本發(fā)明屬于縫紉機部件技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種底線檢測裝置、底線檢測方法及縫紉機。

背景技術(shù)：

中國實用新型專利(授權(quán)公告號：cn203904645u，授權(quán)公告日：20141029)公開了一種縫紉機底線線量檢測裝置，縫紉機包括底板、安裝在底板內(nèi)的旋梭、以及用于控制電機的電控模塊，旋梭包括梭殼和收容在梭殼中的梭芯，梭芯包括繞線柱和設(shè)置繞線柱兩端的凸緣，兩個凸緣中，至少有一個凸緣的外表面上設(shè)有第一表面部和第二表面部，梭殼的外壁上開設(shè)有一透光孔，第一表面部或第二表面部從該透光孔處露出；還包括一固定在底板內(nèi)的傳感器，該傳感器包括用于發(fā)射光線的發(fā)射器和用于接收光線的接收器，傳感器的接收器和發(fā)射器均正對從透光孔處露出的第一表面部或第二表面部，第一表面部和第二表面部的反射光線能力不同；傳感器與一信號處理模塊相連接，該信號處理模塊又與電控模塊相連接。該第一表面部的材料為吸光性材料，第二表面部的材料為反光性材料。

當(dāng)梭芯上粘有油污或線頭的時候，會對檢測裝置造成干擾，造成信號讀取錯誤，其結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明根據(jù)上述問題，提出了一種結(jié)構(gòu)穩(wěn)定的底線檢測裝置，其技術(shù)方案如下：

底線檢測裝置，包括梭殼和位于梭殼內(nèi)的梭芯，所述的梭芯包括繞線柱和位于繞線柱兩端的凸緣，其特征在于，所述的梭殼上具有檢測口一和檢測口二，所述的凸緣上具有均可轉(zhuǎn)動至檢測口一和檢測口二的檢測部一和檢測部二；底線檢測裝置還包括用于正對檢測口一設(shè)置的發(fā)射器一和接收器一，還包括用于正對檢測口二設(shè)置的發(fā)射器二和接收器二。

當(dāng)檢測部一和檢測部二依次經(jīng)過檢測口一時，發(fā)射器一發(fā)射信號至檢測口一處，接收器一收到了信號變化。但梭芯的凸緣有可能被污染或其它因素影響，以至于接收器一收到了多個信號變化值，此時，底線檢測裝置中若只有一個接收器，在一個實施例中，那么接收器將會誤判梭芯轉(zhuǎn)動多圈。但在本底線檢測裝置中，由于在檢測口二處設(shè)置了發(fā)射器二和接收器二，當(dāng)檢測部一和檢測部二依次經(jīng)過檢測口二處時，發(fā)射器二發(fā)射信號至檢測口二處，接收器二收到了信號變化，只有在接收器一收到了信號變化，并且接著接收器二收到了信號變化，底線檢測裝置才判斷梭芯轉(zhuǎn)動了一圈。因此，即使接收器一和接收器二在梭芯只轉(zhuǎn)動一圈的過程中均收到了多個信號變化值，也不影響底線檢測裝置的檢測結(jié)果，從而使得本底線檢測裝置的結(jié)構(gòu)較為穩(wěn)定。

在上述的底線檢測裝置中，所述的發(fā)射器一和發(fā)射器二為紅外發(fā)射器；所述的接收器一和接收器二為紅外接收器；或者，所述的發(fā)射器一和發(fā)射器二為激光發(fā)射器；所述的接收器一和接收器二為激光接收器；

所述的檢測部一和檢測部二為下列技術(shù)方案中的一種：

一、檢測部一為亮面，檢測部二為不反光表面；

二、檢測部一為斜面，檢測部二為平面；

三、檢測部一為凸緣的外側(cè)面且凸緣的外側(cè)面為亮面；檢測部二為凸緣上的通孔或凸緣邊緣處的缺口，另一側(cè)凸緣的內(nèi)側(cè)面為不反光表面；

