài)。

優(yōu)選地，所述高壓發(fā)生器包括高壓產(chǎn)生模塊、連接于所述高壓產(chǎn)生模塊的工作狀態(tài)監(jiān)測(cè)模塊，以及連接于所述工作狀態(tài)監(jiān)測(cè)模塊的第一無(wú)線信號(hào)模塊；所述工作狀態(tài)監(jiān)測(cè)模塊對(duì)所述高壓產(chǎn)生模塊的工作狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)測(cè)，并將監(jiān)測(cè)信號(hào)通過(guò)所述第一無(wú)線模塊發(fā)送到所述第二無(wú)線信號(hào)模塊。

優(yōu)選地，所述第二無(wú)線信號(hào)模塊包括：信號(hào)接收單元，連接于所述信號(hào)接收單元輸出端的信號(hào)放大單元以及連接于所述信號(hào)放大單元輸出端的信號(hào)處理單元。

優(yōu)選地，所述平板探測(cè)器還包括第三無(wú)線信號(hào)模塊，所述DR界面平臺(tái)包括第四無(wú)線信號(hào)模塊，所述DR界面平臺(tái)與所述平板探測(cè)器通過(guò)無(wú)線信號(hào)實(shí)現(xiàn)通訊。

為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本發(fā)明提供一種平板探測(cè)器無(wú)線外觸發(fā)方法，所述平板探測(cè)器無(wú)線外觸發(fā)方法至少包括：

高壓?jiǎn)?dòng)，通過(guò)無(wú)線信號(hào)將高壓?jiǎn)?dòng)信號(hào)發(fā)送到平板探測(cè)器，所述平板探測(cè)器接收到所述高壓?jiǎn)?dòng)信號(hào)后進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)；

高壓產(chǎn)生結(jié)束，通過(guò)無(wú)線信號(hào)將高壓產(chǎn)生結(jié)束信號(hào)發(fā)送到平板探測(cè)器，所述平板探測(cè)器接收到所述高壓產(chǎn)生結(jié)束信號(hào)后進(jìn)入采集狀態(tài)。

優(yōu)選地，所述平板探測(cè)器接收所述高壓?jiǎn)?dòng)信號(hào)，對(duì)所述高壓?jiǎn)?dòng)信號(hào)進(jìn)行識(shí)別，確認(rèn)高壓?jiǎn)?dòng)后發(fā)出指令控制所述平板探測(cè)器進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)。

優(yōu)選地，所述平板探測(cè)器發(fā)出進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)的指令后，通過(guò)無(wú)線信號(hào)將所述平板探測(cè)器的準(zhǔn)備狀態(tài)信號(hào)發(fā)送至DR界面平臺(tái)，所述DR界面平臺(tái)顯示所述平板探測(cè)器處于準(zhǔn)備狀態(tài)。

優(yōu)選地，所述平板探測(cè)器接收所述高壓產(chǎn)生結(jié)束信號(hào)，對(duì)所述高壓產(chǎn)生結(jié)束信號(hào)進(jìn)行識(shí)別，確認(rèn)高壓產(chǎn)生結(jié)束后發(fā)出指令控制所述平板探測(cè)器進(jìn)入采集狀態(tài)。

優(yōu)選地，所述平板探測(cè)器進(jìn)入采集狀態(tài)后，通過(guò)無(wú)線信號(hào)將所述平板探測(cè)器采集到的信 息發(fā)送至DR界面平臺(tái)，所述DR界面平臺(tái)顯示所述平板探測(cè)器采集到的圖像。

如上所述，本發(fā)明的數(shù)字圖像探測(cè)裝置及平板探測(cè)器無(wú)線外觸發(fā)方法，具有以下有益效果：

本發(fā)明的數(shù)字圖像探測(cè)裝置及平板探測(cè)器無(wú)線外觸發(fā)方法給高壓發(fā)生器安裝工作狀態(tài)監(jiān)測(cè)模塊，并集成無(wú)線信號(hào)模塊，對(duì)高壓工作狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)傳送，與無(wú)線平板探測(cè)器之間形成互動(dòng)，使平板的工作能夠?qū)崿F(xiàn)與高壓發(fā)生器之間協(xié)同，有效避免平板探測(cè)器內(nèi)觸發(fā)造成的系統(tǒng)內(nèi)漏電流干擾，有效降低系統(tǒng)噪聲，提高圖像質(zhì)量；同時(shí)平板探測(cè)器以無(wú)線方式與其他器件實(shí)施通訊，避免了連接線帶來(lái)的麻煩和安全隱患，提高了平板探測(cè)器的便攜性。