四、檢測部一為凸緣的外側(cè)面且凸緣的外側(cè)面為不反光表面，檢測部二為凸緣上的通孔或凸緣邊緣處的缺口，另一側(cè)凸緣的內(nèi)側(cè)面為亮面。

在方案一種，檢測部一為亮面，當(dāng)發(fā)射器一或發(fā)射器二發(fā)射光信號至檢測部一上時，檢測部一將光信號反射至接收器一或接收器二上；檢測部二為不反光表面，當(dāng)發(fā)射器一或發(fā)射器二發(fā)射光信號至檢測部二上時，檢測部二將光信號吸收。

在方案二中，檢測部一為斜面，當(dāng)發(fā)射器一或發(fā)射器二發(fā)射光信號至檢測部一上時，檢測部一將光信號偏角度反射，使得接收器一或接收器二接收不到反射的光信號；檢測部二為平面，當(dāng)發(fā)射器一或發(fā)射器二發(fā)射光信號至檢測部二上時，檢測部二將光信號反射，接收器一或接收器二接收到反射的光信號。

在方案三種，檢測部一為凸緣的外側(cè)面且凸緣的外側(cè)面為亮面，當(dāng)發(fā)射器一或發(fā)射器二發(fā)射光信號至檢測部一上時，檢測部一將光信號反射至接收器一或接收器二上；檢測部二為凸緣上的通孔或凸緣邊緣處的缺口，另一側(cè)凸緣的內(nèi)側(cè)面為不反光表面，當(dāng)發(fā)射器一或發(fā)射器二發(fā)射光信號，光信號穿過檢測部二并到達另一側(cè)凸緣的內(nèi)側(cè)面或到達梭芯上的線，光信號被吸收；

在方案四種，檢測部一為凸緣的外側(cè)面且凸緣的外側(cè)面為不反光表面，當(dāng)發(fā)射器一或發(fā)射器二發(fā)射光信號至檢測部一上時，檢測部一將光信號吸收；檢測部二為凸緣上的通孔或凸緣邊緣處的缺口，另一側(cè)凸緣的內(nèi)側(cè)面為亮面，當(dāng)發(fā)射器一或發(fā)射器二發(fā)射光信號，光信號穿過檢測部二并到達另一側(cè)凸緣的內(nèi)側(cè)面或到達梭芯上的具有反光性能的線，接收器一或接收器二接收到反射的光信號。

在上述的底線檢測裝置中，所述的發(fā)射器一和發(fā)射器二為超聲波發(fā)射器；所述的接收器一和接收器二為超聲波接收器；所述的檢測部一和檢測部二的表面在繞線柱的軸向上的高度不同。

通過設(shè)置檢測部一和檢測部二不同的高度，檢測部一經(jīng)過檢測口一時，接收器一接收到的發(fā)射器一發(fā)射的信號的返回信號，與檢測部二經(jīng)過檢測口一時，接收器二接收到的發(fā)射器二發(fā)射的信號的返回信號不同；照樣，在檢測口二處，接收器二接收到的檢測部一和檢測部二的返回信號不同，因此產(chǎn)生梭芯的轉(zhuǎn)動信號。

在上述的底線檢測裝置中，所述的檢測部一為凸緣的外側(cè)面，所述的檢測部二為凸緣外側(cè)面上的凹口；

或者，所述的檢測部一為凸緣的外側(cè)面，所述的檢測部二為凸緣上的通孔或凸緣邊緣處的缺口。

在第一種方案中，由于設(shè)置凸緣外側(cè)面上的凹口作為檢測部二，使得檢測部二的設(shè)置不影響梭芯轉(zhuǎn)動，并且，凸緣外側(cè)面的高度和凸緣上凹口底面的高度不同，使得接收器一和接收器二作為傳感器能夠識別。在第二種方案中，信號穿過檢測部二，從梭芯的線上返回或另一側(cè)的凸緣內(nèi)表面返回，使得接收器一和接收器二作為傳感器能夠識別。

根據(jù)本發(fā)明的目的，本發(fā)明還提出了一種記錄結(jié)果更準(zhǔn)確的底線檢測方法，其技術(shù)方案如下：

底線檢測方法，其特征在于，梭芯位于梭殼內(nèi)，梭殼上具有檢測口一和檢測口二；梭芯包括繞線柱和凸緣，凸緣上具有檢測部一和檢測部二，所述的凸緣上具有均可轉(zhuǎn)動至檢測口一和檢測口二的檢測部一和檢測部二；底線檢測裝置還包括用于正對檢測口一設(shè)置的發(fā)射器一和接收器一，還包括用于正對檢測口二設(shè)置的發(fā)射器二和接收器二；

a、梭芯轉(zhuǎn)動，檢測部一和檢測部二依次經(jīng)過檢測口一，接收器一接收到發(fā)射器一發(fā)射信號的反射信號的變化；

b、梭芯繼續(xù)轉(zhuǎn)動，檢測部一和檢測部二依次經(jīng)過檢測口二，接收器二接收到發(fā)射器二發(fā)射信號的反射信號的變化；

c、記錄梭芯轉(zhuǎn)動了一圈。

在本底線檢測方法中，即使檢測過程中收到油污或線頭等因素的干擾，使得檢測口一和檢測口二處在一次檢測過程中收到了多個信號變化值，也不影響梭芯轉(zhuǎn)動圈數(shù)的正確記錄，從而使得本底線檢測方法記錄結(jié)果更準(zhǔn)確。

根據(jù)本發(fā)明的目的，本發(fā)明還提出了一種縫紉機，其技術(shù)方案如下：

縫紉機，其特征在于，包括上述的底線檢測裝置。

該縫紉機中使用了上述底線檢測裝置，因而縫紉機運行更為穩(wěn)定。

在本底線檢測裝置中，因為只有接收器一和接收器二依次接收到反射信號后，梭芯才會轉(zhuǎn)動一圈，即使接收器一和接收器二在梭芯只轉(zhuǎn)動一圈的過程中均收到了多個信號變化值，也不影響底線檢測裝置的檢測結(jié)果，從而使得本底線檢測裝置的結(jié)構(gòu)較為穩(wěn)定。

附圖說明

圖1是底線檢測裝置一種實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是梭殼處的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是正常底線檢測過程示意圖；

圖4是另一種情況中底線檢測過程示意圖；

圖中，1、梭芯；11、繞線柱；12、凸緣；13、檢測部一；14、檢測部二；21、發(fā)射器一；22、接收器一；31、發(fā)射器二；32、接收器二；4、梭殼；41、檢測口一；42、檢測口二。

具體實施方式.

實施例一

如圖1和圖2所示，本底線檢測裝置包括梭殼4和位于梭殼4內(nèi)的梭芯1。梭芯1包括繞線柱11和位于繞線柱11兩端的凸緣12，梭殼4上具有檢測口一41和檢測口二42，凸緣12上具有均可轉(zhuǎn)動至檢測口一41和檢測口二42的檢測部一13和檢測部二14。底線檢測裝置還包括用于正對檢測口一41設(shè)置的發(fā)射器一21和接收器一22，還包括用于正對檢測口二42設(shè)置的發(fā)射器二31和接收器二32。

發(fā)射器一21和發(fā)射器二31為紅外發(fā)射器；接收器一22和接收器二32為紅外接收器；檢測部一13和檢測部二14為下列技術(shù)方案中的一種：