附圖說(shuō)明

圖1顯示為本發(fā)明的數(shù)字圖形探測(cè)裝置示意圖。

圖2顯示為本發(fā)明的高壓發(fā)生器結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3顯示為本發(fā)明的平板探測(cè)器結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4～圖5顯示為本發(fā)明的平板探測(cè)器無(wú)線外觸發(fā)方法原理示意圖。

元件標(biāo)號(hào)說(shuō)明

1 數(shù)字圖形探測(cè)裝置

11 高壓發(fā)生器

111 高壓產(chǎn)生模塊

112 工作狀態(tài)監(jiān)測(cè)模塊

113 第一無(wú)線信號(hào)模塊

12 X射線發(fā)生器

13 平板探測(cè)器

131 第二無(wú)線信號(hào)模塊131

1311 信號(hào)接收單元

1312 信號(hào)放大單元

1313 第一信號(hào)處理單元

132 第三無(wú)線信號(hào)模塊

1321 第二信號(hào)處理單元

1322 信號(hào)發(fā)送單元

14 DR界面平臺(tái)

S11～S16、S21～S28 步驟

具體實(shí)施方式

以下通過(guò)特定的具體實(shí)例說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說(shuō)明書(shū)所揭露的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點(diǎn)與功效。本發(fā)明還可以通過(guò)另外不同的具體實(shí)施方式加以實(shí)施或應(yīng)用，本說(shuō)明書(shū)中的各項(xiàng)細(xì)節(jié)也可以基于不同觀點(diǎn)與應(yīng)用，在沒(méi)有背離本發(fā)明的精神下進(jìn)行各種修飾或改變。

請(qǐng)參閱圖1～圖3。需要說(shuō)明的是，本實(shí)施例中所提供的圖示僅以示意方式說(shuō)明本發(fā)明的基本構(gòu)想，遂圖式中僅顯示與本發(fā)明中有關(guān)的組件而非按照實(shí)際實(shí)施時(shí)的組件數(shù)目、形狀及尺寸繪制，其實(shí)際實(shí)施時(shí)各組件的型態(tài)、數(shù)量及比例可為一種隨意的改變，且其組件布局型態(tài)也可能更為復(fù)雜。

如圖1～圖3所示，本發(fā)明提供一種數(shù)字圖形探測(cè)裝置1，所述數(shù)字圖形探測(cè)裝置1至少包括：

高壓發(fā)生器11、X射線發(fā)生器12、平板探測(cè)器13以及DR(Digital Radiography數(shù)字X射線攝影)界面平臺(tái)14。

如圖1所示，所述高壓發(fā)生器11用于產(chǎn)生高壓并控制所述平板探測(cè)器13的觸發(fā)。

具體地，如圖2所示，所述高壓發(fā)生器11進(jìn)一步包括高壓產(chǎn)生模塊111、工作狀態(tài)監(jiān)測(cè)模塊112以及第一無(wú)線信號(hào)模塊113。所述高壓產(chǎn)生模塊111用于產(chǎn)生高壓；所述工作狀態(tài)監(jiān)測(cè)模塊112連接于所述高壓產(chǎn)生模塊111的輸出端，對(duì)所述高壓產(chǎn)生模塊111的工作狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)測(cè)；所述第一無(wú)線信號(hào)模塊113連接于所述工作狀態(tài)監(jiān)測(cè)模塊112的輸出端，將所述工作狀態(tài)監(jiān)測(cè)模塊112監(jiān)測(cè)到的工作狀態(tài)信號(hào)通過(guò)無(wú)線方式發(fā)送出去。

如圖1所示，所述X射線發(fā)生器12連接于所述高壓發(fā)生器11，在所述高壓發(fā)生器11產(chǎn)生的高壓作用下產(chǎn)生X射線。

具體地，如圖1所示，在本實(shí)施例中，所述X射線發(fā)生器12為球管，當(dāng)所述高壓發(fā)生器11產(chǎn)生高壓后，所述球管在高壓的作用下產(chǎn)生X射線。

如圖1所示，所述平板探測(cè)器13接收被測(cè)物體的X光影像，并將帶有圖像信息的X射線轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。

具體地，所述X射線發(fā)生器12產(chǎn)生的X射線照射被測(cè)物體后，X射線中帶有被測(cè)物體的圖像信息，所述平板探測(cè)器13接收被測(cè)物體的X光影像，通過(guò)閃爍體將X射線轉(zhuǎn)換為可 見(jiàn)光，而后通過(guò)非晶硅光電二極管和薄膜晶體管陣列將可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換為電荷，被測(cè)物體的圖像信息以電信號(hào)方式存在。