一、檢測部一13為亮面，檢測部二14為不反光表面；在方案一種，檢測部一13為亮面，當(dāng)發(fā)射器一21或發(fā)射器二31發(fā)射光信號至檢測部一13上時，檢測部一13將光信號反射至接收器一22或接收器二32上；檢測部二14為不反光表面，當(dāng)發(fā)射器一21或發(fā)射器二31發(fā)射光信號至檢測部二14上時，檢測部二14將光信號吸收。

二、檢測部一13為斜面，檢測部二14為平面；在方案二中，檢測部一13為斜面，當(dāng)發(fā)射器一21或發(fā)射器二31發(fā)射光信號至檢測部一13上時，檢測部一13將光信號偏角度反射，使得接收器一22或接收器二32接收不到反射的光信號；檢測部二14為平面，當(dāng)發(fā)射器一21或發(fā)射器二31發(fā)射光信號至檢測部二14上時，檢測部二14將光信號反射，接收器一22或接收器二32接收到反射的光信號。

三、檢測部一13為凸緣12的外側(cè)面且凸緣12的外側(cè)面為亮面，；檢測部二14為凸緣12上的通孔或凸緣12邊緣處的缺口，另一側(cè)凸緣12的內(nèi)側(cè)面為不反光表面；在方案三種，檢測部一13為凸緣12的外側(cè)面且凸緣12的外側(cè)面為亮面，當(dāng)發(fā)射器一21或發(fā)射器二31發(fā)射光信號至檢測部一13上時，檢測部一13將光信號反射至接收器一22或接收器二32上；檢測部二14為凸緣12上的通孔或凸緣12邊緣處的缺口，另一側(cè)凸緣12的內(nèi)側(cè)面為不反光表面，當(dāng)發(fā)射器一21或發(fā)射器二31發(fā)射光信號，光信號穿過檢測部二14并到達另一側(cè)凸緣12的內(nèi)側(cè)面或到達梭芯1上的線，光信號被吸收。

四、檢測部一13為凸緣12的外側(cè)面且凸緣12的外側(cè)面為不反光表面，檢測部二14為凸緣12上的通孔或凸緣12邊緣處的缺口，另一側(cè)凸緣12的內(nèi)側(cè)面為亮面。在方案四種，檢測部一13為凸緣12的外側(cè)面且凸緣12的外側(cè)面為不反光表面，當(dāng)發(fā)射器一21或發(fā)射器二31發(fā)射光信號至檢測部一13上時，檢測部一13將光信號吸收；檢測部二14為凸緣12上的通孔或凸緣12邊緣處的缺口，另一側(cè)凸緣12的內(nèi)側(cè)面為亮面，當(dāng)發(fā)射器一21或發(fā)射器二31發(fā)射光信號，光信號穿過檢測部二14并到達另一側(cè)凸緣12的內(nèi)側(cè)面或到達梭芯1上的具有反光性能的線，接收器一22或接收器二32接收到反射的光信號。

當(dāng)檢測部一13和檢測部二14依次經(jīng)過檢測口一41時，發(fā)射器一21發(fā)射信號至檢測口一41處，接收器一22收到了信號變化。如圖3所示，正常檢測過程中，此信號值變化一次，圖中示意從低電平到高電平，再從高電平回到低電平。

但梭芯1的凸緣12有可能被污染或其它因素影響，以至于接收器一22收到了多個信號變化值，如圖4所示，此時，底線檢測裝置中若只有一個接收器，在一個實施例中，那么接收器將會誤判梭芯1轉(zhuǎn)動多圈。

但在本底線檢測裝置中，由于在檢測口二42處設(shè)置了發(fā)射器二31和接收器二32，當(dāng)檢測部一13和檢測部二14依次經(jīng)過檢測口二42處時，發(fā)射器二31發(fā)射信號至檢測口二42處，接收器二32收到了信號變化，只有在接收器一22收到了信號變化，并且接著接收器二32收到了信號變化，底線檢測裝置才判斷梭芯1轉(zhuǎn)動了一圈。因此，即使接收器一22和接收器二32在梭芯1只轉(zhuǎn)動一圈的過程中均收到了多個信號變化值，也不影響底線檢測裝置的檢測結(jié)果，從而使得本底線檢測裝置的結(jié)構(gòu)較為穩(wěn)定。

實施例二

本實施例與實施例一大致相同，不同的地方在于，在本實施例中，發(fā)射器一21和發(fā)射器二31為激光發(fā)射器；接收器一22和接收器二32為激光接收器。

實施例三

本實施例與實施例一大致相同，不同的地方在于，在本實施例中，發(fā)射器一21和發(fā)射器二31為超聲波發(fā)射器；接收器一22和接收器二32為超聲波接收器；檢測部一13和檢測部二14的表面在繞線柱11的軸向上的高度不同。

具體的，在本實施例中，檢測部一13為凸緣12的外側(cè)面，檢測部二14為凸緣12外側(cè)面上的凹口。在此方案中，由于設(shè)置凸緣12外側(cè)面上的凹口作為檢測部二14，使得檢測部二14的設(shè)置不影響梭芯1轉(zhuǎn)動，并且，凸緣12外側(cè)面的高度和凸緣12上凹口底面的高度不同，使得接收器一22和接收器二32作為傳感器能夠識別。

作為另一種方案，檢測部一13為凸緣12的外側(cè)面，檢測部二14為凸緣12上的通孔或凸緣12邊緣處的缺口。在此方案中，信號穿過檢測部二14，從梭芯1的線上返回或另一側(cè)的凸緣12內(nèi)表面返回，使得接收器一22和接收器二32作為傳感器能夠識別。

通過設(shè)置檢測部一13和檢測部二14不同的高度，檢測部一13經(jīng)過檢測口一41時，接收器一22接收到的發(fā)射器一21發(fā)射的信號的返回信號，與檢測部二14經(jīng)過檢測口一41時，接收器二32接收到的發(fā)射器二31發(fā)射的信號的返回信號不同；照樣，在檢測口二42處，接收器二32接收到的檢測部一13和檢測部二14的返回信號不同，因此產(chǎn)生梭芯1的轉(zhuǎn)動信號。

根據(jù)本發(fā)明的目的，本發(fā)明還提出了一種記錄結(jié)果更準(zhǔn)確的底線檢測方法，其技術(shù)方案如下：

底線檢測方法，梭芯1位于梭殼4內(nèi)，梭殼4上具有檢測口一41和檢測口二42；梭芯1包括繞線柱11和凸緣12，凸緣12上具有檢測部一13和檢測部二14，凸緣12上具有均可轉(zhuǎn)動至檢測口一41和檢測口二42的檢測部一13和檢測部二14；底線檢測裝置還包括用于正對檢測口一41設(shè)置的發(fā)射器一21和接收器一22，還包括用于正對檢測口二42設(shè)置的發(fā)射器二31和接收器二32；

a、梭芯1轉(zhuǎn)動，檢測部一13和檢測部二14依次經(jīng)過檢測口一41，接收器一22接收到發(fā)射器一21發(fā)射信號的反射信號的變化；

b、梭芯1繼續(xù)轉(zhuǎn)動，檢測部一13和檢測部二14依次經(jīng)過檢測口二42，接收器二32接收到發(fā)射器二31發(fā)射信號的反射信號的變化；

c、記錄梭芯1轉(zhuǎn)動了一圈。

在本底線檢測方法中，即使檢測過程中收到油污或線頭等因素的干擾，使得檢測口一41和檢測口二42處在一次檢測過程中收到了多個信號變化值，也不影響梭芯1轉(zhuǎn)動圈數(shù)的正確記錄，從而使得本底線檢測方法記錄結(jié)果更準(zhǔn)確。

根據(jù)本發(fā)明的目的，本發(fā)明還提出了一種縫紉機，其技術(shù)方案如下：

縫紉機，包括上述的底線檢測裝置。