具體地，如圖3所示，所述平板探測(cè)器13包括第二無(wú)線信號(hào)模塊131以及第三無(wú)線信號(hào)模塊132。

所述第二無(wú)線信號(hào)模塊131包括：信號(hào)接收單元1311，信號(hào)放大單元1312以及第一信號(hào)處理單元1313。所述信號(hào)接收單元1311連接于天線，用于接收所述第一無(wú)線信號(hào)模塊113發(fā)送的所述高壓發(fā)生器11的工作狀態(tài)，將無(wú)線信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)；所述信號(hào)放大單元1312連接于所述信號(hào)接收單元1311的輸出端，用于對(duì)所述信號(hào)接收單元1311輸出的電信號(hào)進(jìn)行放大處理；所述第一信號(hào)處理單元1313連接于所述信號(hào)放大單元1312的輸出端，用于對(duì)所述信號(hào)放大單元1312輸出的電信號(hào)進(jìn)行處理(濾波、頻率的轉(zhuǎn)換)和識(shí)別，以通過(guò)接收到的電信號(hào)判斷所述高壓發(fā)生器11的工作狀態(tài)。所述平板探測(cè)器13采用外觸發(fā)方式，當(dāng)所述高壓發(fā)生器11開(kāi)始啟動(dòng)時(shí)，所述平板探測(cè)器13進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)；當(dāng)所述高壓發(fā)生器11工作結(jié)束(高壓產(chǎn)生結(jié)束)時(shí)，所述平板探測(cè)器13進(jìn)入采集狀態(tài)。

所述第三無(wú)線信號(hào)模塊132包括：第二信號(hào)處理單元1321以及信號(hào)發(fā)送單元1322。所述第二信號(hào)處理單元1321接收所述平板探測(cè)器13的工作狀態(tài)或所述平板探測(cè)器13處理的被測(cè)物體圖像信息的電信號(hào)，對(duì)其進(jìn)行處理(頻率的轉(zhuǎn)換)后輸出到所述信號(hào)發(fā)送單元1322，所述信號(hào)發(fā)送單元1322的輸出端連接天線，并將所述第二信號(hào)處理單元1321輸出的電信號(hào)以無(wú)線方式發(fā)出。

如圖1所示，所述DR界面平臺(tái)14接收所述平板探測(cè)器13的信號(hào)，并將獲取的信號(hào)轉(zhuǎn)換為圖像信息。

具體地，所述DR界面平臺(tái)14包括第四無(wú)線信號(hào)模塊，所述第四無(wú)線信號(hào)模塊與所述第三無(wú)線信號(hào)模塊132進(jìn)行通訊，所述DR界面平臺(tái)14與所述平板探測(cè)器13通過(guò)無(wú)線信號(hào)實(shí)現(xiàn)通訊。當(dāng)所述平板探測(cè)器13進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)后，所述第三無(wú)線信號(hào)模塊132將所述平板探測(cè)器13的準(zhǔn)備狀態(tài)信號(hào)發(fā)送至所述第四無(wú)線信號(hào)模塊，所述DR界面平臺(tái)14顯示所述平板探測(cè)器13處于準(zhǔn)備狀態(tài)；當(dāng)所述平板探測(cè)器13進(jìn)入采集狀態(tài)后，所述第三無(wú)線信號(hào)模塊132將所述平板探測(cè)器13采集到的信息發(fā)送至所述第四無(wú)線信號(hào)模塊，所述DR界面平臺(tái)14顯示所述平板探測(cè)器13采集到的圖像。

如圖4～圖5所示，本發(fā)明提供一種平板探測(cè)器無(wú)線外觸發(fā)方法，所述平板探測(cè)器無(wú)線外觸發(fā)方法至少包括：

高壓?jiǎn)?dòng)，通過(guò)無(wú)線信號(hào)將高壓?jiǎn)?dòng)信號(hào)發(fā)送到平板探測(cè)器13，所述平板探測(cè)器13接 收到所述高壓?jiǎn)?dòng)信號(hào)后進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)。

具體地，如圖1～圖4所示：

步驟S11，所述高壓產(chǎn)生模塊111啟動(dòng)，所述工作狀態(tài)監(jiān)測(cè)模塊112監(jiān)測(cè)到高壓?jiǎn)?dòng)信號(hào)，并通過(guò)所述第一無(wú)線信號(hào)模塊113將所述高壓?jiǎn)?dòng)信號(hào)以無(wú)線信號(hào)方式發(fā)送出去。

步驟S12，所述平板探測(cè)器13的第二無(wú)線信號(hào)模塊131接收所述高壓?jiǎn)?dòng)信號(hào)。

步驟S13，對(duì)所述高壓?jiǎn)?dòng)信號(hào)進(jìn)行處理，并判斷是否高壓開(kāi)始啟動(dòng)。

更具體地，通過(guò)所述信號(hào)接收單元1311接收所述高壓?jiǎn)?dòng)信號(hào)，通過(guò)所述信號(hào)放大單元1312將所述信號(hào)接收單元1311輸出的信號(hào)進(jìn)行放大，通過(guò)所述第一信號(hào)處理模塊1313對(duì)所述高壓?jiǎn)?dòng)信號(hào)進(jìn)行識(shí)別。

步驟S14，確定高壓開(kāi)始啟動(dòng)，所述平板探測(cè)器13內(nèi)部發(fā)出進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)的指令。

步驟S15，所述平板探測(cè)器13接收到進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)的指令后控制內(nèi)部模塊進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)。

步驟S16，所述平板探測(cè)器13接收到進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)的指令后，藉由所述第三無(wú)線信號(hào)模塊132發(fā)送所述平板探測(cè)器13的準(zhǔn)備狀態(tài)信號(hào)，所述DR界面平臺(tái)14中的第四無(wú)線信號(hào)模塊接收該信號(hào)后，所述DR界面平臺(tái)14更新所述平板探測(cè)器13的狀態(tài)，顯示所述平板探測(cè)13處于準(zhǔn)備狀態(tài)，以給操作人員進(jìn)程提示。

高壓產(chǎn)生結(jié)束，通過(guò)無(wú)線信號(hào)將高壓產(chǎn)生結(jié)束信號(hào)發(fā)送到平板探測(cè)器，所述平板探測(cè)器接收到所述高壓產(chǎn)生結(jié)束信號(hào)后進(jìn)入采集狀態(tài)。

具體地，如圖1～圖3、圖5所示：

步驟21，所述高壓產(chǎn)生模塊111啟動(dòng)，所述工作狀態(tài)監(jiān)測(cè)模塊112監(jiān)測(cè)到高壓產(chǎn)生結(jié)束信號(hào)，并通過(guò)所述第一無(wú)線信號(hào)模塊113將所述高壓產(chǎn)生結(jié)束信號(hào)以無(wú)線信號(hào)方式發(fā)送出去。

步驟S22，所述平板探測(cè)器13的第二無(wú)線信號(hào)模塊131接收所述高壓產(chǎn)生結(jié)束信號(hào)。

步驟S23，對(duì)所述高壓產(chǎn)生結(jié)束信號(hào)進(jìn)行處理，并判斷是否高壓產(chǎn)生結(jié)束。

更具體地，通過(guò)所述信號(hào)接收單元1311接收所述高壓產(chǎn)生結(jié)束信號(hào)，通過(guò)所述信號(hào)放大單元1312將所述信號(hào)接收單元1311輸出的信號(hào)進(jìn)行放大，通過(guò)所述第一信號(hào)處理模塊1313對(duì)所述高壓產(chǎn)生結(jié)束信號(hào)進(jìn)行識(shí)別。

步驟S24，確定高壓產(chǎn)生結(jié)束，所述平板探測(cè)器13內(nèi)部發(fā)出進(jìn)入采集狀態(tài)的指令。

步驟S25，所述平板探測(cè)器13接收到進(jìn)入采集狀態(tài)的指令后控制內(nèi)部模塊進(jìn)入采集狀態(tài)，獲取到被測(cè)物體圖像信息的電信號(hào)。

步驟S26，所述平板探測(cè)器13接收到進(jìn)入采集狀態(tài)的指令后，藉由所述第三無(wú)線信號(hào)模塊132發(fā)送所述平板探測(cè)器13的采集狀態(tài)信號(hào)，所述DR界面平臺(tái)14中的第四無(wú)線信號(hào)模 塊接收該信號(hào)后，所述DR界面平臺(tái)14更新所述平板探測(cè)器13的狀態(tài)，顯示所述平板探測(cè)13處于采集狀態(tài)，以給操作人員進(jìn)程提示。

步驟S27，被測(cè)物體圖像信息的電信號(hào)通過(guò)所述第三無(wú)線信號(hào)模塊132發(fā)送到所述DR界面平臺(tái)14的第四無(wú)線信號(hào)模塊。

具體地，被測(cè)物體圖像信息的電信號(hào)經(jīng)由所述第二信號(hào)處理單元1321及所述信號(hào)發(fā)送單元1322以無(wú)線信號(hào)的方式被發(fā)送出去，并被所述DR界面平臺(tái)14的第四無(wú)線信號(hào)模塊接收。

步驟S28，所述DR界面平臺(tái)14對(duì)接收到的信號(hào)進(jìn)行處理后，以圖像的方式還原被測(cè)物體，以供操作人員分析。

本發(fā)明的數(shù)字圖像探測(cè)裝置及平板探測(cè)器無(wú)線外觸發(fā)方法給高壓發(fā)生器安裝工作狀態(tài)監(jiān)測(cè)模塊，并集成無(wú)線信號(hào)模塊，對(duì)高壓工作狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)傳送，與無(wú)線平板探測(cè)器之間形成互動(dòng)，使平板的工作能夠?qū)崿F(xiàn)與高壓發(fā)生器之間協(xié)同，有效避免平板探測(cè)器內(nèi)觸發(fā)造成的系統(tǒng)內(nèi)漏電流干擾，有效降低系統(tǒng)噪聲，提高圖像質(zhì)量；同時(shí)平板探測(cè)器以無(wú)線方式與其他器件實(shí)施通訊，避免了連接線帶來(lái)的麻煩和安全隱患，提高了平板探測(cè)器的便攜性。

綜上所述，本發(fā)明提供一種數(shù)字圖像探測(cè)裝置，包括：用于產(chǎn)生高壓的高壓發(fā)生器；在高壓作用下產(chǎn)生X射線的X射線發(fā)生器；接收被測(cè)物體的X光影像，并將帶有圖像信息的X射線轉(zhuǎn)換為電信號(hào)的平板探測(cè)器以及接收所述平板探測(cè)器的信號(hào)，并將獲取的信號(hào)轉(zhuǎn)換為圖像信息的DR界面平臺(tái)；所述高壓發(fā)生器包括第一無(wú)線信號(hào)模塊，所述平板探測(cè)器包括第二無(wú)線信號(hào)模塊，所述第一無(wú)線信號(hào)模塊將所述高壓發(fā)生器的工作狀態(tài)發(fā)送至所述第二無(wú)線信號(hào)模塊，當(dāng)所述高壓發(fā)生器開(kāi)始啟動(dòng)時(shí)，所述平板探測(cè)器進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)；當(dāng)所述高壓發(fā)生器工作結(jié)束時(shí)，所述平板探測(cè)器進(jìn)入采集狀態(tài)。本發(fā)明還提供一種平板探測(cè)器無(wú)線外觸發(fā)方法，包括：高壓?jiǎn)?dòng)，通過(guò)無(wú)線信號(hào)將高壓?jiǎn)?dòng)信號(hào)發(fā)送到平板探測(cè)器，所述平板探測(cè)器接收到所述高壓?jiǎn)?dòng)信號(hào)后進(jìn)入準(zhǔn)備狀態(tài)；高壓產(chǎn)生結(jié)束，通過(guò)無(wú)線信號(hào)將高壓產(chǎn)生結(jié)束信號(hào)發(fā)送到平板探測(cè)器，所述平板探測(cè)器接收到所述高壓產(chǎn)生結(jié)束信號(hào)后進(jìn)入采集狀態(tài)。本發(fā)明的數(shù)字圖像探測(cè)裝置及平板探測(cè)器無(wú)線外觸發(fā)方法給高壓發(fā)生器安裝工作狀態(tài)監(jiān)測(cè)模塊，并集成無(wú)線信號(hào)模塊，對(duì)高壓工作狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)傳送，與無(wú)線平板探測(cè)器之間形成互動(dòng)，使平板的工作能夠?qū)崿F(xiàn)與高壓發(fā)生器之間協(xié)同，有效避免平板探測(cè)器內(nèi)觸發(fā)造成的系統(tǒng)內(nèi)漏電流干擾，有效降低系統(tǒng)噪聲，提高圖像質(zhì)量；同時(shí)平板探測(cè)器以無(wú)線方式與其他器件實(shí)施通訊，避免了連接線帶來(lái)的麻煩和安全隱患，提高了平板探測(cè)器的便攜性。所以，本發(fā)明有效克服了現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺點(diǎn)而具高度產(chǎn)業(yè)利用價(jià)值。

上述實(shí)施例僅例示性說(shuō)明本發(fā)明的原理及其功效，而非用于限制本發(fā)明。任何熟悉此技 術(shù)的人士皆可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下，對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者在未脫離本發(fā)明所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應(yīng)由本發(fā)明的權(quán)利要求所涵蓋。